專利名稱：一種基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及軟件自動(dòng)化測(cè)試中的缺陷定位，特別涉及存在大量測(cè)試用例的情 況下，有效利用通過(guò)的和未通過(guò)的測(cè)試用例，將其執(zhí)行軌跡進(jìn)行比對(duì)來(lái)定位軟 件中的缺陷。
技術(shù)背景軟件缺陷定位方法目前被大量應(yīng)用于大型軟件系統(tǒng)的集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試 、驗(yàn)收測(cè)試和用戶問(wèn)題報(bào)告分析等階段和工作中。測(cè)試是軟件開發(fā)過(guò)程中必不 可少的環(huán)節(jié)，其最終目標(biāo)是保證軟件的質(zhì)量。隨著軟件越來(lái)越復(fù)雜，自動(dòng)化軟 件測(cè)試的使用越來(lái)越廣泛。自動(dòng)化測(cè)試能夠產(chǎn)生大量的測(cè)試用例，并且能夠記 錄測(cè)試用例的執(zhí)行信息，因此在修復(fù)缺陷前存在著大量的測(cè)試數(shù)據(jù)可以利用。 傳統(tǒng)的調(diào)試方法只是對(duì)未通過(guò)的單個(gè)測(cè)試用例進(jìn)行缺陷跟蹤，這樣在自動(dòng)化測(cè) 試的環(huán)境下一方面很難同時(shí)對(duì)多個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例進(jìn)行跟蹤，另一方面只考 慮未通過(guò)的測(cè)試用例而忽略了通過(guò)的測(cè)試用例所能提供的信息。軟件缺陷定位 方法可以在自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境下綜合利用測(cè)試執(zhí)行信息來(lái)定位軟件缺陷，提高軟 件的質(zhì)量?；趫?zhí)行軌跡的軟件缺陷定位方法可通過(guò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，自動(dòng)定位 軟件中存在的缺陷。該方法需要收集和整理測(cè)試用例執(zhí)行信息，通過(guò)對(duì)執(zhí)行軌 跡進(jìn)行比對(duì)計(jì)算代碼的被懷疑程度(懷疑率)，開發(fā)者可以按照懷疑率從大到 小的順序?qū)Ρ粦岩纱a進(jìn)行審査，減少移除缺陷必須審查的代碼數(shù)量和范圍， 提髙査找缺陷的效率。已有的方法通常單獨(dú)考慮通過(guò)和未通過(guò)的測(cè)試用例，未 能很好綜合；且只在語(yǔ)句級(jí)進(jìn)行比對(duì)，不適于大型軟件系統(tǒng)的缺陷定位。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明主要目的是針對(duì)傳統(tǒng)軟件缺陷定位方法工作量大且沒(méi)有充分利用已 有測(cè)試數(shù)據(jù)的問(wèn)題，提出一種基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法，縮 小幵發(fā)者定位軟件中缺陷的搜索范圍，提高缺陷定位的效率。為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明所述目的，本發(fā)明采用如下的步驟1)首先對(duì)源程序插裝收集元數(shù)據(jù)，生成各測(cè)試用例的驅(qū)動(dòng)文件，在文件中指定配置信息，然后執(zhí)行測(cè)試用例，收集測(cè)試用例的執(zhí)行信息，并對(duì)測(cè)試用例按 照通過(guò)與否進(jìn)行分組；2) 對(duì)測(cè)試用例的執(zhí)行軌跡進(jìn)行聚集，根據(jù)軟件的規(guī)模和復(fù)雜度可以選擇聚 集到方法層或類層，然后分別計(jì)算未通過(guò)的測(cè)試用例和其余測(cè)試用例間的相似度， 根據(jù)相似度選擇和未通過(guò)的測(cè)試用例最相似的多個(gè)測(cè)試用例，這樣測(cè)試用例按照 相似性被分成幾組，分別根據(jù)每組中的測(cè)試用例對(duì)該組隱含的缺陷進(jìn)行定位；3) 對(duì)選擇的測(cè)試用例進(jìn)行系統(tǒng)比對(duì)，計(jì)算代碼塊的懷疑率；4) 最后根據(jù)元數(shù)據(jù)映射到源程序生成缺陷定位報(bào)告。上述步驟2)中的相似度用兩個(gè)向量間的夾角余弦值表示，測(cè)試用例是否被 選擇由闡值a確定，對(duì)于測(cè)試用例&，如果用例々與其相似度大于a，則測(cè)試用例6 被選擇和測(cè)試用例Z/ —組。