專利名稱：多片適配卡測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種電子裝置的測試方法，且特別是有關(guān)于一種多片適配卡測試方法。
背景技術(shù)：
計算機(jī)是現(xiàn)代科技中，影響人類生活至巨的一項重要發(fā)明。為使計算機(jī)中各組件可以正常運作與溝通，計算機(jī)中安插在電路板上的各種適配卡需要進(jìn)行許多測試，以期這些適配卡可以無誤地執(zhí)行各種功能。然而，在對適配卡進(jìn)行測試時，往往只能對單一插槽上的適配卡進(jìn)行熱插拔，在面對多個適配卡需同時測試時，由于計算機(jī)系統(tǒng)對于插槽的辨識方式與使用者操作直接目視的方式并不相同，直接進(jìn)行熱插拔將造成錯誤的情形。必需重新開關(guān)機(jī)以進(jìn)行不同批適配卡的測試，對時間、人力成本來說，都是不小的負(fù)擔(dān)。因此，如何設(shè)計一個新的多片適配卡測試方法，以提升測試的效率，乃為此一業(yè)界亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種多片適配卡測試方法，以提升測試的效率。本發(fā)明的一實施方式是在提供一種多片適配卡測試方法，包含下列步驟使計算機(jī)系統(tǒng)的主機(jī)板的多個個裝置插槽上插入多個待測適配卡；將計算機(jī)系統(tǒng)開機(jī)以啟動操作系統(tǒng)；對待測適配卡對應(yīng)裝置插槽的映像表進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的多個參數(shù)；對待測適配卡分別進(jìn)行啟動流程以及測試流程；當(dāng)待測適配卡其中一部分完成測試流程，對待測適配卡的該部分進(jìn)行關(guān)閉流程以及移除程序，以將待測適配卡的該部分自對應(yīng)的裝置插槽移除；以及插入其它待測適配卡于已移除的該部分對應(yīng)的裝置插槽以分別執(zhí)行啟動流程、測試流程、關(guān)閉流程以及移除程序。依據(jù)本發(fā)明實施例，當(dāng)其它待測適配卡與相對應(yīng)的待測適配卡的該部分為不同， 對映射表再次進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的參數(shù)。依據(jù)本發(fā)明另一實施例，其中裝置插槽為快速外圍裝置組件互連插槽 (Peripheral Component Interconnect Express ；PCIE)0依據(jù)本發(fā)明又一實施例，其中映射表的參數(shù)包含總線編號參數(shù)、裝置編號參數(shù)以及功能參數(shù)。依據(jù)本發(fā)明再一實施例，其中映像表儲存于計算機(jī)系統(tǒng)的韌體中。依據(jù)本發(fā)明更具有的一實施例，其中啟動流程還包含下列步驟根據(jù)映像表進(jìn)行裝置插槽的連接開啟動作；進(jìn)行裝置插槽的電源開啟動作；以及進(jìn)行該組待測適配卡的驅(qū)動功能開啟動作。關(guān)閉流程還包含下列步驟進(jìn)行該組待測適配卡的驅(qū)動功能關(guān)閉動作； 根據(jù)映像表進(jìn)行裝置插槽的連接關(guān)閉動作；以及進(jìn)行裝置插槽的電源關(guān)閉動作。依據(jù)本發(fā)明再具有的一實施例，其中該多個待測適配卡包含網(wǎng)絡(luò)卡、磁盤陣列卡或顯示卡。該多個待測適配卡包含單一種類或多個種類的多個待測適配卡。
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應(yīng)用本發(fā)明的優(yōu)點在于鎖住適配卡的參數(shù)后，可通過不需關(guān)閉并重新開啟計算機(jī)系統(tǒng)電源的熱插拔方式，同時對一組適配卡進(jìn)行測試，并可直接將整組適配卡進(jìn)行更換，節(jié)省時間及治具成本，而輕易地達(dá)到上述的目的。


為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的說明如下圖1為本發(fā)明的一實施例的計算機(jī)系統(tǒng)的示意圖；以及圖2為本發(fā)明一實施例中，多片適配卡測試方法的流程圖。主要組件符號說明1:計算機(jī)系統(tǒng)10:中央處理器12、14:總線切換芯片120、122、124 裝置插槽140、142、144、146 裝置插槽 201-206 步驟
