專利名稱：樣本分析儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種樣本分析儀，特別是涉及一種樣本分析儀，它可以配置帶有記錄著試劑信息的電子標(biāo)簽的試劑容器。
背景技術(shù)：
人們已經(jīng)知道，歷來(lái)有一種樣本分析儀可以配置帶有記錄著試劑信息的電子標(biāo)簽的試劑容器。比如日本專利公報(bào)No. 2009/210444上公開了一種自動(dòng)分析裝置，其包括分內(nèi)圈列和外圈列兩列固定復(fù)數(shù)個(gè)試劑容器的圓環(huán)形試劑容器固定部件，其中所述試劑容器上帶有記錄著試劑信息的無(wú)線IC標(biāo)簽；向固定在內(nèi)圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無(wú)線 IC標(biāo)簽發(fā)射電波的內(nèi)圈天線部件；向固定在外圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無(wú)線 IC標(biāo)簽發(fā)射電波的外圈天線部件；從內(nèi)圈天線部件和外圈天線部件接收無(wú)線IC標(biāo)簽返回的電波的信息讀取及存儲(chǔ)部件。此專利文獻(xiàn)1中記述的自動(dòng)分析裝置中，內(nèi)圈天線部件配置于內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)，外圈天線部件配置于外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)。然而，日本專利公報(bào)No. 2009/210444上公開的自動(dòng)分析裝置必須留出內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)區(qū)域和外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)區(qū)域用來(lái)配置天線部件，因此有裝置主體過(guò)大的缺陷。本項(xiàng)發(fā)明正是為了解決上述課題，其目的之一是提供一種可以抑制裝置主體體積過(guò)大的樣本分析裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的范圍只由后附權(quán)利要求書所規(guī)定，在任何程度上都不受這一節(jié)發(fā)明內(nèi)容的陳述所限。即，本發(fā)明提供(1) 一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側(cè)，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第二電子標(biāo)簽；試劑信息讀取部件，用于讀取所述第一電子標(biāo)簽上記錄的試劑信息和所述第二電子標(biāo)簽上記錄的試劑信息；及控制部件；其中，所述試劑信息讀取部件配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側(cè)，有發(fā)射到達(dá)范圍互不相同的數(shù)種電波的電波發(fā)射部件；所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據(jù)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽還是所述第二電子標(biāo)簽而切換從所述電波發(fā)射部件發(fā)射的電波。(2) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽時(shí)，從所述電波發(fā)射部件發(fā)射第一到達(dá)范圍的電波，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二電子標(biāo)簽時(shí)，從所述電波發(fā)射部件發(fā)射大于所述第一到大范圍的第二到達(dá)范圍的電波。(3) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述電波發(fā)射部件包含有選擇性地發(fā)射到達(dá)范圍各異的數(shù)種電波的共用天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據(jù)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽還是所述第二電子標(biāo)簽切換從所述共用天線部件發(fā)射的電波。(4) (3)所述的樣本分析儀，還包括驅(qū)動(dòng)部件，用于移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述共用天線部件中的至少其中之一，其中所述控制部件控制所述驅(qū)動(dòng)部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二電子標(biāo)簽時(shí)，讓所述第一試劑容器讓開所述共用天線部件對(duì)面的位置。(5) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述電波發(fā)射部件包括發(fā)射第一到達(dá)范圍電波的第一天線部件和發(fā)射第二到達(dá)范圍電波的第二天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據(jù)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽還是所述第二電子標(biāo)簽，將發(fā)射電波的所述電波發(fā)射部件切換到所述第一天線部件或所述第二天線部件。(6) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述控制部件判斷是否已從讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽讀取到試劑信息。(7) 1)所述的樣本分析儀，其中，所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽所記錄的試劑信息包含識(shí)別試劑種類用的種類識(shí)別信息；及所述控制部件根據(jù)所述試劑信息讀取部件讀取的試劑信息中所含種類識(shí)別信息，判斷是否已從所述讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽讀取了試劑信息。(8) (7)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器盛放第一種試劑；及所述第二試劑容器盛放第二種試劑。(9) (1) (8)其中任意一項(xiàng)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件固定著復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器，從平面看呈圓環(huán)形；所述第二試劑容器固定部件固定著復(fù)數(shù)個(gè)所述第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)呈圓環(huán)形；及所述電波發(fā)射部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側(cè)。(10) (9)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數(shù)量的所述第一試劑容器；及所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數(shù)量的所述第二試劑容器。(11) (1)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件配置于所述電波發(fā)射部件和所述第二試劑容器固定部件之間。(12) 一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側(cè)，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第二電子標(biāo)簽；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側(cè)，從所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別接收電波；及試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取所述第一電子標(biāo)簽記錄的試劑信息和所述第二電子標(biāo)簽記錄的試劑信息。(13) (12)所述的樣本分析儀，還包括驅(qū)動(dòng)部件，用于移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述天線部件中的至少其中之；
驅(qū)動(dòng)控制部件，控制所述驅(qū)動(dòng)部件，當(dāng)所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽接收電波時(shí)，讓所述第一試劑容器讓開所述天線部件對(duì)面的位置。(14) (13)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件以并排狀態(tài)固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器；及當(dāng)所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽接收電波時(shí)，所述驅(qū)動(dòng)控制部件控制所述驅(qū)動(dòng)部件，使所述第一試劑容器固定部件上的相鄰第一試劑容器之間的間隙位于所述第二電子標(biāo)簽和所述天線部件相對(duì)的區(qū)域。(15) (14)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件固定在一定位置上；所述驅(qū)動(dòng)部件移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件；及當(dāng)所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽接收電波時(shí)，所述驅(qū)動(dòng)控制部件控制所述驅(qū)動(dòng)部件，向固定在所述一定位置的天線部件移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件，使所述間隙和所述第二電子標(biāo)簽都位于所述天線部件的正面位置。(16) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射電波，并接收所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽回應(yīng)所述天線部件發(fā)射的電波所發(fā)射的電波；所述第一試劑容器固定部件并排固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器；及所述樣本分析儀還具備一個(gè)天線控制部件，用于控制所述天線部件，使所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽發(fā)射電波的到達(dá)范圍小于所述天線部件向所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽發(fā)射電波的到達(dá)范圍。(17) (12)所述的樣本分析儀，還包括限制部件，用于限制所述天線部件發(fā)射電波的到達(dá)范圍和所述天線部件的電波接收范圍中的至少其中之一。(18) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器；所述第二試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第二試劑容器；及所述天線部件從固定在所述第一試劑容器固定部件上的所述復(fù)數(shù)個(gè)第一試劑容器的各個(gè)第一電子標(biāo)簽接收電波，從固定在所述第二試劑容器固定部件上的所述復(fù)數(shù)個(gè)第二試劑容器的各個(gè)第二電子標(biāo)簽接收電波。(19) (12) (18)其中任意一項(xiàng)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件從平面看呈圓環(huán)形；所述第二試劑容器固定部件從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)呈圓環(huán)形；及所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側(cè)。(20) (12)所述的樣本分析儀，還包括判斷所述天線部件是否從試劑信息讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽收到電波的第一判斷控制部件。(21) (20)所述的樣本分析儀，其中，所述第一和第二電子標(biāo)簽各自記錄的試劑信息中包含識(shí)別試劑種類的種類識(shí)別信息；及所述第一判斷控制部件根據(jù)所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含種類識(shí)別信息，判斷所述天線部件是否從所述讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽收到電波。