上述步驟2)測(cè)試用例按照相似性的3種不同分組類型被分成3種情況，其中情況l， l個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例和l個(gè)及l(fā)個(gè)以上通過(guò)的測(cè)試用例；情況2， l個(gè)以上未通過(guò)的測(cè)試用例和O個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例；情況3， l個(gè)以上未通過(guò)的測(cè)試用例和l個(gè)及l(fā)個(gè)以上通過(guò)的測(cè)試用例。按情況l分組的測(cè)試用例的懷疑率計(jì)算流程是首先針對(duì)未通過(guò)的測(cè)試用例同&相似的通過(guò)的測(cè)試用例集7)^z;^，統(tǒng)計(jì)印i^&中測(cè)試用例的覆蓋情況，然后根據(jù)代碼塊s是否被^覆蓋查看其被7)^/^j中各測(cè)試用例^覆蓋的比率。如果代碼塊^被^覆蓋。其懷疑率由以下公式求得iV7>0(S) 、, M>其中iV印都表示印ZiW力中測(cè)試用例的數(shù)量,iV7) cW表示rp"^i中未覆蓋s的測(cè) 試用例數(shù)量；如果代碼塊s沒(méi)有被^覆蓋，其懷疑率^^向由以下公式求得辟,")其中^7>/^表示7>丄^//!中覆蓋> 的測(cè)試用例數(shù)量。按情況2分組的測(cè)試用例的懷疑率計(jì)算流程是考慮同^相似的未通過(guò)的測(cè)試用例集ryL加力對(duì)代碼塊^統(tǒng)計(jì)ryi/^中覆蓋了s的測(cè)試用例個(gè)數(shù)AT力w，代碼塊S的懷疑率ra^sJ由以下公式求得<formula>formula see original document page 6</formula>其中ivr/都表示r凡z^中測(cè)試用例的個(gè)數(shù)。按情況3分組的測(cè)試用例的懷疑率計(jì)算流程是如果代碼塊s被^D;^中的每 個(gè)測(cè)試用例都覆蓋了，則4皮懷疑率的計(jì)算與情況i中W皮^覆蓋的計(jì)算相同。如果 代碼塊j沒(méi)有被ryi/47中的任何一個(gè)測(cè)試用例覆蓋，則4皮懷疑率的計(jì)算與情況i中^沒(méi)有被Z/;覆蓋的計(jì)算相同。如果s被^L/rf力中的部分測(cè)試用例覆蓋，則分別通過(guò)以下兩個(gè)公式計(jì)算^的懷疑率s,^和幼&^，其中AT/oW是r凡^/i中未覆蓋s的測(cè)試用例個(gè)數(shù)，其他變量定義同上，然后取兩個(gè)值中的較大者，g卩m^戶Ma^my7似TO^(U);公式如下<formula>formula see original document page 6</formula>本發(fā)明可以充分利用已有的測(cè)試數(shù)據(jù)，基于執(zhí)行軌跡塊相似度對(duì)軟件缺陷進(jìn) 行定位，可有效縮小搜索范圍，提高缺陷定位的效率。本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于大 型軟件系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境，涉及集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試和用戶問(wèn)題 報(bào)告分析等階段和工作。同傳統(tǒng)方法比較，針對(duì)給定缺陷(或失效)，本專利方 法可快速準(zhǔn)確的找出相類似的通過(guò)和未通過(guò)的測(cè)試用例集，對(duì)各測(cè)試用例的執(zhí)行 軌跡進(jìn)行系統(tǒng)比對(duì)，自動(dòng)定位可能存在缺陷的代碼范圍。其優(yōu)點(diǎn)包括可用于測(cè) 試的各個(gè)時(shí)期和階段；通過(guò)塊相似度計(jì)算使選擇的用例集具有較高的針對(duì)性，有 效縮小缺陷查找范圍；具有較好的擴(kuò)展性，通過(guò)對(duì)聚集算法進(jìn)行改進(jìn)和替換可適 用于不同類型系統(tǒng)的測(cè)試；懷疑率計(jì)算方法簡(jiǎn)單，便于以較低的時(shí)間和空間代價(jià)實(shí)施，且有效性經(jīng)實(shí)例證明優(yōu)于已有的缺陷定位方法。下面結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。