具體實施例方式請參照圖1。圖1為本發(fā)明的一實施例的計算機(jī)系統(tǒng)1的示意圖。計算機(jī)系統(tǒng)1 包含位于主機(jī)板(未繪示)上的中央處理器10、總線切換芯片12及14，以及位于總線切換芯片12上的裝置插槽120、122及124與位于總線切換芯片14上的裝置插槽140、142、144 及 146。在一實施例中，總線切換芯片12及14為快速外圍裝置組件互連切換(PCIe switch)芯片。而裝置插槽120、122、124、140、142、144及146為快速外圍裝置組件互連插槽，可分別用以連接快速外圍裝置組件互連接口的適配卡(未繪示)。請同時參照圖2。圖2為本發(fā)明一實施例中，多片適配卡測試方法的流程圖。多片適配卡測試方法可用以同時測試多片適配卡，包含下列步驟。于步驟201，使計算機(jī)系統(tǒng)1的主機(jī)板的多個個裝置插槽120、122、124、140、142、 144及146上插入一組待測適配卡。待測適配卡可以是網(wǎng)絡(luò)卡、磁盤陣列卡或是顯示卡。其中，一組待測適配卡中，可以包含單種適配卡，例如全為網(wǎng)絡(luò)卡，或是可以包含多個種適配卡，例如包含網(wǎng)絡(luò)卡、磁盤陣列卡或是顯示卡的組合。接著于步驟202，將計算機(jī)系統(tǒng)1開機(jī)以啟動操作系統(tǒng)。中央處理器10將對所有的裝置插槽掃瞄一遍，以獲得各待測適配卡的相關(guān)參數(shù)。以圖1中的實施方式為例，中央處理器10將先進(jìn)行縱深再進(jìn)行橫向的掃瞄。因此，總線切換芯片12將被定義屬于總線一，其下的裝置插槽120、122、IM將被定義屬于總線二，總線切換芯片14將被定義屬于總線三， 其下的裝置插槽140、142、144及146將被定義屬于總線四。接著于步驟203，對該組待測適配卡對應(yīng)裝置插槽120、122、124、140、142、144及 146的映射表(未繪示)進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的多個參數(shù)。于一實施例中，映像表是儲存于計算機(jī)系統(tǒng)1的韌體(未繪示)中，用以記錄包含總線編號參數(shù)(bus)、裝置編號參數(shù)(dev)以及功能參數(shù)(fun)。舉例來說，裝置插槽120、122、1M所記錄于映像表中的總線編號參數(shù)、裝置編號參數(shù)以及功能參數(shù)分別為0:8:0)、(2:9:0)及(2:10:0)，而裝置插槽140、142、144及146所記錄于映像表中的總線編號參數(shù)、裝置編號參數(shù)以及功能參數(shù)分別為0:8:0)、(4:9:0), (4:10:0)及0:4:0)。由于中央處理器1在掃瞄時的辨識方式與使用者目視所觀察到的位置并不相同，直接進(jìn)行熱插拔將容易造成誤拔的情形。因此，將上述的參數(shù)鎖住，將可確定各待測適配卡與各裝置插槽間的相對關(guān)系位置。于步驟204，對待測適配卡進(jìn)行啟動流程以及測試流程。在一實施例中，啟動流程一開始先根據(jù)映像表中所記錄的相對關(guān)系位置進(jìn)行裝置插槽的連接開啟動作。接著，對裝置插槽進(jìn)行電源開啟動作，以提供電源給適配卡。于一實施例中裝置插槽可由12伏特或3 伏特電源進(jìn)行電源供應(yīng)。最后，進(jìn)行待測適配卡的驅(qū)動功能開啟動作，以使待測適配卡可以根據(jù)中央處理器1的指令運作。而對于不同種類的待測適配卡，可進(jìn)行不同的測試流程。舉例來說，對于網(wǎng)絡(luò)卡可進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)臏y試，而對顯示卡，則可進(jìn)行畫面顯示的測試。由于不同的待測適配卡的測試流程所需耗費的時間不一，因此在步驟205，當(dāng)待測適配卡其中一部分完成測試流程時，對待測適配卡進(jìn)行關(guān)閉流程以及移除程序。在一實施例中，關(guān)閉流程一開始先進(jìn)行待測適配卡的驅(qū)動功能關(guān)閉動作，并再根據(jù)映像表中所記錄的相對關(guān)系位置進(jìn)行裝置插槽的連接關(guān)閉動作，以及進(jìn)行裝置插槽的電源關(guān)閉動作。移除程序則將待測適配卡的該部分自對應(yīng)的裝置插槽移除。于步驟206，插入其它待測適配卡于已移除的該部分對應(yīng)的裝置插槽，并判斷這些后續(xù)插入的待測適配卡與其裝置插槽上原先插入的待測適配卡是否為相同的待測適配卡。 舉例來說，如果原先插入裝置插槽120的為A廠商的網(wǎng)絡(luò)卡，而在移除后所插入裝置插槽 120的為B廠商的網(wǎng)絡(luò)卡，則會判斷為不相同的待測適配卡。當(dāng)判斷為不相同時，則必需再次執(zhí)行步驟203，以對映射表重新設(shè)定。而當(dāng)判斷為相同類型的待測適配卡時，則可以不需再次設(shè)定，而以原先的映像表，直接執(zhí)行步驟204至206的流程，完成后續(xù)插入的待測適配卡的測試，以達(dá)到以熱插拔方式同時對多片適配卡進(jìn)行測試的功效。