(22) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射寫入用電波，以此將試劑信息分別寫入所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽；及所述樣本分析儀還具備第二判斷控制部件， 用于在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽發(fā)射所述寫入用電波前，判斷所述天線部件能否與所述待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽進(jìn)行通信。(23) (12)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件配置在所述天線部件和所述第二試劑容器固定部件之間。根據(jù)本發(fā)明第一層面涉及的上述(1)的結(jié)構(gòu)，只要確保第一試劑容器固定部件的另一側(cè)區(qū)域用來(lái)配置電波發(fā)射部件即可，無(wú)需確保第一試劑容器固定部件的一側(cè)區(qū)域，因此可以相應(yīng)地抑制儀器主體增大。此外，控制部件可以使電波發(fā)射部件發(fā)射電波的到達(dá)范圍與讀取目標(biāo)相應(yīng)，因此，即使電波發(fā)射部件僅配置在第一試劑容器固定部件另一側(cè)，也能夠更切實(shí)地進(jìn)行試劑信息讀取運(yùn)作。根據(jù)上述O)的結(jié)構(gòu)，即使電波發(fā)射部件僅配置在第一試劑容器固定部件另一側(cè)，也能避免從第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時(shí)，誤從與讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽相鄰的、周圍的數(shù)個(gè)第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息。根據(jù)上述(3)的結(jié)構(gòu)，無(wú)需分別設(shè)置讀取第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽的天線部件和讀取第二試劑容器額第二電子標(biāo)簽的天線部件，從而相應(yīng)控制了零部件件數(shù)的增加。根據(jù)上述的結(jié)構(gòu)，可以防止第一試劑容器妨礙第二電子標(biāo)簽的讀取。根據(jù)上述(5)的結(jié)構(gòu)，可以同時(shí)讀取第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽，與單獨(dú)設(shè)置天線部件相比，能夠在短時(shí)間內(nèi)讀取更多的電子標(biāo)簽的試劑信息。根據(jù)上述(6)的結(jié)構(gòu)，可以防止誤將從非讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽讀取的試劑信息當(dāng)作從讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽讀取的試劑信息使用。根據(jù)上述(7)的結(jié)構(gòu)，用種類識(shí)別信息可以進(jìn)一步防止從非讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽讀取的試劑信息誤當(dāng)作從讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽讀取的試劑信息使用。根據(jù)上述(8)的結(jié)構(gòu)，第一試劑容器固定部件上固定的各第一試劑容器中只盛放一種(第一種)試劑，第二試劑容器固定部件上固定的各第二試劑容器中也只盛放一種 (第二種)試劑。如此，控制部件可以很容易地判斷讀取的是第一電子標(biāo)簽上的試劑信息還是第二電子標(biāo)簽上的試劑信息。根據(jù)上述(9)的結(jié)構(gòu)，外圈的第一試劑容器固定部件的周長(zhǎng)大于內(nèi)圈的第二試劑容器固定部件的周長(zhǎng)，因此當(dāng)分別在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件上配置復(fù)數(shù)個(gè)試劑容器時(shí)，第一試劑容器固定部件與第二試劑容器固定部件相比，可以將相鄰試劑容器之間的間隔拉得更大。因此，將電波發(fā)射部件配置在第一試劑容器固定部件外側(cè)， 當(dāng)從第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時(shí)，可以防止誤從第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息。根據(jù)上述(10)的結(jié)構(gòu)，當(dāng)各配置有相同數(shù)量的試劑容器時(shí)，第一試劑容器固定部件與第二試劑容器固定部件相比，能夠切實(shí)拉開相鄰試劑容器之間的間隔。因此，從第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時(shí)，可以進(jìn)一步防止誤從第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息。根據(jù)本發(fā)明第二層面涉及的上述(1 的結(jié)構(gòu)，無(wú)需對(duì)第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件分別設(shè)置天線部件。從而得以相應(yīng)控制零部件件數(shù)的增加。而且， 只要確保第一試劑容器固定部件的另一側(cè)區(qū)域用來(lái)配置天線部件即可，無(wú)需確保第二試劑容器固定部件的一側(cè)區(qū)域，因此可以相應(yīng)地抑制儀器主體增大。根據(jù)上述(13)的結(jié)構(gòu)，可以防止因第一試劑容器位于天線部件對(duì)面而妨礙從第二電子標(biāo)簽接收電波。根據(jù)上述(14)的結(jié)構(gòu)，可以使第二電子標(biāo)簽和天線部件通過(guò)相鄰第一試劑容器之間的間隙相對(duì)，因此，天線部件可以很容易地接收第二電子標(biāo)簽的電波。根據(jù)上述(15)的結(jié)構(gòu)，可以通過(guò)將天線部件固定在一定位置上來(lái)固定天線部件的電波接收位置，從而使天線部件更容易從第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽接收電波。此外， 間隙和第二電子標(biāo)簽均位于天線部件的正面位置，因此更加便于天線部件接收第二電子標(biāo)簽的電波。根據(jù)上述(16)的結(jié)構(gòu)，向第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一電波時(shí)，可以防止第一電波誤到達(dá)周圍相鄰的數(shù)個(gè)第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽。根據(jù)上述(17)的結(jié)構(gòu)，可以防止天線部件誤對(duì)無(wú)需讀取或?qū)懭朐噭┬畔⒌碾娮訕?biāo)簽進(jìn)行試劑信息的讀取或?qū)懭?。根?jù)上述(18)的結(jié)構(gòu)，可以通過(guò)天線部件從數(shù)個(gè)第一試劑容器的各個(gè)第一電子標(biāo)簽和數(shù)個(gè)第二試劑容器的各個(gè)第二電子標(biāo)簽接收電波，因此可以從更多的電子標(biāo)簽接收電波。根據(jù)上述(19)的結(jié)構(gòu)，外圈的第一試劑容器固定部件的周長(zhǎng)大于內(nèi)圈的第二試劑容器固定部件的周長(zhǎng)，因此當(dāng)在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件上分別配置復(fù)數(shù)個(gè)試劑容器時(shí)，第一試劑容器固定部件與第二試劑容器固定部件相比，可以將相鄰試劑容器之間的間隔拉得更大。因此，將天線部件配置在第一試劑容器固定部件外側(cè)，當(dāng)從第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時(shí)，可以防止誤從第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息。根據(jù)上述00)的結(jié)構(gòu)，可以防止誤將非讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽發(fā)出的電波當(dāng)作讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽發(fā)出的電波使用。根據(jù)上述的結(jié)構(gòu)，用種類識(shí)別信息可以進(jìn)一步防止將非讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽發(fā)出的電波誤當(dāng)作讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽發(fā)出的電波使用。根據(jù)上述02)的結(jié)構(gòu)，第二判斷控制部件可以在將試劑信息寫入待寫入的電子標(biāo)簽之前，判斷是否能與待寫入的電子標(biāo)簽通信。以此可以更切實(shí)地將試劑信息寫入待寫入的電子標(biāo)簽。


圖1為本發(fā)明第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀的整體結(jié)構(gòu)斜視圖；圖2為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀的整體結(jié)構(gòu)平面圖；圖3為說(shuō)明圖1所示第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀結(jié)構(gòu)的框圖；圖4為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內(nèi)部斜視圖；圖5為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內(nèi)部平面圖；圖6為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的、讀取試劑放置部件的R2試劑容器IC標(biāo)簽時(shí)的狀態(tài)放大平面圖；圖7為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的、讀取試劑放置部件的Rl試劑容器IC標(biāo)簽時(shí)的狀態(tài)放大平面圖；圖8為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的試劑放置部件近距離天線部件的斜視圖；圖9為圖8的試劑放置部件的近距離天線部件沿500-500線的截面圖；圖10為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的近距離天線部件的天線基板的平面圖11為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的試劑放置部件遠(yuǎn)距離天線部件的斜視圖；圖12為圖11的試劑放置部件的遠(yuǎn)距離天線部件沿600-600線的截面圖；圖13為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的遠(yuǎn)距離天線部件的天線基板的平面圖；圖14為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的試劑放置部件的Rl試劑容器箭頭X2方向一側(cè)的側(cè)面圖；圖15為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的試劑放置部件的R2試劑容器箭頭Y2方向一側(cè)的側(cè)面圖；圖16為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的IC標(biāo)簽上存儲(chǔ)的固有信息和試劑信息的概念圖；圖17為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的試劑放置部件的R2試劑容器位于E區(qū)的狀態(tài)的放大平面圖；圖18為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀測(cè)定運(yùn)作的流程圖；圖19為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀讀取試劑信息處理的流程圖；圖20為圖1所示第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀的吸移試劑和寫入試劑信息的處理的流程圖；圖21為本發(fā)明第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀的結(jié)構(gòu)說(shuō)明框圖；圖22為圖21所示第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內(nèi)部平面圖；圖23為圖21所示第二實(shí)施方式涉及的、讀取試劑放置部件的R2試劑容器IC標(biāo)簽時(shí)的狀態(tài)放大平面圖；圖M為圖21所示第二實(shí)施方式涉及的、讀取試劑放置部件的Rl試劑容器IC標(biāo)簽時(shí)的狀態(tài)放大平面圖；圖25為圖21所示第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀讀取試劑信息處理的流程圖； 及圖沈?yàn)閳D21所示第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀吸移試劑和寫入試劑信息的處理的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面根據(jù)

