專利名稱：能夠?qū)?biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的讀取裝置、相關(guān)方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的多個(gè)實(shí)施方案涉及讀取裝置的領(lǐng)域。通過(guò)舉例，本發(fā)明的多個(gè)實(shí)施方案涉及一種能夠?qū)?biāo)簽或有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的讀取裝置、相關(guān)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
近來(lái)，將磁場(chǎng)用于識(shí)別的目的已經(jīng)是非常廣泛并且極為重要的。這可以在大量的利用磁性圖案或磁性顆粒作為它們的識(shí)別手段的安全物品中看出。一些實(shí)例包括典型地使用磁性墨或磁條來(lái)存儲(chǔ)加密的安全信息的安全文件，如支票、信用卡或票據(jù)。其他實(shí)例包括使用磁性顆粒來(lái)生成一種隨機(jī)排列用作磁性指紋的防偽標(biāo)簽。此外，作為磁性安全特征，磁性條形碼與磁性圖案也正在獲得普及。將磁場(chǎng)用于識(shí)別是受歡迎的，因?yàn)樗悄軌蚩焖俨⑶铱煽孔x取的不可視識(shí)別的一種負(fù)擔(dān)得起的形式。此外，使用磁場(chǎng)的識(shí)別標(biāo)簽通常不需要任何額外的功率來(lái)運(yùn)行，因?yàn)榇艌?chǎng)是這些磁性材料的一種固有特征。然而，在安全特征領(lǐng)域中用于檢測(cè)磁場(chǎng)的手段是非常有限的。大多數(shù)磁性的安全物品(尤其是安全卡和文件)通常采用一種檢測(cè)手段，它涉及將這些物品的磁性面在一個(gè)槽縫中滑動(dòng)來(lái)獲取一個(gè)磁信號(hào)。在這種刷卡式應(yīng)用中，在被讀取的物件與讀取器之間一般需要有一個(gè)物理引導(dǎo)件以便確保所讀取的信息軌道是所希望的軌道。而且，這種機(jī)械的刷卡式作用會(huì)逐漸磨損安全物品和讀取器傳感器或引導(dǎo)件兩者，并且使得碎片能夠陷落在引導(dǎo)件中并且使得在安全物品上出現(xiàn)劃痕。如果分辨率要求高分辨率的讀取，那么這些被讀取的軌道是較窄的并且可能要求非常精確的對(duì)準(zhǔn)才能正確地進(jìn)行讀取。盡管如此，增強(qiáng)的安全性常常要求磁場(chǎng)信號(hào)的分辨率達(dá)到一個(gè)高水準(zhǔn)。這鼓勵(lì)了對(duì)于用戶具有改進(jìn)的可用性的新的高分辨率區(qū)域檢測(cè)手段的開(kāi)發(fā)。高分辨率檢測(cè)方法的一個(gè)實(shí)例是磁光檢測(cè)。在磁光盤和類似的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置的情況下，磁光檢測(cè)是通過(guò)使偏振光從該磁光盤的一個(gè)反射表面返回而實(shí)現(xiàn)的。由于在該反射表面處或其附近存在一個(gè)磁場(chǎng)，反射光的偏振被改變(通常偏振的這種旋轉(zhuǎn)是由于磁光克爾效應(yīng))。通過(guò)測(cè)量偏振中的改變，檢測(cè)器能夠得到在反射表面處的磁場(chǎng)強(qiáng)度的一個(gè)度量。 因?yàn)楸P的形狀因素(平坦而且圓形的)并且盤所處的環(huán)境一般較溫和，所以這個(gè)系統(tǒng)工作良好。然而，安全標(biāo)牌和標(biāo)記在它們的使用壽命的過(guò)程中可能遭受嚴(yán)重的擦傷以及其他嚴(yán)酷的情況。因此，對(duì)于安全標(biāo)牌和標(biāo)記來(lái)說(shuō)，使用要求被讀取的基片(例如，該標(biāo)牌)包含一種平坦、潔凈的鏡面式最終處理的反射表面的一種讀取方法并不總是實(shí)用的。
幸運(yùn)的是，存在用于磁光檢測(cè)的替代裝置。一個(gè)解決方案是使反射表面成為讀取裝置自身的一部分，因此在該裝置之內(nèi)進(jìn)行內(nèi)部的光反射。該反射表面與有待讀取的基片進(jìn)行緊密接觸，這樣來(lái)自基片的磁場(chǎng)可以影響該裝置內(nèi)由反射表面反射的光線。這意味著被讀取的基片不受必須有一個(gè)平坦反射鏡面的約束。許多集團(tuán)已經(jīng)開(kāi)發(fā)了用于存儲(chǔ)裝置領(lǐng)域的內(nèi)部反射的磁光讀取器，但是為了識(shí)別的目的對(duì)它們的使用是非常有限的。以下詳細(xì)說(shuō)明磁光讀取器的一些實(shí)例。美國(guó)專利號(hào)3，512，866披露了一種磁光手持式觀察器。這種手持式觀察器專門針對(duì)一種裝置，該裝置被構(gòu)造為利用磁光原理來(lái)工作從而提供磁媒質(zhì)(如磁帶)中的磁狀態(tài)的一種視覺(jué)展現(xiàn)。該手持式觀察器利用克爾和法拉第磁光效應(yīng)來(lái)提供視覺(jué)展現(xiàn)?？藸柎殴庑?yīng)使得從一個(gè)磁性表面反射的光束的光線偏振的主方向產(chǎn)生一種旋轉(zhuǎn)。法拉第磁光效應(yīng)使得穿過(guò)一個(gè)磁媒質(zhì)的光束的光線偏振的主方向產(chǎn)生一種旋轉(zhuǎn)。這種磁光手持式觀察器利用克爾和法拉第磁光效應(yīng)的組合來(lái)提供光束的光線旋轉(zhuǎn)的最大幅度。美國(guó)專利號(hào)5，742，036披露了一種利用磁光成像技術(shù)來(lái)標(biāo)記、捕獲以及解碼機(jī)器可讀矩陣符號(hào)的方法。該專利涉及通過(guò)添加可磁化材料來(lái)增強(qiáng)基片材料上的機(jī)器可讀矩陣符號(hào)標(biāo)記，并且然后在一個(gè)后來(lái)時(shí)間借助于與該矩陣符號(hào)標(biāo)記相關(guān)的磁特性使用一個(gè)磁光讀取裝置來(lái)讀取該標(biāo)記。然而，該專利中所述的方法主要針對(duì)Vericode 或其他的通過(guò)沉積一種粘性磁化合物形成的機(jī)器可讀矩陣符號(hào)的檢測(cè)。此外，該專利描述了一種磁防偽符號(hào)的檢測(cè)，但是它沒(méi)有考慮將磁光裝置應(yīng)用在非符號(hào)應(yīng)用中；例如，用于分散的磁性顆粒的固有隨機(jī)性的成像。換言之，該專利中的磁光讀取器識(shí)別用磁性顆粒寫成的符號(hào)但是并不讀取單個(gè)的顆粒，并且其考慮了它們?cè)谝粋€(gè)固定區(qū)域中的隨機(jī)位置，這樣該區(qū)域具有一個(gè)不可重復(fù)的高分辨率圖案。美國(guó)專利號(hào)5，920，538披露了一種用于讀取存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的磁光讀出方法、一種磁光讀出頭及其制作方法。該專利描述了一種磁光讀出頭，該讀出頭與具有一個(gè)波長(zhǎng)的照明光源一起讀取磁性存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。這種磁光讀出頭包括一個(gè)光學(xué)透明的基片，該基片具有一個(gè)被適配為面對(duì)磁存儲(chǔ)媒質(zhì)的表面；一個(gè)光透法拉第效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器，該法拉第效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器具有一個(gè)配置在所述基片的所述表面上的法拉第系數(shù)θ F，并且具有一個(gè)被適配為面對(duì)所述磁存儲(chǔ)媒質(zhì)的法拉第效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器表面；以及一個(gè)光反射性克爾效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器，該克爾效應(yīng)旋轉(zhuǎn)器具有一個(gè)配置在所述法拉第旋轉(zhuǎn)器表面上的克爾系數(shù)θκ，其中9,和ΘF在所述照明光的所述波長(zhǎng)處具有一個(gè)相同的運(yùn)算符號(hào)。在防偽技術(shù)領(lǐng)域，還發(fā)現(xiàn)使用多種技術(shù)的組合用于增強(qiáng)的保護(hù)是極為有利的，例如，讀取磁性數(shù)據(jù)及光學(xué)數(shù)據(jù)二者。以下將詳細(xì)描述光學(xué)傳感器和磁傳感器相結(jié)合的一些實(shí)例。美國(guó)專利號(hào)3，612，835披露了一種光和磁結(jié)合的傳感器，該傳感器用于感測(cè)一個(gè)物品的光學(xué)特性及磁特性二者，該物品例如是一張紙幣或者具備有待測(cè)試或讀取的可見(jiàn)的及磁性的標(biāo)記的其他文件、一個(gè)信息承載媒質(zhì)(如有待讀取的數(shù)據(jù)記錄帶)、或者諸如此類。該傳感器包括一個(gè)磁感測(cè)頭，該磁感測(cè)頭具有一個(gè)透明間隙，該透明間隙將該磁頭的磁芯的兩極隔離開(kāi)；以及一個(gè)光電元件，該光電元件被置于該磁頭中與該間隙對(duì)準(zhǔn)。在該磁頭之外，該物品的一側(cè)與該間隙處的這些磁極接觸或者與其緊密地靠近，并且用一個(gè)光源照射該物品，這樣可以在該物品與傳感器的相對(duì)運(yùn)動(dòng)過(guò)程中同時(shí)檢測(cè)該物品的磁特性及光性質(zhì)二者。美國(guó)專利號(hào)3，876，981披露了一種字符辨識(shí)系統(tǒng)以及一種用于辨識(shí)用磁墨印刷的字符的方法，其中通過(guò)利用磁傳感器和光傳感器二者來(lái)感測(cè)這些字符而增強(qiáng)了辨識(shí)。在該辨識(shí)階段中或者在其之前，將從該磁傳感器的輸出信號(hào)中導(dǎo)出的至少一個(gè)信號(hào)與從該光傳感器的輸出信號(hào)中導(dǎo)出的至少一個(gè)信號(hào)相結(jié)合。美國(guó)專利號(hào)6，745，942披露了一種磁性符號(hào)讀取器，該讀取器具有一個(gè)外殼，該外殼包含一個(gè)偏振光源，該光源將光指引通過(guò)一個(gè)磁光傳感器而到達(dá)一個(gè)反射器上，該反射器將光通過(guò)該磁光傳感器反射回來(lái)并且然后通過(guò)至少一個(gè)分析器并且進(jìn)入至少一個(gè)相機(jī)。當(dāng)一個(gè)處理器與一個(gè)可能的第二相機(jī)連接時(shí)，一個(gè)取景器允許用戶監(jiān)視該磁光傳感器上的圖像(如一個(gè)取景器式相機(jī)中所看)，這樣當(dāng)檢測(cè)到一個(gè)圖像時(shí)，來(lái)自相機(jī)的圖像可以由一個(gè)處理器進(jìn)行處理，以便向一個(gè)外部源輸出與該符號(hào)相關(guān)的信息。該分析器和偏振光源提供了由該傳感器檢測(cè)到的這些圖像的對(duì)比度。位于該磁光傳感器周圍的一個(gè)偏壓或擦除線圈可以增強(qiáng)或擦除該傳感器上的圖像?？梢栽诿绹?guó)專利號(hào)3，755，730中找到磁可讀識(shí)別的一項(xiàng)早期使用。美國(guó)專利號(hào) 3，755，730披露了一種具有多個(gè)可磁化識(shí)別戳的工具、器具或者器械，這些戳被一個(gè)不透明的保護(hù)層(如涂料)所隱藏。可以使用一個(gè)磁讀取器來(lái)讀取這些戳。在PCT公開(kāi)號(hào)WO 2004/013735中披露了另一個(gè)實(shí)例。該公開(kāi)文件披露了一種提供有待應(yīng)用于商品的材料標(biāo)記的系統(tǒng)及其相關(guān)方法。在一個(gè)實(shí)施方案中，以一種預(yù)定的圖案來(lái)施用磁材性料。磁材性料在跨越該結(jié)構(gòu)化圖案的一個(gè)方向上的積累可以提供一個(gè)自動(dòng)可感測(cè)的值?？梢詫⒋趴勺x材料提供為一個(gè)預(yù)定的、可重復(fù)的圖案，其中該磁材性料被施用在一個(gè)表面上，該表面的分辨率在每英寸至少10，000至100個(gè)點(diǎn)的范圍內(nèi)。以下描述了另外的關(guān)于在文件和制造物品上的可重復(fù)的磁性圖案的現(xiàn)有技術(shù)美國(guó)專利號(hào)3，878’ 367披露了一種安全文件，該安全文件具有一個(gè)磁記錄層，該磁記錄層包含均勻分布的、具有磁各向異性的可磁化材料，其中該材料相對(duì)于一個(gè)參考位置在多個(gè)被選定的位置上是不同地實(shí)體性地對(duì)齊的，以提供一種磁性可檢測(cè)的永久性固定的信息圖案，如用于文件驗(yàn)證的一種編碼圖案。美國(guó)專利號(hào)4，081，132披露了一種安全文件，該安全文件具有一個(gè)載體和兩層可磁化材料，一層覆蓋另一層，該載體與這兩個(gè)層都粘合在一起。一個(gè)層是用于記錄信息，而另一個(gè)層具有一種可以被檢查以用于驗(yàn)證目的的磁結(jié)構(gòu)。該專利披露了制作該結(jié)構(gòu)化層的一種優(yōu)選方法是在來(lái)自該信息層上一個(gè)記錄的磁場(chǎng)的影響下沉積可磁化材料從而形成該層，該層具有該結(jié)構(gòu)的形式。當(dāng)已經(jīng)形成該結(jié)構(gòu)化層時(shí)，該記錄被擦除。該安全文件可以是信用卡、紙幣或其他有價(jià)值的紙件。美國(guó)專利號(hào)3，803，634披露了一種用于磁印刷的裝置及方法，其中在一個(gè)主磁媒質(zhì)的基板中形成了一個(gè)或多個(gè)穿孔用于磁性圖案印刷，并且一個(gè)或多個(gè)磁化元件(示例性地由永磁體形成)被置于這些穿孔中，其中它們的端面從基板的表面上突出一個(gè)小的距離。用于復(fù)制的一個(gè)從磁媒質(zhì)的一個(gè)磁薄膜的表面與這些磁化元件的端面緊密接觸，并且一個(gè)外部磁場(chǎng)被印記在這些接觸部分上。通過(guò)安排這些磁化元件的或者通過(guò)所述磁化元件關(guān)于該用于復(fù)制的從磁媒質(zhì)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)形成所期望的磁性圖案；其結(jié)果是，所述磁性圖案被復(fù)制在從磁媒質(zhì)的磁薄膜上。
美國(guó)專利號(hào)4，183，989披露了一種安全紙件，該安全紙件包含一種安全裝置，例如條、線或畫板，其上具有至少兩個(gè)機(jī)器可驗(yàn)證的安全特征，其中一個(gè)是一種磁性材料，可以用一個(gè)預(yù)先確定的圖案將該磁性材料磁編碼或印刷在該裝置上，而其中第二個(gè)是一種發(fā)光材料、一種X射線吸收劑或一種金屬。在一個(gè)裝置上供給若干個(gè)特征提供了更高的文件安全性。美國(guó)專利號(hào)3，701，165披露了被形成為帶有標(biāo)記或縫線的外衣，這些標(biāo)記或縫線攜帶一種可以被磁檢測(cè)裝置檢測(cè)的物質(zhì)。當(dāng)在制作外衣的過(guò)程中檢測(cè)到該外衣部分上的磁化物質(zhì)時(shí)，響應(yīng)于檢測(cè)到該縫線而驅(qū)動(dòng)后續(xù)的衣服制作步驟。美國(guó)專利號(hào)4，180，207披露了一種安全文件，該安全文件是通過(guò)將一個(gè)本體牢固地附裝在一個(gè)支持物上來(lái)生成的，該本體包括一種安全特征并且具有一種形狀，該形狀將信息傳送到眼睛里。例如，該本體是一個(gè)可磁化材料的層，該可磁化材料層具有字母、數(shù)字以及諸如此類的孔徑。該文件可以由磁檢查裝置與光檢查裝置二者檢查，以便交叉核對(duì)沒(méi)有做出任何改變。該專利還描述了一種制作安全文件及檢查裝置的方法。該安全特征可以是固定在該材料中的磁各向異性的一種圖案。美國(guó)專利號(hào)3，755，730披露了一種具有多個(gè)可磁化識(shí)別戳的工具、器具或者器械，這些戳被一個(gè)不透明的保護(hù)層(如涂料)所隱藏。這些戳可以使用一個(gè)磁讀取器來(lái)讀取。在創(chuàng)建優(yōu)選的防偽磁性指紋時(shí)，磁性顆粒需要以一種特定的方式對(duì)準(zhǔn)以便給出可區(qū)分的信號(hào)。在美國(guó)專利申請(qǐng)?zhí)?0060081151中披露了一種方法。該專利申請(qǐng)披露了一種使用糊劑用于印刷的方法及裝置，該糊劑例如是墨(如在凹版印刷中所使用的那些)，其中該墨包括一些特殊的薄片，例如薄膜狀光學(xué)可變薄片，或衍射薄片。該專利申請(qǐng)還披露了一種具有能源的裝置，該能源例如一個(gè)熱源用于在墨內(nèi)的薄片對(duì)準(zhǔn)過(guò)程中暫時(shí)降低墨的粘度。還可以在美國(guó)專利號(hào)7，047，883中找到一種類似的方法。美國(guó)專利號(hào)7，047，883 披露了一種裝置及多種相關(guān)的方法來(lái)對(duì)準(zhǔn)一個(gè)載體(如墨載體或涂料載體)中的多個(gè)磁性薄片，以便在一個(gè)高速、線性的印刷操作中創(chuàng)建光學(xué)可變的圖像。圖像可以在高價(jià)值的文件 (如銀行票據(jù))上提供安全特征。在線性印刷操作中，利用磁體將墨中的磁性薄片對(duì)準(zhǔn)。磁性顏料薄片的選定的朝向可以實(shí)現(xiàn)多種虛幻的光學(xué)效應(yīng)，它們對(duì)于裝飾或安全應(yīng)用而言是有用的。然而，對(duì)用于對(duì)標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的一種讀取裝置、系統(tǒng)及方法仍然存在一種需要，該裝置、系統(tǒng)及方法提供足夠的驗(yàn)證安全性，即，在其中識(shí)別的可靠性是足夠高的。本發(fā)明的一個(gè)目的是提供這樣一種讀取裝置、系統(tǒng)及方法。這個(gè)目的以及其他的目的是由對(duì)應(yīng)的獨(dú)立權(quán)利要求所限定的讀取裝置、方法及系統(tǒng)所解決的。

發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案中，提供了一種能夠讀取磁性信息和光學(xué)信息的讀取裝置。這種讀取裝置包括一個(gè)讀取元件，該讀取元件包括一個(gè)被適配為讀取重疊的磁性識(shí)別特征和光學(xué)識(shí)別特征的磁光基片，其中該磁光基片是至少部分透明的。注意，此處當(dāng)介詞“中”或“上”用于說(shuō)明識(shí)別特征相對(duì)于標(biāo)簽或物品的位置時(shí)，我們還考慮到了使用另一個(gè)介詞(例如，“在一個(gè)標(biāo)簽中”也應(yīng)該被認(rèn)為是“在一個(gè)標(biāo)簽上”，并且反之亦然)。該讀取裝置被配置為使得從讀取的第一組識(shí)別特征中生成的一種第一信號(hào)以及通過(guò)讀取該第二組識(shí)別特征生成的一種第二信號(hào)被獨(dú)立地用于導(dǎo)出用于識(shí)別該標(biāo)簽或物品的一個(gè)第一簽名和
