專利名稱：電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修用設(shè)備，特別涉及一種通用型的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡。
背景技術(shù)：
電子電路產(chǎn)品的維修需要借助專用工具，尤其是在一些需要進(jìn)行芯片級(jí)維修的場(chǎng)合，例如電腦主板，往往要使用專門設(shè)計(jì)的檢測(cè)卡才能完成維修工作。這種檢測(cè)卡有和被檢測(cè)電路板相配合的接口電路，配合專用的故障檢測(cè)軟件在維修中使用。一種專用于電腦主板的檢測(cè)卡就是具有和主板上的特定插槽對(duì)應(yīng)的接口擴(kuò)展電路，可以插接在主板上，然后讀取BIOS中的自檢程序檢測(cè)結(jié)果，并通過(guò)代碼顯示出來(lái)，結(jié)合代碼定義表，就可以確定主板的故障。這種檢測(cè)方案的基本原理為對(duì)設(shè)備內(nèi)置軟件檢測(cè)結(jié)果的再次展現(xiàn)，其檢測(cè)結(jié)果受限于內(nèi)置軟件的預(yù)定義范圍，尤其是在硬件出現(xiàn)大面積損壞或者內(nèi)置軟件無(wú)法運(yùn)行時(shí)則無(wú)法提供準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。而且受限于固定的接口，此種檢測(cè)卡只能用在專用場(chǎng)合，通用性很差。在芯片級(jí)維修中，也有一些技術(shù)人員使用萬(wàn)用表、示波器等通用的維修設(shè)備來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。但是由于這些設(shè)備都是標(biāo)準(zhǔn)化的產(chǎn)品，其功能比較固定，只能進(jìn)行常規(guī)的電路物理特性的檢測(cè)，而一般的技術(shù)人員要使用這些設(shè)備進(jìn)行芯片級(jí)的維修則需要具備相當(dāng)程度的知識(shí)、技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，而且這些手段智能化程度很低，不能很好地與計(jì)算機(jī)等設(shè)備相互通訊。 尤其是現(xiàn)在的電路板、芯片等功能越來(lái)越強(qiáng)大，往往需要維修設(shè)備能具有一定的智能化水平，以便于檢測(cè)和調(diào)試，而這恰恰是傳統(tǒng)的萬(wàn)用表、示波器等設(shè)備所不具備的。尤其是在進(jìn)行教學(xué)的時(shí)候，通用的設(shè)備相比于專用檢測(cè)卡的直觀性很差，非常不適合給學(xué)員，尤其是初學(xué)者進(jìn)行講解。因此，需要出現(xiàn)一種既具有相當(dāng)?shù)耐ㄓ眯?，又具備一定智能化檢測(cè)手段的芯片級(jí)維修用檢測(cè)卡，以同時(shí)滿足電子電路產(chǎn)品的芯片級(jí)維修和教學(xué)需要。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，提供一種既具備通用性，又具備智能化檢測(cè)手段的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，以滿足維修和教學(xué)的需要。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型公開如下技術(shù)方案一種電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，包括電源，還包括輸入端口、雙向端口、通信接口單元和控制單元，其中所述輸入端口采集檢測(cè)對(duì)象的電平信號(hào)和ID信息，并將此電平信號(hào)和ID信息傳送給所述控制單元；所述雙向端口采集檢測(cè)對(duì)象的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)傳送給所述控制單元，還根據(jù)所述控制單元的指令向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)； 所述通信接口單元信號(hào)連接所述控制單元和外部PC ；所述控制單元接收所述輸入端口和所述雙向端口采集的信息，并將其處理為PC可識(shí)別的信息后通過(guò)所述通信接口單元發(fā)送給外部PC，同時(shí)還接收外部PC發(fā)送的控制命令，并根據(jù)此控制命令向所述雙向端口發(fā)送驅(qū)CN 202267953 U
說(shuō)明書