本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。(第一實(shí)施方式)首先參照?qǐng)D1 圖17就本發(fā)明第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀1的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。本發(fā)明第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀1是一種用血液等樣本進(jìn)行與傳染病(B 型肝炎、C型肝炎等)相關(guān)的蛋白質(zhì)、腫瘤標(biāo)記及甲狀腺激素等各項(xiàng)檢查的儀器。此免疫分析儀1是定量測(cè)定或定性測(cè)定待測(cè)血液等樣本(血樣)中所含抗原和抗體等的裝置。當(dāng)定量測(cè)定樣本中所含抗原時(shí)，此免疫分析儀1先讓磁性粒子(R2試劑第二試劑)結(jié)合到與樣本所含抗原結(jié)合了的捕捉抗體(Rl試劑第一試劑)，然后用一次BF (結(jié)合分離，Bound Free)分離器11的磁鐵(無(wú)圖示)吸引結(jié)合后(結(jié)合，Bound)的抗原、捕捉抗體和磁性粒子，以此除去含有未反應(yīng)(自由，F(xiàn)ree)的捕捉抗體的Rl試劑。然后，免疫分析儀1讓磁性粒子結(jié)合后的抗原與標(biāo)記抗體(R3試劑)結(jié)合，用二次BF分離器12的磁鐵(無(wú)圖示)將結(jié)合后(Bound)的磁性粒子、抗原和標(biāo)記抗體吸過(guò)來(lái)，以此除去含未反應(yīng) (Free)的標(biāo)記抗體的R3試劑。添加分散液(R4試劑)和在與標(biāo)記抗體反應(yīng)過(guò)程中發(fā)光的發(fā)光底物(R5試劑)后，測(cè)定標(biāo)記抗體與發(fā)光底物反應(yīng)產(chǎn)生的發(fā)光量。經(jīng)過(guò)這一過(guò)程，定量測(cè)定與標(biāo)記抗體結(jié)合的樣本中所含抗原。免疫分析儀1如圖1和圖2所示，包括測(cè)定裝置2、與測(cè)定裝置2相鄰配置的運(yùn)樣裝置(供樣器)3以及由與測(cè)定裝置2電路連接的PC (電腦)組成的控制裝置4。運(yùn)樣裝置3可運(yùn)送放置盛有樣本的、無(wú)圖示的數(shù)個(gè)試管的樣架。運(yùn)樣裝置3可以將裝有樣本的試管運(yùn)送到樣本分裝臂5的吸樣位置?？刂蒲b置4如圖3所示，包括CPU4a、顯示器4b、輸入設(shè)備如和存儲(chǔ)部件4d。CPU4a 可以根據(jù)用戶用輸入設(shè)備4c輸入的測(cè)定條件等，讓測(cè)定裝置2 (后述的CPU2a)進(jìn)行測(cè)定， 同時(shí)分析測(cè)定裝置2測(cè)得的測(cè)定結(jié)果，將該分析結(jié)果顯示到顯示器4b上。存儲(chǔ)部件4d由硬盤構(gòu)成，用于分別存儲(chǔ)后述Rl試劑容器22、R3試劑容器23和R2試劑容器M各自的試劑信息和位置信息。關(guān)于存儲(chǔ)部件4d待后詳述。測(cè)定裝置2如圖2所示，由樣本分裝臂5、Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7、R3 試劑分裝臂8、反應(yīng)部件9、供杯部件10、一次BF分離器11、二次BF分離器12、吸頭供應(yīng)部件13、檢測(cè)部件14、R4/R5試劑供應(yīng)部件15、試劑放置部件16及RFID (射頻識(shí)別(Radio FrequencyIdentification))模塊 17 構(gòu)成。如圖3所示，測(cè)定裝置2中各機(jī)械裝置(各種分裝臂和反應(yīng)部件9等)由設(shè)置在測(cè)定裝置2的CPUh控制。運(yùn)樣裝置3也受CPU2a的控制。測(cè)定裝置2中還設(shè)有存儲(chǔ)部件 2b，存儲(chǔ)部件2b中存有使CPUh控制測(cè)定裝置2的各機(jī)械裝置運(yùn)作的控制程序。如圖2所示，供杯部件10可容納無(wú)圖示的多個(gè)反應(yīng)杯，能夠依次、逐個(gè)地向樣本分裝臂5的注樣位供應(yīng)反應(yīng)杯。 Rl試劑分裝臂6吸移放置在試劑放置部件16的Rl試劑，并將吸移的Rl試劑分裝 (注入)到配置在注樣位的反應(yīng)杯中。Rl試劑分裝臂6還能用無(wú)圖示的抓鉗將配置在注樣位的反應(yīng)杯移送到反應(yīng)部件9。吸頭供應(yīng)部件13的作用是將被放入的數(shù)個(gè)吸頭(無(wú)圖示)逐一運(yùn)到樣本分裝臂 5的吸頭安裝位。吸頭在吸頭安裝位被安裝到樣本分裝臂5的吸移管前端。樣本分裝臂5在吸頭安裝位裝上吸頭后，吸移由運(yùn)樣裝置3運(yùn)送到吸樣位的試管內(nèi)的樣本，將樣本分裝(注入)到已由Rl試劑分裝臂6分裝了 Rl試劑的、注樣位上的反應(yīng)杯中。R2試劑分裝臂7具有吸移放置在試劑放置部件16的R2試劑的功能。R2試劑分裝臂7將吸移的R2試劑分裝(注入)到裝有Rl試劑和樣本的反應(yīng)杯中。反應(yīng)部件9圍繞在平面看時(shí)基本呈圓形的試劑放置部件16周圍，并基本呈圓環(huán)形。反應(yīng)部件9可順時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)，可以將放在反應(yīng)杯固定部件9a的反應(yīng)杯移到進(jìn)行各種處理(分裝試劑等)的各個(gè)處理位上。一次BF分離器11的作用是在無(wú)圖示的抓鉗將裝有樣本、Rl試劑和R2試劑的反應(yīng)杯從反應(yīng)部件9運(yùn)送到一次BF分離器11后，從反應(yīng)杯內(nèi)的試樣分離(B/F分離)未反應(yīng)的Rl試劑(不需要的成份)和磁性粒子。R3試劑分裝臂8可吸移放置在試劑放置部件16的R3試劑。當(dāng)裝有一次BF分離器11進(jìn)行了 B/F分離后的試樣的反應(yīng)杯從一次BF分離器11運(yùn)到反應(yīng)部件9時(shí)，R3試劑分裝臂8將吸移的R3試劑分裝(注入)到該反應(yīng)杯中。二次BF分離器12的作用是在無(wú)圖示的抓鉗將裝有一次BF分離器11進(jìn)行了 B/F 分離的試樣和R3試劑的反應(yīng)杯從反應(yīng)部件9運(yùn)送到二次BF分離器12后，從反應(yīng)杯內(nèi)的試樣分離未反應(yīng)的R3試劑(不需要的成份)和磁性粒子。R4/R5試劑供應(yīng)部件15通過(guò)無(wú)圖示的管向裝有二次BF分離器12B/F分離后的試樣的反應(yīng)杯中依次分裝R4試劑和R5試劑。檢測(cè)部件14用于通過(guò)光電倍增管(Photo Multiplier Tube)獲取與經(jīng)一定處理的樣本的抗原結(jié)合的標(biāo)記抗體和發(fā)光底物在反應(yīng)過(guò)程中發(fā)出的光，以此測(cè)定該樣本內(nèi)所含抗原的量。試劑放置部件16如圖2所示，包括基本呈圓筒形的機(jī)殼16a(參照?qǐng)D4)、從上方覆蓋機(jī)殼16a的蓋部16b、設(shè)置在蓋部16b上、供用戶更換后述Rl試劑容器22、R3試劑容器 23和R2試劑容器M時(shí)開關(guān)用的開關(guān)部件16c。在蓋部16b上與Rl試劑、R2試劑和R3試劑的吸移位相對(duì)應(yīng)的位置上面有可開關(guān)的窗口(無(wú)圖示)。通過(guò)此窗口可以由Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7和R3試劑分裝臂8分別吸移Rl試劑、R2試劑和R3試劑。在此，第一實(shí)施方式如圖4和圖5所示，試劑放置部件16的機(jī)殼16a上設(shè)有R1/R3 放置部件18、R2放置部件19、近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21。具體而言，如圖5 所示，從平面看，有著與機(jī)殼16a中心O基本相同的中心O且基本圓環(huán)形R1/R3放置部件18 以及有著與機(jī)殼16a中心〇基本相同的中心〇且基本呈圓環(huán)形的R2放置部件19配置在機(jī)殼16a內(nèi)部。R1/R3放置部件18設(shè)置在R2放置部件19的內(nèi)環(huán)一側(cè)(中心〇一側(cè))。近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21安裝在試劑放置部件16的機(jī)殼16a上。 具體而言，如圖5所示，在機(jī)殼16a的圓環(huán)形側(cè)壁上隔一定距離(一定旋轉(zhuǎn)角度間隔)的兩處有二個(gè)缺口 116a和216a。這二個(gè)缺口 116a和216a是機(jī)殼16a的一部分從上端向下端切削而形成的。機(jī)殼16a的缺口 116a如圖6所示，通過(guò)扣(鎖)住近距離天線部件20的樹脂制鎖件(locking part) 20a而固定住。機(jī)殼16a的缺口 216a如圖7所示，通過(guò)扣(鎖) 住遠(yuǎn)距離天線部件21的樹脂制鎖件(locking part)21a而固定住。如圖5所示，近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21都設(shè)置在R2放置部件19的外側(cè)。試劑放置部件16上設(shè)有內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件16d(參照?qǐng)D幻及外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件 16e(參照?qǐng)D3)，其中所述內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件16d以中心〇為旋轉(zhuǎn)中心向箭頭Cl方向和箭頭C2方向轉(zhuǎn)動(dòng)R1/R3放置部件18 ；所述外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件16e以中心〇為旋轉(zhuǎn)中心向箭頭Dl方向和箭頭D2方向轉(zhuǎn)動(dòng)R2放置部件19。內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件16d和外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件16e由CPUh分別控制驅(qū)動(dòng)。機(jī)殼16a底部中心〇設(shè)有冷卻Rl試劑、R2試劑和R3試劑的無(wú)圖示帕爾貼元件(Peltier device)及風(fēng)扇16f。由于此冷卻處理，試劑放置部件16內(nèi)有時(shí)可能會(huì)結(jié)露。近距離天線部件20如圖8和圖9所示，除上述鎖件20a外，還包括天線基板20b、 天線基板20b固定在其內(nèi)部的基板安裝部件20c、從外側(cè)(箭頭X2方向一側(cè))覆蓋天線基板20b的蓋組件20d和安裝在基板安裝部件20c上與天線基板20b相反一側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè))表面的金屬板20e。近距離天線部件20的天線基板20b如圖10所示，由在板狀基板的箭頭Xl方向一
