專(zhuān)利名稱(chēng)：計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試電路，尤指一種計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路。
背景技術(shù)：
計(jì)算機(jī)產(chǎn)品生產(chǎn)完畢后，都必須測(cè)試其穩(wěn)定性以保證產(chǎn)品質(zhì)量。測(cè)試計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)性能 是計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試過(guò)程中必不可少的環(huán)節(jié)。測(cè)試計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)功能的傳統(tǒng)方法是將計(jì)算 機(jī)接上交流電源并通過(guò)手工操作其電源鍵的方式以測(cè)試其開(kāi)機(jī)或關(guān)機(jī)性能。若不能正常開(kāi)/ 關(guān)機(jī)，或開(kāi)/關(guān)機(jī)的時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，則需要更進(jìn)一步測(cè)試計(jì)算機(jī)的性能以査出異常原因便于維修 。但是這種人工操作的方式效率低，尤其是測(cè)試多臺(tái)計(jì)算機(jī)，而且需要重復(fù)測(cè)試計(jì)算機(jī)的開(kāi) /關(guān)機(jī)性能時(shí)，浪費(fèi)時(shí)間及人力。
為了提高測(cè)試效率，測(cè)試計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)性能時(shí)可采用機(jī)械手開(kāi)關(guān)模擬手動(dòng)操作，重復(fù)觸 壓計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)，達(dá)成測(cè)試計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)性能的目的。但是，這種機(jī)械手不太穩(wěn)定，不能?chē)?yán)格 的按照測(cè)試要求自動(dòng)完成測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種測(cè)試效率高且穩(wěn)定可靠的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路。 一種計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，用于測(cè)試待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)性能，包括一與所述待測(cè)計(jì) 算機(jī)相連以控制所述待測(cè)計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)的開(kāi)關(guān)模組，所述計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路還包括 一與所述開(kāi)關(guān)模組相連以控制所述開(kāi)關(guān)模組的開(kāi)合狀態(tài)的控制芯片，所述控制芯片內(nèi)燒錄有 測(cè)試程序且在所述測(cè)試程序運(yùn)行時(shí)發(fā)出周期性的高/低電平信號(hào)至所述開(kāi)關(guān)模組以控制所述 開(kāi)關(guān)模組重復(fù)切換所述待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)，所述測(cè)試程序設(shè)定所述高/低電平信號(hào)的 切換頻率及保持時(shí)間。
本發(fā)明計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路利用一燒錄有測(cè)試程序的控制芯片來(lái)測(cè)試計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī) 性能，電路穩(wěn)定可靠，且可按照測(cè)試要求自動(dòng)對(duì)計(jì)算機(jī)進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試，測(cè)試效率高。