一個(gè)第二簽名。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該磁光基片包括一種層狀安排，該層狀安排包括一個(gè)光學(xué)透明的基片、一個(gè)第一涂覆層、以及一個(gè)第二涂覆層。該磁光基片進(jìn)一步包括一個(gè)保護(hù)層。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該第二涂覆層是部分地透明的并且是部分地反射性的。該第二涂覆層可以反射至少一部分光，其中這種光是單色的。在此“單色”光源不僅是指嚴(yán)格的單色(即一種顏色)光源，而且認(rèn)為它還包括了任何非白色光源(即基本上排除至少一個(gè)顏色或波長(zhǎng)譜帶的光源)和任何在限定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)發(fā)射電磁輻射的光源，例如，發(fā)射波長(zhǎng)在450nm與495nm之間的光的光源通常被認(rèn)為是單色藍(lán)光源，而單色綠光源通常被認(rèn)為是在495nm與570nm之間發(fā)射。依照當(dāng)發(fā)射的輻射在一個(gè)(預(yù)先)確定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)即為單色的這種定義，例如，包括藍(lán)色和綠色、并且由一個(gè)在450nm與570nm范圍內(nèi)的光源發(fā)射的青色光也被認(rèn)為是單色光。如此處的另一個(gè)實(shí)例，術(shù)語(yǔ)“單色”并不局限于經(jīng)典的光譜顏色，而是還包括任何種類的適當(dāng)?shù)?、預(yù)先定義的波長(zhǎng)范圍，例如600nm-750nm在此被認(rèn)為是一種“單色”光源。該第二涂覆層可以包括一種雙色反射鏡或一種介電反射鏡。該第二涂覆層還可以被配置為改變其反射特性。在一個(gè)實(shí)施方案中，第二涂覆層是一種可切換的反射鏡。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該第二涂覆層包括至少兩個(gè)區(qū)域，一個(gè)第一區(qū)域用于讀取光學(xué)識(shí)別特征，而一個(gè)第二區(qū)域用于讀取磁性識(shí)別特征，其中圖案化的第二涂覆層包括多個(gè)第一區(qū)域和多個(gè)第二區(qū)域，這些區(qū)域被安排在第一和第二區(qū)域交替的一個(gè)陣列中。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該讀取裝置被配置為產(chǎn)生一個(gè)交變電流，以便與磁性識(shí)別特征一起感應(yīng)出一個(gè)磁場(chǎng)。在另一個(gè)實(shí)施方案中，讀取裝置包括一個(gè)或多個(gè)磁體(這些磁體可以是例如永磁體或螺線管磁體)，這些磁體被配置為在磁性識(shí)別特征的區(qū)域中產(chǎn)生磁場(chǎng)。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該讀取裝置包括一個(gè)或多個(gè)光源，這些光源被配置為產(chǎn)生至少兩個(gè)單色的光信號(hào)，這兩個(gè)單色光信號(hào)中的至少一個(gè)具有能夠產(chǎn)生這些光學(xué)識(shí)別特征的一個(gè)圖像的波長(zhǎng)，并且其中的至少另一個(gè)具有能夠產(chǎn)生這些磁性識(shí)別特征的一個(gè)圖像的波長(zhǎng)。該至少兩個(gè)單色信號(hào)之一可以穿過(guò)一個(gè)偏光器。在此，“波長(zhǎng)”并不嚴(yán)格受限于一個(gè)單一的光波長(zhǎng)；而是應(yīng)將其理解為，在適當(dāng)情況下還包括一個(gè)波長(zhǎng)范圍(例如，“波長(zhǎng)”還可以指從620nm到750nm的波長(zhǎng)范圍)。在此，單詞如“偏振的”和“偏光器”一般是指線偏振， 但是還包括其他形式的偏振作用，如在適當(dāng)情況下的圓偏振。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該讀取元件包括一個(gè)接合元件，該接合元件用于對(duì)該磁光基片進(jìn)行定位于該第一組識(shí)別特征的一個(gè)區(qū)域上。該接合元件實(shí)質(zhì)上包圍了該磁光基片。 該接合元件在形狀上與該標(biāo)簽或物品中的一個(gè)接合軌道是實(shí)質(zhì)上互補(bǔ)的，從而形成一種互鎖裝置。該接合元件可以被形成為一個(gè)腔或一個(gè)凹陷，并且該凹陷的高度為至少大約50微米、至少大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。該接合元件也可以被形成為一個(gè)突起。該突起的高度為至少大約50微米、至少大約150微米、至少大約200微米、或至少250微米。該接合元件具有在在截面上是一個(gè)圓的形狀或一個(gè)多邊形的截面形狀。在另一個(gè)實(shí)施方案中，至少該讀取元件被適配為當(dāng)與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相接觸時(shí)與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相符合。該讀取元件包括一個(gè)符合元件，當(dāng)使該讀取元件與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相接觸時(shí)，該符合元件協(xié)助至少該讀取元件與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相符合。該符合元件包括至少一個(gè)彈簧、海綿、抽吸系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)、或氣壓系統(tǒng)。在讀取過(guò)程中，該符合元件將至少該讀取元件推到一個(gè)有待讀取的區(qū)域上，并且該符合元件被適配為在該讀取裝置掉落或與硬表面接觸時(shí)保護(hù)該讀取元件的表面免受損傷。該符合元件還被設(shè)計(jì)為如果該讀取元件被推動(dòng)則允許該讀取元件下沉到該接合元件的水平以下。該讀取元件在不使用時(shí)被容納在該接合元件的水平以下，但是當(dāng)它與該標(biāo)簽或有待讀取的物品接合時(shí)，該接合元件將該讀取元件推到有待讀取的區(qū)域的表面上。至少該讀取元件在被置于同該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相接觸時(shí)是與該接合元件有距離的，從而允許該讀取元件與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相符合。在本發(fā)明的一個(gè)第二實(shí)施方案中，提供了一種用于讀取磁性信息和光學(xué)信息的讀取裝置。該讀取裝置包括一個(gè)讀取元件，該讀取元件包括一個(gè)磁光基片，該磁光基片包括一個(gè)被配置為反射光的一個(gè)第一部分的反射層、以及一個(gè)被配置為使光的一個(gè)第二部分透過(guò)的透明層，其中該反射層和該透明層重疊以便形成一個(gè)重疊區(qū)域，該重疊區(qū)域能夠讀取一個(gè)物品的磁性信息和光學(xué)信息兩者。在本發(fā)明的一個(gè)第三實(shí)施方案中，披露了一種用于對(duì)標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的讀取裝置。該讀取裝置包括一個(gè)讀取元件，該讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第一組識(shí)別特征，其中該讀取元件是一個(gè)磁光讀取元件，該磁光讀取元件包括至少一個(gè)磁光基片。該讀取元件包括一個(gè)接合元件，該接合元件用于將該讀取元件定位于該第一組識(shí)別特征的一個(gè)區(qū)域上，其中該接合元件實(shí)質(zhì)上包圍了該讀取元件，并且該接合元件在形狀上與該標(biāo)簽或與被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)接合軌道是實(shí)質(zhì)上互補(bǔ)的，從而形成一種互鎖裝置。該接合元件被形成為一個(gè)凹陷或突起。在本發(fā)明的一個(gè)第四實(shí)施方案中，披露了一種用于對(duì)標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的方法。該方法包括僅通過(guò)對(duì)位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第一組識(shí)別特征的一個(gè)磁光讀取來(lái)生成一種第一信號(hào)，其中該第一組識(shí)別特征包括多個(gè)磁性的或可磁化的顆粒的一種無(wú)序安排，這些顆粒被包括在該標(biāo)簽或物品的一個(gè)識(shí)別層中。從讀取該第一組識(shí)別特征所生成的該第一信號(hào)原樣地被用于導(dǎo)出一個(gè)用于識(shí)別該標(biāo)簽或物品的第一簽名。該方法還包括從讀取一個(gè)第二組識(shí)別特征來(lái)產(chǎn)生一個(gè)第二信號(hào)，其中該第二組識(shí)別特征包括多個(gè)光學(xué)識(shí)別特征，并且該第一組識(shí)別特征和該第二組識(shí)別特征可以至少部分地重疊。在另一個(gè)實(shí)施方案中，這些磁性的或者可磁化的顆粒的無(wú)序安排包括多個(gè)隨機(jī)分布的、磁性的或者可磁化的顆粒。這些磁性顆粒包括一種鐵氧體磁性材料、一種反鐵磁性材料、一種鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個(gè)磁疇(包括造成可變磁特性的多個(gè)空隙)、以及它們的多種組合。鐵磁性材料是選自下組，其組成為MnBi、 CrTe、EuO、CrO2、MnAs、Fe、Ni、Co、Gd、Dy、Nd,與 Fe、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 相對(duì)應(yīng)的多種合金以及氧化物，以及它們的多種組合。一種示例性高矯頑性材料是包括Ndle以及B的釹磁體。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該方法進(jìn)一步包括從讀取的第二組識(shí)別特征中生成一種第二信號(hào)。從讀取的第一組識(shí)別特征中所生成的該第一信號(hào)以及從讀取的該第二組識(shí)別特征中所生成的該第二信號(hào)被獨(dú)立地用于導(dǎo)出用于識(shí)別該標(biāo)簽或物品的一個(gè)第一簽名和一個(gè)第二簽名。該第二組識(shí)別特征包括一個(gè)芯片、一個(gè)磁條、一個(gè)序列號(hào)、或一個(gè)光學(xué)標(biāo)識(shí)。該芯片是一個(gè)射頻識(shí)別標(biāo)簽或一個(gè)基于接觸的存儲(chǔ)器芯片。該光學(xué)標(biāo)識(shí)是線性條形碼、2D條形碼(如PDF416標(biāo)準(zhǔn))、矩陣條形碼(如數(shù)據(jù)矩陣(DataMatrixhQR編碼以及代表數(shù)字或字母數(shù)字序列的其他開(kāi)源或?qū)Ｓ械膱D案)或全息圖。該光學(xué)標(biāo)識(shí)可以是對(duì)裸的人眼是不可見(jiàn)的，但是在電磁譜的紫外線或紅外線狀態(tài)下是可檢測(cè)的。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)接合軌道之中。該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征可以在同一個(gè)平面上?？商娲?，該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征可以在不同的平面上。在本發(fā)明的一個(gè)第五實(shí)施方案中，披露了一種用于對(duì)標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行的方法。該方法包括通過(guò)對(duì)位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第一組識(shí)別特征的磁光讀取生成一種第一信號(hào)，通過(guò)讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第二組識(shí)別特征生成一種第二信號(hào)，其中從讀取該第一組識(shí)別特征所生成的該第一信號(hào)與從讀取該第二組識(shí)別特征所生成的該第二信號(hào)用于導(dǎo)出用于識(shí)別該標(biāo)簽或該物品的一個(gè)第一簽名和一個(gè)第二簽名。在一個(gè)實(shí)施方案中，該第一組識(shí)別特征包括多個(gè)磁性的或可磁化的顆粒的一種無(wú)序安排。這些磁性的或者可磁化的顆粒的無(wú)序安排包括多個(gè)隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。這些磁性顆粒包括一種鐵氧體磁性材料、一種反鐵磁性材料、一種鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個(gè)磁疇(包括造成可變磁特性的多個(gè)空隙)、以及它們的多種組合。鐵磁性材料是選自下組，其組成為MnBi、CrTe、EuO, CrO2^MnAs、Fe、Ni、 Co、Gd、Dy，與Fe、Ni、Co、Sm、Gd、Dy相對(duì)應(yīng)的多種合金以及氧化物，以及它們的多種組合。 一種示例性高矯頑性材料是包括Nd、Fe以及B的釹磁體。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)接合軌道之中。該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征可以在同一個(gè)平面上?？商娲?，該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征可以在不同的平面上。在本發(fā)明的一個(gè)第六實(shí)施方案中，披露了一種用于對(duì)標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行的識(shí)別系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括用于識(shí)別一個(gè)物品的一種標(biāo)簽，該標(biāo)簽可以被附裝在該物品上；以及用于讀取位于該標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品中的至少一個(gè)第一組和一個(gè)第二組識(shí)別特征的一種讀取裝置。在一個(gè)實(shí)施方案中，從該讀取元件獲得的該第一信號(hào)相對(duì)于沒(méi)有一個(gè)實(shí)質(zhì)性磁場(chǎng)時(shí)從該同一個(gè)讀取元件獲得的一個(gè)信號(hào)而被歸一化。該歸一化是通過(guò)從在與被讀取區(qū)域相接合時(shí)的該讀取元件獲得的信號(hào)中減去在沒(méi)有一個(gè)實(shí)質(zhì)性磁場(chǎng)時(shí)從該讀取元件獲得的信號(hào)而實(shí)現(xiàn)的。該歸一化進(jìn)一步包括對(duì)正在被讀取的信號(hào)中的數(shù)據(jù)的多個(gè)部分進(jìn)行識(shí)別，因?yàn)樵谠撟x取元件中的損壞或改變，這些數(shù)據(jù)部分的可靠性可能低于其他數(shù)據(jù)的可靠性，以與其他數(shù)據(jù)不同的方式對(duì)所述具有更低可靠性的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。在另一個(gè)實(shí)施方案中，通過(guò)以下方式對(duì)從該讀取元件獲得的該第一信號(hào)進(jìn)行處理，即將該信號(hào)中低于一個(gè)預(yù)定閾值的所有數(shù)據(jù)設(shè)置為一個(gè)預(yù)定的值，或者忽略這些數(shù)據(jù)，并且僅存儲(chǔ)在該預(yù)定閾值之上的數(shù)據(jù)(包括這些數(shù)據(jù)的實(shí)體定位)。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該識(shí)別系統(tǒng)進(jìn)一步包括一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)，其中存儲(chǔ)了從對(duì)該識(shí)別標(biāo)簽的一個(gè)參考讀取中獲得的一個(gè)參考簽名。用于該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)是相對(duì)于該讀取裝置遠(yuǎn)程的一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)，或者該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)可以是位于該讀取裝置自身之內(nèi)。用于該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名的該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)可以位于附裝在該物品上的標(biāo)簽之中?？商娲?，用于該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名的該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)可以位于該物品之中。該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)是磁條、存儲(chǔ)器芯片、媒體盤、硬盤、智能卡、RAM模塊、磁帶、或常規(guī)的光學(xué)裝置，如2D條形碼或位圖。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該識(shí)別系統(tǒng)進(jìn)一步包括相對(duì)于該讀取裝置遠(yuǎn)程的一個(gè)數(shù)據(jù)處理裝置，其中該數(shù)據(jù)處理裝置被適配為執(zhí)行該數(shù)據(jù)處理，以便使所讀取的簽名與該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名相匹配。在這個(gè)實(shí)施方案中，該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)可以與該遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)處理裝置定位在一起，或者與其相同。在另一個(gè)實(shí)施方案中，該讀取裝置用于獲得關(guān)于任何發(fā)射或可以使之發(fā)射磁場(chǎng)的物件的信息。例如，可以使用多個(gè)磁場(chǎng)來(lái)獲得關(guān)于在結(jié)構(gòu)性物品或電子裝置中的裂紋或其他缺陷(例如夾雜物和空隙)的信息，例如電流在其中產(chǎn)生了局部磁場(chǎng)，一個(gè)實(shí)際的例子是對(duì)電子電路進(jìn)行非破壞性測(cè)試。


在這些附圖中，貫穿不同視圖相似的參考字符通常指代的相同的部分。這些附圖不一定是按比例的，相反通常將重點(diǎn)放在闡明本發(fā)明的原理。在下述說(shuō)明中，對(duì)本發(fā)明的不同實(shí)施方案參照以下附圖予以說(shuō)明，在這些附圖中圖1示出了一種防偽系統(tǒng)，該系統(tǒng)利用了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的讀取裝置；圖2示出了一個(gè)流程圖，該流程圖展示了一種使用根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的讀取裝置的驗(yàn)證過(guò)程；圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的讀取裝置；圖4示出了基于現(xiàn)有技術(shù)的一種適當(dāng)?shù)淖x取元件的截面圖；圖5A與圖5B分別示出了在根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的標(biāo)簽中使用的磁性顆粒的俯視圖和透視圖；圖6A與圖6B示出了在根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的標(biāo)簽中使用的磁性顆粒的不同密度；圖7A和圖7B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的具有多個(gè)識(shí)別特征的多個(gè)標(biāo)簽的進(jìn)一步的實(shí)例；圖8A至圖8E示出了一種磁性信息與光學(xué)信息在其中重疊的標(biāo)簽的截面圖；圖9示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案的讀取元件的截面圖；圖IOA示出了具有光學(xué)條形碼和磁顆粒的標(biāo)簽的一個(gè)掃描區(qū)域，其中讀取元件是灰度光學(xué)檢測(cè)器；圖IOB示出了具有藍(lán)綠色條形碼和磁顆粒的標(biāo)簽的一個(gè)掃描區(qū)域，其中讀取元件如圖9中所示；圖IlA示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一種讀取裝置，其中紅光傳播通過(guò)第二涂覆層并且通過(guò)保護(hù)層；圖IlB示出了圖IlA的、根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方案的讀取裝置，其中綠光被第二涂
覆層反射；圖12A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案具有人為疊加的光學(xué)特征和磁性特征的標(biāo)簽的俯視圖；圖12B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案用讀取元件獲得的標(biāo)簽的紅色光譜圖像；圖12C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案用讀取元件獲得的標(biāo)簽的綠色光譜圖像；圖13A示出了具有人為疊加的光學(xué)特征和磁性特征的一個(gè)標(biāo)簽的俯視圖；圖1 示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案利用一個(gè)讀取元件獲得的一個(gè)標(biāo)簽的成像區(qū)域的一種配置；圖13C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案來(lái)自于利用該讀取元件獲得的該標(biāo)簽的一個(gè)成像中的光標(biāo)簽信息；圖13D示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案來(lái)自于利用該讀取元件獲得的該標(biāo)簽的一個(gè)成像中的磁標(biāo)簽信息；圖14A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)正在制造的標(biāo)簽的光俯視圖；圖14B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)正在制造的標(biāo)簽的磁俯視圖；圖14C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的可以被用于讀取該標(biāo)簽上的光學(xué)信息和磁性信息的一種讀取元件的配置；圖14D示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的利用圖14C中的讀取元件獲得的該標(biāo)簽的一個(gè)圖像；圖15A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)網(wǎng)格圖案；圖15B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)數(shù)據(jù)矩陣碼；圖15C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的來(lái)自圖15A的網(wǎng)格圖案與來(lái)自圖15B 的數(shù)據(jù)矩陣碼的一個(gè)疊加；圖16A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)正在制造的標(biāo)簽的光俯視圖；圖16B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)正在制造的標(biāo)簽的磁俯視圖(與光學(xué)數(shù)據(jù)矩陣編碼相關(guān)的柵格圖案是人為地疊加在磁視圖上的)；圖16C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的可以被用于讀取該標(biāo)簽上的光學(xué)信息和磁性信息的一種讀取元件的配置；圖16D示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的利用圖16C中的讀取元件獲得的該標(biāo)簽的一個(gè)圖像；圖17示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的對(duì)一個(gè)標(biāo)簽的光學(xué)讀取和磁讀取；圖18A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的讀取元件的截面圖；圖18B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的光在該讀取元件內(nèi)部中央式地穿行的方向；