12側(cè)表面(參照?qǐng)D9)的線圈形天線配線120b構(gòu)成。可以通過(guò)此線圈形天線配線120b收發(fā)電波。遠(yuǎn)距離天線部件21如圖11和圖12所示，除上述鎖件21a外，還包括天線基板21b、 天線基板21b固定在其內(nèi)部的基板安裝部件21c、從外側(cè)(箭頭Y2方向一側(cè))覆蓋天線基板21b的蓋組件21d和安裝在基板安裝部件21c上與天線基板21b相反一側(cè)(箭頭Yl方向一側(cè))表面的金屬板21e。遠(yuǎn)距離天線部件21的天線基板21b如圖13所示，由在板狀基板的箭頭Yl方向一側(cè)表面(參照?qǐng)D12)的線圈形天線配線121b構(gòu)成。可以通過(guò)此線圈形天線配線121b收發(fā)電波。天線基板20b如圖6所示配置在基板安裝部件20c內(nèi)部，使天線基板20b的箭頭 Xl方向一側(cè)表面與機(jī)殼16a的中心O (參照?qǐng)D5)相對(duì)，同時(shí)，天線基板21b如圖7所示， 配置在基板安裝部件21c內(nèi)部，使天線基板21b的箭頭Yl方向一側(cè)表面與機(jī)殼16a的中心 〇(參照?qǐng)D5)相對(duì)。這樣，如圖6和圖7所示，天線基板20b和21b可以向試劑放置部件 16內(nèi)側(cè)(圖5的中心〇一側(cè))發(fā)射讀取用電波和寫入用電波，同時(shí)還可以接收后述IC標(biāo)簽 25和沈?yàn)榛貞?yīng)讀取用電波而發(fā)射的應(yīng)答電波。天線基板20b和21b連接在RFID模塊17 的后述天線切換基板17c上。在第一實(shí)施方式，遠(yuǎn)距離天線部件21的天線基板21b的天線配線121b(參照?qǐng)D 13)的線圈匝數(shù)比近距離天線部件20的天線基板20b的天線配線120b (參照?qǐng)D10)的線圈匝數(shù)大。另外，從后述讀寫型基板17a通過(guò)后述天線切換基板17c向近距離天線部件20的天線基板20b輸出的電功率(第一輸出)比讀寫型基板17a通過(guò)天線切換基板17c向遠(yuǎn)距離天線部件21的天線基板21b輸出的電功率(第二輸出)小。如此，如圖6所示，近距離天線部件20發(fā)射范圍A的近距離讀取用電波和近距離寫入用電波。如圖7所示，遠(yuǎn)距離天線部件21發(fā)射比范圍A大的范圍B的遠(yuǎn)距離讀取用電波和遠(yuǎn)距離寫入用電波。其結(jié)果，近距離天線部件20的讀取范圍和寫入范圍比遠(yuǎn)距離天線部件21的讀取范圍和寫入范圍小。近距離天線部件20的基板安裝部件20c和蓋組件20d均由可透過(guò)電波的樹脂構(gòu)成。如圖9所示，基板安裝部件20c和蓋組件20d用于保護(hù)天線基板20b不受結(jié)露等影響， 天線基板20b被基板安裝部件20c和蓋組件20d與外部隔離。同樣，遠(yuǎn)距離天線部件21的基板安裝部件21c和蓋組件21d均由可透過(guò)電波的樹脂構(gòu)成。如圖12所示，基板安裝部件 21c和蓋組件21d用于保護(hù)天線基板21b不受結(jié)露等影響，天線基板21b被基板安裝部件 21c和蓋組件21d與外部隔離。天線基板20b如圖9所示，用螺絲20f和螺母20g固定在基板安裝部件20c上，天線基板21b如圖12所示，用螺絲21f和螺母21g固定在基板安裝部件21c上。金屬板20e和21e均由可吸收電波(讀取用電波、寫入用電波和應(yīng)答電波)的鋁板構(gòu)成。金屬板20e如圖8所示，由螺絲20h和無(wú)圖示的螺母固定在基板安裝部件20c的箭頭Xl方向一側(cè)表面。同樣，金屬板21e如圖11所示，由螺絲21h和無(wú)圖示的螺母固定在基板安裝部件21c的箭頭Yl方向一側(cè)表面。如圖8和圖11所示，金屬板20e和21e上分別有略呈U字形的缺口 20i和21i。 通過(guò)此缺口 20i和21i，天線基板20b和21b向試劑放置部件16內(nèi)側(cè)(箭頭Xl方向和箭頭Yl方向)發(fā)射電波，而未通過(guò)此缺口 20i和21i的天線基板20b和21b的電波被金屬板20e和21e吸收。即，金屬板20e限制天線基板20b發(fā)射的電波范圍和天線基板20b接收的電波范圍，以此來(lái)限制近距離天線部件20 (天線基板20b)的讀取范圍和寫入范圍。同樣， 金屬板21e可以限制天線基板21b發(fā)射的電波范圍和天線基板21b接收的電波范圍，以此來(lái)限制遠(yuǎn)距離天線部件21 (天線基板21b)的讀取范圍和寫入范圍。R1/R3放置部件18上如圖5所示，以等角度(約14. 4度)間隔配置了 25個(gè)由可透過(guò)電波的樹脂制成的R1/R3固定件18a。此R1/R3固定件18a上分別固定有Rl試劑容器 22和R3試劑容器23，其中所述Rl試劑容器22盛放含捕捉抗體的Rl試劑(第一試劑)； 所述R3試劑容器23盛放含標(biāo)記抗體的R3試劑。即R1/R3放置部件18上等角度(約14. 4 度)間隔地配置有25個(gè)Rl試劑容器22。R1/R3固定件18a在外側(cè)(R2放置部件一側(cè))固定Rl試劑容器22，在內(nèi)側(cè)(中心0 —側(cè))固定R3試劑容器23。R2放置部件19上以等角度(約14. 4度)間隔配置了 25個(gè)由可透過(guò)電波的樹脂制成的R2固定件19a。此R2固定件19a上分別固定有盛放含磁性粒子的R2試劑(第二試劑)的R2試劑容器M。即R2放置部件19上等角度(約14. 4度)間隔地配置有25個(gè)R2 試劑容器對(duì)。Rl試劑容器22、R3試劑容器23和R2試劑容器M可由用戶放置和更換。如圖14所示，Rl試劑容器22上有吸移Rl試劑時(shí)開關(guān)的蓋2 和盛放Rl試劑的試劑收納部件22b。另如圖15所示，R2試劑容器M上有吸移R2試劑時(shí)開關(guān)的蓋2 和盛放R2試劑的試劑收納部件Mb。另外，如圖6和圖7所示，R3試劑容器23與Rl試劑容器 22形狀基本相同，R3試劑容器23上有吸移R3試劑時(shí)開關(guān)的蓋23a和盛放R3試劑的、無(wú)圖示的試劑收納部件。蓋2 和蓋23a隨著R1/R3放置部件18的轉(zhuǎn)動(dòng)而開關(guān)，蓋2 則隨著 R2放置部件19的轉(zhuǎn)動(dòng)而開關(guān)。如圖14所示，Rl試劑容器22的試劑收納部件22b外側(cè)(圖6箭頭X2方向)的側(cè)面上有安裝IC標(biāo)簽25的IC標(biāo)簽安裝部件22c。如圖15所示，R2試劑容器M的試劑收納部件24b外側(cè)(圖7箭頭Y2方向)的側(cè)面上有安裝IC標(biāo)簽沈的IC標(biāo)簽安裝部件Mc。 即如圖6所示，當(dāng)R2試劑容器M放在R2放置部件19上時(shí)，R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈正好沖著試劑放置部件16的外側(cè)(箭頭X2方向)，如圖7所示，當(dāng)Rl試劑容器22放在Rl/ R3放置部件18上時(shí)，Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25正好沖著試劑放置部件16的外側(cè)(箭頭Y2方向)。R3試劑容器23的側(cè)面與Rl試劑容器22不同，未裝IC標(biāo)簽。IC標(biāo)簽25上記錄有Rl試劑容器22中的Rl試劑試劑信息以及和Rl試劑容器22 共用的R1/R3固定件18a上固定的R3試劑容器23中的R3試劑的試劑信息。IC標(biāo)簽沈上記錄有R2試劑容器M中的R2試劑的試劑信息。如圖16所示，IC標(biāo)簽25和沈上可以存儲(chǔ)1 字節(jié)信息。此存儲(chǔ)容量1 字節(jié)中表示固有信息的唯一 ID區(qū)分配有16字節(jié)，表示試劑信息的用戶數(shù)據(jù)區(qū)分配有112字節(jié)。 唯一 ID區(qū)為記錄可分別識(shí)別IC標(biāo)簽25和沈的唯一 ID的區(qū)域，為只讀區(qū)。而用戶數(shù)據(jù)區(qū)為用戶可自由寫入信息的區(qū)域。用戶數(shù)據(jù)區(qū)中設(shè)定有只能讀不能寫的區(qū)域(只讀區(qū))和讀寫均可的(可寫入?yún)^(qū))區(qū)域。唯一 ID在CPUh對(duì)試劑信息加密時(shí)使用。以此，由于唯一 ID不同，試劑信息的密碼無(wú)法解開，即使試劑信息被復(fù)制到其他IC標(biāo)簽時(shí)，也可以避免試劑信息和試劑容器中的試劑對(duì)應(yīng)錯(cuò)誤。只讀區(qū)記錄著與帶IC標(biāo)簽(IC標(biāo)簽25或26)的試劑容器(Rl試劑容器22或R2
14試劑容器24)相關(guān)的測(cè)定項(xiàng)目、批號(hào)、序號(hào)、試劑種類(種類識(shí)別信息)、保存期限和填充量， 可寫入?yún)^(qū)可寫入余量和使用期限。IC標(biāo)簽25還一并記錄R3試劑容器23的相關(guān)信息。初次放入R1/R3放置部件18的Rl試劑容器22上貼的IC標(biāo)簽25和初次放入R2放置部件19 的R2試劑容器M上貼的IC標(biāo)簽沈的可寫入?yún)^(qū)未寫入信息。測(cè)定項(xiàng)目指用貼有此IC標(biāo)簽的試劑容器所裝試劑進(jìn)行的測(cè)定項(xiàng)目。試劑種類指貼有此IC標(biāo)簽的試劑容器是Rl試劑容器22還是R2試劑容器24。保存期限表示此試劑可保存的期限。填充量表示用此試劑可進(jìn)行的測(cè)定次數(shù)。余量表示用此試劑還可以進(jìn)行幾次測(cè)定。使用期限表示此試劑可使用的期限。使用期限在此試劑開始使用時(shí)設(shè)定。在第一實(shí)施方式中，如圖6所示，R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈在近距離天線部件 20的正面位置(正對(duì)面位置)進(jìn)行讀取和寫入。此時(shí)，IC標(biāo)簽沈根據(jù)近距離天線部件20 發(fā)射的范圍A (粗點(diǎn)劃線)的近距離讀取用電波，發(fā)射含IC標(biāo)簽沈中存儲(chǔ)的試劑信息的應(yīng)答電波。IC標(biāo)簽沈根據(jù)近距離天線部件20發(fā)射的范圍A的近距離寫入用電波，將存儲(chǔ)的試劑信息改寫為近距離寫入用電波中所含新的試劑信息。如圖7和圖17所示，Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25在遠(yuǎn)距離天線部件21的正面位置進(jìn)行讀寫。此時(shí)，IC標(biāo)簽25根據(jù)遠(yuǎn)距離天線部件21發(fā)射的范圍B(粗雙點(diǎn)劃線)的遠(yuǎn)距離讀取用電波，發(fā)射含IC標(biāo)簽25中存儲(chǔ)的試劑信息的應(yīng)答電波。IC標(biāo)簽25根據(jù)遠(yuǎn)距離天線部件21發(fā)射的范圍B的遠(yuǎn)距離寫入用電波，將存儲(chǔ)的試劑信息改寫為遠(yuǎn)距離寫入用電波中所含新的試劑信息。設(shè)定相鄰的R1/R3固定件18a之間的間隔、相鄰的R2固定件19a之間的間隔以及范圍A和范圍B，以使得在對(duì)一個(gè)IC標(biāo)簽25和沈進(jìn)行讀寫時(shí)，不對(duì)其他IC標(biāo)簽25和沈進(jìn)行讀寫。試劑信息在密碼鎖定的狀態(tài)下，儲(chǔ)存在IC標(biāo)簽25和沈中?？刂蒲b置4的存儲(chǔ)部件4d如圖3所示，與IC標(biāo)簽25和沈區(qū)分開來(lái)，分別存儲(chǔ)25 個(gè)Rl試劑容器22、25個(gè)R2試劑容器M和25個(gè)R3試劑容器23各自的試劑信息。存儲(chǔ)部件4d還存儲(chǔ)25個(gè)Rl試劑容器22、25個(gè)R3試劑容器23和25個(gè)R2試劑容器M各自的初始位置和從R1/R3放置部件18及R2放置部件19各初始位置的旋轉(zhuǎn)角度，將其作為位置信息。如此，存儲(chǔ)部件4d中相互對(duì)應(yīng)地存儲(chǔ)著25個(gè)Rl試劑容器22、25個(gè)R3試劑容器23和 25個(gè)R2試劑容器M的位置信息和試劑信息。控制裝置4的存儲(chǔ)部件4d在密碼被解讀的狀態(tài)下存儲(chǔ)試劑信息。免疫分析儀1接通電源(無(wú)圖示)后，便讀取放置在試劑放置部件16的所有試劑容器的IC標(biāo)簽(IC標(biāo)簽25和26)，獲取各試劑容器的位置信息和試劑信息。當(dāng)存儲(chǔ)部件 4d中存有試劑信息時(shí)，控制裝置4的CPMa將存儲(chǔ)部件4d中存儲(chǔ)的試劑信息更新為接通電源時(shí)從IC標(biāo)簽獲取的試劑信息。這樣，即使在免疫分析儀1切斷電源期間Rl試劑容器 22、R3試劑容器23和R2試劑容器M分別被更換為新的Rl試劑容器22、R3試劑容器23 和R2試劑容器24，也可以將控制裝置4的存儲(chǔ)部件4d中的試劑信息更新為現(xiàn)在放置在試劑放置部件16的試劑的信息。RFID模塊17如圖2所示，設(shè)于試劑放置部件16外部，如圖3所示包括讀寫型基板 17a、連接讀寫型基板17a和CPU2a的接口基板17b及天線切換基板17c。讀寫型基板17a根據(jù)CPU2a的指示讓遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)發(fā)射約13. 56MHz頻帶的遠(yuǎn)距離讀取用電波(近距離讀取用電波)和遠(yuǎn)距離寫入用電波(近距離寫入用電波)。讀寫型基板17a還從IC標(biāo)簽25和沈?yàn)榛貞?yīng)遠(yuǎn)距離讀取用電波(近距離讀取用電波)而發(fā)射的、被近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21接收的應(yīng)答電波中獲取試劑信息，并將試劑信息輸出到CPU2a。讀寫型基板17a包括設(shè)定值存儲(chǔ)部件17d，用于存儲(chǔ)天線基板20b相應(yīng)的設(shè)定值、 天線基板21b的相應(yīng)設(shè)定值和向天線基板的傳送輸出設(shè)定值，此設(shè)定值由CPUh設(shè)定。天線切換基板17c的作用是從讀寫型基板17a接收與存在設(shè)定值存儲(chǔ)部件17d中的設(shè)定值相應(yīng)的信號(hào)，根據(jù)該接收信號(hào)切換使用近距離天線部件20或遠(yuǎn)距離天線部件21其中之一來(lái)收發(fā)讀取用電波和寫入用電波。如圖3所示，在第一實(shí)施方式，由RFID模塊17、近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21構(gòu)成了讀取IC標(biāo)簽25和沈上記錄的試劑信息的試劑信息讀取部件200。近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21分別作為向IC標(biāo)簽沈和25發(fā)射電波的電波發(fā)射部件 200a發(fā)揮作用。下面參照?qǐng)D3和圖18就本發(fā)明第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀1 (測(cè)定裝置2) 的測(cè)定運(yùn)作進(jìn)行說(shuō)明。首先當(dāng)測(cè)定裝置2接通電源后，測(cè)定裝置2的CPUh在步驟Sl進(jìn)行程序初始化、 測(cè)定裝置2各部件運(yùn)行檢查等初始化處理。然后，在步驟S2進(jìn)行試劑信息讀取處理。關(guān)于此試劑信息讀取處理待后詳述。