圖l為本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路的組成方框圖。 圖2是圖1中控制模組、驅(qū)動(dòng)模組及顯示模組的電路圖。 圖3是圖1中電源模組及開(kāi)關(guān)模組的電路圖。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖l，本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路包括一控制模組IO、 一驅(qū)動(dòng)模 組20、 一顯示模組30、 一電源模組40及一開(kāi)關(guān)模組50。所述控制模組10可周期性地發(fā)出開(kāi)/ 關(guān)機(jī)信號(hào)至所述開(kāi)關(guān)模組50，所述開(kāi)關(guān)模組50與待測(cè)試計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)引腳相連，可重復(fù)的對(duì) 所述待測(cè)試計(jì)算機(jī)進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)動(dòng)作，從而驗(yàn)證所述待測(cè)試計(jì)算機(jī)是否能通過(guò)嚴(yán)格的開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè) 試。所述顯示模組30可顯示測(cè)試時(shí)間，測(cè)試次數(shù)等測(cè)試信息。所述驅(qū)動(dòng)模組20用于驅(qū)動(dòng)所述 顯示模組30。所述電源模組40可提供電源至所述控制模組10及其它需供電的模組。
請(qǐng)參閱圖2，所述控制模組10包括一單片機(jī)102 (亦可為其它可編程的控制芯片)及一提 供時(shí)鐘脈沖信號(hào)的晶振電路104。所述單片機(jī)102內(nèi)燒錄有測(cè)試程序、按鍵掃描程序、驅(qū)動(dòng)顯 示程序等程序。所述單片機(jī)l02在所述測(cè)試程序運(yùn)行時(shí)發(fā)出周期性的高/低電平信號(hào)以重復(fù)切 換所述待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)狀態(tài)，所述測(cè)試程序根據(jù)測(cè)試需求設(shè)定了所述高/低電平信號(hào)的切 換頻率及保持時(shí)間。所述晶振電路l04由石英晶體Y和微調(diào)電容C 1及C2組成，由于所述單片機(jī) 102內(nèi)部有一個(gè)高增益反相放大器，當(dāng)外接所述晶振電路50后，就構(gòu)成了自激振蕩器并產(chǎn)生 振蕩時(shí)鐘脈沖。所述單片機(jī)104的PB0 (定時(shí)器/計(jì)數(shù)器)引腳與一按鍵K1相連，PB1 (定時(shí)器 /計(jì)數(shù)器)引腳與一按鍵K2相連，PB2 (模擬信號(hào)輸入端)引腳與一按鍵K3相連，PB3 (模擬 信號(hào)輸入端)引腳與一按鍵K4相連。所述按鍵Kl為開(kāi)始/停止鍵，當(dāng)所述按鍵掃描程序檢測(cè) 到K1鍵被按下時(shí)可以開(kāi)始或停止測(cè)試程序；所述按鍵K2為設(shè)置鍵，當(dāng)所述按鍵掃描程序掃描 到所述K2鍵被按下時(shí)可切換并選定測(cè)試參數(shù)(如測(cè)試時(shí)間，測(cè)試次數(shù)等參數(shù))類(lèi)型，使所述 顯示模組30相應(yīng)顯示測(cè)試次數(shù)或測(cè)試時(shí)間等信息；所述按鍵K3為加法鍵，當(dāng)所述按鍵掃描程 序掃描到所述K3鍵被按下時(shí)可增加選定的測(cè)試參數(shù)值，如增加測(cè)試時(shí)間或測(cè)試次數(shù)；所述按 鍵K4為減法鍵，當(dāng)所述按鍵掃描程序掃描到所述K4鍵被按下時(shí)可減小選定的測(cè)試參數(shù)值，如 減少測(cè)試時(shí)間或測(cè)試次數(shù)。所述單片機(jī)104還外接一連接器106，該連接器106可插接一編程 器用于燒錄開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試程序至所述單片機(jī)102。所述單片機(jī)102的PD7引腳接有一工作指示燈 Dl，該工作指示燈D1在測(cè)試時(shí)發(fā)亮，在測(cè)試停止時(shí)熄滅。
所述驅(qū)動(dòng)模組20包括四個(gè)三極管Q1， Q2， Q3及Q4，所述三極管Q1， Q2， Q3及Q4的基極分 別與所述單片機(jī)102的PA4， PA5， PA6及PA7相連，集電極與所述顯示模組30的驅(qū)動(dòng)引腳l-4相 連，發(fā)射極均接地。
所述顯示模組30包括4個(gè)從右至左排列的數(shù)碼管LED1-LED4，所述數(shù)碼管LED1-LED4的 a-g引腳分別與所述單片機(jī)102的PC0-PC6引腳相連，控制引腳l-4分別與所述驅(qū)動(dòng)模組20的三 極管Q1-Q4的集電極相連。所述數(shù)碼管LEDl-LED4的狀態(tài)受控于所述三極管Ql-Q4的導(dǎo)通/截止 狀態(tài)及所述單片機(jī)102的PC0-PC6引腳發(fā)出信號(hào)的狀態(tài)。例如，如需驅(qū)動(dòng)所述顯示模組30顯示數(shù)字IO，所述驅(qū)動(dòng)顯示程序運(yùn)行，使所述單片機(jī)102的引腳PA6， PA7發(fā)出低電平信號(hào)，使所 述三極管Q3及Q4截止，所述LED3及LED4因而未被驅(qū)動(dòng)，處于熄滅狀態(tài)；所述單片機(jī)102的引 腳PA5， PA4發(fā)出高電平信號(hào)，使所述三極管Q2及Q1導(dǎo)通，所述LED3及LED4因而被驅(qū)動(dòng)，可以 顯示出相應(yīng)的數(shù)字，所述單片機(jī)102的引腳PC1， PC2發(fā)出高電平信號(hào)至所述LED2的b和c引腳 ，使所述數(shù)碼管LED2顯示數(shù)字1，所述單片機(jī)的引腳PC0-PC5發(fā)出高電平信號(hào)至所述數(shù)碼管 LEDl的a-f引腳，使所述數(shù)碼管LED1顯示數(shù)字0，因而所述顯示模組30呈現(xiàn)的數(shù)字為10。