圖l是基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法的結(jié)構(gòu)圖； 圖2是測(cè)試用例執(zhí)行軌跡組織結(jié)構(gòu)圖；圖3是基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法的工作流程圖；圖4是測(cè)試用例選擇算法的流程圖；圖5是統(tǒng)計(jì)測(cè)試用例的覆蓋情況的算法流程圖；圖6是情況l的懷疑率計(jì)算流程圖；圖7是情況2的懷疑率計(jì)算流程圖；圖8是情況3的懷疑率計(jì)算流程圖；圖9是基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法的工具主界面。
具體實(shí)施方式
如圖l所示，軟件缺陷定位由測(cè)試信息收集整理、測(cè)試用例選擇、懷疑率計(jì) 算和生成缺陷定位報(bào)告四個(gè)模塊按照管道或流的體系結(jié)構(gòu)組織。測(cè)試信息收集 模塊收集和整理測(cè)試用例執(zhí)行信息并生成執(zhí)行軌跡測(cè)試用例選擇模塊根據(jù)測(cè)試 用例的執(zhí)行軌跡塊相似度選擇用于定位缺陷的測(cè)試用例集。懷疑率計(jì)算模塊對(duì) 被選擇測(cè)試用例的執(zhí)行軌跡進(jìn)行比對(duì)，計(jì)算代碼塊的懷疑率。生成報(bào)告模塊根據(jù) 代碼塊的懷疑率映射到源程序生成缺陷定位報(bào)告。圖2是測(cè)試用例執(zhí)行軌跡組 織結(jié)構(gòu)圖。本發(fā)明的總流程圖如圖3所示，測(cè)試信息收集模塊中，第l.l步首先對(duì)源程序 進(jìn)行插裝，收集源程序元數(shù)據(jù)，即關(guān)于源程序結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)源程序中包括哪些類， 每個(gè)類包括哪些方法，每個(gè)方法由哪些代碼塊組成等。第1.2步生成各測(cè)試用例 的執(zhí)行驅(qū)動(dòng)文件，以XML文檔表示，其中包括測(cè)試信息收集的一些設(shè)置如執(zhí)行 環(huán)境、執(zhí)行信息保存路徑等。第1.3步執(zhí)行驅(qū)動(dòng)文件，將測(cè)試用例的執(zhí)行軌跡、 是否通過(guò)等信息保存在指定的目錄下。如圖2所示測(cè)試用例的執(zhí)行軌跡按照類、 方法、代碼塊的層次來(lái)組織。其中代碼塊指在任何輸入下，執(zhí)行情況都相同的代 碼集合。 一個(gè)類包含多個(gè)方法， 一個(gè)方法包含多個(gè)代碼塊。第1.4步按照測(cè)試用例是否通過(guò)將測(cè)試用例集r分成通過(guò)的測(cè)試用例集r/7和未通過(guò)的測(cè)試用例集r/。例如現(xiàn)有測(cè)試用例集7M^ ..."5},執(zhí)行后測(cè)試用例^5, W9,^沒(méi)有通過(guò)，其余的都 通過(guò)了 ，那么r/={ 7>={,/力,"乂"7力/力2力5,/"乂"}。測(cè)試用例選擇模塊選擇用于缺陷定位的測(cè)試用例，這部分是本發(fā)明所特有的。第2.1步將測(cè)試用例的執(zhí)行軌跡進(jìn)行聚集，根據(jù)規(guī)模和復(fù)雜度的不同，可以選 擇聚集到方法層或類層。圖5是統(tǒng)計(jì)測(cè)試用例的覆蓋情況并對(duì)執(zhí)行軌跡進(jìn)行聚集的算法流程圖。如果聚集到方法層，則首先統(tǒng)計(jì)方法中被測(cè)試用例覆蓋的代碼塊的數(shù)目coveWVwwfmJ和方法中總的代碼塊數(shù)toto/Mw^^，然后按公式(1)計(jì)算方 法被覆蓋的比率cove/Ym入如果聚集到類層，則首先統(tǒng)計(jì)類中被測(cè)試用例覆蓋的 代碼塊的數(shù)目cowM^w^和類中總的代碼塊數(shù)toto/iVwmf^，然后按公式(2)計(jì) 算類被覆蓋的比率cove/fc入聚集后每個(gè)測(cè)試用例的執(zhí)行軌跡被表示成一個(gè)多值 向量f 。第2.2歩計(jì)算塊相似度，針對(duì)某個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例和計(jì)算它同其余測(cè)試用 例間的相似度，并根據(jù)閾值選擇和該未通過(guò)測(cè)試用例相似的測(cè)試用例。測(cè)試用例 選擇算法如圖4所示第2.2.1步判斷r/中是否有未通過(guò)的測(cè)試用例，如果為空則結(jié)束，否則從r/中選擇某個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例^放入ry"w力中并將/^從:r/中移除。