圖18C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案光從該磁光基片的不同區(qū)域被反射；圖19A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的讀取元件的截面圖；圖19B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，光在該讀取元件內(nèi)部從一個(gè)光源開(kāi)始行進(jìn)并從磁光基片的不同區(qū)域進(jìn)行反射；圖19C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的讀取元件的截面圖；圖20A到20D是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)讀取元件的多個(gè)元器件及其與兩組偏振光的交互作用的簡(jiǎn)化圖形表示；圖21A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案具有人為疊加的光學(xué)特征和磁性特征的標(biāo)簽的俯視圖；圖21B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案用讀取元件拍攝的標(biāo)簽的綠色光譜圖像；圖21C示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案用讀取元件拍攝的標(biāo)簽的紅色光譜圖像；圖22示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，使用一個(gè)磁光讀取元件讀取一個(gè)水平面上的標(biāo)簽的一種方法；圖23示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的磁光讀取元件及一個(gè)標(biāo)簽；圖M示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案，使用一個(gè)磁光讀取元件讀取一個(gè)水平面上的標(biāo)簽的一種方法；圖25A至25D示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案，使用一個(gè)磁光讀取元件讀取一個(gè)粗糙表面上的標(biāo)簽的一種方法，該讀取元件與該標(biāo)簽表面相符合；圖沈示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，使用一個(gè)磁光讀取元件讀取一個(gè)柔順標(biāo)牌中包含的一個(gè)指紋的一種方法；圖27示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，當(dāng)一個(gè)有價(jià)值的物件(其上粘貼了一個(gè)標(biāo)牌)具有一個(gè)粗糙的表面時(shí)，該柔順標(biāo)牌可以怎樣提供幫助；圖觀示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的另一個(gè)柔順標(biāo)牌的信息；圖29A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的包含指紋區(qū)的一個(gè)標(biāo)簽的截面圖；圖29B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的一個(gè)標(biāo)簽和一個(gè)指紋區(qū)的平面圖；圖30A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案將一個(gè)磁光讀取元件與一個(gè)厚標(biāo)牌相接合之前的情況；圖30B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案當(dāng)讀取一個(gè)標(biāo)簽時(shí)一個(gè)磁光讀取元件被壓縮抵靠在一個(gè)厚標(biāo)牌上；圖31示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，使用一個(gè)磁光讀取元件讀取具有對(duì)準(zhǔn)特征的一個(gè)標(biāo)牌的一種方法；圖32示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案讀取一個(gè)包含指紋的標(biāo)簽的一種方法； 以及圖33示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的在一個(gè)有待識(shí)別的物品的凹槽中的一個(gè)標(biāo)簽。
具體實(shí)施方式
盡管已經(jīng)參考特定的實(shí)施方案示出并描述了本發(fā)明的實(shí)施方案，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解的是可以在此做出形式和細(xì)節(jié)上的不同改變，而不背離由所附權(quán)利要求所定義的本發(fā)明的精神和范圍。本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求所表明，并且因此旨在包括落入權(quán)利要求的等效物的意義和范圍內(nèi)的所有改變。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案中，提供了一種讀取裝置，該讀取裝置從多個(gè)單獨(dú)的磁性顆粒上獲取信息，并且考慮了例如它們?cè)谝粋€(gè)固定區(qū)域內(nèi)的隨機(jī)位置，這樣該區(qū)域擁有一個(gè)具有良好分辨率的獨(dú)特圖案。圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案利用讀取裝置104的一種防偽系統(tǒng)100。 注意，盡管在此示出的系統(tǒng)100示出了通過(guò)移動(dòng)裝置106(如移動(dòng)電話)或計(jì)算機(jī)110與數(shù)據(jù)服務(wù)器108通信的基本讀取裝置104，還在此想到，讀取裝置104其自身可以是更精巧的并且可以例如通過(guò)很多方法(如使用數(shù)據(jù)纜線、局域網(wǎng)、藍(lán)牙、Wi-Fi、微波存取全球互通 (WiMAX)技術(shù)、或甚至包括使用內(nèi)置的通用分組無(wú)線電服務(wù)(GPRS)芯片或3G/通用移動(dòng)電信系統(tǒng)(UMTS)芯片其自身作為與數(shù)據(jù)服務(wù)器108通信的一種移動(dòng)電話裝置)與數(shù)據(jù)庫(kù)或數(shù)據(jù)服務(wù)器108通信。讀取裝置104還可以包括用于同用戶直接通信的方法，例如，可以允許用戶在讀取裝置104自身上讀取和鍵入信息的屏幕以及鍵盤。防偽系統(tǒng)100可以包括至少一個(gè)標(biāo)簽102、一個(gè)讀取裝置104、一個(gè)移動(dòng)裝置106或一臺(tái)計(jì)算機(jī)110(如果讀取裝置 104與數(shù)據(jù)服務(wù)器108之間不存在任何直接的通信裝置)、以及一臺(tái)遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器108。 每個(gè)標(biāo)簽102包括至少一組識(shí)別特征。識(shí)別特征的一些實(shí)例包括磁性顆?；蚩纱呕w粒的一種無(wú)序陣列、磁條、序列號(hào)、光學(xué)標(biāo)記(如條形碼或全息圖)。如圖1所示的識(shí)別特征包括形成一個(gè)磁性指紋區(qū)112的磁性顆粒或可磁化顆粒的一種無(wú)序陣列。每個(gè)標(biāo)簽102被附裝到有待識(shí)別或被適配為有待識(shí)別的一個(gè)物品或一個(gè)有價(jià)值的物件262上。讀取裝置104用于讀取標(biāo)簽102上的至少一組識(shí)別特征。讀取裝置 104有能力將從讀取該組識(shí)別特征所生成的一個(gè)信號(hào)發(fā)送到移動(dòng)裝置106或計(jì)算機(jī)110上。 來(lái)自讀取裝置104的加密信號(hào)可以或者通過(guò)無(wú)線連接或者有線連接被發(fā)送到移動(dòng)裝置106 或計(jì)算機(jī)110上。無(wú)線連接的一些實(shí)例包括藍(lán)牙以及Wi-Fi，并且有線連接的一些實(shí)例包括推薦標(biāo)準(zhǔn)232(RS23》以及通用串行總線(USB)。計(jì)算機(jī)110可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)、工作站、 膝上計(jì)算機(jī)或掌上計(jì)算機(jī)。例如，移動(dòng)裝置106可以是移動(dòng)(蜂窩)電話或個(gè)人數(shù)字助理 (PDA)。移動(dòng)裝置106或計(jì)算機(jī)110可以經(jīng)由互聯(lián)網(wǎng)連接到一個(gè)數(shù)據(jù)服務(wù)器108，該數(shù)據(jù)服務(wù)器可以是一個(gè)遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器(或者可以被鏈接到該遠(yuǎn)程服務(wù)器)。例如，移動(dòng)裝置106 使用通用分組無(wú)線業(yè)務(wù)(GPRQ或3G/UTMS技術(shù)通過(guò)一個(gè)局域網(wǎng)絡(luò)來(lái)連接。圖2示出了一個(gè)流程圖200，該流程圖示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案使用讀取裝置104的一個(gè)驗(yàn)證過(guò)程。首先，在202中，讀取裝置104被用于掃描一個(gè)第一組識(shí)別特征以及一個(gè)第二組識(shí)別特征。可以在一個(gè)單一的步驟或在兩個(gè)步驟中執(zhí)行該第一組識(shí)別特征以及該第二組識(shí)別特征的掃描。該第一組識(shí)別特征可以包括磁性信息(如磁性指紋區(qū) 112)，并且該第二組識(shí)別特征可以包括光學(xué)信息，如線性條形碼、2D條形碼、或矩陣條形碼 (如數(shù)據(jù)矩陣)(所有這些類型的條形碼在此通指條形碼)。該第一組識(shí)別特征以及該第二組識(shí)別特征的掃描考慮了與該第二組識(shí)別特征相關(guān)的該第一組識(shí)別特征的相對(duì)位置。雖然這個(gè)實(shí)例描述了本質(zhì)為磁性的第一組特征和本質(zhì)為光學(xué)性的第二組特征，然而各個(gè)相應(yīng)的組中的讀取順序或存在的特征類型是可以互換的。
在204處，讀取裝置104檢查所讀取信號(hào)以確定是否可以在這些讀取中檢測(cè)到任何錯(cuò)誤。如果讀取裝置104檢測(cè)到錯(cuò)誤，在210，它為用戶提供一個(gè)提示來(lái)選擇或者重新掃描第一組識(shí)別特征以及第二組識(shí)別特征、或者(在錯(cuò)誤不致命的情況下)帶著錯(cuò)誤標(biāo)志繼續(xù)傳輸數(shù)據(jù)。如果用戶選擇繼續(xù)數(shù)據(jù)傳輸，例如，還可以提示用戶使用移動(dòng)裝置或計(jì)算機(jī)鍵盤手動(dòng)鍵入一些數(shù)據(jù)(例如，如果誤讀了一個(gè)條形碼，用戶可以選擇鍵入條形碼編號(hào)而不是重新掃描)。其后，在206中，至少對(duì)從讀取第一組識(shí)別特征(如磁性指紋區(qū)11 中生成的信號(hào)或數(shù)據(jù)進(jìn)行加密?？扇芜x地，同樣對(duì)從讀取第二組識(shí)別特征而產(chǎn)生的這些信號(hào)或數(shù)據(jù)進(jìn)行加密。然而，在本發(fā)明中還包含了用一種不同的算法或密鑰加密這個(gè)機(jī)器可讀的信號(hào)，這種算法或密鑰可以對(duì)人可讀的識(shí)別特征進(jìn)行加密。這協(xié)助保護(hù)加密不受損害。在208 中，至少部分地加密的數(shù)據(jù)經(jīng)由有線或無(wú)線連接被發(fā)送到一個(gè)移動(dòng)裝置106或一臺(tái)計(jì)算機(jī) 110。在212中，移動(dòng)裝置106使用例如GPRS通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)連接到遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器108上或者計(jì)算機(jī)110通過(guò)一種互聯(lián)網(wǎng)連接而連接到遠(yuǎn)程服務(wù)器108上。在214中，遠(yuǎn)程服務(wù)器108對(duì)一個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)上的存儲(chǔ)的信號(hào)(來(lái)自該磁性指紋區(qū)的一次先前掃描和/或光學(xué)信息)與來(lái)自該磁性指紋區(qū)的已掃描信號(hào)進(jìn)行比較。在216中， 服務(wù)器確定所存儲(chǔ)的信號(hào)與所掃描的信號(hào)是否可以匹配(在此使用了一個(gè)匹配閾值來(lái)確定該數(shù)據(jù)是否匹配到一個(gè)適當(dāng)程度的確定性)。如果對(duì)應(yīng)的信號(hào)不匹配，在218中，將一個(gè)失敗的驗(yàn)證通知發(fā)送到移動(dòng)裝置106或計(jì)算機(jī)110上。如果信息匹配，在220中，移動(dòng)裝置 106或計(jì)算機(jī)110接收一個(gè)成功匹配的通知。這個(gè)通知還可以伴隨著關(guān)于該標(biāo)簽或物品的額外信息，這可能對(duì)用戶是有用的。注意，在圖1中，在此想到，讀取裝置104可以是更精巧的，并且其自身能夠在沒(méi)有外圍移動(dòng)裝置或計(jì)算機(jī)的情況下與遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)服務(wù)器108進(jìn)行通信。這個(gè)更加精巧的讀取裝置104可以包括用于和用戶直接通信的鍵盤以及顯示屏。進(jìn)一步注意，術(shù)語(yǔ)“信號(hào)”或“多個(gè)信號(hào)”是指從識(shí)別特征中讀取的數(shù)據(jù)，因此信號(hào)可以例如是代表指紋區(qū)的磁性特征的一個(gè)圖像。圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的讀取裝置104。讀取裝置104包括一個(gè)讀取元件114、一個(gè)開(kāi)關(guān)118、兩個(gè)發(fā)光二極管(LED)指示器120、兩個(gè)微控制器芯片122、一個(gè)便攜式電源124以及通信電子設(shè)備與軟件(例如一個(gè)藍(lán)牙模塊、Wi-Fi模塊、USB模塊或 RS232模塊)。讀取元件114用于讀取標(biāo)簽102上的一個(gè)第一組識(shí)別特征。讀取單元114 可以讀取磁和光識(shí)別特征兩者。開(kāi)關(guān)118用于驅(qū)動(dòng)或者解除驅(qū)動(dòng)讀取裝置104并且可以被定位在讀取裝置104上的任何適當(dāng)?shù)奈恢?例如符合人體工程學(xué)的位置)。LED指示器120 提供讀取裝置104的狀態(tài)指示，例如，如果它接通，則讀取數(shù)據(jù)、傳輸數(shù)據(jù)、或遇到錯(cuò)誤。每個(gè)微控制器芯片122是一個(gè)單一的集成電路，包括例如處理單元、輸入和輸出接口、串行通信接口、存儲(chǔ)裝置。所要求的微控制器芯片122或LED指示器120的數(shù)目取決于讀取裝置 104的要求。便攜式電源IM典型地是例如一種一次性電池或一種可充電的電池(但是如果使用了如USB的通信裝置，則可以通過(guò)USB連接線對(duì)讀取裝置104供電)。圖4示出了基于現(xiàn)有技術(shù)的讀取元件134的截面圖。圖4中的讀取元件134包括一個(gè)光學(xué)處理單元136以及一個(gè)磁光基片138。光學(xué)處理單元136包括多個(gè)元器件，這些元器件包括一個(gè)光源140、兩個(gè)偏光器142和148(例如，如果該光源不發(fā)出偏振光，那么所示出的兩個(gè)偏光器都是必要的，或者例如在特定環(huán)境下有可能使用與一個(gè)偏振分束器相結(jié)合的偏光器)、一個(gè)分束器144、一個(gè)透鏡系統(tǒng)146(盡管在圖4中只示出了一個(gè)透鏡，然而對(duì)本領(lǐng)域的任何普通技術(shù)人員而言清楚的是總體上可能需要一系列的透鏡元件來(lái)實(shí)現(xiàn)一個(gè)高質(zhì)量的圖像)以及一個(gè)光學(xué)檢測(cè)器150(例如電荷耦合器件(CCD)、或能夠采集圖像的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)芯片)。注意，與圖4、9、11、18和19相關(guān)而示出并描述的這些配置僅僅用于解說(shuō)并且精確的配置可能變化，例如偏光器148和透鏡系統(tǒng)146的位置可以互換或者偏光器148可以被放置在透鏡系統(tǒng)146之間。此外，透鏡系統(tǒng)146中的一些透鏡可以被定位在分束器144的前面或者分束器144可以在透鏡系統(tǒng)146的一系列透鏡之中。磁光基片138包括一個(gè)光學(xué)透明的基片154以及多個(gè)磁光涂覆層(如一個(gè)第一涂覆層156、一個(gè)第二涂覆層158以及一個(gè)保護(hù)層160)。多種適當(dāng)?shù)陌才攀强赡艿?，例如在美?guó)專利號(hào)5，920，538中所披露的，光學(xué)透明的基片IM可以是單晶石榴石(如釓鎵石榴石， 它可以進(jìn)一步包括如鈧的其他組分)，第一涂覆層或磁光膜156可以是一個(gè)法拉第轉(zhuǎn)子(包括例如鐵氧體石榴石膜)，第二涂覆層或反射層158可以是一個(gè)克爾轉(zhuǎn)子(包括例如釓的鐵氧體)，第二涂覆層158可以進(jìn)一步被一個(gè)反射性的或透明的保護(hù)層160所涂覆。光源140可以是一個(gè)偏振光源或非偏振光源。偏振光源的一些實(shí)例包括某些類型的激光器，而非偏振光源的一些實(shí)例包括發(fā)光二極管(LED)。此外，光源140可以是單色的， 盡管如白色光源等其他選項(xiàng)也可以是合適的。來(lái)自光源140的光穿過(guò)第一偏光器142并且然后入射在分束器144上。光的很大一部分被分束器144反射到磁光基片138上。這個(gè)光被這些磁光涂覆層156、158以及160中的一個(gè)或多個(gè)反射并且傳播返回到分束器144。光的相當(dāng)大的一部分穿過(guò)分束器144，在它到達(dá)光學(xué)檢測(cè)器150之前在透鏡系統(tǒng)146以及第二偏光器148中傳播，該光學(xué)檢測(cè)器捕獲代表在磁光涂覆層156、158、160處存在的磁場(chǎng)的一個(gè)圖像。注意，盡管在圖4、9、11、18和19中光路總體上由一個(gè)單一的箭頭(或少數(shù)幾個(gè)箭頭/線)表示，這無(wú)意暗示光只沿該單一路徑傳播，總體上光可以在一個(gè)足夠?qū)挼膮^(qū)域上以便使磁光基片138的所希望的區(qū)域成像。進(jìn)一步注意，第二偏光器148相對(duì)于入射光線的偏振被旋轉(zhuǎn)(在圖4中“入射光線的偏振”指光剛剛穿過(guò)第一偏光器142后的偏振)。第二偏光器148可以相對(duì)于入射光線的偏振被調(diào)諧(或反之亦然)以確保測(cè)量到取決于磁場(chǎng)的最大圖像對(duì)比度。注意，當(dāng)使用了一種偏振源時(shí)，只需要一個(gè)偏光器。在此的所有圖像都不是按比例的。例如，圖4(以及其他圖)中所示的磁光基片通常是與圖中其余部分一起增厚的，以便允許清晰地界定不同的涂覆層。保護(hù)層160用于保護(hù)第一涂覆層或磁光膜156以及第二涂覆層或反射層158免于任何損壞。保護(hù)層160優(yōu)選地是一個(gè)堅(jiān)硬的薄涂層，如類金剛石碳(DLC)或四面體無(wú)定形碳(ta-C)，或者它可以是透明的，如氧化鋁(Al2O3)，但是不限于此。保護(hù)層160的厚度在幾納米到幾微米范圍內(nèi)，取決于所選擇的材料及其內(nèi)應(yīng)力，但并不局限于此。光學(xué)處理單元136中的元器件和磁光基片138中的層安排可以彼此相對(duì)具有一種固定的空間關(guān)系。這在此是指優(yōu)選地至少這些主光學(xué)元器件(例如光學(xué)檢測(cè)器150、透鏡系統(tǒng)146、偏光器142和148、分束器144和磁光基片138)全都是相對(duì)彼此而固定的，這樣它們可以被認(rèn)為是形成了一個(gè)牢固的單元或模塊，即讀取元件134。注意，讀取元件134利用標(biāo)簽102的磁光讀取，其中光通過(guò)磁光基片138而在讀取元件134內(nèi)部被反射。這意味著被用于分析磁場(chǎng)的光不是從標(biāo)簽102的表面上反射的。因?yàn)榇殴饣?38允許很少甚至不允許光通過(guò)，所以位于標(biāo)簽102表面上的光學(xué)信息無(wú)法被讀取。