所述電源模組40包括一 電源線(xiàn)VCC ， 一接地線(xiàn)GND及連接于該電源線(xiàn)VCC及接地線(xiàn)GND之間 的濾波電容C3及C4。所述單片機(jī)102的VCC引腳與所述電源模組40電源線(xiàn)VCC相連，GND引腳與 所述電源模組40的接地線(xiàn)GND相連。
所述開(kāi)關(guān)模組50包括一二極管D2， 一三極管Q5及一光電耦合器B，所述光電耦合器B的輸 出端可與待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)相連以便對(duì)其進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試。所述光電耦合器B的發(fā)光源為一 發(fā)光二極管，受光器為一光敏三極管。所述二極管D2的陽(yáng)極與所述單片機(jī)102的PA3引腳相連 ，當(dāng)所述單片機(jī)102的PA3引腳發(fā)出高電平信號(hào)時(shí)，所述二極管D2及三極管Q5均導(dǎo)通，所述光 電耦合器B的二極管也導(dǎo)通，所述光電耦合器B的輸出端的阻抗很小，相當(dāng)于開(kāi)關(guān)"閉合"， 可將待測(cè)試計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)信號(hào)(PWRBT)接地，從而切換所述待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)，當(dāng)所 述單片機(jī)102的PA3引腳發(fā)出低電平信號(hào)時(shí)，所述二極管D2及三極管Q5均導(dǎo)通，所述光電耦合 器B的二極管也導(dǎo)通，所述光電耦合器B的輸出端的阻抗很大，相當(dāng)于開(kāi)關(guān)"斷開(kāi)"，所述待 測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)機(jī)或關(guān)機(jī)的狀態(tài)保持不變。
測(cè)試時(shí)，先開(kāi)啟電源，使所述單片機(jī)102通電，然后按下所述按鍵K1開(kāi)始測(cè)試，所述單 片機(jī)l 02的PA3弓1腳即可按照既定的測(cè)試程序周期性的發(fā)出高/低電平的測(cè)試信號(hào)至所述開(kāi)關(guān) 模組50，對(duì)待測(cè)計(jì)算機(jī)進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試。如一種待測(cè)試電腦，需在溫度濕度不斷變化的條件 下通過(guò)58小時(shí)的測(cè)試，每一個(gè)測(cè)試周期使所述待測(cè)試計(jì)算機(jī)保持開(kāi)機(jī)狀態(tài)8分鐘，關(guān)機(jī)狀態(tài) 32秒，完成該項(xiàng)測(cè)試時(shí)，先將相應(yīng)的程序燒錄至所述單片機(jī)102，然后可利用本開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試 電路對(duì)其進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，測(cè)試效率高，且測(cè)試信息可以通過(guò)所述顯示模組30顯示出來(lái)，便于 監(jiān)視測(cè)試信息。
權(quán)利要求
1.一種計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，用于測(cè)試待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)性能，包括一與所述待測(cè)計(jì)算機(jī)相連以控制所述待測(cè)計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)的開(kāi)關(guān)模組，其特征在于所述計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路還包括一與所述開(kāi)關(guān)模組相連以控制所述開(kāi)關(guān)模組的開(kāi)合狀態(tài)的控制芯片，所述控制芯片內(nèi)燒錄有測(cè)試程序且在所述測(cè)試程序運(yùn)行時(shí)發(fā)出周期性的高/低電平信號(hào)至所述開(kāi)關(guān)模組以控制所述開(kāi)關(guān)模組重復(fù)切換所述待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)，所述測(cè)試程序設(shè)定所述高/低電平信號(hào)的切換頻率及保持時(shí)間。
2.如權(quán)利要求l所述的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，其特征在于所述 開(kāi)關(guān)模組包括一與所述控制芯片相連的三極管及一光電耦合器，所述光電耦合器的輸入端與 所述三極管相連，輸出端與所述待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)引腳相連，所述控制芯片發(fā)出高電平信 號(hào)至所述三極管時(shí)所述三極管及所述光電耦合器均導(dǎo)通以切換所述待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)