第2.2.2步分別取出r/中其余的未通過(guò)的測(cè)試用例i^，計(jì)算/y 和i^相似 度w'm(&， &)。如果w'附0y ， > a (a為閾值)，則把^放入取/W力中，并將 從r/中移除。第2.2.3步分別取出7>中的每個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例^，計(jì)算^與^ 間的相似度w'rn(^ W)，如果Wm((/;, > a，則把^放入7>Z/*中。第2.2.4步 輸出〈r^Z^仏，7>"^/;>并跳轉(zhuǎn)至第2.2.1步。相似度由公式(3)計(jì)算。該公式計(jì) 算在極坐標(biāo)下兩個(gè)向量間夾角的余弦值，夾角余弦值越大表示兩個(gè)向量越相似。 其中向量〖，^分別是測(cè)試用例& /,執(zhí)行軌跡的向量表示。^和lf」分別表示向量 5,(的模，《^表示向量(，；.的數(shù)量積。例如根據(jù)相似性計(jì)算，上例中測(cè)試用例集選擇的一個(gè)可能結(jié)果如下 <取加"，2>丄/5^>，其中^1^^= { ^力}， 7>丄^1^= { ^力,第3步對(duì)選擇的測(cè)試用例系統(tǒng)性計(jì)算代碼塊的懷疑率，懷疑慮計(jì)算部分也是本發(fā)明所特有的。本發(fā)明采用的計(jì)算方法的主要思想是判斷未通過(guò)的測(cè)試用例 和通過(guò)的測(cè)試用例間覆蓋的一致性，如果未通過(guò)的測(cè)試用例^覆蓋了代碼塊S， 但通過(guò)的相似測(cè)試用例都沒(méi)有覆蓋，那么S很可能就是導(dǎo)致^未通過(guò)的原因，具 有較高懷疑率。另一方面，如果V沒(méi)有覆蓋代碼塊S，但通過(guò)的相似測(cè)試用例都 覆蓋了，代碼塊S很可能是保護(hù)代碼，但^沒(méi)有執(zhí)行從而導(dǎo)致其沒(méi)有通過(guò)，同樣 具有較高懷疑率。根據(jù)第2步選擇的結(jié)果會(huì)區(qū)分三種情況 情況l， 1個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例和多個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例(包括1個(gè))； 情況2，多個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例(大于1個(gè))和0個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例； 情況3，多個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例(大于1個(gè))和多個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例(包括1個(gè))。下面詳細(xì)介紹三種情況的計(jì)算模型。 情況l， 一個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例Z/ 和多個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例7) "Wy;。根據(jù)代碼 塊^是否被^覆蓋計(jì)算其被7)7h'^;中的各測(cè)試用例^t覆蓋的比率如果代碼塊^fo力覆蓋，則統(tǒng)計(jì)7)^鄉(xiāng)中沒(méi)有覆蓋s的測(cè)試用例的個(gè)數(shù)M》^，通過(guò)公式(4)計(jì)算^的懷疑率^^W。如果代碼塊^沒(méi)有被^覆蓋，則統(tǒng)計(jì)7>^:^中覆蓋了^的測(cè)試用例的個(gè)數(shù)iVrp/W，通過(guò)公式(5)計(jì)算s的懷疑率s船^。其中公式(4)和(5)中的iV7^都表示7] "Wy;中測(cè)試用例的數(shù)量。如圖6所示計(jì)算過(guò)程可分成兩步完成第3丄1步統(tǒng)計(jì)7>丄鄉(xiāng)中的測(cè)試用例的覆蓋情況，第3丄2根據(jù)f力的覆蓋情況計(jì) 算各代碼塊的懷疑率。(4)愿(+i!^M (5)情況2，多個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例r7Z加力但沒(méi)有通過(guò)的相似測(cè)試用例。此種情況下計(jì)算代碼塊被這些未通過(guò)的測(cè)試用例覆蓋的比率，比率越高懷疑率越大。對(duì)代碼塊s統(tǒng)計(jì)r凡^^中覆蓋了s的測(cè)試用例的個(gè)數(shù)AT//^，通過(guò)公式(6)計(jì)算s 的懷疑率皿W，其中AT/是r凡鄉(xiāng)中測(cè)試用例的個(gè)數(shù)。