因此，如果光學(xué)信息和磁性信息位于標(biāo)簽102的同一區(qū)域中(即疊加)，讀取元件134也不能夠產(chǎn)生光學(xué)信息和磁性信息的一個(gè)組合信號(hào)。包括一個(gè)磁光基片(該磁光基片被配置為讀取光學(xué)信息和磁性信息兩者)的一個(gè)讀取元件是在本發(fā)明的范圍之內(nèi)的，并且例如將在圖18、19和20的說(shuō)明中對(duì)其進(jìn)行進(jìn)一步討論。圖5A和圖5B分別示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案用在標(biāo)簽102中的磁性顆粒 176(優(yōu)選地具有高磁性矯頑性)的俯視圖以及透視圖。為了獲取清晰的磁光信號(hào)，應(yīng)當(dāng)使用具有高矯頑性的磁性材料的顆粒176來(lái)形成磁性指紋區(qū)112。圖5B示出了在這個(gè)實(shí)施方案中，磁性顆粒176形成了夾在基底層192與覆蓋層194之間的一個(gè)層。基底層192和覆蓋層194總體上由膜材料形成，基底層192為磁性顆粒176提供一個(gè)支持件并且覆蓋層194 提供免于環(huán)境以及磨損的保護(hù)?？梢允褂玫母采w層194的最大厚度取決于由磁性顆粒176 生成的磁場(chǎng)強(qiáng)度(磁場(chǎng)強(qiáng)度其自身是例如磁性顆粒176的剩磁、它們的大小、磁性顆粒176 的定向以及磁化方向的函數(shù))、用于讀取磁場(chǎng)的讀取元件的敏感性以及整個(gè)系統(tǒng)的預(yù)期分辨率。在此應(yīng)理解的是磁顆粒176可以分布在一個(gè)非磁性的(或弱磁性的)矩陣材料之內(nèi)， 如一種聚合物材料、金屬材料、玻璃材料或陶瓷材料，所述非磁性或弱磁性的材料提供了以下的一項(xiàng)或多項(xiàng)保護(hù)這些顆粒、在這些顆粒與存在的其他層之間的內(nèi)聚(即這種非磁性材料將這些磁性顆粒鎖定在位，例如以一種粘合劑的形式)以及將這些顆粒到這些基底或覆蓋層的施加進(jìn)行簡(jiǎn)化。在這些情況下，“磁性顆粒176”應(yīng)被理解為在可應(yīng)用的情況下包括非磁性矩陣材料。在某些情況下，可能沒(méi)有任何特定的基底層192，并且磁性顆粒176可以直接與在標(biāo)簽基部的一個(gè)粘合劑層相接觸，或者它們可以被暴露出來(lái)。磁性顆粒176可以包括一種高矯頑性材料。一種示例性高矯頑性材料是包括Nd、 Fe以及B的釹磁體。磁性顆粒176可以包括鐵氧體磁性材料、反鐵磁性材料、鐵磁性材料、 或一種連續(xù)材料(包括導(dǎo)致不同磁性的空隙)中的不同磁性的多個(gè)磁疇、以及它們的多種組合。鐵磁性材料是選自下組，其組成為MnBi、CrTe, EuO, Cr02、MnAs, Fe、Ni、Co、Gd、Dy, 與Fe、Ni、Co、Sm、Gd、Dy相對(duì)應(yīng)的多種合金以及氧化物，以及它們的多種組合。為了合適，標(biāo)簽102上有待讀取元件讀取的區(qū)域可以包含一個(gè)適當(dāng)?shù)念w粒密度。 圖6A和圖6B示出了在根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案有待讀取的兩個(gè)標(biāo)簽102的區(qū)域內(nèi)包含的不同的磁性顆粒密度。圖6A示出了非常低的磁性顆粒密度176而圖6B示出了非常高的磁性顆粒密度176。如果有待讀取的平均標(biāo)簽102的區(qū)域包括太少的磁性顆粒176，如圖6A 中的情況，可能難以實(shí)現(xiàn)具有唯一可識(shí)別指紋的大量標(biāo)簽102。類似地，如果有待讀取的平均標(biāo)簽102的區(qū)域包括太多磁性顆粒176，如圖6B中的情況，同樣可能難以實(shí)現(xiàn)具有唯一可識(shí)別指紋的大量標(biāo)簽102。結(jié)果，總體上令人希望的是確保所使用的標(biāo)簽102具有適當(dāng)?shù)拇判灶w粒密度176，例如有可能的是設(shè)置一個(gè)閾值，使得所使用的全部標(biāo)簽102都必須具有20 到50個(gè)至少具備特定大小的磁性顆粒176。具有過(guò)多或過(guò)少磁性顆粒176的標(biāo)簽102可以在生產(chǎn)線上就被淘汰，例如在首次讀取和儲(chǔ)存信號(hào)的時(shí)候。由于大多數(shù)成像芯片(例如CMOS芯片)實(shí)際上是圖像的數(shù)字表示(即它們是像素化的)，在某些情況下，如以下所說(shuō)明的，將接受標(biāo)準(zhǔn)直接基于圖像的像素是更簡(jiǎn)單的。例如，假設(shè)磁光讀取元件被配置為使得一個(gè)更強(qiáng)的磁場(chǎng)帶來(lái)更亮的圖像并且成像感應(yīng)器在0 到255(255表示最亮)的范圍內(nèi)記錄這個(gè)亮度。然后另一種確保存在一個(gè)適當(dāng)?shù)拇判灾讣y的方法是對(duì)記錄某一閾值(例如在0到255范圍內(nèi)的1 閾值以上)以上的亮度值的像素?cái)?shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù)。如果足夠多的像素是在閾值以上，那么可以假設(shè)標(biāo)簽102具有足夠多的磁性顆粒176(或者至少存在的那些磁性顆粒176是特別大的，即，有足夠部分區(qū)域被磁化)。 另一方面，為了核查標(biāo)簽102不包含太多的磁性顆粒176，核查在閾值以上像素不超過(guò)一個(gè)最大數(shù)目就足夠了(類似地這將實(shí)際上檢查該磁化區(qū)域是否在閾值之內(nèi))。另一個(gè)適合的質(zhì)量控制步驟是確保在一個(gè)確定的閾值之上的一定數(shù)目的像素是被在一個(gè)確定的閾值之下的一定數(shù)目的像素所包圍的，因此確保了存在的多個(gè)離散區(qū)域代表了在空間上被解析的特征。圖7A和圖7B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的具有識(shí)別特征的標(biāo)簽102的多個(gè)進(jìn)一步的實(shí)例。因?yàn)轭~外的識(shí)別特征提供額外的安全性或信息，所以可以采用多重識(shí)別特征。這些額外的識(shí)別特征的一些包括磁性條形碼、磁性邊界、磁性字母數(shù)字符、磁性基準(zhǔn)標(biāo)記、光學(xué)條形碼(線性的和2維的，包括不同的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)如數(shù)據(jù)矩陣)、光學(xué)基準(zhǔn)標(biāo)記、光學(xué)字母數(shù)字符、可見(jiàn)標(biāo)記，但不限于此，例如標(biāo)簽102可以包括射頻識(shí)別(RFID)芯片、安全墨或全息圖。第一條形碼184或第二條形碼186可以使用隱形墨(如紫外線或紅外線“光學(xué)”墨)來(lái)打印，這種墨無(wú)法被人的裸眼檢測(cè)到但是可以通過(guò)使用一個(gè)適當(dāng)適配的讀取裝置 104或用電磁波譜的一個(gè)或多個(gè)特定的波長(zhǎng)照亮標(biāo)簽102來(lái)檢測(cè)和讀取。可以通過(guò)使用多個(gè)層相對(duì)于掃描區(qū)域?qū)⒋判宰R(shí)別特征和光學(xué)識(shí)別特征定位在同一個(gè)位置。圖7A示出了具有磁性指紋區(qū)112的一個(gè)標(biāo)簽102。一個(gè)第二兩維條形碼186部分地覆蓋磁性指紋區(qū)112并且多個(gè)磁性字母數(shù)字符182被定位在該第二兩維條形碼186的四個(gè)角落。注意，雖然在圖7A和圖7B中示出了磁性指紋區(qū)域112，但指紋區(qū)域112優(yōu)選地可以是位于一個(gè)不透明的覆蓋層的后面，在該覆蓋層上印刷有第二條形碼186。因此，用戶實(shí)際上不能看到指紋區(qū)域112。另外，當(dāng)放置在標(biāo)簽102的相同層或不同層上時(shí)，磁性特征和光學(xué)特征可以重疊。圖7B示出了具有磁性指紋區(qū)112的一個(gè)標(biāo)簽102。一個(gè)第二兩維條形碼186覆蓋該磁性指紋區(qū)112。第二兩維條形碼186被一個(gè)第二基準(zhǔn)標(biāo)記180所包圍，并且一個(gè)第一基準(zhǔn)標(biāo)記178被定位在磁性邊界180的右上角。一個(gè)第三基準(zhǔn)標(biāo)識(shí)190被定位在左上角，與第二基準(zhǔn)標(biāo)識(shí)180相鄰。磁性字母數(shù)字符182被定位為與第二基準(zhǔn)標(biāo)識(shí)180相鄰。在形成磁性指紋區(qū)112中使用的磁性顆粒176通常具有高矯頑性。此類高矯頑性磁性顆粒176的一種形式是薄片式幾何體?？赡苡欣氖鞘挂粋€(gè)讀取元件讀取標(biāo)簽102的重疊的光學(xué)特征和磁性特征?！爸丿B的”以及類似術(shù)語(yǔ)應(yīng)理解為是指定位在同一個(gè)區(qū)域的、疊加的、或在彼此頂部的。標(biāo)簽102 的光學(xué)特征和磁性特征可以覆蓋在標(biāo)簽102的相同層或不同層上。在此，讀取重疊的光學(xué)特征和磁性特征所存在的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它允許標(biāo)簽102更小。它還提供了在磁性特征和光學(xué)特征之間的更精確的相關(guān)性以便進(jìn)行匹配，因?yàn)樽鳛榇判蕴卣鞯闹讣y匹配的參考物的光學(xué)特征是在物理上更接近磁性特征的。以下詳細(xì)描述了這樣一種讀取元件以及相關(guān)的裝置、 標(biāo)簽和方法。圖8A至圖8E示出了一種磁性信息與光學(xué)信息重疊的標(biāo)簽102的截面圖。在圖 8A中，標(biāo)簽102可以包括一個(gè)覆蓋層194，該覆蓋層具有打印在其頂部表面上的光學(xué)條形碼 (未示出)(在此，“條形碼”旨在包括數(shù)據(jù)矩陣碼和其他機(jī)器可讀光學(xué)信息)，包括一個(gè)可以是處于位于覆蓋層194下面的層的形式的磁性指紋區(qū)112以及一個(gè)位于磁性指紋區(qū)112 下面的粘合劑層4210。注意，條形碼被示出為僅僅用于說(shuō)明性目的的光學(xué)標(biāo)記。隨后的用于本圖和其他圖的說(shuō)明應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為是通用的并且不限于條形碼。圖8B示出了標(biāo)簽102的一個(gè)頂部光學(xué)視圖?？梢詮臉?biāo)簽102的俯視圖看到已經(jīng)被打印在標(biāo)簽102的表面上的條形碼184形式的光學(xué)信息。圖8C示出了標(biāo)簽102的一個(gè)頂部磁性視圖。如果用戶能夠采集標(biāo)簽102的磁性圖像，那么用戶就可以有效地“看穿”覆蓋層194和光學(xué)信息184并且“看到”包含在磁性指紋區(qū)112內(nèi)的磁性顆粒4220。雖然磁性顆粒4220被描述為是具有某一種“顏色”，然而這些顏色是在黑白色附圖的背景下說(shuō)明的。此外，磁性顆粒4220的“顏色”是隨所使用的光源140、磁光基片138的性質(zhì)以及讀取元件的光學(xué)構(gòu)造而變的。此外，作為磁性顆粒4220的結(jié)果被檢測(cè)的光的“顏色”或亮度還取決于在層156、158和160區(qū)域內(nèi)因?yàn)榇判灶w粒4220而造成的磁場(chǎng)。例如， 北磁場(chǎng)可能導(dǎo)致亮(光)區(qū)域，同時(shí)南磁場(chǎng)可能導(dǎo)致暗(或沒(méi)那么亮)區(qū)域。磁場(chǎng)的強(qiáng)度 (除其他因素外)將會(huì)決定光的亮度。因此，當(dāng)磁場(chǎng)的強(qiáng)度改變時(shí)光的亮度將橫貫一個(gè)磁性顆粒4220而改變。因此，在圖8C中示出的磁性顆粒4220可以在每個(gè)磁性顆粒4220上的光強(qiáng)度或顏色上改變，而不是均勻的。圖8D示出了合成圖像的俯視圖(即光學(xué)特征和磁性特征彼此疊加)。清楚的是， 當(dāng)從頂部觀看，條形碼184和磁性顆粒4220彼此重疊。當(dāng)用一個(gè)僅能夠讀取給定區(qū)域內(nèi)的光學(xué)特征或磁性特征的讀取元件掃描標(biāo)簽102 時(shí)，圖8E展示了所產(chǎn)生的掃描，其中磁指紋區(qū)域112的一半被掃描，而光學(xué)條形碼184的另一半被掃描。在所示出的光學(xué)條形碼184是數(shù)據(jù)矩陣碼的情況中，僅掃描一半?yún)^(qū)域可能不一定足以完全地解讀該數(shù)字(或完整的數(shù)據(jù)矩陣信息)。因此，可能無(wú)法完全解讀光學(xué)信肩、ο圖9示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案的讀取元件167的截面圖。讀取元件 167被適配為同時(shí)讀取磁性信息和光學(xué)信息兩者。在一種適當(dāng)?shù)呐渲弥?，讀取元件167包括一個(gè)單一的偏光器142和148、一個(gè)共用透鏡系統(tǒng)146、一個(gè)分束器144以及一個(gè)單一的光源 140。在一個(gè)實(shí)施方案中，至少部分光透過(guò)第一涂覆層156、第二涂覆層158和保護(hù)層 160。假設(shè)標(biāo)簽102的表面是足夠反射性的，光仍將從標(biāo)簽102的表面的至少一部分上被反射并且向回穿過(guò)讀取元件167而被光學(xué)檢測(cè)器150所捕獲。也就是說(shuō)，至少一部分光從標(biāo)簽102的表面上被反射并且不是在讀取元件167的之內(nèi)進(jìn)行內(nèi)部反射。假設(shè)圖8A中所示的標(biāo)簽102的至少一部分是足夠反射性的(很清楚，光學(xué)條形碼184的黑色區(qū)域?qū)⒉蝗缙渌麉^(qū)域反射得那么多)，光學(xué)檢測(cè)器150將檢測(cè)被磁性特征和光學(xué)特征所改變的光的組合。 在一個(gè)實(shí)施方案中，磁光基片138可以基本上跨過(guò)讀取元件167的整個(gè)寬度。在一個(gè)實(shí)施方案中，磁光基片138可以基本上跨過(guò)標(biāo)簽102的整個(gè)掃描區(qū)域。在一個(gè)實(shí)施方案中，讀取元件167可以包括多個(gè)線圈(未示出)或其他結(jié)構(gòu)用于傳導(dǎo)電信號(hào)，其中該電信號(hào)將致使標(biāo)簽102的磁性顆粒4220產(chǎn)生磁場(chǎng)(在這種情況下優(yōu)選的磁性材料是軟的、低矯頑磁性的磁性材料，如基于鐵的鐵磁性材料)。在一個(gè)實(shí)施方案中，讀取元件167可以包括多個(gè)磁體 (未示出)，其中這些磁體可以形成一個(gè)相對(duì)于標(biāo)簽102的掃描區(qū)域而言基本上均勻的磁場(chǎng)。圖IOA示出了具有光學(xué)條形碼184和磁性顆粒4220 (來(lái)自圖8A)的標(biāo)簽102的一個(gè)掃描區(qū)域，其中使用了圖9中的、涉及灰度光學(xué)檢測(cè)器150的讀取元件167。在一些實(shí)施方案中，使用了單色光源。如在圖IOA中可以看到的，結(jié)果是光學(xué)條形碼184和磁性顆粒 4220的組合。在圖IOA中示出的實(shí)例中，所有在光學(xué)上黑色的區(qū)域不反射足夠的光，并且因此被視為黑色，無(wú)論該位置處是否存在磁性顆粒4220。然而，在標(biāo)簽102至少在一定程度上是反射性的地方(即在黑色標(biāo)記之間的區(qū)域)，存在磁性顆粒4220的區(qū)域中的反射光顯得更強(qiáng)(即更白)。發(fā)生這種情況是因?yàn)榉瓷湫詤^(qū)域反射了相同量的光，而無(wú)論在該位置處是否存在磁性顆粒4220。然而，如果存在磁性顆粒4220，那么光的偏振被略微改變，并且取決于光學(xué)構(gòu)造，更多的這種改變的光可以通過(guò)偏光器148且因此對(duì)光學(xué)檢測(cè)器150將顯現(xiàn)為明亮的光斑。注意，當(dāng)標(biāo)簽的反射性區(qū)域是光亮的或類似反射鏡時(shí)，這種系統(tǒng)/配置可以最佳地進(jìn)行工作，因?yàn)槿绻鼈儫o(wú)光澤的或以其他方式散射的，它們可以改變擊中它們的光的偏振，這可能降低讀取元件檢測(cè)磁性特征的能力。可以采用其許多的變體，例如使用不同顏色的單色光源以及標(biāo)簽102自身的表面上所打印的信息的不同顏色方案。在此和其他實(shí)例中要注意，取決于所選擇的光學(xué)配置和磁性顆粒4220的偏振，使磁性顆粒4220顯現(xiàn)為明亮或陰暗的區(qū)域、或者(如果使用多種偏振的組合)作為變化的明亮和陰暗區(qū)域可能是容易的。通過(guò)使用這種配置，可以更容易地將磁性特征在標(biāo)簽的反射性區(qū)域中的位置與用于制造參考簽名的那些位置進(jìn)行比較。在這種情況下，匹配只考慮與標(biāo)簽的反射性區(qū)域相對(duì)應(yīng)的磁性信息，并且在陰暗(黑色)區(qū)域之內(nèi)的磁性信息被忽略。其結(jié)果是，由于磁性信息的存在，數(shù)據(jù)矩陣可能更難解讀，因?yàn)樵趫D像上這些反射性區(qū)域?qū)⒃诹炼壬献兓?，但是這一般容易通過(guò)如下方法來(lái)克服設(shè)定亮度閾值并假設(shè)所有比閾值更明亮的像素都被認(rèn)為是它們反射性區(qū)域的一部分，而不論它們實(shí)際上是多明亮。 圖IOB示出了一個(gè)標(biāo)簽102的掃描區(qū)域，其中將圖9中的讀取元件167與具有印刷在反射性表面上的一個(gè)藍(lán)綠色條形碼的標(biāo)簽102結(jié)合使用在此假定光源140是一個(gè)白色光源。白色光源與一個(gè)磁光基片138結(jié)合使用，假定該基片在綠光區(qū)域中的響應(yīng)最佳。因此， 當(dāng)使用白色光時(shí)，因?yàn)榇殴饣奶匦?，一個(gè)磁性區(qū)域?qū)鈱W(xué)檢測(cè)器150顯現(xiàn)為綠色。雖然標(biāo)簽102的掃描區(qū)域?qū)ψx取元件167顯現(xiàn)為不同色調(diào)的綠色，但這些綠色色調(diào)將由黑白附圖來(lái)表示。因此，所看到的是，磁性顆粒4220顯現(xiàn)為亮斑，而光學(xué)條形碼184顯得更暗。當(dāng)光學(xué)條形碼184的一部分的同一位置存在磁性顆粒4220時(shí)，光學(xué)條形碼184的綠色和磁性顆粒4220的綠色將互相作用以便形成綠色的另一種變體，但是出于更好地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施方案的目的，未示出這些變體。雖然在(以上和以下的)說(shuō)明中使用了圖9中的讀取元件167為例，然而這些概念不局限于圖9的讀取元件167、并且應(yīng)認(rèn)為是適用于所有讀取元件的通用概念(特別是在圖11、18、19和20中示出的那些)。在這種情況下，可能有利地是使用不同波長(zhǎng)的光以便解讀條形碼，例如，若磁光基片優(yōu)選地在綠色區(qū)域中工作，那么該領(lǐng)域可以用于讀取磁性信息，而例如紅色區(qū)域可以用于解讀光學(xué)信息(在圖像中藍(lán)綠色條形碼在紅色區(qū)域中將顯示為黑色，而反射性表面的其他部分將顯得明亮)。如果希望的話， 可以通過(guò)在讀取元件中使用兩個(gè)不同的光源而進(jìn)一步改進(jìn)這種系統(tǒng)，例如對(duì)綠色光源進(jìn)行偏振而例如不對(duì)紅色光源進(jìn)行偏振(圖20提供了適合于此的一種讀取元件配置)。這種配置允許圖像的紅色區(qū)域是純粹的光圖像，而完全沒(méi)有任何磁性信息。在此，詞語(yǔ)如“純粹的”和“沒(méi)有”以及其他絕對(duì)性的術(shù)語(yǔ)不應(yīng)認(rèn)為是處于其絕對(duì)的形式下，而是作為指示性的形式(即，“基本上沒(méi)有”)。例如，雖然說(shuō)到“純粹的光學(xué)圖像而完全沒(méi)有任何磁性信息”，實(shí)際上CMOS成像裝置(例如)在紅、綠和藍(lán)色傳感器之間具有某種串?dāng)_，這樣使得這些來(lái)自成像裝置的“紅色區(qū)域”確實(shí)包括了來(lái)自綠色和藍(lán)色區(qū)域的某個(gè)輸入，這是一種公知的現(xiàn)象并且有不同的方法試圖通過(guò)從紅色中減去一部分綠色和藍(lán)色的圖像來(lái)產(chǎn)生純粹的紅色圖像而將其最小化。于是當(dāng)說(shuō)到純粹的圖像時(shí)應(yīng)理解的是通常不能在實(shí)踐中實(shí)現(xiàn)絕對(duì)的純粹，然而，它旨在為了在本發(fā)明背景中使用的目的的上下文中的“純粹”。在另一個(gè)實(shí)施方案中，使用了部分反射性的第二涂覆層158。圖9還用作本實(shí)施方案中的讀取元件167的一個(gè)實(shí)例。通過(guò)調(diào)整被第二涂覆層158所反射的光的量以及調(diào)整允許通過(guò)第二涂覆層158的光的量，可以優(yōu)化在由光學(xué)檢測(cè)器150捕捉的最終圖像上的磁性顆粒4220與光學(xué)特征184的相對(duì)貢獻(xiàn)。例如，在圖8A中，部分反射性的第二涂覆層158可以被配置為使得足夠的光在條形碼的黑色標(biāo)記的區(qū)域上方反射，并且因此使得能夠檢測(cè)覆蓋條形碼的磁性特征4220的存在。在此，一個(gè)“部分反射性的第二涂覆層158”被理解為包括一個(gè)反射性的偏振膜，這個(gè)膜已經(jīng)被定向?yàn)槭沟闷淦褚呀?jīng)被磁光基片138(特別是第一涂覆層156和第二涂覆層158)改變的光優(yōu)選地被反射。這意味著與其他非選擇性的但部分反射性的反射鏡相比，這些磁性信息將被增強(qiáng)。在另一個(gè)實(shí)施方案中，使用了波長(zhǎng)選擇性的第二涂覆層158。用于獲得對(duì)同一區(qū)域的光學(xué)特征184和磁性顆粒4220的同時(shí)掃描的另一種方法是使用一種波長(zhǎng)選擇性的第二涂覆層158或?yàn)V波器系統(tǒng)。例如雙色反射鏡和介電反射鏡是薄膜反射鏡，它們?cè)谠试S其他波長(zhǎng)傳播通過(guò)反射鏡的同時(shí)反射選定波長(zhǎng)(或波長(zhǎng)范圍)的光。