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動(dòng)檢測(cè)對(duì)象的驅(qū)動(dòng)指令。優(yōu)選地，所述控制單元是單片機(jī)。優(yōu)選地，所述輸入端口包括一個(gè)輸入接口以及分別與該輸入接口信號(hào)連接的輸入端口擴(kuò)展電路和ID端口擴(kuò)展電路，其中所述輸入接口可通過(guò)外接導(dǎo)線或直接插接的方式與檢測(cè)對(duì)象相連接，采集檢測(cè)對(duì)象上的電平信號(hào)和ID信息；所述輸入端口擴(kuò)展電路將所述輸入接口采集到的電平信號(hào)傳送給所述控制單元；所述ID端口擴(kuò)展電路將所述輸入接口采集到的ID信息傳送給所述控制單元。優(yōu)選地，所述輸入端口擴(kuò)展電路和所述ID端口擴(kuò)展電路均包括一個(gè)或多個(gè)級(jí)聯(lián)的并行輸入串行輸出移位寄存器。尤其優(yōu)選所述并行輸入串行輸出移位寄存器是74LS165 芯片，其中當(dāng)所述74LS165芯片為一個(gè)時(shí)，其并行輸入端與所述輸入接口信號(hào)連接，其串行輸出端與所述控制單元信號(hào)連接；當(dāng)所述74LS 165芯片為多個(gè)時(shí)，其并行輸入端均與所述輸入接口信號(hào)連接，其串行輸出端級(jí)聯(lián)，并且最后一級(jí)串行輸出端與所述控制單元信號(hào)連接。優(yōu)選地，所述雙向端口包括一個(gè)輸入/輸出接口以及分別與該輸入/輸出接口信號(hào)連接的輸出端口擴(kuò)展電路、頻率輸入擴(kuò)展電路和模擬量輸入擴(kuò)展電路，其中所述輸入/ 輸出接口可通過(guò)外接導(dǎo)線或直接插接的方式與檢測(cè)對(duì)象相連接，給檢測(cè)對(duì)象傳送電平信號(hào)并采集檢測(cè)對(duì)象上的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)；所述輸出端口擴(kuò)展電路接收所述控制單元的指令，并根據(jù)此指令通過(guò)所述輸入/輸出接口向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述頻率輸入擴(kuò)展電路接收所述輸入/輸出接口檢測(cè)到的頻率信號(hào)，并將此頻率信號(hào)傳送給所述控制單元；所述模擬量輸入擴(kuò)展電路接收所述輸入/輸出接口檢測(cè)到的模擬量信號(hào)，并將此模擬量信號(hào)傳送給所述控制單元。優(yōu)選地，所述輸出端口擴(kuò)展電路包括一個(gè)或多個(gè)級(jí)聯(lián)的串行輸入并行輸出移位寄存器，所述頻率輸入擴(kuò)展電路和所述模擬量輸入擴(kuò)展電路均包括至少一個(gè)單刀多擲模擬開關(guān)電路。尤其優(yōu)選所述串行輸入并行輸出移位寄存器是74LS164芯片，所述單刀多擲模擬開關(guān)電路是CD4051芯片，其中當(dāng)所述74LS164芯片為一個(gè)時(shí)，其串行輸入端接收所述控制單元的指令，其并行輸出端根據(jù)此指令通過(guò)所述輸入/輸出接口向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；當(dāng)所述74LS164芯片是多個(gè)級(jí)聯(lián)時(shí)，其中的初級(jí)串行輸入端接收所述控制單元的指令， 其并行輸出端根據(jù)此指令通過(guò)所述輸入/輸出接口向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述CD4051 芯片的公共輸入輸出端和通道地址選通端與所述控制單元通信連接，模擬量輸入端則接收所述輸入/輸出接口采集的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)。優(yōu)選地，所述通信接口單元是TTL電平與232電平轉(zhuǎn)換電路，通過(guò)TTL電平與232 電平的轉(zhuǎn)換，完成串口通訊。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有如下有益效果1、采用單片機(jī)作為控制單元，不僅能夠?qū)﹄娖叫盘?hào)和模擬量信號(hào)做出檢測(cè)，還可以對(duì)頻率信號(hào)做出檢測(cè)，同時(shí)還可以利用程序來(lái)使單片機(jī)對(duì)檢測(cè)到的信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算， 從而做出判斷，使本實(shí)用新型的檢測(cè)卡具有智能特征；此外，單片機(jī)還可以通過(guò)常見的通訊手段來(lái)方便地和外部PC進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，從而大大拓展了本實(shí)用新型的檢測(cè)卡的應(yīng)用直觀性和應(yīng)用范圍，配合軟件可以方便地進(jìn)行教學(xué)演示；還有一個(gè)好處就是可以利用單片機(jī)來(lái)驅(qū)動(dòng)受測(cè)電路板上的芯片，通過(guò)程序來(lái)模擬芯片或特定電路的各種應(yīng)用環(huán)境，這樣就極大
