專利名稱：數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是為一數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)與方法，尤指應(yīng)用在偵測芯片組內(nèi)部溫度的一數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在計算機系統(tǒng)中，芯片組所處環(huán)境的溫度是芯片組在運行過程中能否穩(wěn)定的一大因素，一旦芯片組所處環(huán)境的溫度超過某一臨界值時，不僅會造成芯片組在處理數(shù)據(jù)時產(chǎn)生誤差或者死機，嚴重時，甚至會造成芯片組硬件的損毀，因此，一般在計算機系統(tǒng)中，會有一測量芯片組溫度的溫度感測系統(tǒng)，用以隨時監(jiān)控芯片組的溫度。
請參照圖1，其所繪示為常用芯片組的溫度感測系統(tǒng)的功能方塊示意圖。如圖所示，該溫度感測系統(tǒng)包含一轉(zhuǎn)換電路10以及一熱敏二極管(Thermal Diode)12，其中該轉(zhuǎn)換電路10更包含一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元102，連接至該熱敏二極管12的兩端，以及一信號溫度映射單元104，連接至該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元102，而該熱敏二極管12可設(shè)計于芯片組(圖中未示出)內(nèi)部或貼近于芯片組表面。
熱敏二極管12的主要特征在于，該熱敏二極管12所產(chǎn)生的電流會隨著熱敏二極管12的溫度而改變。亦即該熱敏二極管12產(chǎn)生的電流會與熱敏二極管12的周邊溫度呈一特定關(guān)系。如圖1所示，當置于芯片組內(nèi)部或貼近于芯片組表面的熱敏二極管12因為芯片組溫度的改變造成該熱敏二極管12產(chǎn)生的電流發(fā)生變化，此時，轉(zhuǎn)換電路10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元102即可將模擬形式的電流轉(zhuǎn)換為一數(shù)字信號輸入至該信號溫度映射單元104，透過該信號溫度映射單元104轉(zhuǎn)換出對應(yīng)的一溫度值輸出，如此將可測量出該芯片組的溫度。
然而常用的溫度感測系統(tǒng)是同時運用模擬電路以及數(shù)字電路來實現(xiàn)，相較于數(shù)字電路來說，模擬電路往往占用較大的面積以及較復(fù)雜的電路設(shè)計，因此，內(nèi)建于芯片組的溫度感測系統(tǒng)會占據(jù)許多芯片組的面積。
因此，為了解決常用模擬式溫度感測系統(tǒng)占用芯片組較大面積與較復(fù)雜的電路設(shè)計，本發(fā)明提出一種數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)與方法，并根據(jù)此系統(tǒng)進一步達成芯片組中門延遲(Gate Delay)的量測，是本發(fā)明發(fā)展的目的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，從而解決常用模擬式芯片組溫度感測系統(tǒng)占用芯片組較大體積，較復(fù)雜的電路設(shè)計造成成本的提高，以及無法實際測量芯片組內(nèi)的門延遲的問題。
本發(fā)明提出一種數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，包括一時脈產(chǎn)生裝置，該時脈產(chǎn)生裝置可產(chǎn)生一固定頻率的一第一時脈信號；一振蕩電路包含P個反向器門，使得該振蕩電路可輸出一第二時脈信號，其中P為一奇數(shù)；一命令信號產(chǎn)生單元，該命令信號產(chǎn)生單元連接至該時脈產(chǎn)生裝置，用以根據(jù)該第一時脈信號產(chǎn)生一參考命令信號，使得該參考命令信號可周期性地產(chǎn)生一計數(shù)周期；以及，一命令信號處理單元，該命令信號處理單元連接至該命令信號產(chǎn)生單元和該振蕩電路，用以于該計數(shù)周期時計數(shù)該第二時脈信號的一時脈數(shù)目，并根據(jù)該時脈數(shù)目決定一工作溫度范圍。
本發(fā)明所提供的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，可解決常用模擬式芯片組溫度感測系統(tǒng)占用芯片組較大面積，較復(fù)雜的電路設(shè)計所造成成本的提高，以及無法實際測量芯片組內(nèi)門延遲的問題。