在步驟S3，由CPUh判斷是否有用戶的測(cè)定指示。用戶下達(dá)的此測(cè)定指示通過(guò)控制裝置4(參照?qǐng)D幻傳達(dá)到CPU2a。當(dāng)判斷沒(méi)有用戶的測(cè)定指示時(shí)，進(jìn)入步驟S6。在步驟S3如果判斷有用戶的測(cè)定指示，則在步驟S4由CPUh進(jìn)行試劑吸移和試劑信息寫入處理。關(guān)于此試劑吸移和試劑信息寫入處理待后詳述。在步驟S5，在測(cè)定裝置2進(jìn)行樣本測(cè)定。在步驟S6由CPUh判斷用戶是否下達(dá)了關(guān)機(jī)指示。如果判斷沒(méi)有關(guān)機(jī)指示，則返回步驟S3。如果判斷有關(guān)機(jī)指示，則在步驟S7由 CPU2a實(shí)施測(cè)定裝置2的關(guān)機(jī)處理。至此，測(cè)定裝置2的CPUh測(cè)定運(yùn)作結(jié)束。下面參照?qǐng)D6、圖7、圖17和圖19就圖18的步驟S2所示本發(fā)明第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀1的試劑信息讀取處理進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。在步驟S201，由CPUh判斷讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽是否為Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽 25。當(dāng)讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽是Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25時(shí)，進(jìn)入步驟S202。當(dāng)讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽是R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈時(shí)，進(jìn)入步驟S206。 在步驟S202，發(fā)射讀取用電波的天線部件被CPU2a設(shè)定為遠(yuǎn)距離天線部件21。即， CPUh在讀寫型基板17a的設(shè)定值存儲(chǔ)部件17d設(shè)定遠(yuǎn)距離天線部件21天線基板21b的相應(yīng)設(shè)定值和天線基板21b的相應(yīng)傳送輸出設(shè)定值。在步驟S203，CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照?qǐng)D 17)由旋轉(zhuǎn)，以使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25位于正對(duì)遠(yuǎn)距離天線部件21的位置。在步驟S204，由CPU2a判斷R2試劑容器M是否位于遠(yuǎn)距離天線部件21正對(duì)面位置附近的E區(qū)(參照?qǐng)D17)。此時(shí)，根據(jù)R2試劑容器M的位置信息判斷R2試劑容器M是否位于E區(qū)。當(dāng)R2試劑容器M位于E區(qū)時(shí)，由于裝在R2試劑容器M的R2試劑會(huì)吸收電波，即使遠(yuǎn)距離天線部件21發(fā)射范圍B(參照?qǐng)D17)的遠(yuǎn)距離讀取用電波和遠(yuǎn)距離寫入用電波，也有可能無(wú)法進(jìn)行IC標(biāo)簽25的讀寫。因此，當(dāng)判斷R2試劑容器M位于E區(qū)時(shí)，在步驟S205由CPU2a向箭頭Dl方向或箭頭D2方向(參照?qǐng)D17)旋轉(zhuǎn)R2放置部件19，使在 E區(qū)的R2試劑容器M讓出E區(qū)。這樣，如圖7所示，相鄰的R2試劑容器M之間的間隙F 和讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25配置在正對(duì)遠(yuǎn)距離天線部件21的位置，同時(shí)R2試劑容器M的IC 標(biāo)簽沈不在遠(yuǎn)距離天線部件21的正對(duì)面。然后，進(jìn)入步驟S208。此外，若果在步驟S204 判斷沒(méi)有任何一個(gè)R2試劑容器M在E區(qū)時(shí)，也進(jìn)入步驟S208。另一方面，當(dāng)在步驟S201判斷讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽為R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈時(shí)，在步驟S206，CPUh將發(fā)射讀取用電波的天線部件設(shè)定為近距離天線部件20。即CPU2a 在讀寫型基板17a的設(shè)定值存儲(chǔ)部件17d設(shè)定近距離天線部件20的天線基板20b的相應(yīng)設(shè)定值和天線基板20b的相應(yīng)傳送輸出設(shè)定值。在步驟S207，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向(參照?qǐng)D6) 旋轉(zhuǎn)，讓讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽沈位于正對(duì)近距離天線部件20的位置。然后進(jìn)入步驟S208。在步驟S208，在CPU2a、讀寫型基板17a和天線切換基板17c的控制下，遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)向讀取目標(biāo)的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25 (R2試劑容器 24的IC標(biāo)簽沈)發(fā)射范圍B的遠(yuǎn)距離讀取用電波(范圍A的近距離讀取用電波)。此后，在步驟S209，CPUh判斷遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)是否在一定時(shí)間內(nèi)收到IC標(biāo)簽25或沈發(fā)射的對(duì)遠(yuǎn)距離讀取用電波或近距離讀取用電波的應(yīng)答電波。即，CPU2a判斷RFID模塊17的讀寫型基板17a根據(jù)從遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)收到的應(yīng)答電波獲取的試劑信息是否在一定時(shí)間內(nèi)輸出到CPU2a。當(dāng)判斷遠(yuǎn)距離大線部件21 (近距離天線部件20)未在一定時(shí)間內(nèi)收到應(yīng)答電波時(shí)，在步驟S210由CPU2a 將讀取錯(cuò)誤信息傳送到控制裝置4。在控制裝置4的顯示器4b上顯示位于一定位置的試劑容器的試劑信息(讀取目標(biāo)的試劑容器的試劑信息)讀取失敗。然后進(jìn)入步驟S213。當(dāng)在步驟S209判斷遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)在一定時(shí)間內(nèi)收到應(yīng)答電波時(shí)，在步驟S211由CPUh判斷遠(yuǎn)距離天線部件21(近距離天線部件20)收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。此時(shí)，CPU^1根據(jù)從應(yīng)答電波獲得的試劑種類(種類識(shí)別信息)，判斷是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息不是讀取目標(biāo)的試劑信息時(shí)，進(jìn)入上述步驟S210。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是讀取目標(biāo)的試劑信息時(shí)，在步驟S212，應(yīng)答電波中所含讀取目標(biāo)的試劑信息由CPUh傳送至控制裝置4。當(dāng)遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)接收數(shù)個(gè)應(yīng)答電波，而且數(shù)個(gè)應(yīng)答電波中有讀取目標(biāo)的試劑信息時(shí)，只向控制裝置4傳送讀取目標(biāo)的試劑信息。在控制裝置4，根據(jù)從CPUh收到的試劑信息更新存儲(chǔ)部件4d的試劑信息。然后進(jìn)入步驟S213。最后，在步驟S213，CPUh判斷25個(gè)IC標(biāo)簽25和25個(gè)IC標(biāo)簽沈是否已全部讀完。當(dāng)判斷尚未讀完時(shí)，返回步驟S201，進(jìn)行新的IC標(biāo)簽的讀取。當(dāng)判斷全部讀完時(shí)，試劑信息讀取處理結(jié)束，進(jìn)入圖18所示步驟S3。下面參照?qǐng)D17和圖20，就圖18的步驟S4所示本發(fā)明第一實(shí)施方式涉及的免疫分析儀1的試劑吸移和試劑信息寫入處理進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。首先，在步驟S401，CPU2a判斷待吸移試劑(吸移目標(biāo))的試劑容器是否為Rl試劑容器22或R3試劑容器23。待吸移試劑容器根據(jù)用戶在輸入設(shè)備如輸入的測(cè)定條件等， 通過(guò)CPU4a傳至CPU2a。
當(dāng)判斷待吸移試劑容器是Rl試劑容器22或R3試劑容器23時(shí)，在步驟S402，CPU2a 將發(fā)射讀取用電波和寫入用電波的天線部件設(shè)定為遠(yuǎn)距離天線部件21。在步驟S403， CPU2a向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照?qǐng)D17)轉(zhuǎn)動(dòng)R1/R3放置部件18，使待吸移Rl試劑容器22 (R3試劑容器23)位于Rl試劑分裝臂6 (R3試劑分裝臂8)吸移Rl試劑(R3試劑)的吸移位。此時(shí)，Rl試劑容器22的蓋22a(R3試劑容器23的蓋23a)隨著R1/R3放置部件18的轉(zhuǎn)動(dòng)而打開。在步驟S404，Rl試劑分裝臂6 (R3試劑分裝臂8)吸移Rl試劑(R3試劑)。此后， 在步驟S405，CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl方向或箭頭C2方向轉(zhuǎn)動(dòng)，使得待寫入的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25處于面對(duì)遠(yuǎn)距離天線部件21的位置。此時(shí)，Rl試劑容器 22的蓋22a (R3試劑容器23的蓋23a)隨著R1/R3放置部件18的轉(zhuǎn)動(dòng)而關(guān)閉。在步驟S406，CPU2a判斷R2試劑容器M是否位于E區(qū)(參照?qǐng)D17)。當(dāng)判斷R2 試劑容器M位于E區(qū)時(shí)，在步驟S407，CPU2a向箭頭Dl方向或箭頭D2方向(參照?qǐng)D17) 轉(zhuǎn)動(dòng)R2放置部件19，使位于E區(qū)的R2試劑容器M從E讓開。然后進(jìn)入步驟S412。另一方面，當(dāng)在步驟S401，CPU2a判斷待吸移試劑容器為R2試劑容器M時(shí)，在步驟S408，CPUh將發(fā)射讀取用電波和寫入用電波的天線部件設(shè)定為近距離天線部件20。在步驟S409，CPU2a使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向轉(zhuǎn)動(dòng)，讓待吸移R2試劑容器M位于R2試劑分裝臂7吸移R2試劑的吸移位。此時(shí)，R2試劑容器M的蓋2 隨著 R2放置部件19的轉(zhuǎn)動(dòng)而打開。在步驟S410，R2試劑分裝臂7吸移R2試劑。此后，在步驟S411，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向轉(zhuǎn)動(dòng)，讓待寫入的R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈處于面對(duì)近距離天線部件20的位置。此時(shí)，R2試劑容器M的蓋2 隨著R2放置部件19的轉(zhuǎn)動(dòng)而關(guān)閉。然后進(jìn)入步驟S412。在步驟S412，CPUh從遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)向待寫入的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25 (R2試劑容器M的IC標(biāo)簽26)發(fā)射范圍B的遠(yuǎn)距離讀取用電波 (范圍A的近距離讀取用電波)。然后，在步驟S413，CPUh判斷遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)是否在一定時(shí)間內(nèi)收到應(yīng)答電波。當(dāng)判斷遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)沒(méi)有在一定時(shí)間內(nèi)收到應(yīng)答電波時(shí)，在步驟S414，CPU2a向控制裝置4發(fā)送讀取錯(cuò)誤信息，在控制裝置4的顯示器4b上出現(xiàn)試劑信息未能寫入待寫入的IC標(biāo)簽的信息。然后結(jié)束試劑吸移和試劑信息寫入處理，進(jìn)入圖18所示步驟S5。