3.如權(quán)利要求l所述的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，其特征在于所述 控制芯片接有一第一按鍵，所述控制芯片內(nèi)還燒錄有一按鍵掃描程序，所述按鍵掃描程序檢 測(cè)到所述第一按鍵被按下時(shí)開(kāi)啟或結(jié)束所述測(cè)試程序。
4.如權(quán)利要求3所述的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，其特征在于所述 控制芯片還接有一第二按鍵，所述按鍵掃描程序檢測(cè)到所述第二按鍵被按下時(shí)選定一種測(cè)試 參數(shù)的類(lèi)型，所述測(cè)試參數(shù)的類(lèi)型包括測(cè)試時(shí)間及測(cè)試次數(shù)兩種類(lèi)型。
5.如權(quán)利要求4所述的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，其特征在于所述 控制芯片還接有一第三按鍵及一第四按鍵，所述按鍵掃描程序掃描到所述第三按鍵被按下時(shí) 增加所述被選定的測(cè)試參數(shù)的值，所述按鍵掃描程序掃描到所述第四按鍵被按下時(shí)減小所述 被選定的測(cè)試參數(shù)的值。
6.如權(quán)利要求l所述的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，其特征在于所述 計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路還包括一顯示模組及一用于驅(qū)動(dòng)所述顯示模組的驅(qū)動(dòng)模組，所述驅(qū)動(dòng) 模組連接于所述控制芯片及所述顯示模組之間且在接受到所述控制芯片發(fā)出的高電平信號(hào)時(shí)驅(qū)動(dòng)所述顯示模組。
7.如權(quán)利要求6所述的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，其特征在于所述驅(qū)動(dòng)模組包括若干與所述控制芯片相連的三極管，當(dāng)所述控制芯片發(fā)出高電平信號(hào)時(shí)所述三 極管導(dǎo)通以驅(qū)動(dòng)所述顯示模組。
8.如權(quán)利要求7所述的計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，其特征在于所述顯示模組包括若干數(shù)碼管，所述數(shù)碼管與所述驅(qū)動(dòng)模組的三極管對(duì)應(yīng)相連，所述控制芯片內(nèi) 還燒錄有一驅(qū)動(dòng)顯示程序且在所述驅(qū)動(dòng)顯示程序運(yùn)行時(shí)輸出信號(hào)至所述三極管及所述數(shù)碼管 以驅(qū)動(dòng)所述數(shù)碼管顯示測(cè)試信息。
全文摘要
一種計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路，用于測(cè)試待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)性能，包括一與所述待測(cè)計(jì)算機(jī)相連以控制所述待測(cè)計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)的開(kāi)關(guān)模組，所述計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試電路還包括一與所述開(kāi)關(guān)模組相連以控制所述開(kāi)關(guān)模組的開(kāi)合狀態(tài)的控制芯片，所述控制芯片內(nèi)燒錄有測(cè)試程序且在所述測(cè)試程序運(yùn)行時(shí)發(fā)出周期性的高/低電平信號(hào)至所述開(kāi)關(guān)模組以控制所述開(kāi)關(guān)模組重復(fù)切換所述待測(cè)計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)機(jī)狀態(tài)，所述測(cè)試程序設(shè)定所述高/低電平信號(hào)的切換頻率及保持時(shí)間。本發(fā)明計(jì)算機(jī)開(kāi)關(guān)機(jī)電路可按照測(cè)試要求自動(dòng)地對(duì)計(jì)算機(jī)進(jìn)行開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試，測(cè)試效率高。
文檔編號(hào)G06F11/26GK101576840SQ20081030142
公開(kāi)日2009年11月11日 申請(qǐng)日期2008年5月6日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月6日
發(fā)明者劉玉林, 盧洪浪, 范利平 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司