注意，圖IlA和圖IlB中所示的對(duì)應(yīng)的讀取元件171或光學(xué)構(gòu)造再次是純粹用于解釋的目的并且精確的配置將取決于所希望的光學(xué)和反射鏡特性。在圖IlA和圖IlB兩者中，假定第二涂覆層158是反射綠光但允許紅光透過(guò)的波長(zhǎng)選擇性反射鏡(圖IlA示出了紅光傳播通過(guò)第二涂覆層158并且穿過(guò)保護(hù)層160 (雖然未示出標(biāo)簽，但光是在標(biāo)簽的表面被反射的)，并且圖1IB示出了綠光被選擇性第二涂覆層158所反射)。注意，如在所有實(shí)例中一樣，雖然第二涂覆層158 (或其他各層)被描述為一個(gè)單層，但這是為了解釋的目的并且假定這包括該“層”實(shí)際上是多個(gè)層的情況，例如在具有多個(gè)波長(zhǎng)選擇性反射鏡、其中每個(gè)波長(zhǎng)選擇性反射鏡一般都包括一系列層的情況下。圖IlA和圖IlB還假設(shè)磁光基片138比光處理單元136的光學(xué)觀察區(qū)域更小，這并不必然總是所希望的，并且磁光基片可以替代性地在讀取元件的整個(gè)正面部分上伸展。讀取元件171內(nèi)的其他元器件與圖9中一樣。圖12A示出了標(biāo)簽102的一個(gè)俯視圖，標(biāo)簽102帶有其人為重疊的光學(xué)特征184和磁性特征4220。圖12B示出了使用如圖IlA和圖IlB所述的讀取元件171獲得的標(biāo)簽102 的紅色光譜圖像。圖12C示出了使用如圖IlA和圖IlB所述的讀取元件171獲得的標(biāo)簽的綠色光譜圖像。在圖12B和圖12C兩者中，磁光基片138之外的圖像區(qū)域被標(biāo)記為4610，而磁光基片138存在的圖像區(qū)域被標(biāo)記為4620。注意，如果光學(xué)檢測(cè)器150例如是一個(gè)CMOS 圖像傳感器，那么有可能(對(duì)于大多數(shù)商用的CMOS成像芯片而言)同時(shí)獲得紅色和綠色光譜的圖像。這是因?yàn)樵诖蠖鄶?shù)商用CMOS傳感器中，成像光電管是被劃分為多個(gè)具有四光電管的集群，每個(gè)光電管感應(yīng)一種顏色，它們一般是按照以下形式，即一個(gè)紅色傳感光電管、 兩個(gè)綠色傳感光電管和一個(gè)藍(lán)色傳感光電管。這通常被稱為“RGGB”配置，它代表紅色、綠色、綠色、藍(lán)色。如果用戶希望全色彩的圖像，那么可以將來(lái)自所有光電管的信號(hào)結(jié)合起來(lái)以重新造出全色彩光譜，然而，這是與將光譜彼此分離并分別地處理紅色、綠色和藍(lán)色光譜一樣容易的。如在圖12B中示出的，有磁光基片138存在的紅色光譜圖像的區(qū)域(以黑白色表示)不是純粹的光學(xué)圖像，它還包括一些更亮的區(qū)域，這些區(qū)域中存在磁性顆粒4220。這是因?yàn)楸M管大多數(shù)紅色光譜的光穿過(guò)了第二涂覆層158并且被標(biāo)簽102的表面所反射(即標(biāo)簽102的表面上的光學(xué)標(biāo)記的圖像)，然而這些光仍然穿過(guò)了(一個(gè)或多個(gè))第一涂覆層 156 (在通向標(biāo)簽102的路徑上以及在從標(biāo)簽102的表面反射之后)，并且由于磁場(chǎng)的存在， 這些光的偏振在其穿過(guò)第二涂覆層158時(shí)被改變。這意味著有磁光基片138存在處的紅色光譜圖像實(shí)際上是磁性特征4220和光學(xué)特征184的組合。然而，如果有必要的話，可以使用如圖12C所示的、來(lái)自綠色光譜圖像(以黑白色表示)的信息將磁性特征4220去除，因?yàn)榫G色光譜圖像提供了沒(méi)有光學(xué)特征的磁性特征4220的圖像(在磁光基片138的區(qū)域中)。 用這種方法，來(lái)自光學(xué)檢測(cè)器150的“抓拍(snap-shot) ”能夠提供來(lái)自標(biāo)簽102的磁性特征4220和光學(xué)特征184兩者，并且重要的是，非常精確地測(cè)量了磁性特征4220和光學(xué)特征 184相對(duì)彼此的空間位置。在另一個(gè)實(shí)施方案中，用一個(gè)偏光器142來(lái)對(duì)在一個(gè)光譜圖像中磁性特征4220和光學(xué)特征184的主導(dǎo)狀況進(jìn)行調(diào)整(例如圖12B和圖12C)。也就是說(shuō)，偏光器142可以被配置為使得在一個(gè)光譜圖像中磁性特征4220和光學(xué)特征184是被增強(qiáng)和/或抑制的。用于獲得對(duì)同一區(qū)域的光學(xué)特征184和磁性顆粒4220的同時(shí)掃描的另一種方法是將一種選定波長(zhǎng)(或波長(zhǎng)范圍)的光進(jìn)行偏振而不對(duì)其他波長(zhǎng)進(jìn)行偏振。例如，圖19C中所示的讀取元件可以讀取處于上述形式中的磁光學(xué)信息。這是同時(shí)讀取磁性信息和光學(xué)信息的高度有效的手段，因?yàn)槿绻t色光譜的光沒(méi)有被偏振，那么磁性特征將完全不會(huì)影響紅色圖像并且圖12B中所示的模糊的磁性特征將不存在，即在磁光區(qū)域4620之內(nèi)的光學(xué)圖像是“干凈的”。這也與圖19C相關(guān)聯(lián)地進(jìn)行了披露。在偏振過(guò)的和未偏振過(guò)的光從磁光基片138 和/或標(biāo)簽102上反射之后，可以將所獲得的兩個(gè)圖像(例如圖12B和圖12C)分別地或結(jié)合地使用，這樣使得僅顯示光學(xué)特征184或磁性特征4220。在一個(gè)實(shí)施方案中，還使用了一個(gè)可切換的反射鏡。圖9還用作本實(shí)施方案中的讀取元件167的一個(gè)實(shí)例。第二涂覆層158被制成一個(gè)可切換的反射鏡，即能夠基于一種輸入(如電場(chǎng))而改變其光學(xué)反射率或透射率特性的一個(gè)膜?？汕袚Q反射鏡的一個(gè)實(shí)例在“通過(guò)反應(yīng)性DC磁控管濺射沉積的、用于全固態(tài)可切換反射鏡的光子傳導(dǎo)性氧化鉭薄膜，K Tajima, Y Yamada，S Bao, M Okada and K Yoshimura，物理學(xué)雜志會(huì)議序號(hào) 100(2008)082017(數(shù)字物品識(shí)別號(hào):10. 1088/1742-6596/100/8/082017) (Proton Conductive Tantalum Oxide Thin Film Deposited by Reactive DC Magnetron Sputtering for AlI-Solid-State Switchable Mirror, K Tajima, Y Yamada, S Bao, M Okada and K Yoshimura, Journal of Physics Conference Series 100 (2008) 082017 (doi :10. 1088/1742-6596/100/8/082017)) ”，然而有許多將不同技術(shù)用作可切換反射鏡的實(shí)例，例如美國(guó)專利6，647，166和美國(guó)專利7，04沈15以及美國(guó)專利申請(qǐng)2008/0186560。通過(guò)使用可切換的反射器，可以在略微不同的時(shí)間對(duì)完全相同區(qū)域的磁性信息和光學(xué)信息進(jìn)行掃描(例如拍攝圖片)。通過(guò)在拍攝連續(xù)的圖像之間快速切換該反射鏡，有可能在不增加額外復(fù)雜性的情況下獲得具有光學(xué)信息和磁性信息兩者的全區(qū)域圖像。通過(guò)若干次的切換，還有可能確保原始的(一個(gè)或多個(gè))光參考物在圖像獲取序列結(jié)束時(shí)仍然處于相同的位置上，并且由此確保該裝置在處理過(guò)程中沒(méi)有不利地移動(dòng)。因此，該第二涂覆層可以被配置為改變反射特性。反射特性包括但不限于偏振特性和波長(zhǎng)特性。也就是說(shuō)，第二涂覆層可以基于光的偏振或波長(zhǎng)而改變它所反射或穿過(guò)的光。能夠?qū)崿F(xiàn)這種效果的層的實(shí)例在本領(lǐng)域中是已知的，如“基于拉伸對(duì)齊的聚陰離子的電致變色可切換偏光器，應(yīng)用物理雜志83，1307(2003) (Switchable optical polarizer based on electrochromism in stretch-aligned polyaniline, Appl. Phys. Lett. 83, 1307(2003)) "o在一個(gè)實(shí)施方案中，可以將一個(gè)圖案化反射鏡用作第一涂覆層156和/或第二涂覆層158。將第二涂覆層158(并且如果有必要第一涂覆層156)圖案化，這樣使得磁光基片 138的表面的某些區(qū)域是反射性的而某些區(qū)域是透明的。圖13A示出了標(biāo)簽102的一個(gè)俯視圖，標(biāo)簽102被示出為具有人為重疊的光學(xué)特征184和磁性特征4220。將用讀取元件來(lái)讀取標(biāo)簽102，該讀取元件具有一個(gè)磁光基片138，磁光基片138具有在其表面上作為一個(gè)或多個(gè)圖案化反射鏡層的第一涂覆層156和/或第二涂覆層。圖1 示出了使用讀取元件采集的標(biāo)簽的成像區(qū)域的配置。圖像的大部分是一個(gè)純粹的光學(xué)圖像區(qū)域5210。磁光基片138被分為多個(gè)小正方形區(qū)域，它們中一些專用于光學(xué)成像5220并且另一些5230專用于磁性特征成像。磁性成像4220和光學(xué)成像184正方形遍布在磁光基片138的區(qū)域上以陣列形式安排。圖13C只示出了來(lái)自使用圖13A中示出的讀取元件采集的該標(biāo)簽的圖像的光學(xué)標(biāo)簽信息。磁光基片138的輪廓被示出為一條細(xì)線， 這樣使得觀看者能夠容易地看到磁光基片138相對(duì)于圖像剩余部分的位置。在此，光學(xué)信息是從整個(gè)區(qū)域5210以及還從磁光基片138的光學(xué)部分5220獲得的。在圖13C中，磁光基片的磁性部分5230被示出為純白色區(qū)域。由CMOS傳感器捕獲的同一圖像同樣包括這些磁性特征4220，它們對(duì)應(yīng)于磁光基片138的這些磁性成像正方形5230。在圖13D中示出了圖像的這個(gè)部分。這個(gè)圖像的光學(xué)部分保留為純白色，并且僅示出了與磁性信息相關(guān)的圖像部分。磁光基片138的輪廓被示出為一條細(xì)線，這樣使得觀看者能夠容易地看到磁光基片138相對(duì)于圖像剩余部分的位置。注意，由CMOS成像芯片采集的實(shí)際圖像事實(shí)上是圖13C和圖13D中示出的兩個(gè)圖像的總和。然而，將這些圖像的這些部分分開(kāi)以強(qiáng)調(diào)可以分別對(duì)從圖像的這些部分獲得的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。由于磁光基片相對(duì)于CMOS成像芯片的相對(duì)位置是固定的，因此這很容易做到。因此校準(zhǔn)哪些圖像部分與標(biāo)簽102中的磁性特征4220有關(guān)以及哪些圖像部分與標(biāo)簽的光學(xué)信息184有關(guān)是很簡(jiǎn)單的。注意，通過(guò)正確地選擇磁光基片138的磁性區(qū)域5230 或光學(xué)區(qū)域5220，即使由于磁性成像區(qū)域使其一些部分是不可見(jiàn)的，仍然有可能解譯標(biāo)簽 102的數(shù)據(jù)矩陣碼。在圖1 和圖13C中，磁光基片138的光學(xué)部分和磁性部分已經(jīng)被選擇為大約是數(shù)據(jù)矩陣元件的四分之一面積。這意味著對(duì)每個(gè)數(shù)據(jù)矩陣元件的一部分進(jìn)行采樣并且這足以辨別這個(gè)具體的數(shù)據(jù)矩陣元件是黑色還是白色(除非對(duì)數(shù)據(jù)矩陣元件有實(shí)質(zhì)性的損壞)。這個(gè)配置提供了一種簡(jiǎn)單的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)標(biāo)簽102的磁特征4220和光特征184的同時(shí)讀取，并且提供了足夠的信息以解譯數(shù)據(jù)矩陣碼并且在標(biāo)簽102上相對(duì)于光學(xué)標(biāo)記184準(zhǔn)確地映射至少某些磁性特征4220的位置。這種方法可以提供用于對(duì)磁性特征4220采樣的更小的區(qū)域，并且因此當(dāng)設(shè)計(jì)該系統(tǒng)時(shí)需要注意標(biāo)簽102包含足夠密集的磁性特征4220的填裝度，這樣使得用戶將有很大可能性對(duì)足夠的磁性特征4220進(jìn)行采樣以便允許產(chǎn)生精確和可靠的匹配。類似地，光學(xué)信息184部分地被磁成像區(qū)域5230所阻擋，并且因此在選擇標(biāo)簽102的光學(xué)特征時(shí)必須注意要使得它們可以較容易地解碼并且使圖像具有使足夠的光學(xué)特征184被采樣的較大可能性，以便確保磁性特征4220相對(duì)于標(biāo)簽102的光學(xué)標(biāo)記的精確映射。注意，在這個(gè)方法中，磁光基片138的第一涂覆層156和/或磁光基片138的第二涂覆層158和/或保護(hù)層160可以被圖案化以允許在光學(xué)成像區(qū)域中發(fā)生最佳的光學(xué)成像。這些區(qū)域不應(yīng)當(dāng)過(guò)小以致衍射造成讀取問(wèn)題?？梢酝ㄟ^(guò)多種標(biāo)準(zhǔn)平版印刷技術(shù)(如使用光刻圖案技術(shù))結(jié)合(例如)剝離圖案法、濕式化學(xué)蝕刻、或干式蝕刻(如反應(yīng)性離子蝕亥IJ)中的一種或多種來(lái)形成這些區(qū)域的圖案?？梢允褂蒙鲜霭l(fā)明的不同的組合，例如一種圖案化可切換反射鏡。注意，對(duì)于人可以透過(guò)第一涂覆層156看到標(biāo)簽102上的光學(xué)特征 184的所有配置而言，保護(hù)層160必須是至少部分透明的。存在很多方法使用上述讀取元件基于標(biāo)簽上的光學(xué)信息來(lái)使標(biāo)簽102上的磁性信息歸一化。通過(guò)這一點(diǎn)，我們的意思是印刷在標(biāo)簽102上的光學(xué)信息可以被用來(lái)相對(duì)于標(biāo)簽102的某些參考讀取而準(zhǔn)確地定位磁性特征。以下說(shuō)明了使用數(shù)據(jù)矩陣標(biāo)記作為光學(xué)參考的一種方法。圖14A示出了正在生產(chǎn)的標(biāo)簽102的一個(gè)光學(xué)俯視圖。在標(biāo)簽102的表面印刷有數(shù)據(jù)矩陣184，并且在數(shù)據(jù)矩陣184周圍有四個(gè)向外放射的光學(xué)基準(zhǔn)標(biāo)記4710。圖14B示出了正在生產(chǎn)的同一個(gè)標(biāo)簽102的一個(gè)磁性俯視圖。在標(biāo)簽102的表面下方有包括磁性特征4220的磁性指紋區(qū)112。圖14C示出了可以被用來(lái)讀取標(biāo)簽102上的數(shù)據(jù)矩陣184和磁性特征4220讀取元件173的配置。在生產(chǎn)線上，存在至少一個(gè)讀取元件173，并且這個(gè)讀取元件173可以被用來(lái)獲得標(biāo)簽102的參考讀取，從而允許標(biāo)簽102的參考簽名被存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫(kù)中。這個(gè)讀取元件173具有比被用來(lái)讀取磁場(chǎng)中標(biāo)簽的讀取元件更大的掃描區(qū)域，并且此外它可以被不同地配置。大部分掃描區(qū)域?qū)Ｓ糜趻呙璐艆^(qū)域(掃描區(qū)域4730)，而只有外圍區(qū)域4720 專用于掃描光學(xué)信息。當(dāng)這個(gè)讀取元件173被放置在正在生產(chǎn)的標(biāo)簽102上時(shí)，獲得了如圖14D所示的圖像。這個(gè)圖像可以被用來(lái)導(dǎo)出被存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)簽102的參考簽名。在此，基準(zhǔn)標(biāo)記4710的一部分穿過(guò)外圍光學(xué)觀察區(qū)域是可見(jiàn)的，同時(shí)圖像的大部分示出了標(biāo)簽102的磁性特征4220。假設(shè)基準(zhǔn)標(biāo)記4710和數(shù)據(jù)矩陣184是在同一個(gè)印刷步驟中印刷的、并且因此彼此相對(duì)是準(zhǔn)確地對(duì)準(zhǔn)的(即人們能夠可靠地推斷出位置以及包括數(shù)據(jù)矩陣184的光學(xué)特征)，圖14D中示出的圖像可以被用來(lái)相對(duì)于光學(xué)數(shù)據(jù)矩陣特征184的位置準(zhǔn)確地映射每個(gè)磁性特征4220的位置。如果基準(zhǔn)標(biāo)記4710和數(shù)據(jù)矩陣特征184的相對(duì)位置彼此相對(duì)是不準(zhǔn)確或不可靠的，那么可以用一個(gè)高分辨率光學(xué)相機(jī)測(cè)量這些相對(duì)距離，并且這可以被用來(lái)相對(duì)于數(shù)據(jù)矩陣特征184映射每個(gè)磁性特征4220的位置和定向。注意，結(jié)合上面圖14A至圖14D所述的獲得參考圖像的方法只是實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)的一種方法。其他的方法包括將分離的圖像縫接在一起，總體上這些分離的圖像可以至少在某些區(qū)域上重疊，但這并不是嚴(yán)格必需的。再另一種方法是在磁光基片上使用雙色反射鏡，這將允許即使在被磁光基片覆蓋的區(qū)域之內(nèi)也同時(shí)讀取磁性信息和光學(xué)信息。
圖15A至圖15C展示出數(shù)據(jù)矩陣編碼實(shí)際上很適合于用作參考光學(xué)標(biāo)記以便對(duì)磁性特征的位置進(jìn)行映射，因?yàn)樗谝环N規(guī)則的柵格格式。圖15A示出了一個(gè)14x14元素的柵格圖案4910。圖15B示出了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的14x14元素的ECC 200數(shù)據(jù)矩陣碼4920。在這種情況下，碼4920表示16位數(shù)“1234567890123456”。圖15C示出了來(lái)自圖15A的柵格圖案4910和圖15B中示出的數(shù)據(jù)矩陣碼4920的疊加。可以容易從圖15C中看出數(shù)據(jù)矩陣碼4920是一個(gè)簡(jiǎn)單的柵格圖案，其中某些元素已經(jīng)被填入黑色并且其他的保留為白色。這意味著這樣一個(gè)數(shù)據(jù)矩陣碼4920可以被用作映射磁性特征的柵格圖案。選擇這個(gè)實(shí)例是因?yàn)樗浅Ｈ菀桌斫?，然而，?duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員清楚的是很多不同的光學(xué)標(biāo)記可以用作參考標(biāo)記而將其用于映射這些磁性特征?？梢允褂脙?nèi)插(通常用于光學(xué)標(biāo)記區(qū)域內(nèi)的磁性特征)和外插(通常用于該區(qū)域外的特征)兩者。圖16A示出了如在圖14A至圖14D中示出的在其制造過(guò)程中的標(biāo)簽102的一個(gè)光學(xué)俯視圖。在此，標(biāo)簽102已經(jīng)被模切，這樣使得在圖14A中示出的基準(zhǔn)標(biāo)記4710不再存在并且唯一留在標(biāo)簽102的表面上的光學(xué)標(biāo)記是數(shù)據(jù)矩陣碼4920。以下的討論假設(shè)結(jié)合圖 14A至圖14D所述的標(biāo)簽102的參考讀取已經(jīng)發(fā)生，這樣使得最終標(biāo)簽102(在圖16B中示出)內(nèi)的所有磁性特征4220在參考讀取中已經(jīng)被掃描。圖16B示出了同一標(biāo)簽102的一個(gè)磁性俯視圖。磁性指紋區(qū)112被示出為很大程度上覆蓋標(biāo)簽102的整個(gè)區(qū)域。磁性指紋區(qū)112內(nèi)有很多磁性顆粒4220，并且標(biāo)記了一個(gè)這樣的磁性顆粒4220。圖16B還示出了來(lái)自數(shù)據(jù)矩陣碼4920的柵格圖案4910如何人為地重疊在磁性顆粒4220上從而允許它們的位置相對(duì)于光學(xué)數(shù)據(jù)矩陣碼4920被準(zhǔn)確地映射。圖16C示出了用在磁場(chǎng)中的讀取元件171的一種配置。在此，光學(xué)掃描區(qū)域4930 實(shí)質(zhì)上比磁性掃描區(qū)域4940更大。光學(xué)掃描區(qū)域4930的外周長(zhǎng)以及磁性掃描區(qū)域4940 的外周長(zhǎng)被標(biāo)記出。使用具有例如圖IlA和圖IlB中所示格式的讀取元件171可以實(shí)現(xiàn)具有比光學(xué)掃描區(qū)域4930更小的磁掃描區(qū)域4940。圖16D示出了當(dāng)讀取元件171被定位在圖16A和圖16B中示出的標(biāo)簽102的中心時(shí)標(biāo)簽102的圖像。讀取元件171能夠同時(shí)掃描來(lái)自標(biāo)簽102的磁性顆粒4220和數(shù)據(jù)矩陣碼4920 二者。光學(xué)掃描區(qū)域4930的外周長(zhǎng)以及磁性掃描區(qū)域4940的外周長(zhǎng)被再一次標(biāo)記出。如在圖16B中，來(lái)自數(shù)據(jù)矩陣碼4920的柵格圖案4910被人為地重疊在磁性掃描區(qū)域4940內(nèi)的磁性特征4220上。通過(guò)人為地重疊柵格圖案4910，人們能夠以圖解方式來(lái)展示在標(biāo)簽102的讀取中成像的磁性特征4220的位置如何可以與來(lái)自標(biāo)簽102的參考讀取的磁性特征4220的位置相關(guān)聯(lián)，即從這次讀取中獲得的簽名如何可以與已經(jīng)存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中的參考簽名(結(jié)合圖14A至圖14D說(shuō)明了參考讀取)進(jìn)行比較。