當(dāng)在步驟S413，判斷遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)在一定時(shí)間內(nèi)收到應(yīng)答電波時(shí)，在步驟S415，CPUh判斷遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為待寫入IC標(biāo)簽中所存的試劑信息。此時(shí)，CPUh根據(jù)從應(yīng)答電波獲得的試劑種類(種類識(shí)別信息)判斷是否為待寫入IC標(biāo)簽中所存試劑信息。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息不是待寫入IC標(biāo)簽中所存儲(chǔ)的試劑信息時(shí)，進(jìn)入上述步驟S414。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是待寫入IC標(biāo)簽中所存試劑信息時(shí)，在步驟 S416，包含試劑余量信息等在內(nèi)的遠(yuǎn)距離寫入用電波(近距離寫入用電波)由遠(yuǎn)距離天線部件21 (近距離天線部件20)發(fā)射到待寫入Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25 (R2試劑容器M 的IC標(biāo)簽26)。在步驟S417，與寫入IC標(biāo)簽的試劑信息相同的信息由CPUh傳送至控制裝置4后，試劑吸移和試劑信息寫入處理完成，進(jìn)入圖18所示步驟S5。在控制裝置4，根據(jù)CPU2a傳送的試劑信息，存儲(chǔ)部件4d的試劑信息被更新。在第一實(shí)施方式，如上所述，平面看基本呈圓環(huán)形的R1/R3放置部件18設(shè)置在基本呈圓環(huán)形的R2放置部件19的內(nèi)側(cè)，同時(shí)將近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21都設(shè)置在R2放置部件19外側(cè)。這樣，只要確保R2放置部件19外側(cè)的區(qū)域用來(lái)配置近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21即可，無(wú)需確保R1/R3放置部件18內(nèi)側(cè)的區(qū)域，從而可以相應(yīng)縮小R1/R3放置部件18內(nèi)側(cè)的區(qū)域。這樣將可以相應(yīng)控制免疫分析儀1機(jī)器主體的增大。而且，將近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21都設(shè)置在R2放置部件19外側(cè)， 當(dāng)從IC標(biāo)簽25讀取試劑信息時(shí)，可以防止誤從IC標(biāo)簽沈讀取試劑信息。在第一實(shí)施方式，如上所述，使讀取R2放置部件19上放置的R2試劑容器M的IC 標(biāo)簽沈上所存試劑信息時(shí)發(fā)射電波的到達(dá)范圍(范圍A)小于讀取R1/R3放置部件18上放置的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25上所存試劑信息時(shí)發(fā)射電波的到達(dá)范圍(范圍B)。如此，當(dāng)讀取IC標(biāo)簽沈上存儲(chǔ)的試劑信息時(shí)，可以防止誤讀取讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽沈周圍相鄰數(shù)個(gè)IC標(biāo)簽沈和IC標(biāo)簽25上存儲(chǔ)的試劑信息。在第一實(shí)施方式，如上所述，分別設(shè)置近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21， 可以同時(shí)讀取IC標(biāo)簽25和26，因此，比只設(shè)置一個(gè)天線部件來(lái)讀取IC標(biāo)簽時(shí)相比，能夠以更短的時(shí)間讀取更多的IC標(biāo)簽25和沈的試劑信息。在第一實(shí)施方式，如上所述，CPU2a根據(jù)應(yīng)答電波中所含試劑種類(種類識(shí)別信息)判斷近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。以此可以進(jìn)一步防止非讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25或沈發(fā)射的應(yīng)答電波被當(dāng)作讀取目標(biāo)的應(yīng)答電波。在第一實(shí)施方式，如上所述，Rl試劑容器22盛放Rl試劑，R2試劑容器M盛放R2 種類的試劑。以此，固定在R1/R3放置部件18上的各Rl試劑容器22可以分別只盛放一種 (Rl種類)試劑，同時(shí)R2放置部件19上的各R2試劑容器M分別只盛放一種(R2種類)試劑。這樣，CPUh可以很容易地判斷讀取了 IC標(biāo)簽25或沈中哪一個(gè)的試劑信息。在第一實(shí)施方式，如上所述，基本呈圓環(huán)形的R1/R3放置部件18上等角度(約 14. 4度)間隔地配置有25支Rl試劑容器22，配置在R1/R3放置部件18外側(cè)、基本呈圓環(huán)形的R2放置部件19上等角度(約14. 4度)間隔地配置有25支R2試劑容器M。如此，可以切實(shí)確保R2放置部件19上相鄰試劑容器之間的間隔比R1/R3放置部件18更大。因此， 當(dāng)從IC標(biāo)簽25讀取試劑信息時(shí)，可以避免誤從IC標(biāo)簽沈讀取試劑信息。在第一實(shí)施方式，如上所述，遠(yuǎn)距離天線部件21發(fā)射范圍B的遠(yuǎn)距離讀取用電波時(shí)，讓位于E區(qū)的R2試劑容器M從E區(qū)讓開。這樣可以防止因R2試劑容器M在E區(qū)而難以讀取Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25。在第一實(shí)施方式，如上所述，通過(guò)設(shè)置限制遠(yuǎn)距離天線部件21發(fā)射電波的到達(dá)范圍的金屬板21e，可以將遠(yuǎn)距離天線部件21發(fā)射電波的到達(dá)范圍限制在讀取目標(biāo)的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25所處范圍內(nèi)。從而可以防止遠(yuǎn)距離天線部件21誤讀取非讀取目標(biāo)的 IC標(biāo)簽25和26。在第一實(shí)施方式，如上所述，通過(guò)設(shè)置限制近距離天線部件20發(fā)射電波的到達(dá)范圍的金屬板20e，可以將近距離天線部件20發(fā)射電波的到達(dá)范圍限制在讀取目標(biāo)的R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈所處范圍內(nèi)。從而可以防止近距離天線部件20誤讀取非讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25和26。(第二實(shí)施方式)下面參照?qǐng)D21 圖沈說(shuō)明第二實(shí)施方式。第一實(shí)施方式將近距離天線部件20 和遠(yuǎn)距離天線部件21兩個(gè)天線部件設(shè)置在測(cè)定裝置2的試劑放置部件16，此第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀301與第一實(shí)施方式不同，僅在測(cè)定裝置302的試劑放置部件316設(shè)置了一個(gè)天線部件321，下面就此進(jìn)行說(shuō)明。首先參照?qǐng)D21 圖M就本發(fā)明第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀301的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。在第二實(shí)施方式，如圖21所示，試劑放置部件316設(shè)有一個(gè)天線部件321。此天線部件321如圖22所示，通過(guò)鎖件(locking part)21a扣(鎖)在試劑放置部件316的機(jī)殼 316a的缺口 216a上而安裝在機(jī)殼316a。第二實(shí)施方式的機(jī)殼316a上未設(shè)置第一實(shí)施方式的缺口 116a。天線部件321如圖21所示，包括天線基板321b。此天線基板321b如圖23和圖 M所示，可以向試劑放置部件316內(nèi)側(cè)(圖22的中心〇一側(cè)(箭頭Yl方向一側(cè))發(fā)射讀取用電波和寫入用電波，同時(shí)可以接收IC標(biāo)簽25和沈應(yīng)答讀取用電波發(fā)射的應(yīng)答電波。 天線部件321的其他結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施方式的遠(yuǎn)距離天線部件21的結(jié)構(gòu)相同。在此，第二實(shí)施方式如圖21所示，RFID模塊317包含讀寫型基板317a。讀寫型基板317a有設(shè)定值存儲(chǔ)部件317d，用于存儲(chǔ)向天線基板321b傳送輸出的設(shè)定值，此設(shè)定值由 CPU2a設(shè)定。讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出通過(guò)CPUh更改設(shè)定值存儲(chǔ)部件317d的設(shè)定值而切換，可從天線部件321發(fā)射讀取范圍較小的范圍G(圖23的點(diǎn)劃線) 的近距離讀取用電波和讀取范圍較大的范圍H(圖M的雙點(diǎn)劃線)的遠(yuǎn)距離讀取用電波兩種讀取用電波。同樣，可以通過(guò)CPU2a變更設(shè)定值存儲(chǔ)部件317d的設(shè)定值，讓天線部件321 發(fā)射寫入范圍較小的范圍G的近距離寫入用電波和寫入范圍較大的范圍H的遠(yuǎn)距離寫入用電波兩種寫入用電波。因此，通過(guò)CPUh和讀寫型基板317a可以在圖23的范圍G (粗點(diǎn)劃線)和大于范圍G的圖M范圍H(粗雙點(diǎn)劃線)之間切換天線部件321發(fā)射的讀取用電波的讀取范圍和寫入用電波的寫入范圍。在第二實(shí)施方式，只設(shè)置有一個(gè)天線部件321，不需要切換天線部件用的、第一實(shí)施方式中的天線切換基板17c。如圖21所示，天線部件321的天線基板321b直接連接在讀寫型基板317a。如圖21所示，在第二實(shí)施方式，讀取存儲(chǔ)在IC標(biāo)簽(IC標(biāo)簽25和沈)的試劑信息的試劑信息讀取部件400由RFID模塊317和天線部件321構(gòu)成。天線部件321還作為向IC標(biāo)簽發(fā)射電波的電波發(fā)射部件400a發(fā)揮功能。第二實(shí)施方式的其他結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施方式相同。下面就第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀301的測(cè)定動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。另外，除試劑信息讀取處理以及試劑吸移和試劑信息寫入處理以外的處理，均與圖18所示第一實(shí)施方式相同。下面參照?qǐng)D23 圖25詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀301的試劑信息讀取處理。首先在步驟S221，由CPUh判斷讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽是否為Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25。當(dāng)判斷讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽是Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25時(shí)，在步驟S222，由 CPUh設(shè)定從讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出，使天線部件321發(fā)射范圍H(參照?qǐng)D的遠(yuǎn)距離讀取用電波。即CPUhS定讀寫型基板317a的設(shè)定值存儲(chǔ)部件317d的設(shè)定值，加大天線部件321的讀取范圍。然后，在步驟S223，CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl或箭頭C2方向(參照?qǐng)D24)轉(zhuǎn)動(dòng)，讓讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25正對(duì)天線部件321。在步驟S2M，CPU2a判斷R2試劑容器M是否在E區(qū)(參照?qǐng)D23)。當(dāng)判斷R2試劑容器 在E區(qū)時(shí)，在步驟S225，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl或箭頭D2方向(參照?qǐng)D23)轉(zhuǎn)動(dòng)，使得位于E區(qū)的R2試劑容器M讓開E區(qū)。然后進(jìn)入步驟S2^。當(dāng)在步驟 S224判斷所有R2試劑容器M都不在E區(qū)時(shí)，也進(jìn)入步驟S2^。另一方面，在步驟S221，當(dāng)讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽是R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈時(shí)， 在步驟，CPUh設(shè)定從讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出，使天線部件321 發(fā)射范圍G(參照?qǐng)D23)的近距離讀取用電波。