圖1所繪示為常用芯片組的溫度感測系統(tǒng)的功能方塊示意圖。
圖2所繪示為一反向器門及其實際輸入與輸出信號示意圖。
圖3所繪示為P個串接反向器門組示意圖。
圖4所繪示為本發(fā)明數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)的功能方塊示意圖。
圖5所繪示為命令信號產(chǎn)生單元電路圖。
圖6所繪示為命令信號產(chǎn)生單元輸出信號示意圖。
圖7所繪示為命令信號處理單元電路圖。
具體實施例方式
本發(fā)明得通過下列圖式及說明，可得一更深入的了解。
請參照圖2，其所繪示為一反向器門(Not Gate)20及其實際輸入與輸出信號示意圖。理想上，當該反向器門20的輸入端由高電平轉(zhuǎn)換為低電平時，該反向器門20的輸出端輸出應(yīng)立刻由低電平轉(zhuǎn)換為高電平。然而如圖2所示，反向器門20的輸入端由高電平轉(zhuǎn)換為低電平在時間點t1發(fā)生，而反向器門20的輸出端由低電平轉(zhuǎn)換為一高電平在時間點t2發(fā)生。也就是說，實際上輸入與輸出信號之間的時間延遲(Δt)即稱之為門延遲。由于反向器門20中的集成電路元件的物理特性，當集成電路元件所處環(huán)境的溫度升高時，門延遲也隨之升高，因此，當芯片組的溫度發(fā)生變化時，芯片組中的門延遲也隨之改變。如此一來，當芯片組在實際運行的過程中由于溫度改變將會造成信號傳遞和理想狀況不同。由于常用的芯片組里，并沒有針對測量門延遲的裝置，通常門延遲大小主要是靠電路在設(shè)計時的預(yù)估，或是電路在設(shè)計完成后，經(jīng)由程序模擬來得知。然而，由于芯片組里無法實際測量出門延遲的大小，如此一來，會造成電路設(shè)計的不便和誤差。
本發(fā)明即運用反向器門20對溫度的特性，提出本發(fā)明數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)。請參閱圖3，其所繪示為P個串接反向器門組示意圖。其中P為奇數(shù)，且第P個反向器門的輸出端反饋至第1個反向器門的輸入端。由于P為一奇數(shù)，因此，假設(shè)第1個反向器門的輸入端為一高電平，則第P個反向器門的輸出端將輸出一低電平，當此低電平再被反饋至第一個反向器門的輸入端時，則第P個反向器門的輸出端將輸出一不斷重復(fù)著低電平和高電平的時脈信號。如前所述，隨著溫度的升高，反向器門的門延遲也隨之升高，隨著門延遲的升高，反向器門組輸出的時脈信號的頻率fgate就隨之降低，因此，本發(fā)明的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)即是透過此反向器門的物理特性，通過測量反向器門組輸出的時脈信號的頻率fgate，進而計算出芯片組的操作溫度以及每個反向器門的門延遲。
舉例來說，在一特定溫度下，在不受溫度干擾且頻率固定為fosc的時脈產(chǎn)生裝置，例如石英振蕩器，產(chǎn)生M個時脈數(shù)目的時間過程，量測出該P個串接的反向器門組的輸出端輸出N個時脈數(shù)目，則可推算出在此一特定溫度下，每個反向器門的門延遲為M×1/fosc×1/N×1/P。
請參閱圖4，其所繪示為本發(fā)明數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)的功能方塊示意圖。該數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)包括一時脈產(chǎn)生裝置42、P個串接反向器門組44、一命令信號產(chǎn)生單元46和一命令信號處理單元48。其中，該時脈產(chǎn)生裝置42可輸出具有第一頻率fosc的一第一時脈信號，且該P個串接反向器門組44可輸出具有第二頻率fgate的一第二時脈信號。
再者，該命令信號產(chǎn)生單元46連接至該時脈產(chǎn)生裝置42，其是根據(jù)時脈產(chǎn)生裝置所產(chǎn)生的一第一時脈信號來產(chǎn)生一參考命令信號、一載入命令信號以及一清除命令信號；而該命令信號處理單元48連接至該命令信號產(chǎn)生單元46和該P個串接反向器門組44，其是用于在參考命令信號所指定的一計數(shù)時間內(nèi)，計數(shù)該P個串接反向器門組44輸出端輸出的一第二時脈信號中的時脈數(shù)目，再依照時脈數(shù)目的不同，來決定溫度感測系統(tǒng)所感測到的溫度或者門延遲。