在圖17中示出了標(biāo)簽102的另一次讀取。在此，讀取元件相對(duì)于標(biāo)簽102的對(duì)準(zhǔn)較差。讀取元件沒(méi)有被定中心，并且它相對(duì)于標(biāo)簽102旋轉(zhuǎn)。光學(xué)掃描區(qū)域4930的外周長(zhǎng)以及磁性掃描區(qū)域4940的外周長(zhǎng)再一次被標(biāo)記出。如在圖16D中，來(lái)自數(shù)據(jù)矩陣碼4920 的柵格圖案4910被人為地重疊在磁性掃描區(qū)域4940內(nèi)的磁性特征4220上。通過(guò)人工地重疊柵格圖案4910，人們能夠以圖解方式來(lái)展示在標(biāo)簽102的讀取中成像的磁性特征4220 的位置如何可以與來(lái)自標(biāo)簽102的參考讀取的磁性特征4220的位置相關(guān)聯(lián)，即從這次讀取中獲得的簽名如何可以與已經(jīng)存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中的參考簽名(結(jié)合圖14A至圖14D說(shuō)明了參考讀取)進(jìn)行比較。這示出了即使是對(duì)于對(duì)準(zhǔn)非常差的讀取，該系統(tǒng)也能夠相對(duì)于參考物的讀取而準(zhǔn)確地映射正在被讀取的磁性特征4220的位置。進(jìn)一步注意，在讀取中正在被掃描的磁性特征4220與圖14D中示出的讀取中正在被掃描的那些不同，但是在兩種情況下， 正在被掃描的磁性特征4220在參考讀取(結(jié)合圖14A至圖14D說(shuō)明了)中已經(jīng)掃描了，其中使用了一個(gè)更大的磁性掃描區(qū)域。因此在磁場(chǎng)中的讀取對(duì)于匹配而言是足夠的，前提是掃描了足夠的光學(xué)信息使得磁性特征4220的位置可以在掃描中被準(zhǔn)確地映射，并且正在讀取中掃描的足夠量的磁性特征4220在標(biāo)簽102的參考讀取中可以還被掃描，這樣使得可以實(shí)現(xiàn)足夠準(zhǔn)確的匹配。在前一句中的“足夠量”和“足夠準(zhǔn)確”是主觀性術(shù)語(yǔ)并且僅被用來(lái)表示可以設(shè)置的閾值水平， 例如，“足夠量”可以通過(guò)出現(xiàn)在掃描區(qū)域中的累積磁性強(qiáng)度或磁性顆粒4220的數(shù)目來(lái)確定，并且“足夠準(zhǔn)確”可以是匹配結(jié)果中的統(tǒng)計(jì)置信度的一個(gè)閾值。關(guān)于從磁場(chǎng)中的讀取對(duì)比參考讀取的磁性特征4220的映射，應(yīng)當(dāng)注意的是光學(xué)特征4920可以被用作在兩個(gè)讀取中映射磁性特征4220的位置的一個(gè)第一步驟，并且對(duì)于非常準(zhǔn)確的映射可能需要一個(gè)第二映射步驟。在此解釋了這種兩步映射的一個(gè)實(shí)例在使用光學(xué)信息4920完成定位或歸一化以后，然后可以完成一個(gè)第二步驟，其中磁性特征4220 被用來(lái)實(shí)現(xiàn)相對(duì)于從識(shí)別標(biāo)簽102的參考讀取中獲得的已存儲(chǔ)參考簽名的一個(gè)更準(zhǔn)確的定位。這可以通過(guò)從光學(xué)定位步驟中獲得的匹配進(jìn)行一個(gè)關(guān)聯(lián)來(lái)完成，其后將所獲得的磁性特征4220的圖像可以在特定的容許范圍內(nèi)左右上下移位，并且在每步移位后，數(shù)據(jù)可以被再次進(jìn)行關(guān)聯(lián)以獲得最佳匹配。這將允許使磁性特征4220相對(duì)于參考簽名而準(zhǔn)確定位； 然而，為了防止數(shù)據(jù)被移動(dòng)到如此程度以致丟失與光學(xué)標(biāo)記4920的相關(guān)性并且可能導(dǎo)致錯(cuò)誤的陽(yáng)性匹配，必須設(shè)置在每個(gè)方向上移動(dòng)量的限制。在此示出的實(shí)例僅是以舉例的方式，其中將一個(gè)與參考讀取相比更小的磁光掃描區(qū)域用于在磁場(chǎng)中進(jìn)行讀取。實(shí)際上可以使用任何所要求的尺寸和配置，前提是在參考讀取和后續(xù)的讀取中被讀取的磁性特征中有足夠的重疊，這樣使得有可能獲得充分的匹配。圖18A至圖18C示出了讀取元件134的一個(gè)截面圖。在圖18A中，讀取元件134可以包括多個(gè)元器件或光學(xué)元件，例如，可以看到一個(gè)磁光基片138、一個(gè)光源140、一個(gè)第一偏光器142以及一個(gè)第二偏光器148、一個(gè)分束器144、以及一個(gè)光學(xué)檢測(cè)器150。例如，在圖9中作為僅一個(gè)元件示出的透鏡系統(tǒng)146現(xiàn)在被示出為多個(gè)凸或凹透鏡元件5111、5112、 5113,5114以及5115。這些元器件被容納在保護(hù)管5120之中。兩個(gè)透鏡元件5113和5114 與一個(gè)針孔5140 —起被安排在外殼5130內(nèi)，該外殼相對(duì)于其他元器件(它們相對(duì)于保護(hù)管5120是固定的)是可移動(dòng)的。這個(gè)可移動(dòng)的外殼5130允許調(diào)整焦距，這樣使得因?yàn)榻M裝或元器件的任何不完美不會(huì)導(dǎo)致圖像聚焦不良。這意味著在最終的組裝步驟中，可以調(diào)整焦距并且外殼5130(及其相關(guān)聯(lián)的元器件)可以被設(shè)置到最優(yōu)位置，這樣使得圖像焦距是清晰的。如在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)安排中，針孔5140允許景深得到控制，即一個(gè)小針孔5140將會(huì)生成比一個(gè)大針孔5140更大的景深。然而，一個(gè)小針孔將會(huì)擋掉更多的光，并且因此圖像可能不夠亮、或者需要使用更亮的光源。具有更大的景深在多種設(shè)計(jì)中可能是重要的，其中光學(xué)信息和磁性信息兩者同時(shí)在進(jìn)行成像(例如圖IlA和圖IlB中示出的配置)。示出了一個(gè)光學(xué)吸收器5150。這用于吸收可能穿過(guò)分束器144的雜散光。光學(xué)吸收器5150可以由任何光學(xué)吸收材料制成，例如黑氈。保護(hù)管5120的內(nèi)壁和外殼5130可以被制成黑色以吸收雜散光。圖18B示出了從光源140的中心傳播到分束器144的中心的光路5170。至少一部分光被反射向磁光基片138(光路5171)，其后至少一部分光被反射回分束器并且到達(dá)分束器144的至少一部分光穿過(guò)分束器144并且傳播到光學(xué)檢測(cè)器150 (光路517 上。光可能不僅僅在圖18B中示出的中心路徑中傳播。圖18C示出了從磁光基片138 的不同區(qū)域反射的光如何可以傳播通過(guò)讀取元件134并且在光學(xué)檢測(cè)器150處被收集。獲得清晰圖像的基本的光學(xué)成像概念和光學(xué)元件設(shè)計(jì)在文獻(xiàn)中是已知的。這僅僅是用于讀取元件配置的一個(gè)實(shí)際的設(shè)計(jì)，并且很多其他配置(它們中某些不包括兩個(gè)偏光器的配置，以及其他不包括分束器的配置)都是可行的。例如，圖19A至圖19C描繪了不包括分束器的一個(gè)讀取元件134的截面圖。在此讀取元件134采用了一種偏離軸線(off-axis)的設(shè)計(jì)。也就是說(shuō)，入射光源140略微偏離管的中央軸線。這個(gè)具體的實(shí)施方案可以包括兩個(gè)偏光器。偏光器142放置在光源140的前面。偏光器148放置在光學(xué)檢測(cè)器150的前面。這個(gè)具體實(shí)施方案包括三個(gè)透鏡透鏡 1910、透鏡1920和透鏡1930。還包括有針孔5140和保護(hù)管5120。保護(hù)管5120被適配為容納讀取元件134的不同元器件并且保持它們固定在它們的相應(yīng)位置上。磁光基片138覆蓋讀取元件134的整個(gè)前面部分；然而，替代實(shí)施方案包括更小或更大的磁光基片138的尺寸。此外，替代實(shí)施方案包括將磁光基片138放置在相對(duì)于讀取元件134的正面而言的不同位置和定向。圖19B根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案示出了從光源140發(fā)射的光從磁光基片的不同區(qū)域被反射。光從光源140放射出來(lái)。光穿過(guò)第一偏光器142，并且然后在從磁光基片138 的反射鏡層反射之前通過(guò)這些前透鏡1920和1910。在某些實(shí)施方案中，磁光基片138可以包括一個(gè)雙色反射鏡層。在某些實(shí)施方案中，磁光基片138不包括雙色反射鏡層。在某些實(shí)施方案中，至少一些光穿過(guò)磁光基片138并且在一個(gè)標(biāo)簽(未示出)上反射。在光從反射鏡層、標(biāo)簽或其組合上反射之后，光穿過(guò)這些前透鏡1920和1910并且通過(guò)針孔5140到達(dá)最終透鏡1930。然后光穿過(guò)第二偏光器148并且到達(dá)光學(xué)檢測(cè)器150 上。因此，這個(gè)實(shí)施方案被配置為使從磁光基片138反射的光聚焦到光學(xué)檢測(cè)器150的表面上。第二偏光器148相對(duì)于第一偏光器142的旋轉(zhuǎn)將影響由光學(xué)檢測(cè)器150獲得的圖像的磁分量與光分量的比。圖19C示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案的讀取元件的截面圖。在某些實(shí)施方案中，附加的光源1950和1960可以裝配有或不裝配有偏光器。在某些實(shí)施方案中，裝配到這些附加的光源中的這些偏光器不是在相同方向上定向的。光源1950和1960可以被放置在讀取元件134之內(nèi)的任何適當(dāng)?shù)奈恢蒙?。這種安排適合與具有雙色反射鏡的磁光基片一起使用。在一個(gè)包括雙色反射鏡的實(shí)施方案中，該反射鏡可以被設(shè)計(jì)為例如在綠色到藍(lán)色波長(zhǎng)中進(jìn)行反射，但是允許紅色波長(zhǎng)中的光傳播通過(guò)反射鏡。在一個(gè)實(shí)施方案中，第一光源 140被偏光器142偏振，并且產(chǎn)生了綠色/藍(lán)色(即青色)的光。未被偏振的光源1950和 1960可以是紅色光源。除其他因素之外，這樣一種配置提供了獨(dú)立地優(yōu)化用于磁讀取和光讀取的光照環(huán)境的能力。例如，可以為藍(lán)色/綠色和紅色光源選擇不同的強(qiáng)度，其中磁性信息可以通過(guò)所反射的綠色/藍(lán)色光譜的光而代表，而光學(xué)信息可以通過(guò)所反射的紅色光譜的光而代表。在這個(gè)實(shí)施方案中，紅色光譜主要用于獲得光學(xué)信息。由于這個(gè)紅色光譜是未偏振的，所以它不受第二偏光器148的定向的影響，并且可以將該偏光器的定向選擇為優(yōu)化該磁圖像(它主要地基于偏振的青色光)。圖20A至圖20D是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方案的讀取元件的一個(gè)簡(jiǎn)化圖形表示。應(yīng)理解的是，圖20A至圖20D是簡(jiǎn)化的，以便幫助更好地理解本發(fā)明的各實(shí)施方案。因此在圖 20A至圖20D中描繪的讀取元件還可以包含在圖19C中描繪的多個(gè)元器件(從圖20A至圖 20D中省略了例如透鏡和其他元器件，因?yàn)樗鼈儾⒉恢苯拥嘏c關(guān)于這些圖的討論相關(guān))。在圖20A至圖20D中示出的元器件的相對(duì)位置是用于解釋的目的，并且在其他實(shí)施方案中可以是不同的。在圖20A至圖20D中描繪的實(shí)施方案被配置為讀取一個(gè)標(biāo)簽102的光學(xué)信息和磁性信息，而在磁光基片138的表面上沒(méi)有反射鏡層(雖然這個(gè)概念也可以用于增強(qiáng)存在反射鏡層情況下的圖像)。在某些實(shí)施方案中，大多數(shù)光穿過(guò)磁光基片138并且在基片138之下被標(biāo)簽102反射。在這種實(shí)施方案中，可能希望的是高度反射性的標(biāo)簽表面。如果標(biāo)簽 102的表面是足夠反射性的，那么光可以從標(biāo)簽102的表面的至少一部分反射并且穿過(guò)偏光器148而被光學(xué)檢測(cè)器150所捕獲。在替代實(shí)施方案中，磁光基片138可以被配置為部分或全部地反射來(lái)自一個(gè)光源的光。圖20A至圖20D示出了光學(xué)檢測(cè)器150、磁光基片138、偏光器148、以及對(duì)應(yīng)地放置在一個(gè)綠色光源(未示出)和一個(gè)紅色光源(未示出)前面的偏光器2010和2020。在其他實(shí)施方案中，該光源的顏色可以是任何適當(dāng)?shù)念伾?。偏光?010相對(duì)于偏光器148的定向逆時(shí)針地旋轉(zhuǎn)。偏光器2020相對(duì)于偏光器148的定向順時(shí)針地旋轉(zhuǎn)。在圖20B中，在綠光穿過(guò)偏光器2010時(shí)，綠光的偏振平面2030相對(duì)于偏光器148 的定向逆時(shí)針地旋轉(zhuǎn)。類似地，在紅光穿過(guò)偏光器2020時(shí)，紅光的偏振平面2040相對(duì)于偏光器148的定向順時(shí)針地旋轉(zhuǎn)。要注意，在圖20B至圖20D中，所示的這些箭頭代表所討論的光的偏振角度，并且無(wú)需代表光的傳播方向。綠光和紅光都朝向磁光基片138傳播。在圖20C中，綠光和紅光在磁光基片138之下從標(biāo)簽102上反射并且朝向偏光器 148傳播。來(lái)自標(biāo)簽102的磁場(chǎng)致使綠光和紅光的至少一部分的偏振平面對(duì)應(yīng)地相對(duì)于它們的初始偏振平面2030和2040順時(shí)針地旋轉(zhuǎn)。在旋轉(zhuǎn)之后，新的偏振平面由箭頭2050(對(duì)綠光而言)和2060(對(duì)紅光而言)來(lái)描繪。為了解釋的目的，偏振平面的旋轉(zhuǎn)并非旨在是按比例的并且可能是夸大的。標(biāo)簽102的光學(xué)特征在綠光和紅光兩者的至少一部分上發(fā)生改變(例如黑色區(qū)域?qū)⑽展?，而發(fā)亮的區(qū)域?qū)⒎瓷涔?；因此，這兩者都承載有光學(xué)信息。圖20D示出了穿過(guò)偏光器148后的綠光2070和紅光2080的偏振平面的一個(gè)圖形表示。穿過(guò)偏光器148的綠光比例比紅光比例更大，因?yàn)榫G光被更好地定向?yàn)榇┻^(guò)偏光器 148。確切而言，在本實(shí)施方案中，更好地定向以穿過(guò)偏光器148的綠光部分被定向?yàn)槟鏁r(shí)針(由于偏光器2010)并且在標(biāo)簽102的磁場(chǎng)存在下經(jīng)歷順時(shí)針旋轉(zhuǎn)。粗體箭頭代表每種光線能夠穿過(guò)偏光器148的比例。因此，假定綠光和紅光以相同的亮度進(jìn)入偏光器148，那么綠光離開(kāi)偏光器148時(shí)的亮度比紅光更亮。到達(dá)光學(xué)檢測(cè)器150的綠光和紅光的差分用于分析標(biāo)簽102的光學(xué)信息和磁性信息。在某些實(shí)施方案中，光學(xué)檢測(cè)器150將處理綠光和紅光以形成綠色通道信息和紅色通道信息。因此，這些通道可以用于形成基于綠色通道信息和紅色通道信息的圖像。可以將這些圖像結(jié)合以增強(qiáng)磁性信息或光學(xué)信息(在此“結(jié)合的”或“結(jié)合”是指涉及這兩組信息的任何形式的數(shù)學(xué)運(yùn)算，例如“結(jié)合的”還可以表示減去、或者與一種線性或非線性方程一起使用以便用這兩組信息一起來(lái)提取某些信息)。圖2IA根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案示出了具有人為疊加的光學(xué)特征184和磁性特征4220的標(biāo)簽102的俯視圖。圖21B示出了使用如圖20A至圖20D中所說(shuō)明的讀取元件獲得的標(biāo)簽102的綠色光譜圖像10加。圖21C示出了使用如圖20A至圖20D中所述的讀取元件獲得的標(biāo)簽102的紅色光譜圖像102b。在此假定磁光基片沒(méi)有反射鏡層，并且光是在一個(gè)發(fā)亮的標(biāo)簽表面上反射的(除了有黑色光學(xué)標(biāo)記處，在這些地方假定光被完全吸收)。 對(duì)本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言明顯的是，圖21B和圖21C中的理想化的圖像是高度依賴于光學(xué)構(gòu)造的，并且如果光學(xué)條件或標(biāo)簽表面條件改變的話將獲得非常不同的圖像。在某些實(shí)施方案中，如果光學(xué)信息以類似方式影響紅光和綠光，那么產(chǎn)生綠色光譜圖像10 和紅色光譜圖像102b的一種不同的圖像可能去除、或至少減少光學(xué)特征184 但增強(qiáng)磁性特征4220。也就是說(shuō)，綠色光譜圖像10 和紅色光譜圖像102b類似地傳送光學(xué)特征184，但是在磁性特征4220所在之處，綠色光譜圖像10 將具有與紅色光譜圖像 102b不同的值。產(chǎn)生綠色光譜圖像10 和紅色光譜圖像102b的總和圖像可能造成光學(xué)特征184變得更突出；這部分地是因?yàn)榭偤蛨D像可能造成(由于磁性特征4220在綠色光譜圖像10 和紅色光譜圖像102b中的值不同)磁性特征4220減少或消失。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將理解的是可能需要更復(fù)雜的分析以便適當(dāng)?shù)亟馕龉鈱W(xué)特征184和磁性特征4220。例如，綠色光譜圖像10 和紅色光譜圖像102b可以包含以下信息，該信息為在磁性特征4220和光學(xué)特征184重疊處的磁性特征4220和光學(xué)特征184 的結(jié)合。另外，雖然所有的磁性特征4220被顯示為具有均勻的光色或強(qiáng)度，然而在每個(gè)磁性特征4220上可能出現(xiàn)光強(qiáng)度或顏色上的變化。如在本披露中其他地方一樣，術(shù)語(yǔ)“差” 或“總和”應(yīng)理解為包括用于“減”或“加”圖像以便增強(qiáng)所研究的特征的復(fù)雜非線性方程。 例如，通過(guò)在實(shí)踐中不可能獲得像貫穿本披露所展示的圖像那樣具有完全均勻光照條件的圖像。在多數(shù)情況下，在某些區(qū)域中的光照將比其他區(qū)域更明亮(例如在圖像中央比邊緣處更亮)。這種不均勻的光照影響所研究的光學(xué)信息和磁性信息兩者。例如，假定有等磁場(chǎng)強(qiáng)度的兩個(gè)磁性特征，一個(gè)在圖像中央(在此光亮度為100單位)，而另一個(gè)在圖像邊緣 (在此光亮度較低，假定為10單位的亮度)。假定已從圖像中減去了背景。為了簡(jiǎn)單起見(jiàn)， 假定由于這些磁性特征該磁光基片使光的偏振旋轉(zhuǎn)，從而使得所存在的光中的額外10%穿過(guò)該第二偏光器。10%在明亮區(qū)域中是10單位的光，而在較昏暗的邊緣僅為1單位的光。 因此，在已經(jīng)減去背景之后，在圖像中央的磁性特征將顯得比在圖像邊緣的磁性特征更亮。 其結(jié)果是，貫穿本發(fā)明，術(shù)語(yǔ)“總和”、“結(jié)合”、“加”以及其他數(shù)學(xué)術(shù)語(yǔ)應(yīng)理解為包括比簡(jiǎn)單的線性加減更加復(fù)雜的運(yùn)算。圖22示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案使用磁光讀取元件114讀取嵌入在一個(gè)有價(jià)值的物件的水平面268上的標(biāo)簽102上的指紋區(qū)112。讀取元件114是一種磁光讀取元件，并且由磁光基片138和光學(xué)處理單元136結(jié)合組成以形成該讀取元件114。讀取元件 114由保護(hù)讀取元件114不受損壞的護(hù)套2210包圍。護(hù)套2210可以由非磁性材料(如非磁性金屬(如鋁)、非磁性陶瓷或塑膠)制成。在某些情況下，令人希望的是使護(hù)套2210(或讀取原件周圍或其自身的其它元器件)具有微弱的磁性，因?yàn)檫@可以增強(qiáng)正在被讀取元件