應(yīng)用本發(fā)明的優(yōu)點在于鎖住適配卡的參數(shù)后，可通過不需關(guān)閉并重新開啟計算機(jī)系統(tǒng)電源的熱插拔方式，可持續(xù)對多片適配卡進(jìn)行測試，節(jié)省時間及治具成本。雖然本發(fā)明已以實施方式揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種多片適配卡測試方法，其特征在于，包含下列步驟使一計算機(jī)系統(tǒng)的一主機(jī)板的多個裝置插槽上插入多個待測適配卡；將該計算機(jī)系統(tǒng)開機(jī)以啟動一操作系統(tǒng)；對該多個待測適配卡對應(yīng)該多個裝置插槽的一映像表進(jìn)行設(shè)定，以鎖住該映射表中的多個參數(shù)；對該多個待測適配卡分別進(jìn)行一啟動流程以及一測試流程；當(dāng)該多個待測適配卡其中一部分完成該測試流程，對該多個待測適配卡的該部分進(jìn)行一關(guān)閉流程以及一移除程序，以將該多個待測適配卡的該部分自對應(yīng)的該多個裝置插槽移除；以及插入至少一其它待測適配卡于已移除的該部分對應(yīng)的該多個裝置插槽以分別執(zhí)行該啟動流程、該測試流程、該關(guān)閉流程以及該移除程序。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，當(dāng)該其它待測適配卡與相對應(yīng)的該多個待測適配卡的該部分為不同，對該映射表再次進(jìn)行設(shè)定，以鎖住該映射表中的該多個參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該裝置插槽為一快速外圍裝置組件互連插槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該映射表的該多個參數(shù)包含一總線編號參數(shù)、一裝置編號參數(shù)以及一功能參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該映像表儲存于該計算機(jī)系統(tǒng)的一韌體中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該啟動流程還包含下列步驟根據(jù)該映像表進(jìn)行該裝置插槽的一連接開啟動作；進(jìn)行該裝置插槽的一電源開啟動作；以及進(jìn)行該多個待測適配卡的一驅(qū)動功能開啟動作。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該關(guān)閉流程還包含下列步驟進(jìn)行該多個待測適配卡的該部分的一驅(qū)動功能關(guān)閉動作；根據(jù)該映像表進(jìn)行該裝置插槽的一連接關(guān)閉動作；以及進(jìn)行該裝置插槽的一電源關(guān)閉動作。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該多個待測適配卡包含一網(wǎng)絡(luò)卡、一磁盤陣列卡或一顯示卡。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該多個待測適配卡包含單一種類的多個待測適配卡。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多片適配卡測試方法，其特征在于，該多個待測適配卡包含多個種類的多個待測適配卡。
全文摘要
本發(fā)明揭露一種多片適配卡測試方法，包含下列步驟使計算機(jī)系統(tǒng)的主機(jī)板的多個裝置插槽上插入多個待測適配卡；將計算機(jī)系統(tǒng)開機(jī)以啟動操作系統(tǒng)；對待測適配卡對應(yīng)裝置插槽的映像表進(jìn)行設(shè)定，以鎖住映射表中的多個參數(shù)；對待測適配卡分別進(jìn)行啟動流程以及測試流程；當(dāng)待測適配卡其中一部分完成測試流程，對待測適配卡的該部分進(jìn)行關(guān)閉流程以及移除程序，以將待測適配卡的該部分自對應(yīng)的裝置插槽移除；以及插入其它待測適配卡于已移除的該部分對應(yīng)的裝置插槽以分別執(zhí)行啟動流程、測試流程、關(guān)閉流程以及移除程序。
文檔編號G06F11/22GK102455959SQ201010518698
公開日2012年5月16日 申請日期2010年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月18日
發(fā)明者宋建福, 金志仁 申請人:英業(yè)達(dá)股份有限公司