請參閱圖5，其所繪示為命令信號產(chǎn)生單元電路圖。該命令信號產(chǎn)生單元電路包含一第一計數(shù)器461，該第一計數(shù)器461的致能端(EN1)連接至一高電平而時脈輸入端連接至一第一時脈信號用以計算該第一時脈信號所產(chǎn)生的第一時脈數(shù)目；一第一比較器462，該第一比較器462的第一輸入端(A1)連接至該第一計數(shù)器461的輸出端(O1)，第二輸入端(B1)則提供一第一數(shù)值(M)；一第二比較器463，該第二比較器463的第一輸入端(A2)連接至該第一計數(shù)器461的輸出端(O1)，第二輸入端(B2)提供一第二數(shù)值(M+R)，輸出端(A2＝B2)連接至該第一計數(shù)器461的清除端(C1)；一第三比較器464，該第三比較器464的第一輸入端(A3)連接至該第一計數(shù)器461的輸出端(O1)，第二輸入端(B3)提供一第三數(shù)值(M+Y)；一第四比較器465，該第四比較器465的第一輸入端(A4)連接至該第一計數(shù)器461的輸出端(O1)，第二輸入端(B4)提供一第四數(shù)值(M+X)，輸出端(A4＝B4)可輸出該載入命令信號(LD)；一反向器門466，該反向器門466的輸入端連接至該第一比較器462的輸出端(A1＝B1)；一多工器467，該多工器467的第一輸入端(Hi)連接至該反向器門466的輸出端，第二輸入端(Lo)連接至該第二比較器463的輸出端(A2＝B2)；一第一D型觸發(fā)器468，該第一D型觸發(fā)器468的輸入端連接至該多工器467的輸出端，時脈輸入端連接至該第一時脈信號，輸出端連接至該多工器467的選擇端(S)并可輸出該參考命令信號(REF)；一第二D型觸發(fā)器469，該第二D型觸發(fā)器469的輸入端連接至該第三比較器464的輸出端(A3＝B3)，時脈輸入端連接至該第一時脈信號，而輸出端可輸出該清除命令信號(ACLR)。
再者，當?shù)谝挥嫈?shù)器461的致能端(EN1)連接至高電平時，該第一計數(shù)器461即可以開始計數(shù)第一時脈信號所產(chǎn)生的第一時脈數(shù)目，當?shù)谝挥嫈?shù)器461的清除端(C1)輸入高電平時，第一計數(shù)器461中的第一時脈數(shù)目的計數(shù)值會被歸零。當?shù)谝槐容^器462、第二比較器463、第三比較器464與第四比較器465的二個輸入端具有相同數(shù)值時，輸出端輸出高電平，否則輸出端輸出低電平。
請參閱圖6，其所繪示為命令信號產(chǎn)生單元輸出信號示意圖。當時脈產(chǎn)生裝置42產(chǎn)生第一時脈信號時，第一計數(shù)器461會開始計數(shù)第一時脈并產(chǎn)生第一時脈數(shù)目，并由輸出端(O1)將此第一時脈數(shù)目傳送至第一比較器462、第二比較器463、第三比較器464與第四比較器465。在第一計數(shù)器461的第一時脈數(shù)目尚未到達M值時，第一比較器462的輸出端(A1＝B1)會輸出一低電平至該反向器門466，并產(chǎn)生一高電平輸出，并經(jīng)由該多工器467以及第一D型觸發(fā)器468輸出高電平，此時參考命令信號(REF)為高電平，也就是說，計算第一時脈信號的第一時脈數(shù)目未到達M值時，參考命令信號(REF)會固定在高電平。
當?shù)谝挥嫈?shù)器461的第一時脈數(shù)目到達M值時，第一比較器462的輸出端(A1＝B1)會輸出一高電平至該反向器門466，并產(chǎn)生一低電平輸出，并經(jīng)由該多工器467以及第一D型觸發(fā)器468輸出低電平，此時，參考命令信號(REF)轉(zhuǎn)換為低電平，而多工器467的選擇端(S)也會選擇第二比較器463的輸出端(A2＝B2)信號來輸出至第一D型觸發(fā)器468。
很明顯地，當?shù)谝挥嫈?shù)器461的第一時脈數(shù)目大于M值且尚未到達M+R值時，第二比較器463的輸出端(A2＝B2)維持在低電平并經(jīng)由多工器467與第一D型觸發(fā)器468輸出，所以參考命令信號(REF)維持在低電平。
當?shù)谝挥嫈?shù)器461的第一時脈數(shù)目到達M+R值時，第二比較器463的輸出端(A2＝B2)會輸出一高電平至多工器467以及第一D型觸發(fā)器468使得參考命令信號(REF)轉(zhuǎn)換為高電平，而多工器467的選擇端(S)也會選擇反相后的第一比較器462輸出端(A1＝B1)來輸出至第一D型觸發(fā)器468。很明顯地，當?shù)谝挥嫈?shù)器461的第一時脈數(shù)目到達M+R值時，第一比較器462的輸出端(A1＝B1)維持在低電平，所以反相后成為高電平，因此，參考命令信號(REF)維持在高電平。同時，由于第二比較器463的輸出端(A2＝B2)同時將第一計數(shù)器461中的第一時脈數(shù)目歸零。之后，由于第一時脈數(shù)目被歸零且尚未到達M值，因此第一比較器462輸出(A1＝B1)仍維持在低電平使得參考命令信號(REF)維持在高電平。