33114檢測(cè)的磁場(chǎng)。例如，如果標(biāo)簽102是已磁化的，這樣在讀取過(guò)程中指紋區(qū)112的磁性特征使其北極朝向讀取元件114，使讀取元件114或讀取元件114附近的某個(gè)元器件微弱地磁化可以是有利的，這樣讀取元件114仿佛是一個(gè)磁體的南極。這可以增強(qiáng)正在被檢測(cè)的磁場(chǎng)，由于讀取元件114的南極將會(huì)吸引這些特征的北極，由此使磁通線變形，這樣使它們進(jìn)一步延伸出標(biāo)簽102的平面?？商娲?，例如，使讀取元件114的左側(cè)作為微弱的北極以及右側(cè)作為微弱的南極可以是有利的。這可以使磁通線在磁體的平面內(nèi)變形(顯著地)并且可能意味著讀取可以是取決于讀取器的(即取決于所使用的讀取元件的具體磁化強(qiáng)度)。 這可以被用來(lái)確保不同的掃描儀可能無(wú)法讀取某些標(biāo)簽(由于指紋可能不匹配)。圖22的左側(cè)示出了與磁性指紋112接觸前的讀取元件114并且圖22的右側(cè)示出了與磁性指紋112 相接觸的讀取元件114。讀取水平面268上的指紋區(qū)112的方法是通過(guò)首先使磁光讀取元件114與磁性指紋區(qū)112相接觸并且然后驅(qū)動(dòng)讀取裝置104上的一個(gè)按鈕來(lái)實(shí)現(xiàn)的。一旦該按鈕被驅(qū)動(dòng)，可以獲得一個(gè)圖像信號(hào)并且完成讀取過(guò)程。圖23示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的磁光讀取元件114和標(biāo)簽102。在圖23 的左側(cè)，這些元器件已經(jīng)被放大，這樣易于觀看到它們是怎樣裝配在一起的。在一個(gè)實(shí)施方案中，護(hù)套2210可以起到一個(gè)接合元件的作用，用于將磁光基片138定位在標(biāo)簽102上的磁性指紋的一個(gè)區(qū)域上。同樣，為了使磁光讀取元件114上的潛在損壞最小化，磁光讀取元件114可以被設(shè)計(jì)為處于護(hù)套2210的表面之下。如果標(biāo)簽102或標(biāo)簽102的一部分是至少50微米厚，那么由護(hù)套2210和讀取元件114形成的凹陷可以被用作一種實(shí)體性對(duì)準(zhǔn)方法以允許用戶將讀取元件114對(duì)準(zhǔn)到標(biāo)簽102上。讀取元件114位于護(hù)套2210的表面之下(例如)至少大約50微米、至少大約150微米、至少大約200微米或至少250微米。通常，為此使用的標(biāo)簽102可以被設(shè)計(jì)為具有至少50微米的厚度，并且若不是比讀取元件114 在護(hù)套2210的表面之下的距離更厚的話至少可以是一樣厚。注意，在某些情況下，通過(guò)僅使護(hù)套2210的一側(cè)位于讀取元件114的水平面之上可以實(shí)現(xiàn)有效的實(shí)體性對(duì)準(zhǔn)，在這種情況下，在讀取元件114的水平面之上伸出的由護(hù)套2210形成的邊緣可以被用來(lái)將讀取元件的邊沿引導(dǎo)到標(biāo)簽102的邊沿上或者在標(biāo)簽102、或者標(biāo)牌上、或者有價(jià)值的物件上的表面中所形成的其他實(shí)體性臺(tái)階上。圖M示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案使用磁光讀取元件114讀取水平面沈8 上的標(biāo)簽102的方法。磁光讀取元件114能夠通過(guò)一個(gè)符合元件266 (示出了為一套簡(jiǎn)單的彈簧)在保護(hù)性護(hù)套2210內(nèi)滑動(dòng)。圖M的左側(cè)示出了與標(biāo)簽102接觸前的讀取元件114 并且圖M的右側(cè)示出了與標(biāo)簽102相接觸的讀取元件114。當(dāng)使讀取裝置104與標(biāo)簽102 進(jìn)行接觸時(shí)，將讀取元件114推靠到標(biāo)簽102的表面上。符合元件266確保讀取元件114 對(duì)標(biāo)簽102施加一定的壓力，但是不要太多的壓力以致?lián)p壞讀取元件114或標(biāo)簽102的關(guān)鍵指紋區(qū)112。這是因?yàn)榉显?的設(shè)計(jì)限定了讀取元件114將對(duì)標(biāo)簽102施加的最大壓力，即使非常用力地推動(dòng)讀取裝置104，讀取元件114將會(huì)退回到護(hù)套2210中并且最終護(hù)套2210的外壁將承受多余的壓力。符合元件266可以包括一個(gè)彈簧系統(tǒng)、一個(gè)海綿系統(tǒng)、一個(gè)抽吸系統(tǒng)、一個(gè)液壓系統(tǒng)和/或一個(gè)氣動(dòng)系統(tǒng)。符合元件266允許磁光讀取頭114 和標(biāo)簽102在讀取過(guò)程中處于持續(xù)的接觸，即使用戶在讀取過(guò)程中施加了不均勻的力。圖25A至圖25D示出了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案使用磁光讀取元件114讀取不平的平面268上的標(biāo)簽102的方法。圖25A示出了與周圍的保護(hù)性護(hù)套2210有一個(gè)小間隙267的磁光讀取元件114。此外，磁光讀取元件頭114通過(guò)一個(gè)符合元件266 (例如一種彈簧機(jī)制)連接到護(hù)套2210上。當(dāng)讀取位于不平的表面268上的磁性指紋區(qū)112或標(biāo)簽102時(shí)，間隙267和彈簧機(jī)制266均提供一定程度的補(bǔ)償。圖25A示出了與標(biāo)簽102接合之前的讀取元件114。在圖25B中，如圖25A所示的磁光讀取元件114與不平坦表面沈8 上的標(biāo)簽102進(jìn)行接觸，磁光讀取元件114能夠在護(hù)套2210內(nèi)移動(dòng)，以便與不平坦表面沈8 上的標(biāo)簽102相符合。在圖25C和圖25D中，間隙267可以被一個(gè)柔順層269替代以補(bǔ)償磁光讀取頭114的移動(dòng)(圖25C示出了接觸之前的情形并且圖25D示出了與標(biāo)簽102接觸過(guò)程中的情形)。注意，指紋區(qū)112內(nèi)磁性特征的磁場(chǎng)強(qiáng)度隨距離迅速地衰減。假設(shè)兩個(gè)磁性特征位于標(biāo)簽內(nèi)的相同深度(該深度從標(biāo)簽表面開(kāi)始測(cè)量)并且這兩個(gè)特征具有它們的磁場(chǎng)的完全相同的磁場(chǎng)強(qiáng)度以及定向。如果一個(gè)這樣的特征位于標(biāo)簽102上的位置2510 處并且另一個(gè)位于2520處，由于(因?yàn)楸砻嫔?的形貌)位置2520處的磁性特征在實(shí)體上比2510處的磁性特征離讀取元件114更近，如圖25D所示的標(biāo)簽的讀取將產(chǎn)生讀取元件 114從位置2520處測(cè)量的磁性作用強(qiáng)于從位置2510處的磁性作用。結(jié)果是，這種讀取將實(shí)際上是標(biāo)簽102的磁性特征與標(biāo)簽102或表面268的形貌特征相混繞的一種測(cè)量。在某些情況中，由于如果將標(biāo)簽102從一個(gè)表面上移除并且被定位在另一個(gè)表面上，那么指紋讀取將會(huì)隨著指紋在其上定位的形貌的改變而改變，這可以被作為一種有力的防篡改或抗篡改機(jī)制。在其他情況下，特別是在被施加到一個(gè)有價(jià)值的物件的表面上之前初始地在生產(chǎn)線上對(duì)標(biāo)簽進(jìn)行讀取的情形中，這可能導(dǎo)致問(wèn)題，因?yàn)闃?biāo)簽102的初始讀取由于這種形貌而可能與標(biāo)簽102的后續(xù)讀取不能很好地匹配。在這樣的環(huán)境下，使用一種柔順的標(biāo)簽可能是有利的。另一種方法可以是使用標(biāo)簽102，它們可以進(jìn)行模制來(lái)使其反面與它們所施加的表面的輪廓相配合，然而標(biāo)簽的前表面應(yīng)當(dāng)保持是平面的。這樣一個(gè)標(biāo)簽102的實(shí)例可以是具有一個(gè)硬平面前層和由熱塑材料制成的一個(gè)底層(在指紋區(qū)之下)的一種多層式標(biāo)簽。當(dāng)標(biāo)簽102被施加到有價(jià)值的物件上時(shí)，將其加熱，這樣使得熱塑層融化或至少軟化， 使得熱塑層可以與有價(jià)值的物件的表面相符。圖沈示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案使用磁光讀取元件114讀取包含在一個(gè)柔順標(biāo)牌沈0內(nèi)的指紋112的方法。在此，柔順標(biāo)牌260被示出為附裝到一個(gè)具有圓形截面的有價(jià)值的物件262上。因?yàn)樵撚袃r(jià)值的物件沈2的形狀，柔順標(biāo)牌沈0的表面在與讀取元件114接合之前也被彎曲(如圖的左側(cè)所示)。因?yàn)槠淙犴樞?，?dāng)其被讀取元件114接合時(shí)(如圖的右側(cè)所示)，標(biāo)牌260的表面能夠變形為平表面。這允許標(biāo)牌的指紋區(qū)112與讀取元件114之間的良好接觸。然而，重要的是標(biāo)牌260不是太厚或太柔順以致使指紋區(qū) 112在讀取過(guò)程中在標(biāo)牌沈0的表面內(nèi)被嚴(yán)重變形，嚴(yán)重變形可能允許指紋區(qū)112內(nèi)的磁性特征彼此相對(duì)被移位，并且這可能減少所存儲(chǔ)的指紋信號(hào)與所讀取的指紋信號(hào)之間的匹配。圖27示出了當(dāng)有價(jià)值的物件沈2(其上固定了標(biāo)牌沈0)具有一個(gè)粗糙的表面時(shí)柔順標(biāo)牌260可以如何進(jìn)行幫助。圖27的左側(cè)示出了與讀取元件114接合之前的情形。 標(biāo)牌260與有價(jià)值的物件沈2的表面相符導(dǎo)致標(biāo)牌的表面起伏?？傮w上，首先在生產(chǎn)線上 (其中標(biāo)牌260是平的)讀取指紋112。如果當(dāng)標(biāo)牌260具有起伏的表面時(shí)進(jìn)行后續(xù)的讀取，如果標(biāo)牌260不是柔順的，指紋區(qū)112的某些磁性特征可能進(jìn)一步地遠(yuǎn)離讀取元件114 的表面。然而，在用柔順標(biāo)牌260讀取的過(guò)程中(通過(guò)對(duì)讀取元件114施加一些壓力與讀取元件114接合)，如右側(cè)所示，指紋區(qū)112的表面能夠與讀取元件114相符，由此協(xié)助指紋區(qū)112的準(zhǔn)確讀取。圖觀示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的另一種柔順標(biāo)牌的構(gòu)造。在此，標(biāo)牌 260被構(gòu)造成使得指紋區(qū)112的表面相對(duì)于包圍指紋區(qū)112的標(biāo)牌沈0的剩余表面略微升高。如圖的右側(cè)所示，當(dāng)在與讀取元件114接合之前被附裝到一個(gè)平的有價(jià)值的物件262上時(shí)，指紋區(qū)112的表面比標(biāo)牌260邊沿處的表面高出距離&。如圖觀的左側(cè)所示，在接合過(guò)程中，這個(gè)距離被壓縮到&，即指紋區(qū)112的表面被壓縮到離周圍表面的平面更近。取決于讀取元件114的形狀和大小以及在讀取過(guò)程中對(duì)讀取元件114所施加的壓力，X2可能是零(即位于周圍表面的平面內(nèi))或者甚至是負(fù)的(即指紋區(qū)的表面被推到周圍表面之下)。 由于對(duì)讀取元件114施加的所有壓力都集中在使指紋區(qū)112的表面平坦，并且如果標(biāo)牌沈0 的其他部分略微升高(例如因?yàn)樵谀Ｇ羞^(guò)程中形成的毛邊或邊緣、或者因?yàn)閾p壞)，或者如果其他部分上有灰塵，那么他們將不會(huì)對(duì)指紋區(qū)112的讀取有顯著的作用，這個(gè)標(biāo)牌260的設(shè)計(jì)協(xié)助指紋區(qū)112與讀取元件114之間的良好接觸。圖29A示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的包含一個(gè)指紋區(qū)112的標(biāo)簽102的截面圖。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案，標(biāo)簽102被嵌入有待識(shí)別的有價(jià)值的物品沈2(例如戒指)內(nèi)以及磁光讀取元件114之中。包含標(biāo)簽102的環(huán)262的表面已經(jīng)變平以確保標(biāo)簽102 的表面與讀取元件114之間的良好接觸。使磁光讀取元件114與標(biāo)簽102進(jìn)行接觸用于讀取磁性指紋112。圖29B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案的標(biāo)簽102和指紋區(qū)112的一個(gè)俯視圖。在此，標(biāo)簽102是矩形的以便配合在戒指表面上的可用空間。指紋區(qū)112是包含指紋材料的一個(gè)狹長(zhǎng)凹槽。為美觀目的(例如與周圍的戒指看起來(lái)一樣)，將一個(gè)薄金屬層鍍到標(biāo)簽102上可能是可行的并且可能是令人希望的，例如如果環(huán)是金色的，那么戒指 262的鍍層可以是金色的。這個(gè)鍍層(或其他涂覆層)還可以用于保護(hù)標(biāo)簽102和指紋區(qū) 112不受環(huán)境影響(例如刮痕和腐蝕)。在這個(gè)實(shí)施方案中突出強(qiáng)調(diào)了本發(fā)明的一個(gè)重要特征即具有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)讀取元件的一個(gè)單一掃描儀能夠讀取不同形狀和大小以及包含在或附裝到多種有價(jià)值的物件的表面上的指紋區(qū)。如果標(biāo)準(zhǔn)讀取裝置104(以及相關(guān)聯(lián)的磁光讀取元件)能夠讀取指紋區(qū)112的一個(gè)足夠大的比例以便確保一個(gè)可接受的閾值之上的指紋匹配，那么所有的指紋區(qū)112具有相同的形狀和大小就不是必要的。這在商業(yè)上是非常重要的，因?yàn)樗试S使用標(biāo)準(zhǔn)讀取裝置104或掃描儀同很多不同的產(chǎn)品一起使用。圖30A和圖30B示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案當(dāng)讀取標(biāo)簽102時(shí)磁光讀取元件114的截面圖。磁光讀取元件114由一個(gè)保護(hù)性護(hù)套2210所包圍。磁光讀取頭114通過(guò)一種彈簧機(jī)制266連接到護(hù)套2210上。護(hù)套2210的內(nèi)壁實(shí)質(zhì)上在形狀上與厚標(biāo)牌258 (其中定位了具有一組識(shí)別特征的標(biāo)簽10 的周長(zhǎng)互補(bǔ)。圖30A示出了在使磁光讀取元件114與厚標(biāo)牌258接合之前的情形。彈簧266處于一種未壓縮狀態(tài)。圖30B示出了當(dāng)讀取標(biāo)簽102時(shí)在厚標(biāo)牌258上被壓縮的磁光讀取元件114。保護(hù)性護(hù)套2210實(shí)質(zhì)上包圍著厚標(biāo)牌258。當(dāng)在厚標(biāo)牌258上壓縮磁光讀取頭 114時(shí)，彈簧266被壓縮并且磁光讀取元件114被推入護(hù)套2210中。護(hù)套2210的內(nèi)壁包圍著標(biāo)牌258并且提供給用戶一種實(shí)體接合機(jī)制以確保讀取裝置與標(biāo)牌258正確地對(duì)準(zhǔn)(并且因此與標(biāo)簽102及其指紋區(qū)112對(duì)準(zhǔn))。標(biāo)牌258和護(hù)套2210可以具有任何適當(dāng)?shù)男螤?例如正方形、長(zhǎng)方形、三角形或多邊形)，然而，優(yōu)選地是該形狀不是完全對(duì)稱的，即形狀唯一地限定了讀取裝置104或掃描儀相對(duì)于標(biāo)牌258的定向。在以下所述的圖31中示出了這樣的一個(gè)標(biāo)牌258和護(hù)套2210的配置。圖31示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案使用磁光讀取元件114讀取具有對(duì)準(zhǔn)特征222的標(biāo)牌284的方法。標(biāo)牌284包含由一個(gè)薄覆蓋層160覆蓋的嵌入的指紋區(qū)112(指紋區(qū)112由于被覆蓋層160隱藏而未示出)。數(shù)據(jù)矩陣條形碼186以及人可讀的序列號(hào)182 被印刷在覆蓋層160的表面上。為了實(shí)現(xiàn)用于讀取標(biāo)牌284上的指紋的所希望的對(duì)準(zhǔn)，可以使用在磁光讀取元件114周圍或與其相鄰的外殼282上的缺口觀0以及標(biāo)牌284上的插頭222的組合來(lái)提供一種互鎖裝置。當(dāng)磁光讀取元件114被置于在標(biāo)牌284上時(shí)，磁光讀取元件114的外殼282上的缺口 280提供了一種機(jī)械性導(dǎo)向以確保相對(duì)于標(biāo)簽的掃描儀的準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)和定向。這種互鎖提示用戶以一種優(yōu)選的對(duì)準(zhǔn)方式將磁光讀取元件114調(diào)整到標(biāo)牌284上。注意，外殼282可以是如參考之前的圖所說(shuō)明的一個(gè)保護(hù)性護(hù)套。圖32示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案讀取包含一個(gè)指紋112的標(biāo)簽102的方法。標(biāo)簽102被嵌入一個(gè)有價(jià)值的物件沈2的表面中。有價(jià)值的物件262具有與標(biāo)簽102 相鄰的一個(gè)或多個(gè)突起3210。這些突起3210被設(shè)計(jì)為引導(dǎo)或與磁光讀取元件114的外殼 282互鎖。圖32A示出了讀取元件114與標(biāo)簽102間的接合之前的情形。圖32B示出了接合過(guò)程中的情形。在此，磁光讀取元件114被向下移動(dòng)，這樣使得磁性讀取元件114接觸到 (或者至少很接近)標(biāo)簽102的表面。突起3210相對(duì)于標(biāo)簽102引導(dǎo)讀取元件114的位置。注意，突起3210可以完全包圍標(biāo)簽102或外殼282，并且突起3210還可以形成在標(biāo)簽 102本身上或形成在標(biāo)牌上以幫助引導(dǎo)這種對(duì)齊。圖33示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案包含在有待識(shí)別的物品沈2的凹槽沈4 中的磁性指紋112的標(biāo)簽102。用于標(biāo)簽102的凹槽沈4的內(nèi)壁可以被用來(lái)幫助對(duì)準(zhǔn)讀取裝置104或掃描儀以及結(jié)合圖18所述的標(biāo)簽102。如果有待識(shí)別的物品262沒(méi)有適當(dāng)?shù)钠奖砻鎭?lái)附裝標(biāo)簽102，那么這樣一個(gè)凹槽264也可以是有利的。此類物品包括柱形物品但并不限于此。這樣的凹槽264還具有的優(yōu)點(diǎn)是它幫助保護(hù)標(biāo)簽102不受機(jī)械摩擦以及與物品的不經(jīng)意的接觸。注意，凹槽264不需要是如圖33所示的末端開(kāi)口的槽，任何凹穴(如四壁方形截面凹穴)都可以是合適的。盡管已經(jīng)參考具體的實(shí)施方案示出了以及說(shuō)明了本發(fā)明的實(shí)施方案，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解的是可以在此做出形式和細(xì)節(jié)上的不同改變，而不背離由所附權(quán)利要求所定義的本發(fā)明的精神和范圍。本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求所表明，并且因此旨在包括落入權(quán)利要求的等效物的意義和范圍內(nèi)的所有改變。
權(quán)利要求
1.一種用于讀取磁性信息和光學(xué)信息的讀取裝置，該讀取裝置包括一個(gè)讀取元件，該讀取元件包括一個(gè)被適配為讀取多個(gè)重疊的磁性識(shí)別特征和光學(xué)識(shí)別特征的磁光基片，其中該磁光基片是至少部分地光學(xué)透明的。
2.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中該磁光基片包括一種層安排，該層安排包括 一個(gè)光學(xué)透明的基片；一個(gè)第一涂覆層；以及一個(gè)第二涂覆層。
3.如權(quán)利要求2所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層是部分地光學(xué)透明的并且是部分地反射性的。
4.如權(quán)利要求3所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層反射至少一部分光，其中這種光是單色的。
5.如權(quán)利要求3所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層包括一個(gè)雙色反射鏡。
6.如權(quán)利要求3所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層包括一個(gè)介電反射鏡。
7.如權(quán)利要求2所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層被配置為改變一種反射特性。
8.如權(quán)利要求7所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層是一種可切換的反射鏡。
9.如權(quán)利要求7所述的讀取裝置，其中該反射特性是選自下組，該組由以下各項(xiàng)組成 一種偏振特性以及一種波長(zhǎng)特性。
10.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中該讀取裝置被配置為產(chǎn)生一種交變電流以便與這些磁性識(shí)別特征一起感應(yīng)出一個(gè)磁場(chǎng)。
11.如權(quán)利要求10所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括多個(gè)導(dǎo)電線圈。
12.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括一個(gè)或多個(gè)磁體，這個(gè)或這些磁體被配置為產(chǎn)生相對(duì)于這些磁性識(shí)別特征的一個(gè)基本上均勻的磁場(chǎng)。
13.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括一個(gè)光源，該光源被配置為產(chǎn)生至少兩種單色光信號(hào)，該至少兩種單色光信號(hào)具有一種波長(zhǎng)，這種波長(zhǎng)能夠產(chǎn)生這些光學(xué)識(shí)別特征的一個(gè)圖像或這些磁性識(shí)別特征的一個(gè)圖像。
14.如權(quán)利要求13所述的讀取裝置，其中該至少兩種單色信號(hào)之一穿過(guò)了一個(gè)偏光透
15.如權(quán)利要求14所述的讀取裝置，其中該讀取裝置被配置為產(chǎn)生一個(gè)圖像，該圖像是基于這些光學(xué)識(shí)別特征的這個(gè)圖像以及這些磁性識(shí)別特征的這個(gè)圖像。
16.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括兩個(gè)或多個(gè)光源，其中一個(gè)第一光源被配置為產(chǎn)生一種單色光信號(hào)，這種單色光信號(hào)能夠產(chǎn)生這些光學(xué)識(shí)別特征的一個(gè)圖像，而一個(gè)第二光源被配置為產(chǎn)生一種單色光信號(hào)，這種單色光信號(hào)能夠產(chǎn)生這些磁性識(shí)別特征的一個(gè)圖像。