5地方便了對(duì)芯片的功能檢測(cè)和維修，也極大地拓展了本實(shí)用新型的應(yīng)用范圍。2、輸入接口和輸入/輸出接口的形式可以靈活設(shè)計(jì)，既可以設(shè)計(jì)成插接式以適用于固定類型的檢測(cè)對(duì)象，也可以設(shè)計(jì)成引線式以方便使用者對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行檢測(cè)和維修。3、使用單刀多擲模擬開關(guān)、并入串出移位寄存器和串入并出移位寄存器等的好處是可以利用單片機(jī)上的少數(shù)幾個(gè)端口實(shí)現(xiàn)多路數(shù)據(jù)的輸入/輸出，從而既節(jié)省了單片機(jī)的接口資源，又有效地實(shí)現(xiàn)了對(duì)復(fù)雜電路的良好適應(yīng)。4、并入串出移位寄存器可以同時(shí)接收電平信號(hào)和ID信息，然后以串行方式輸出給單片機(jī)，不會(huì)產(chǎn)生數(shù)據(jù)的混亂和干擾，這樣就可以把輸入端口擴(kuò)展電路和ID端口擴(kuò)展電路集成在同一個(gè)并入串出移位寄存器電路中，能有效節(jié)省成本并簡(jiǎn)化電路。

圖1是本實(shí)用新型的原理框圖；圖2是圖1中的輸入端口的原理框圖；圖3是圖1中的雙向端口的原理框圖；圖4是圖2的一種具體實(shí)施方式
；圖5是圖3的一種具體實(shí)施方式
。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選具體實(shí)施方式
進(jìn)行詳細(xì)描述，但應(yīng)當(dāng)理解本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不受具體實(shí)施方式
的限制。一種電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，如圖1所示(圖中的檢測(cè)卡是指本實(shí)用新型的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡)，包括給檢測(cè)卡各部分提供電能的電源、輸入端口、雙向端口、通信接口單元和作為控制單元的單片機(jī)，其中所述輸入端口采集作為檢測(cè)對(duì)象的功能卡上的電平信號(hào)和ID信息，并將此電平信號(hào)和ID信息傳送給單片機(jī)；所述雙向端口采集功能卡的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)傳送給單片機(jī)，還根據(jù)單片機(jī)的指令向功能卡發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述通信接口單元信號(hào)連接單片機(jī)和外部PC ；單片機(jī)接收所述輸入端口和所述雙向端口采集的信息，并將其處理為PC可識(shí)別的信息后通過(guò)所述通信接口單元發(fā)送給外部PC，同時(shí)還接收外部PC發(fā)送的控制命令，并根據(jù)此控制命令向所述雙向端口發(fā)送驅(qū)動(dòng)功能卡的驅(qū)動(dòng)指令。優(yōu)選地，所述通信接口單元是TTL電平與232電平轉(zhuǎn)換電路，通過(guò) TTL電平與232電平的轉(zhuǎn)換，完成串口通訊，以便于利用232數(shù)據(jù)總線進(jìn)行單片機(jī)和PC之間的通信。如圖2所示，所述輸入端口包括一個(gè)輸入接口以及分別與該輸入接口信號(hào)連接的輸入端口擴(kuò)展電路和ID端口擴(kuò)展電路，其中所述輸入接口可通過(guò)外接導(dǎo)線或直接插接的方式與功能卡相連接，采集功能卡上的電平信號(hào)和ID信息；所述輸入端口擴(kuò)展電路將所述輸入接口采集到的電平信號(hào)傳送給單片機(jī)；所述ID端口擴(kuò)展電路將所述輸入接口采集到的ID信息傳送給單片機(jī)。圖4是圖2所示方案的一種具體實(shí)施方式