如圖7所示，計(jì)算過(guò)程可分兩步完成，第3.2.1步，統(tǒng)計(jì)r/L/^;中測(cè)試用例的覆蓋情況，第3.2.2步，計(jì)算 代碼塊的懷疑率。~(6) 、, 輝情況3，多個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例r/L/^;和多個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例7>jU^。此 種情況是情況l和情況2的綜合，如果代碼塊s被T7l/w力中的每個(gè)測(cè)試用例都覆 蓋了，則通過(guò)情況i中公式(4)計(jì)算s的懷疑率。如果r沒(méi)有被r/D;^中的任 何一個(gè)測(cè)試用例覆蓋，則通過(guò)情況i中的公式(5)計(jì)算^的懷疑率，如果^被ryi/w力中的部分測(cè)試用例覆蓋，則分別通過(guò)公式(7)和公式(8)計(jì)算s的懷疑率ms^) 和《 20),然后取兩個(gè)值間的較大者，艮P^4s"Mox (;y斷Cs)，my2(力)，其中A^/" 是7^',中測(cè)試用例的個(gè)數(shù)，M>是7>"^中測(cè)試用例的個(gè)數(shù)，AT/o脈iV巧^ 同上節(jié)的iVr^W,ATp/W定義相同。如圖8所示，計(jì)算過(guò)程可分成3步，第3.3.1 歩統(tǒng)計(jì)r力AZ/;中測(cè)試用例的覆蓋情況，具體操作與情況2中3.3.1步相同，第3.3.2 歩統(tǒng)計(jì)7>￡鄉(xiāng)中的測(cè)試用例的覆蓋情況，具體操作與情況1中3丄1步相同，第 3.3.3歩計(jì)算代碼懷疑率。<formula>formula see original document page 10</formula>， (7) <formula>formula see original document page 10</formula> (8) 第4步根據(jù)第1步收集的元數(shù)據(jù)將代碼塊的懷疑率映射到源程序，生成HTM L格式的缺陷定位報(bào)告。綜上所述，測(cè)試用例的選擇和懷疑率計(jì)算模型是本發(fā)明的核心。圖9是使用 該專利方法的軟件缺陷定位工具界面。基于Java語(yǔ)言和XML技術(shù)實(shí)現(xiàn)。Java語(yǔ) 言具有完全面向?qū)ο?、可移植性?qiáng)等特點(diǎn)，通過(guò)安裝相應(yīng)的Java虛擬機(jī)，可以 保證該方法可以運(yùn)行在目前主流的操作系統(tǒng)平臺(tái)上。XML技術(shù)則具有可擴(kuò)展性 、靈活性、自描述性等特點(diǎn)。用戶可以對(duì)描述操作的XML文檔進(jìn)行修改來(lái)實(shí)現(xiàn) 不同的測(cè)試信息收集功能。
權(quán)利要求
1、一種基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法，其特征在于包括以下步驟1)首先對(duì)源程序插裝收集元數(shù)據(jù)，生成各測(cè)試用例的驅(qū)動(dòng)文件，在文件中指定配置信息，然后執(zhí)行測(cè)試用例，收集測(cè)試用例的執(zhí)行信息，并對(duì)測(cè)試用例按照通過(guò)與否進(jìn)行分組；2)對(duì)測(cè)試用例的執(zhí)行軌跡進(jìn)行聚集，根據(jù)軟件的規(guī)模和復(fù)雜度選擇聚集到方法層或類層，然后分別計(jì)算未通過(guò)的測(cè)試用例和其余測(cè)試用例間的相似度，根據(jù)相似度選擇和未通過(guò)的測(cè)試用例最相似的多個(gè)測(cè)試用例，將測(cè)試用例按照相似性分成幾組，分別根據(jù)每組中的測(cè)試用例對(duì)該組隱含的缺陷進(jìn)行定位；3)對(duì)選擇的測(cè)試用例進(jìn)行系統(tǒng)比對(duì)，計(jì)算代碼塊的懷疑率；4)最后根據(jù)元數(shù)據(jù)映射到源程序生成缺陷定位報(bào)告。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法，其特 征在于步驟2)中的相似度用兩個(gè)向量間的夾角余弦值表示，測(cè)試用例是否被選 擇由閾值a確定，對(duì)于測(cè)試用例^，如果用例6與其相似度大于a，則測(cè)試用例Z/被 選擇和測(cè)試用例^一組。