17.如權(quán)利要求16所述的讀取裝置，其中這些單色信號(hào)中的至少一種穿過(guò)一個(gè)偏光透
18.如權(quán)利要求17所述的讀取裝置，其中該讀取裝置被配置為產(chǎn)生一個(gè)圖像，該圖像是基于這些光學(xué)識(shí)別特征的這個(gè)圖像與這些磁性識(shí)別特征的這個(gè)圖像。
19.一種用于讀取磁性信息和光學(xué)信息的讀取裝置，該讀取裝置包括 一個(gè)讀取元件，該讀取元件包括一個(gè)磁光基片，該磁光基片包括一個(gè)反射層，該反射層被配置為反射光線的一個(gè)第一部分；以及一個(gè)透明層，該透明層被配置為使光線的一個(gè)第二部分穿過(guò)其中；其中該反射層與該透明層重疊，以便形成一個(gè)重疊區(qū)域，該重疊區(qū)域能夠讀取一個(gè)物品的磁性信息和光學(xué)信息兩者。
20.如權(quán)利要求19所述的讀取裝置，其中該磁光基片包括一種層安排，該層安排包括一個(gè)光學(xué)透明的基片；一個(gè)第一涂覆層；以及一個(gè)第二涂覆層，其中該第二涂覆層是部分地光學(xué)透明的并且是部分地反射性的。
21.如權(quán)利要求21所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層反射至少一部分光，其中這些光是單色的。
22.如權(quán)利要求21所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層包括一個(gè)雙色反射鏡。
23.如權(quán)利要求21所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層包括一個(gè)介電反射鏡。
24.如權(quán)利要求20所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層被配置為改變一種反射特性。
25.如權(quán)利要求M所述的讀取裝置，其中該第二涂覆層是一種可切換的反射鏡。
26.如權(quán)利要求M所述的讀取裝置，其中該反射特性選自下組，該組由以下各項(xiàng)組成 一種偏振特性以及一種波長(zhǎng)特性。
27.如權(quán)利要求19所述的讀取裝置，其中該讀取裝置被配置為產(chǎn)生一種交變電流以便與這些磁性識(shí)別特征一起感應(yīng)出一個(gè)磁場(chǎng)。
28.如權(quán)利要求27所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括多個(gè)導(dǎo)電線圈。
29.如權(quán)利要求19所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括一個(gè)或多個(gè)磁體，這個(gè)或這些磁體被配置為產(chǎn)生相對(duì)于這些磁性識(shí)別特征的一個(gè)基本上均勻的磁場(chǎng)。
30.如權(quán)利要求19所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括一個(gè)光源，該光源被配置為產(chǎn)生至少兩個(gè)單色光信號(hào)，該至少兩個(gè)色光信號(hào)具有一種波長(zhǎng)，這種波長(zhǎng)能夠產(chǎn)生這些光學(xué)識(shí)別特征的一個(gè)圖像或這些磁性識(shí)別特征的一個(gè)圖像。
31.如權(quán)利要求30所述的讀取裝置，其中該至少兩個(gè)單色信號(hào)之一穿過(guò)了一個(gè)偏光透^Mi O
32.如權(quán)利要求30所述的讀取裝置，其中該讀取裝置被配置為產(chǎn)生一個(gè)圖像，該圖像是基于這些光學(xué)識(shí)別特征的這個(gè)圖像以及這些磁性識(shí)別特征的這個(gè)圖像。
33.如權(quán)利要求19所述的讀取裝置，其中該讀取裝置包括兩個(gè)或多個(gè)光源，其中一個(gè)第一光源被配置為產(chǎn)生一個(gè)單色光信號(hào)，這個(gè)單色光信號(hào)能夠產(chǎn)生這些光學(xué)識(shí)別特征的一個(gè)圖像，而一個(gè)第二光源被配置為產(chǎn)生一個(gè)單色光信號(hào)，這個(gè)單色光信號(hào)能夠產(chǎn)生這些磁性識(shí)別特征的一個(gè)圖像。
34.如權(quán)利要求33所述的讀取裝置，其中這些單色信號(hào)中的至少一個(gè)穿過(guò)了一個(gè)偏光透鏡。
35.如權(quán)利要求34所述的讀取裝置，其中該讀取裝置被配置為產(chǎn)生一個(gè)圖像，該圖像是基于這些光學(xué)識(shí)別特征的這個(gè)圖像以及這些磁性識(shí)別特征的這個(gè)圖像。
36.如權(quán)利要求2所述的讀取裝置，其中該第一涂覆層是一個(gè)磁光薄膜。
37.如權(quán)利要求2所述的讀取裝置，其中該磁光基片進(jìn)一步包括一個(gè)保護(hù)層。
38.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中該讀取元件包括一個(gè)接合元件用于對(duì)該磁光基片進(jìn)行定位。
39.如權(quán)利要求38所述的讀取裝置，其中該接合元件基本上包圍了該磁光基片。
40.如權(quán)利要求38所述的讀取裝置，其中該接合元件在形狀上與該標(biāo)簽或物品中的一個(gè)接合軌道是實(shí)質(zhì)上互補(bǔ)的，從而形成一種互鎖裝置。
41.如權(quán)利要求38所述的讀取裝置，其中該接合元件被形成為一個(gè)腔或一個(gè)凹陷。
42.如權(quán)利要求41所述的讀取裝置，其中該凹陷的高度為至少大約50微米、至少大約 150微米、至少大約200微米、或至少250微米。
43.如權(quán)利要求38所述的讀取裝置，其中該接合元件被形成為一個(gè)突起。
44.如權(quán)利要求43所述的讀取裝置，其中該突起的高度為至少大約50微米、至少大約 150微米、至少大約200微米、或至少250微米。
45.如權(quán)利要求38所述的讀取裝置，其中該接合元件具有在截面上的一個(gè)圓的形狀或一個(gè)多邊形的截面形狀。
46.如權(quán)利要求1所述的讀取裝置，其中該讀取元件被適配為當(dāng)與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相接觸時(shí)與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相符合。
47.如權(quán)利要求46所述的讀取裝置，其中該讀取元件包括一個(gè)符合元件，當(dāng)使該讀取元件與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品進(jìn)行接觸時(shí)，該符合元件協(xié)助該讀取元件與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相符合。
48.如權(quán)利要求47所述的讀取裝置，其中該符合元件包括至少一個(gè)彈簧、海綿、抽吸系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)、或氣動(dòng)系統(tǒng)。
49.如權(quán)利要求47所述的讀取裝置，其中該符合元件在讀取過(guò)程中至少將該讀取元件推靠在一個(gè)有待讀取的區(qū)域上。
50.如權(quán)利要求47所述的讀取裝置，其中該符合元件被適配為如果該讀取裝置掉落在或者碰到一個(gè)硬的表面上則保護(hù)該讀取元件的表面不被損壞。
51.如權(quán)利要求47所述的讀取裝置，其中該符合元件被設(shè)計(jì)為如果該讀取元件被推動(dòng)則允許該讀取元件下沉到該接合元件的水平以下。
52.如權(quán)利要求47所述的讀取裝置，其中該讀取元件在不使用時(shí)被容納在該接合元件的水平以下，但是當(dāng)它與該標(biāo)簽或有待讀取的物品接合時(shí)，該接合元件將該讀取元件推到有待讀取的區(qū)域的表面上。
53.如權(quán)利要求47所述的讀取裝置，其中至少該讀取元件在被置于同該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品進(jìn)行接觸時(shí)是與該接合元件有距離的，從而允許該讀取元件與該標(biāo)簽或有待識(shí)別的物品相符合。
54.一種用于對(duì)標(biāo)簽或者被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的方法，該方法包括僅從位于該標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第一組識(shí)別特征的一個(gè)磁光讀取中生成一個(gè)第一信號(hào)，其中一個(gè)第一組識(shí)別特征包括磁性的或可磁化的顆粒的一種無(wú)序安排，這些顆粒被包括在該標(biāo)簽或物品的一個(gè)識(shí)別層中，其中從讀取該第一組識(shí)別特征而產(chǎn)生的該第一信號(hào)原樣地被用于導(dǎo)出一個(gè)用來(lái)識(shí)別該標(biāo)簽或物品的第一簽名；并且從讀取一個(gè)第二組識(shí)別特征來(lái)產(chǎn)生一個(gè)第二信號(hào)，其中該第二組識(shí)別特征包括多個(gè)光學(xué)識(shí)別特征，并且該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征至少部分地重疊。
55.如權(quán)利要求M所述的方法，其中這些磁性的或者可磁化的顆粒的無(wú)序安排包括多個(gè)隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。
56.如權(quán)利要求55所述的方法，其中這些磁性顆粒包括一種高矯頑性材料。
57.如權(quán)利要求56所述的方法，其中該高矯頑性材料是選自由釹鐵硼合金組成的組。
58.如權(quán)利要求57所述的方法，其中這些磁性顆粒包括一種鐵氧體磁性材料、一種反鐵磁性材料、一種鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個(gè)磁疇(包括造成可變磁特性的多個(gè)空隙)、以及它們的多種組合。
59.如權(quán)利要求58所述的方法，其中該鐵磁性材料是選自下組，其組成為MnBi、CrTe、 EuO、Cr02、MnAs, Fe、Ni、Co、Gd、Dy，與 Fe、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 相對(duì)應(yīng)的多種合金和氧化物， 以及它們的多種組合。
60.如權(quán)利要求M所述的方法，其中從讀取的該第一組識(shí)別特征中所生成的該第一信號(hào)及從讀取的該第二組識(shí)別特征中所生成的該第二信號(hào)被獨(dú)立地用于導(dǎo)出用于識(shí)別該標(biāo)簽或物品的一個(gè)第一簽名和一個(gè)第二簽名。
61.如權(quán)利要求M所述的方法，其中這些光學(xué)識(shí)別特征包括一個(gè)條形碼或一個(gè)全息圖。
62.如權(quán)利要求M所述的讀取裝置，其中該第一組識(shí)別特征以及該第二組識(shí)別特征是位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)接合軌道之中。
63.如權(quán)利要求M所述的讀取裝置，其中該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征是在同一個(gè)平面上。
64.如權(quán)利要求M所述的讀取裝置，其中該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征是在不同的平面上。
65.一種用于對(duì)標(biāo)簽或者被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的方法，該方法包括 從位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第一組識(shí)別特征的磁光讀取中生成一種第一信號(hào)，從位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第二組識(shí)別特征的讀取中生成一種第二信號(hào)；其中該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征至少部分地重疊；并且其中從讀取該第一組識(shí)別特征所生成的第一信號(hào)以及從讀取該第二組識(shí)別特征所生成的第二信號(hào)被用來(lái)導(dǎo)出用于識(shí)別該標(biāo)簽或該物品的一個(gè)第一簽名和一個(gè)第二簽名。
66.如權(quán)利要求65所述的方法，其中從讀取該第一組識(shí)別特征所生成的第一信號(hào)與從讀取該第二組識(shí)別特征所生成的第二信號(hào)是同時(shí)生成的。
67.如權(quán)利要求65所述的方法，其中該第一組識(shí)別特征被置于一個(gè)第一位置，而該第二組識(shí)別特征被置于一個(gè)第二位置。
68.如權(quán)利要求67所述的方法，進(jìn)一步包括在導(dǎo)出用于識(shí)別該標(biāo)簽或物品的一個(gè)第一簽名和一個(gè)第二簽名之前對(duì)該第一位置與該第二位置進(jìn)行比較。
69.如權(quán)利要求65所述的方法，其中該第一組識(shí)別特征包括多個(gè)磁性的或可磁化的顆粒的一種無(wú)序安排。
70.如權(quán)利要求69所述的方法，其中這些磁性的或者可磁化的顆粒的無(wú)序安排包括多個(gè)隨機(jī)分布的磁性的或者可磁化的顆粒。
71.如權(quán)利要求70所述的方法，其中這些磁性顆粒包括一種高矯頑性材料。
72.如權(quán)利要求71所述的方法，其中該高矯頑性材料是選自由釹鐵硼合金組成的組。
73.如權(quán)利要求69所述的方法，其中這些磁性顆粒包括一種鐵氧體磁性材料、一種反鐵磁性材料、一種鐵磁性材料、或在一種連續(xù)材料中具有變化的磁特性的多個(gè)磁疇(包括造成可變磁特性的多個(gè)空隙)、以及它們的多種組合。
74.如權(quán)利要求73所述的讀取裝置，其中該鐵磁性材料是選自下組，其組成為MnBi、 CrTe、EuO、Cr02、MnAs、Fe、Ni、Co、Gd、Dy，與 Fe、Ni、Co、Sm、Gd、Dy 相對(duì)應(yīng)的多種合金和氧化物，以及它們的多種組合。
75.如權(quán)利要求65所述的方法，其中該第二組識(shí)別特征包括一個(gè)芯片、一個(gè)磁條、一個(gè)序列號(hào)、或一個(gè)光學(xué)標(biāo)識(shí)。
76.如權(quán)利要求75所述的方法，其中該芯片是一個(gè)射頻識(shí)別標(biāo)簽、或一個(gè)基于接觸的
77.如權(quán)利要求75所述的方法，其中該光學(xué)標(biāo)識(shí)是一個(gè)條形碼或一個(gè)全息圖。
78.如權(quán)利要求65所述的方法，其中該第一組識(shí)別特征以及該第二組識(shí)別特征是位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)接合軌道之中。
79.如權(quán)利要求65所述的方法，其中該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征是在同一個(gè)平面上。
80.如權(quán)利要求65所述的方法，其中該第一組識(shí)別特征與該第二組識(shí)別特征是在不同的平面上。
81.一種用于對(duì)標(biāo)簽或者被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的識(shí)別系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括用于識(shí)別一個(gè)物品的一種標(biāo)簽，該標(biāo)簽可以被附裝在該物品上，其中該標(biāo)簽包括位于該標(biāo)簽或被適配為有待識(shí)別的物品中的至少一個(gè)第一組和一個(gè)第二組識(shí)別特征；以及根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種讀取裝置。
82.如權(quán)利要求81所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中對(duì)照在沒(méi)有一個(gè)實(shí)質(zhì)性磁場(chǎng)時(shí)從同一個(gè)讀取元件獲得的一種信號(hào)對(duì)從該讀取元件獲得的該第一信號(hào)進(jìn)行歸一化。
83.如權(quán)利要求82所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中該歸一化是通過(guò)從在與有待讀取的區(qū)域相結(jié)合時(shí)從該讀取元件獲得的信號(hào)中減去在沒(méi)有一個(gè)實(shí)質(zhì)性磁場(chǎng)時(shí)從該讀取元件獲得的信號(hào)而實(shí)現(xiàn)的。
84.如權(quán)利要求83所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中該歸一化包括在正在被讀取的信號(hào)中識(shí)別多個(gè)數(shù)據(jù)部分，由于在該讀取元件中的損壞或變化，這些數(shù)據(jù)部分的可靠性可能低于其他數(shù)據(jù)的可靠性，對(duì)所述具有更低可靠性的數(shù)據(jù)以不同于其他數(shù)據(jù)的方式進(jìn)行處理。
85.如權(quán)利要求81所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中從該讀取元件獲得的該第一信號(hào)是通過(guò)以下方式進(jìn)行處理的，即將該信號(hào)中低于一個(gè)預(yù)定閾值的所有數(shù)據(jù)設(shè)置為一個(gè)預(yù)定的值，或者忽略這些數(shù)據(jù)并且僅存儲(chǔ)高于該預(yù)定閾值的數(shù)據(jù)(包括這些數(shù)據(jù)的實(shí)體定位)。
86.如權(quán)利要求81所述的識(shí)別系統(tǒng)，進(jìn)一步包括一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)，其中存儲(chǔ)了從該識(shí)別標(biāo)簽的一個(gè)參考讀取中獲得的一個(gè)參考簽名。
87.如權(quán)利要求86所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中用于該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)是相對(duì)該讀取裝置遠(yuǎn)程的一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)。
88.如權(quán)利要求86所述的識(shí)別系統(tǒng)，進(jìn)一步包括一個(gè)相對(duì)于該讀取裝置遠(yuǎn)程的數(shù)據(jù)處理裝置，其中該數(shù)據(jù)處理裝置被適配為執(zhí)行該數(shù)據(jù)處理，以便使所讀取的簽名與該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名相匹配。
89.如權(quán)利要求86所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中用于該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)是位于附裝在該物品上的標(biāo)簽之中。
90.如權(quán)利要求86所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中用于該預(yù)先存儲(chǔ)的參考簽名的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)是位于該物品之中。
91.如權(quán)利要求86所述的識(shí)別系統(tǒng)，其中該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)媒質(zhì)是磁條、存儲(chǔ)器芯片、媒體盤、硬盤、智能卡、RAM模塊、磁帶、或常規(guī)的光學(xué)裝置，如2D條形碼或位圖。
全文摘要
在此披露了一種用于對(duì)標(biāo)簽或者被適配為有待識(shí)別的物品進(jìn)行識(shí)別的讀取裝置。該讀取裝置包括一個(gè)讀取元件，該讀取元件用于讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第一組識(shí)別特征，其中該讀取元件是一個(gè)磁光讀取元件。該讀取元件還讀取位于該標(biāo)簽或該被適配為有待識(shí)別的物品中的一個(gè)第二組識(shí)別特征；其中該讀取裝置被配置為使得從讀取該第一組識(shí)別特征而產(chǎn)生的一個(gè)第一信號(hào)與從讀取該第二組識(shí)別特征而產(chǎn)生的一個(gè)第二信號(hào)被獨(dú)立地用于導(dǎo)出用來(lái)識(shí)別該標(biāo)簽或物品的一個(gè)第一簽名和一個(gè)第二簽名。
文檔編號(hào)G06K9/00GK102473235SQ201080030903
公開(kāi)日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2010年7月8日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月9日
發(fā)明者A·P·伯登, P·M·莫蘭 申請(qǐng)人:比爾凱科技新加坡有限公司