。圖2中的輸入端口擴(kuò)展電路和ID端口擴(kuò)展電路在圖4中由五個(gè)并行輸入串行輸出移位寄存器74LS165(U2 U6)組成。U2 U6上的SH/LD端是移位與置位控制端、CLK是時(shí)鐘輸入端、CLKINH是時(shí)鐘禁止端，這三個(gè)端口均受單片機(jī)發(fā)送的信號(hào)控制；SER端是用于多個(gè)74LS165進(jìn)行擴(kuò)展的首尾連接端，QH是串行輸出端，A H是并行輸入端。按照?qǐng)D4中所示的級(jí)聯(lián)方式，U6是初級(jí)端，U2是最終端， 其串行輸出端U2QH的信號(hào)輸送給單片機(jī)，而U2 TO上的各個(gè)并行輸入端均連接到接口電路J4上，用于檢測(cè)功能卡上的電平信號(hào)和ID信息。由于實(shí)際中功能卡上的ID信息也是以電平信號(hào)的方式傳送到J4上的，所以同一個(gè)74LS165芯片既可以檢測(cè)到反映功能卡電路狀態(tài)的電平信息，又可以檢測(cè)到功能卡上的ID信息，這樣就可以將圖2中的輸入端口擴(kuò)展電路和ID端口擴(kuò)展電路集成在一起，有利于簡(jiǎn)化電路，節(jié)省成本。接口電路J4對(duì)應(yīng)于圖2中所示的輸入接口部分。如果將本實(shí)施例的方案用于檢測(cè)具有固定規(guī)格的功能卡時(shí)，可以考慮將J4做成插接式，這樣使用時(shí)直接插接既可，簡(jiǎn)單易用；如果將其用于不定類型功能卡的檢測(cè)場(chǎng)合時(shí)，可以考慮將J4做成更為靈活的引線式，以便于適應(yīng)不同類型電路、芯片的檢測(cè)要求。如圖3所示，所述雙向端口包括一個(gè)輸入/輸出接口以及分別與該輸入/輸出接口信號(hào)連接的輸出端口擴(kuò)展電路、頻率輸入擴(kuò)展電路和模擬量輸入擴(kuò)展電路，其中所述輸入/輸出接口可通過(guò)外接導(dǎo)線或直接插接的方式與功能卡相連接，采集功能卡上的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)；所述輸出端口擴(kuò)展電路接收單片機(jī)的指令，并根據(jù)此指令通過(guò)所述輸入 /輸出接口向功能卡發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)，驅(qū)動(dòng)功能卡產(chǎn)生相應(yīng)的動(dòng)作；所述頻率輸入擴(kuò)展電路接收所述輸入/輸出接口檢測(cè)到的頻率信號(hào)，并將此頻率信號(hào)傳送給單片機(jī)；所述模擬量輸入擴(kuò)展電路接收所述輸入/輸出接口檢測(cè)到的模擬量信號(hào)，并將此模擬量信號(hào)傳送給單片機(jī)。圖5是圖3所示方案的一種具體實(shí)施方式
。圖5中的輸出端口擴(kuò)展電路包括兩個(gè)級(jí)聯(lián)的串行輸入并行輸出移位寄存器74LS164芯片(U7、U8)，頻率輸入擴(kuò)展電路包括一個(gè)單刀八擲模擬開關(guān)CD4051芯片(UlO)，模擬量輸入擴(kuò)展電路包括兩個(gè)單刀八擲模擬開關(guān) CD4051芯片(U9、U15)。U7和U8上的A、B端是串行輸入端，此二者短接；CLK端是時(shí)鐘信號(hào)端、CLR是清零端，均接收單片機(jī)的指令，QO Q7則是并行輸出端。圖5中，U7的A、B端連接到單片機(jī)的一個(gè)輸出端口上，接收單片機(jī)的指令，U8的A、B端與U7的一個(gè)并行輸出端 Q7相連，形成級(jí)聯(lián)。U7的輸出端U7Q0 U7Q7和U8的輸出端U8Q0 U8Q7均連接到接口電路J5上。U9、U10和U15上的A、B、C是通道地址選通端，IOCOM是公共輸入輸出端，均與單片機(jī)相連，這樣單片機(jī)發(fā)出三位二進(jìn)制信號(hào)正好可以選擇八個(gè)輸入輸出端100 107中的某一個(gè)與IOCOM連通，從而讀取到其中某一路上的信號(hào)；禁止端INH和電壓端VEE、V-均接地，V+端接電源；100 107是模擬量輸入端，用于采集功能卡上的模擬量信號(hào)，本例中用UlO的模擬量輸入端來(lái)檢測(cè)頻率信號(hào)。具體地，三個(gè)⑶4051上的輸入輸出端(U9I00 U9I07,U10I00 U10I07、U15I00 U15I07)均連接在J5上。J5對(duì)應(yīng)于圖3中的輸入/輸出接口部分，與J4的情況相似，為了適應(yīng)不同的使用需要，J5也可以設(shè)計(jì)成為插接式或者引線式。工作時(shí)，需要對(duì)單片機(jī)和外接的PC預(yù)裝軟件，通過(guò)軟件來(lái)進(jìn)行控制和結(jié)果分析。 U2 U6檢測(cè)到功能卡上的電平信號(hào)和ID信息并傳輸?shù)絾纹瑱C(jī)中，單片機(jī)根據(jù)程序中的指令來(lái)識(shí)別這些電平信號(hào)和ID信息，并根據(jù)程序指令做出相應(yīng)的判斷。U7和U8可以根據(jù)單片機(jī)發(fā)送的驅(qū)動(dòng)指令來(lái)產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)信號(hào)并輸出給功能卡，從而驅(qū)動(dòng)功能卡上的某個(gè)或某些電路和/或芯片產(chǎn)生相應(yīng)的動(dòng)作，U9、U10和U15則用于測(cè)功能卡中的頻率和模擬量的固有信息和/或變化信息并將其傳送給單片機(jī)。