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法， 其特征在于步驟2)測(cè)試用例按照相似性的3種不同分組類型被分成3種情況，其 中情況l， l個(gè)未通過(guò)的測(cè)試用例和l個(gè)及l(fā)個(gè)以上通過(guò)的測(cè)試用例；情況2， l個(gè)以上未通過(guò)的測(cè)試用例和O個(gè)通過(guò)的測(cè)試用例；情況3， l個(gè)以上未通過(guò)的測(cè)試用例和l個(gè)及l(fā)個(gè)以上通過(guò)的測(cè)試用例。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法，其特 征在于歩驟3)中按情況l分組的測(cè)試用例的懷疑率計(jì)算流程是首先針對(duì)未通過(guò) 的測(cè)試用例/!/ 、同^相似的通過(guò)的測(cè)試用例集7)^^力，統(tǒng)計(jì)7>￡"&中測(cè)試用例的 覆蓋情況，然后根據(jù)代碼塊s是否被(/ 覆蓋査看其被rph'W力中各測(cè)試用例^覆蓋的 比率，如果代碼塊S被(/;覆蓋，其懷疑率^^^由以下公式求得<formula>formula see original document page 2</formula>其中w:&都表示r/^/w力中測(cè)試用例的數(shù)量，ivrpcW表示^^^^中未覆蓋s的測(cè)試用例數(shù)量;如果代碼塊^沒(méi)有被(/ 覆蓋，其懷疑率WS^由以下公式求得:其中iV7Xy表示7^L/W力中覆蓋s的測(cè)試用例數(shù)量。
5、根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法，其特 征在于步驟3)中按情況2分組的測(cè)試用例的懷疑率計(jì)算流程是考慮同^相似的未通過(guò)的測(cè)試用例集r/L^力對(duì)代碼i知統(tǒng)計(jì)^L^/ 中覆蓋了s的測(cè)試用例個(gè)數(shù)iv:r/,W，代碼塊^的懷疑率w^^由以下公式求得 <formula>formula see original document page 3</formula>其中AT/都表示r凡/w力中測(cè)試用例的個(gè)數(shù)。
6、根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法，其特征在于步驟3)中按情況3分組的測(cè)試用例的懷疑率計(jì)算流程是如果代碼塊s被r凡/Wy;中的每個(gè)測(cè)試用例都覆蓋了，則^被懷疑率的計(jì)算與情況l中S被i!/;覆蓋的計(jì)算相同；如果代碼塊r沒(méi)有被r/z:/^;中的任何一個(gè)測(cè)試用例覆蓋，則s被懷疑率的計(jì)算與情況l中^沒(méi)有被^覆蓋的計(jì)算相同；如果4皮r/L&力中的部分測(cè)試用例覆蓋， 則分別通過(guò)以下兩個(gè)公式計(jì)算s的懷疑率犯&W和s,W，其中AT/c^是r/LZ峙中未覆蓋s的測(cè)試用例個(gè)數(shù)，其他變量定義同上，然后取兩個(gè)值中的較大者，即ws(i戶Mflx一W似ms2柳；公式如下s<formula>formula see original document page 3</formula>
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于執(zhí)行軌跡塊相似度的軟件缺陷定位方法，其步驟為(1)收集和整理測(cè)試用例的執(zhí)行信息并生成執(zhí)行軌跡；(2)根據(jù)執(zhí)行軌跡塊相似度選擇用來(lái)定位缺陷的測(cè)試用例集；(3)對(duì)選擇的測(cè)試用例執(zhí)行軌跡進(jìn)行系統(tǒng)比對(duì)計(jì)算代碼懷疑率；(4)將代碼懷疑率映射到源程序生成缺陷定位報(bào)告。本發(fā)明可廣泛應(yīng)用于大型軟件系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境，涉及集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試和用戶問(wèn)題報(bào)告分析等階段和工作；充分利用已有測(cè)試數(shù)據(jù)，基于執(zhí)行軌跡塊相似度對(duì)軟件缺陷進(jìn)行定位，有效縮小搜索范圍，提高缺陷定位效率。可用于測(cè)試的各個(gè)時(shí)期和階段，選擇的測(cè)試用例集具有較高的針對(duì)性，代碼懷疑率計(jì)算方法簡(jiǎn)單有效，具有較好的擴(kuò)展性。
文檔編號(hào)G06F11/36GK101231614SQ20081001898
公開日2008年7月30日 申請(qǐng)日期2008年2月2日 優(yōu)先權(quán)日2008年2月2日
發(fā)明者王新平, 翔 陳, 陳道蓄, 慶 顧 申請(qǐng)人:南京大學(xué)