即CPUhS定讀寫型基板317a的設(shè)定值存儲(chǔ)部件317d的設(shè)定值，縮小天線部件321的讀取范圍。然后，在步驟S227，CPUh使R2放置部件19向箭頭Dl或箭頭D2方向轉(zhuǎn)動(dòng)，讓讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽沈正對(duì)天線部件321。然后進(jìn)入步驟S2^。在步驟，CPU^i使天線部件321向讀取目標(biāo)的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25 (R2 試劑容器M的IC標(biāo)簽26)發(fā)射范圍H的遠(yuǎn)距離讀取用電波(范圍G的近距離讀取用電波)。此后，進(jìn)行與圖19所示第一實(shí)施方式步驟S209 S213相同的處理，再進(jìn)入圖18所示步驟S3。下面參照?qǐng)D23、圖M和圖沈詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明第二實(shí)施方式涉及的免疫分析儀 301的試劑吸移和試劑信息寫入處理。首先與第一實(shí)施方式一樣，在步驟S421，由CPUh判斷要吸移試劑(待吸移)的試劑容器是否為Rl試劑容器22或R3試劑容器23。當(dāng)判斷待吸移試劑容器是Rl試劑容器22或R3試劑容器23時(shí)，在步驟S422，由 CPU2a進(jìn)行設(shè)定，使天線部件321發(fā)射范圍H(參照?qǐng)D24)的遠(yuǎn)距離讀取用電波和遠(yuǎn)距離寫入用電波。即進(jìn)行設(shè)定，使得天線部件321的讀取范圍和寫入范圍更大一些。在步驟S423， CPUh使R1/R3放置部件18向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照?qǐng)D24)轉(zhuǎn)動(dòng)，讓待吸移的 Rl試劑容器22 (R3試劑容器23)位于吸移位。此時(shí)，Rl試劑容器22的蓋22a (R3試劑容器 23的蓋23a)隨著R1/R3放置部件18的轉(zhuǎn)動(dòng)而打開。在步驟S4M，吸移Rl試劑(R3試劑)。在步驟S425，CPUh使R1/R3放置部件18 向箭頭Cl方向或箭頭C2方向(參照?qǐng)D24)轉(zhuǎn)動(dòng)，讓待寫入的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25 正對(duì)天線部件321。此時(shí)，Rl試劑容器22的蓋22a(R3試劑容器23的蓋23a)隨著R1/R3 放置部件18的轉(zhuǎn)動(dòng)而關(guān)閉。在步驟S似6，CPUh判斷R2試劑容器M是否在E區(qū)(參照?qǐng)D23)。當(dāng)判斷R2試劑容器M在E區(qū)時(shí)，在步驟S427，CPU2a使R2放置部件19向箭頭Dl或箭頭D2方向(參照?qǐng)D24)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便位于E區(qū)的R2試劑容器M讓開E區(qū)。然后進(jìn)入步驟S432。另一方面，當(dāng)在步驟S421判斷待吸移的試劑容器是R2試劑容器M時(shí)，在步驟 S428, CPUh進(jìn)行設(shè)定，使得天線部件321發(fā)射范圍G(參照?qǐng)D23)的近距離讀取用電波和
21近距離寫入用電波。即進(jìn)行設(shè)定，使得天線部件321的讀取范圍和寫入范圍小一些。在步驟S429，CPU2a使R2放置部件19向箭頭Dl方向或箭頭D2方向轉(zhuǎn)動(dòng)，使待吸移的R2試劑容器M位于吸移位。此時(shí)，R2試劑容器M的蓋2 隨著R2放置部件19的轉(zhuǎn)動(dòng)而打開。在步驟S430，吸移R2試劑。此后，在步驟S431，CPU2a使R2放置部件19向箭頭 Dl方向或箭頭D2方向轉(zhuǎn)動(dòng)，使待寫入的R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈正對(duì)天線部件321。 此時(shí)，R2試劑容器M的蓋2 隨著R2放置部件19的轉(zhuǎn)動(dòng)而關(guān)閉。然后進(jìn)入步驟S432。在步驟S432，CPU^i使天線部件321向待寫入的Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25 (R2 試劑容器M的IC標(biāo)簽26)發(fā)射范圍H的遠(yuǎn)距離讀取用電波(范圍G的近距離讀取用電波)。然后進(jìn)行與圖20所示第一實(shí)施方式的步驟S413 S417相同的處理，再進(jìn)入圖18所示步驟S5。在第二實(shí)施方式，如上所述，可以通過(guò)更換讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出，將一個(gè)天線部件321發(fā)射的讀取用電波的讀取范圍和寫入用電波的寫入范圍轉(zhuǎn)換為范圍G和比范圍G大的范圍H。由此，無(wú)需分別設(shè)置讀取Rl試劑容器22的IC標(biāo)簽25的天線部件和讀取R2試劑容器M的IC標(biāo)簽沈的天線部件，從而可以控制零部件件數(shù)的相應(yīng)增加。第二實(shí)施方式的其他效果與第一實(shí)施方式相同。此次公開的實(shí)施方式應(yīng)該認(rèn)為其在所有方面均為例示，絕無(wú)限制性。本發(fā)明的范圍不受上述實(shí)施方式的說(shuō)明所限，僅由權(quán)利要求書的范圍所示，而且包括與權(quán)利要求范圍具有同樣意思及同等范圍內(nèi)的所有變形。比如上述第一和第二實(shí)施方式列舉了本發(fā)明的樣本分析儀應(yīng)用于免疫分析儀 1(301)的例子，但本發(fā)明不限于此。只要是具備用于讀取電子標(biāo)簽的試劑信息的試劑信息讀取部件的裝置，本發(fā)明均可適用，除免疫分析儀外，也可適用于凝血分析儀、尿樣測(cè)定儀和基因擴(kuò)增檢測(cè)儀等。在上述第一實(shí)施方式，在R2放置部件19外側(cè)設(shè)置有近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21兩個(gè)天線部件，在上述第二實(shí)施方式，在R2放置部件19外側(cè)設(shè)置一個(gè)天線部件321，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以在R2放置部件外側(cè)設(shè)置三個(gè)以上天線部件(電波發(fā)射部件)。在上述第一和第二實(shí)施方式，近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21 (天線部件 321)都設(shè)置在R2放置部件19外側(cè)，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以將天線部件(電波發(fā)射部件)設(shè)置在Rl放置部件的內(nèi)側(cè)。此時(shí)，無(wú)需為電波發(fā)射部件而確保R2放置部件外側(cè)的區(qū)域，可以抑制儀器主體體積過(guò)大。在上述第一和第二實(shí)施方式，R1/R3放置部件18和R2放置部件19基本呈圓環(huán)形， 但本發(fā)明不限于此。也可以R1/R3放置部件和R2放置部件在并列狀態(tài)下向一定方向直線排列。 在上述第一和第二實(shí)施方式，近距離天線部件20和遠(yuǎn)距離天線部件21 (天線部件 321)可以發(fā)射讀取用電波和寫入用電波，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以設(shè)計(jì)成天線部件(電波發(fā)射部件)只能發(fā)射讀取用電波。 在上述第一和第二實(shí)施方式，設(shè)置了帶IC標(biāo)簽25的Rl試劑容器22、帶IC標(biāo)簽 26的R2試劑容器M和未帶IC標(biāo)簽的R3試劑容器23，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以不含不帶IC標(biāo)簽的試劑容器，僅由帶IC標(biāo)簽的試劑容器構(gòu)成。在上述第一和第二實(shí)施方式，Rl試劑容器22的Rl試劑的試劑信息及固定在與Rl 試劑容器22共用的R1/R3固定件18a上的R3試劑容器23的R3試劑的試劑信息均記錄在 IC標(biāo)簽25上，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以將三個(gè)以上試劑信息記錄在一個(gè)IC標(biāo)簽上。在上述第一和第二實(shí)施方式，設(shè)置有25支Rl試劑容器22、25支R3試劑容器23 和25支R2試劑容器對(duì)，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以使Rl試劑容器、R3試劑容器和 R2試劑容器的個(gè)數(shù)各不相同。Rl試劑容器(R3試劑容器和R2試劑容器)的個(gè)數(shù)也可以為 25個(gè)以外的其他個(gè)數(shù)。比如Rl試劑容器、R3試劑容器和R2試劑容器也可以僅各有一個(gè)。在上述第一和第二實(shí)施方式，配置了二列試劑容器固定部件(R1/R3放置部件18 和R2放置部件19)，但也可以配置三列以上試劑容器固定部件。在上述第一和第二實(shí)施方式，由內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件16d和外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)部件16e 分別轉(zhuǎn)動(dòng)R1/R3放置部件18和R2放置部件19，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以不讓Rl/ R3放置部件和R2放置部件轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)設(shè)置轉(zhuǎn)動(dòng)天線部件(電波發(fā)射部件)的驅(qū)動(dòng)部件，以此來(lái)使電波發(fā)射部件旋轉(zhuǎn)。此時(shí)，相鄰R2容器之間的間隙最好位于R1/R3放置部件的Rl 試劑容器和電波發(fā)射部件相對(duì)的區(qū)域。在上述第二實(shí)施方式，通過(guò)切換從讀寫型基板317a向天線基板321b的傳送輸出來(lái)切換天線部件321發(fā)射的讀取用電波的讀取范圍和寫入用電波的寫入范圍，但本發(fā)明不限于此。比如，也可以通過(guò)CPU適當(dāng)調(diào)整金屬板(限制部件)的缺口形狀和大小，以此切換讀取用電波的讀取范圍和寫入用電波的寫入范圍。在上述第一和第二實(shí)施方式，當(dāng)天線部件發(fā)射范圍B的遠(yuǎn)距離讀取用電波時(shí)，使位于E區(qū)的R2試劑容器退讓出E區(qū)，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明只要天線部件可以讀取到 Rl試劑容器的IC標(biāo)簽即可，也可以不讓在E區(qū)的R2試劑容器退出E區(qū)。比如，如果R2試劑容器內(nèi)的試劑余量減少，天線部件發(fā)出的電波不會(huì)被R2試劑容器內(nèi)的試劑吸收的話，也可以不讓R2試劑容器退出E區(qū)。另外，也可以不讓所有R2試劑容器退出E區(qū)，一部分R2 試劑容器可以位于E區(qū)。在上述第一和第二實(shí)施方式，將相鄰R2試劑容器之間的間隙F和讀取目標(biāo)的Rl 試劑容器的IC標(biāo)簽配置在正對(duì)天線部件的位置，但本發(fā)明不限于此。在本發(fā)明中，只要能讀取到Rl試劑容器的IC標(biāo)簽即可，間隙F和讀取目標(biāo)的Rl試劑容器的IC標(biāo)簽也可以不配置在正對(duì)天線部件的位置。在上述第一和第二實(shí)施方式，天線部件發(fā)射范圍B的遠(yuǎn)距離讀取用電波時(shí)，將R2 試劑容器的IC標(biāo)簽配置在不正對(duì)天線部件的位置，但本發(fā)明不限于此。在本發(fā)明中，也可以將R2試劑容器的IC標(biāo)簽配置在正對(duì)天線部件的位置。此時(shí)，即使讀取了 R2試劑容器的 IC標(biāo)簽，也可以根據(jù)試劑種類(種類識(shí)別信息)，只向控制裝置傳送讀取目標(biāo)的Rl試劑容器的IC標(biāo)簽的試劑信息。 在上述第一和第二實(shí)施方式，CPU判斷R2試劑容器是否位于正對(duì)天線部件附近的 E區(qū)后，讀寫試劑信息，但本發(fā)明不限于此。在本發(fā)明中，也可以先進(jìn)行試劑信息的讀寫，僅在試劑信息的讀寫失敗時(shí)，才移動(dòng)R2放置部件，使位于E區(qū)的R2試劑容器退出E區(qū)。
在上述第一和第二實(shí)施方式，分別進(jìn)行對(duì)Rl試劑容器的IC標(biāo)簽的讀取(寫入)
23和對(duì)R2試劑容器的IC標(biāo)簽的讀取(寫入)，但也可以同時(shí)進(jìn)行對(duì)Rl試劑容器的IC標(biāo)簽的讀取(寫入)和對(duì)R2試劑容器的IC標(biāo)簽的讀取(寫入)。
權(quán)利要求