單片機(jī)收集到這些信息后根據(jù)軟件的設(shè)置和/或 PC的指令做出相應(yīng)的判斷，從而就可以產(chǎn)生能夠反映功能卡的特定狀態(tài)(例如功能卡上某個(gè)芯片發(fā)生了故障)的信號(hào)，并通過(guò)TTL電平與232電平轉(zhuǎn)換電路把信號(hào)傳送給PC，使得操作人員可以從PC上直觀地了解檢測(cè)結(jié)果。另外，操作人員也可以用PC給單片機(jī)傳送一些特定的指令，從而可以控制功能卡做出相應(yīng)的動(dòng)作。這樣一來(lái)，無(wú)論是功能卡的芯片級(jí)維修還是相關(guān)的教學(xué)，都變得非常直觀且易于操作。需要理解的是，本實(shí)施例中所提到的74LS165、74LS164和CD4051的數(shù)量均為多個(gè)，其作用不是用于限定本實(shí)用新型的應(yīng)用范圍，而是用來(lái)表明本實(shí)用新型的技術(shù)方案的一種實(shí)施思路和技術(shù)特點(diǎn)。實(shí)際中，完全可以根據(jù)功能卡的復(fù)雜程度和所選用單片機(jī)的端口資源來(lái)靈活設(shè)計(jì)各個(gè)芯片的數(shù)量。在最簡(jiǎn)單的情況下，上述各個(gè)芯片均只用一塊就可以實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的目的；在功能卡較為復(fù)雜、需要比本實(shí)施例更多個(gè)芯片才能完成檢測(cè)或維修任務(wù)時(shí)，則可以在上面實(shí)施例的基礎(chǔ)上按照同樣的技術(shù)思路擴(kuò)展更多個(gè)芯片，同樣應(yīng)在本實(shí)用新型的實(shí)用新型創(chuàng)造范圍之內(nèi)。另外，單片機(jī)和PC的通訊方式、上述各個(gè)芯片的型號(hào)也不限于上述實(shí)施例中的情況，只要是功能上滿足本實(shí)用新型技術(shù)方案的要求，本領(lǐng)域技術(shù)人員就可以在本實(shí)用新型所公開的技術(shù)思想的范圍內(nèi)進(jìn)行替換，不影響本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)。以上公開的僅為本實(shí)用新型較優(yōu)的具體實(shí)施例，但是，本實(shí)用新型并非局限于此， 任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，包括電源，其特征在于，還包括輸入端口、雙向端口、通信接口單元和控制單元，其中所述輸入端口采集檢測(cè)對(duì)象的電平信號(hào)和ID信息，并將此電平信號(hào)和ID信息傳送給所述控制單元；所述雙向端口采集檢測(cè)對(duì)象的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)傳送給所述控制單元，還根據(jù)所述控制單元的指令向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述通信接口單元信號(hào)連接所述控制單元和外部PC ；所述控制單元接收所述輸入端口和所述雙向端口采集的信息，并將其處理為PC可識(shí)別的信息后通過(guò)所述通信接口單元發(fā)送給外部PC，同時(shí)還接收外部PC發(fā)送的控制命令，并根據(jù)此控制命令向所述雙向端口發(fā)送驅(qū)動(dòng)檢測(cè)對(duì)象的驅(qū)動(dòng)指令。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述控制單元是單片機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述輸入端口包括一個(gè)輸入接口以及分別與該輸入接口信號(hào)連接的輸入端口擴(kuò)展電路和ID端口擴(kuò)展電路，其中所述輸入接口可通過(guò)外接導(dǎo)線或直接插接的方式與檢測(cè)對(duì)象相連接，采集檢測(cè)對(duì)象上的電平信號(hào)和ID信息；所述輸入端口擴(kuò)展電路將所述輸入接口采集到的電平信號(hào)傳送給所述控制單元； 