1.一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側(cè)，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第二電子標(biāo)簽；試劑信息讀取部件，用于讀取所述第一電子標(biāo)簽上記錄的試劑信息和所述第二電子標(biāo)簽上記錄的試劑信息；及控制部件；其中，所述試劑信息讀取部件配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側(cè)，有發(fā)射到達(dá)范圍互不相同的數(shù)種電波的電波發(fā)射部件；所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據(jù)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽還是所述第二電子標(biāo)簽而切換從所述電波發(fā)射部件發(fā)射的電波。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽時(shí)，從所述電波發(fā)射部件發(fā)射第一到達(dá)范圍的電波，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二電子標(biāo)簽時(shí)，從所述電波發(fā)射部件發(fā)射大于所述第一到大范圍的第二到達(dá)范圍的電波。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于所述電波發(fā)射部件包含有選擇性地發(fā)射到達(dá)范圍各異的數(shù)種電波的共用天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據(jù)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽還是所述第二電子標(biāo)簽切換從所述共用天線部件發(fā)射的電波。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的樣本分析儀，還包括驅(qū)動(dòng)部件，用于移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述共用天線部件中的至少其中之一，其中所述控制部件控制所述驅(qū)動(dòng)部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二電子標(biāo)簽時(shí)，讓所述第一試劑容器讓開所述共用天線部件對(duì)面的位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于所述電波發(fā)射部件包括發(fā)射第一到達(dá)范圍電波的第一天線部件和發(fā)射第二到達(dá)范圍電波的第二天線部件；及所述控制部件控制所述試劑信息讀取部件，根據(jù)讀取目標(biāo)是所述第一電子標(biāo)簽還是所述第二電子標(biāo)簽，將發(fā)射電波的所述電波發(fā)射部件切換到所述第一天線部件或所述第二天線部件。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于所述控制部件判斷是否已從讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽讀取到試劑信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽所記錄的試劑信息包含識(shí)別試劑種類用的種類識(shí)別信息；及所述控制部件根據(jù)所述試劑信息讀取部件讀取的試劑信息中所含種類識(shí)別信息，判斷是否已從所述讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽讀取了試劑信息。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的樣本分析儀，其特征在于 所述第一試劑容器盛放第一種試劑；及所述第二試劑容器盛放第二種試劑。
9.根據(jù)權(quán)利要求1 8其中任意一項(xiàng)所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一試劑容器固定部件固定著復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器，從平面看呈圓環(huán)形； 所述第二試劑容器固定部件固定著復(fù)數(shù)個(gè)所述第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)呈圓環(huán)形；及所述電波發(fā)射部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側(cè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數(shù)量的所述第一試劑容器；及所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數(shù)量的所述第二試劑容器。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一試劑容器固定部件配置于所述電波發(fā)射部件和所述第二試劑容器固定部件之間。
12.—種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的一側(cè)，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第二電子標(biāo)簽；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件的另一側(cè)，從所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別接收電波；及試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取所述第一電子標(biāo)簽記錄的試劑信息和所述第二電子標(biāo)簽記錄的試劑信息。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的樣本分析儀，還包括驅(qū)動(dòng)部件，用于移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述天線部件中的至少其中之一； 驅(qū)動(dòng)控制部件，控制所述驅(qū)動(dòng)部件，當(dāng)所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽接收電波時(shí)，讓所述第一試劑容器讓開所述天線部件對(duì)面的位置。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一試劑容器固定部件以并排狀態(tài)固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器；及當(dāng)所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽接收電波時(shí)，所述驅(qū)動(dòng)控制部件控制所述驅(qū)動(dòng)部件，使所述第一試劑容器固定部件上的相鄰第一試劑容器之間的間隙位于所述第二電子標(biāo)簽和所述天線部件相對(duì)的區(qū)域。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的樣本分析儀，其特征在于 所述天線部件固定在一定位置上；所述驅(qū)動(dòng)部件移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件；及當(dāng)所述天線部件從所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽接收電波時(shí)，所述驅(qū)動(dòng)控制部件控制所述驅(qū)動(dòng)部件，向固定在所述一定位置的天線部件移動(dòng)所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件，使所述間隙和所述第二電子標(biāo)簽都位于所述天線部件的正面位置。
16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的樣本分析儀，其特征在于所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射電波，并接收所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽回應(yīng)所述天線部件發(fā)射的電波所發(fā)射的電波；所述第一試劑容器固定部件并排固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器；及所述樣本分析儀還具備一個(gè)天線控制部件，用于控制所述天線部件，使所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽發(fā)射電波的到達(dá)范圍小于所述天線部件向所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽發(fā)射電波的到達(dá)范圍。
17.根據(jù)權(quán)利要求12所述的樣本分析儀，還包括限制部件，用于限制所述天線部件發(fā)射電波的到達(dá)范圍和所述天線部件的電波接收范圍中的至少其中之一。
18.根據(jù)權(quán)利要求12所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第一試劑容器； 所述第二試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個(gè)所述第二試劑容器；及所述天線部件從固定在所述第一試劑容器固定部件上的所述復(fù)數(shù)個(gè)第一試劑容器的各個(gè)第一電子標(biāo)簽接收電波，從固定在所述第二試劑容器固定部件上的所述復(fù)數(shù)個(gè)第二試劑容器的各個(gè)第二電子標(biāo)簽接收電波。
19.根據(jù)權(quán)利要求12 18其中任意一項(xiàng)所述的樣本分析儀，其特征在于 所述第一試劑容器固定部件從平面看呈圓環(huán)形；所述第二試劑容器固定部件從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)呈圓環(huán)形；及所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件外側(cè)。
20.根據(jù)權(quán)利要求12所述的樣本分析儀，還包括判斷所述天線部件是否從試劑信息讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽收到電波的第一判斷控制部件。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一和第二電子標(biāo)簽各自記錄的試劑信息中包含識(shí)別試劑種類的種類識(shí)別信息；及所述第一判斷控制部件根據(jù)所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含種類識(shí)別信息，判斷所述天線部件是否從所述讀取目標(biāo)的電子標(biāo)簽收到電波。
22.根據(jù)權(quán)利要求12所述的樣本分析儀，其特征在于所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射寫入用電波，以此將試劑信息分別寫入所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽；及所述樣本分析儀還具備第二判斷控制部件，用于在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽發(fā)射所述寫入用電波前，判斷所述天線部件能否與所述待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽進(jìn)行通信。
23.根據(jù)權(quán)利要求12所述的樣本分析儀，其特征在于所述第一試劑容器固定部件配置在所述天線部件和所述第二試劑容器固定部件之間。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括固定第一試劑容器的第一試劑容器固定部件，第一試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第一電子標(biāo)簽；固定第二試劑容器的第二試劑容器固定部件，配置在第一試劑容器固定部件的一側(cè)，第二試劑容器上有記錄著與試劑相關(guān)的試劑信息的第二電子標(biāo)簽；讀取第一電子標(biāo)簽上記錄的試劑信息和第二電子標(biāo)簽上記錄的試劑信息的試劑信息讀取部件；控制部件；試劑信息讀取部件配置在第一試劑容器固定部件的另一側(cè)，有發(fā)射到達(dá)范圍互不相同的數(shù)種電波的電波發(fā)射部件；控制部件控制試劑信息讀取部件，根據(jù)讀取目標(biāo)是第一電子標(biāo)簽還是第二電子標(biāo)簽而切換從電波發(fā)射部件發(fā)射的電波。
文檔編號(hào)G06K7/00GK102221622SQ201110066018
公開日2011年10月19日 申請(qǐng)日期2011年3月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月18日
發(fā)明者德永一敏 申請(qǐng)人:希森美康株式會(huì)社