所述ID端口擴(kuò)展電路將所述輸入接口采集到的ID信息傳送給所述控制單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述輸入端口擴(kuò)展電路和所述ID端口擴(kuò)展電路均包括一個(gè)或多個(gè)級(jí)聯(lián)的并行輸入串行輸出移位寄存器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述并行輸入串行輸出移位寄存器是74LS165芯片，其中當(dāng)所述74LS165芯片為一個(gè)時(shí)，其并行輸入端與所述輸入接口信號(hào)連接，其串行輸出端與所述控制單元信號(hào)連接；當(dāng)所述74LS165芯片為多個(gè)時(shí)，其并行輸入端均與所述輸入接口信號(hào)連接，其串行輸出端級(jí)聯(lián)，并且最后一級(jí)串行輸出端與所述控制單元信號(hào)連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述雙向端口包括一個(gè)輸入/輸出接口以及分別與該輸入/輸出接口信號(hào)連接的輸出端口擴(kuò)展電路、頻率輸入擴(kuò)展電路和模擬量輸入擴(kuò)展電路，其中所述輸入/輸出接口可通過(guò)外接導(dǎo)線或直接插接的方式與檢測(cè)對(duì)象相連接，給檢測(cè)對(duì)象傳送電平信號(hào)并采集檢測(cè)對(duì)象上的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)；所述輸出端口擴(kuò)展電路接收所述控制單元的指令，并根據(jù)此指令通過(guò)所述輸入/輸出接口向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述頻率輸入擴(kuò)展電路接收所述輸入/輸出接口檢測(cè)到的頻率信號(hào)，并將此頻率信號(hào)傳送給所述控制單元；所述模擬量輸入擴(kuò)展電路接收所述輸入/輸出接口檢測(cè)到的模擬量信號(hào)，并將此模擬量信號(hào)傳送給所述控制單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述輸出端口擴(kuò)展電路包括一個(gè)或多個(gè)級(jí)聯(lián)的串行輸入并行輸出移位寄存器，所述頻率輸入擴(kuò)展電路和所述模擬量輸入擴(kuò)展電路均包括至少一個(gè)單刀多擲模擬開關(guān)電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述串行輸入并行輸出移位寄存器是74LS164芯片，所述單刀多擲模擬開關(guān)電路是CD4051芯片， 其中當(dāng)所述74LS164芯片為一個(gè)時(shí)，其串行輸入端接收所述控制單元的指令，其并行輸出端根據(jù)此指令通過(guò)所述輸入/輸出接口向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；當(dāng)所述74LS164芯片是多個(gè)級(jí)聯(lián)時(shí)，其中的初級(jí)串行輸入端接收所述控制單元的指令，其并行輸出端根據(jù)此指令通過(guò)所述輸入/輸出接口向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述⑶4051芯片的公共輸入輸出端和通道地址選通端與所述控制單元通信連接，模擬量輸入端則接收所述輸入/輸出接口采集的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，其特征在于，所述通信接口單元是TTL電平與232電平轉(zhuǎn)換電路，通過(guò)TTL電平與232電平的轉(zhuǎn)換，完成串口通訊。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種電子電路產(chǎn)品芯片級(jí)維修智能檢測(cè)卡，包括電源、輸入端口、雙向端口、通信接口單元和控制單元，其中所述輸入端口采集檢測(cè)對(duì)象的電平信號(hào)和ID信息，并傳送給所述控制單元；所述雙向端口采集檢測(cè)對(duì)象的頻率信號(hào)和模擬量信號(hào)傳送給所述控制單元，還根據(jù)所述控制單元的指令向檢測(cè)對(duì)象發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)；所述通信接口單元信號(hào)連接所述控制單元和外部PC；所述控制單元接收所述輸入端口和所述雙向端口采集的信息，并將其處理為PC可識(shí)別的信息后通過(guò)所述通信接口單元發(fā)送給外部PC，同時(shí)還接收外部PC發(fā)送的控制命令，并據(jù)此向所述雙向端口發(fā)送驅(qū)動(dòng)檢測(cè)對(duì)象的驅(qū)動(dòng)指令。該檢測(cè)卡既具備通用性，又具備智能化檢測(cè)手段。
文檔編號(hào)G06F11/22GK202267953SQ201120386489
公開日2012年6月6日 申請(qǐng)日期2011年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月12日
發(fā)明者傅海峻, 武基慧 申請(qǐng)人:中盈創(chuàng)信(北京)商貿(mào)有限公司