再者，當?shù)谝挥嫈?shù)器461的第一時脈數(shù)目到達超過M+Y值時，第三比較器464的輸出端(A3＝B3)會輸出一高電平，使得第二D型觸發(fā)器469輸出高電平，使得清除命令信號(ACLR)產(chǎn)生一個時脈寬度的脈波；同理，當?shù)谝挥嫈?shù)器461的第一時脈數(shù)目到達超過M+X值時，第四比較器465的輸出端(A4＝B4)會輸出一高電平，也就是載入命令信號(LD)產(chǎn)生一個時脈寬度的脈波。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，R＞Y＞X。因此，如圖6所示，參考命令信號(REF)會周期性地產(chǎn)生M個時脈數(shù)目時間的高電平，產(chǎn)生R個時脈數(shù)目時間的低電平。其中，M個時脈數(shù)目時間可定義為計數(shù)周期(Counting Duration)，R個時脈數(shù)目時間可定義為恢復(fù)周期(Recovery Duration)。而載入命令信號(LD)會周期性地于第一時脈數(shù)目為M+X值時，產(chǎn)生一個時脈寬度的脈波。清除命令信號(ACLR)會周期性地于第一時脈數(shù)目為M+Y值時，產(chǎn)生一個時脈寬度的脈波。
請參閱圖7，其所繪示為命令信號處理單元電路圖。該命令信號處理單元包括一第二計數(shù)器481，該第二計數(shù)器481的致能端(EN2)可輸入?yún)⒖济钚盘?REF)，清除端(C2)可輸入清除命令信號(ACLR)，時脈輸入端可輸入該第二時脈信號；一第三D型觸發(fā)器482，該第三D型觸發(fā)器482的輸入端連接至該第二計數(shù)器481的輸出端(O2)，時脈輸入端可輸入該載入命令信號(LD)；j個比較器491～49j，該j個比較器491～49j的第一輸入端連接至該第三D型觸發(fā)器482的輸出端，該j個比較器491～49j的第二輸入端可分別輸入一預(yù)設(shè)比較值(N1～Nj)，該j個比較器491～49j各自有多個輸出端用以表示比較器的第一輸入端與第二輸入端之間的數(shù)值比較關(guān)系，例如，每個比較器皆有三個輸出端用以代表比較器的第一輸入端的數(shù)值小于第二輸入端的數(shù)值(A＜B)，比較器的第一輸入端的數(shù)值等于第二輸入端的數(shù)值(A＝B)，以及比較器的第一輸入端的數(shù)值大于第二輸入端的數(shù)值(A＞B)。
再者，當?shù)诙嫈?shù)器481的致能端(EN2)為高電平時，該第二計數(shù)器481即可以開始計數(shù)第二時脈信號所產(chǎn)生的一第二時脈數(shù)目，當?shù)诙嫈?shù)器481的清除端(C2)輸入高電平時，第二計數(shù)器481的第二時脈數(shù)目的計數(shù)值會被歸零。j個比較器491～49j會比較第一輸入端與第二輸入端之間的數(shù)值關(guān)系，并于相應(yīng)的輸出端輸出高電平，而其他輸出端輸出低電平。
當命令信號產(chǎn)生單元產(chǎn)生參考命令信號(REF)處于高電平時，亦即在計數(shù)周期時，第二計數(shù)器481會持續(xù)計數(shù)第二時脈信號的第二時脈數(shù)目，一直到計數(shù)周期結(jié)束，也就是參考命令信號(REF)轉(zhuǎn)換為低電平時，停止對第二時脈信號進行計數(shù)。
當此計數(shù)周期停止時也就是恢復(fù)周期開始，此時第二計數(shù)器481內(nèi)的第二時脈數(shù)目必須等載入命令信號(LD)產(chǎn)生時，此第二時脈數(shù)目才會被栓鎖(Latch)于第三D型觸發(fā)器482的輸出端。因此，j個比較器491～49j即可進行第一輸入端的第二時脈數(shù)目與第二輸入端的預(yù)設(shè)比較值(N1～Nj)之間的數(shù)值關(guān)系比較，并分別于j個比較器491～49j產(chǎn)生比較結(jié)果。
于恢復(fù)周期的過程中，當清除命令信號(ACLR)產(chǎn)生時，第二計數(shù)器481內(nèi)的第二時脈數(shù)目會被歸零。之后，當命令信號產(chǎn)生單元產(chǎn)生參考命令信號(REF)處于高電平時，第二計數(shù)器481會再次計數(shù)第二時脈信號并再次產(chǎn)生第二時脈數(shù)目。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，利用監(jiān)測j個比較器491～49j所產(chǎn)生比較結(jié)果，即可得知芯片組的溫度或者芯片組的門延遲。舉例來說，假設(shè)預(yù)設(shè)比較值的關(guān)系為N1＜N2＜...＜Nj，且N1以下可定義為低溫工作范圍，N1～N2之間可定義為正常工作溫度范圍，N2～N3之間可定義為高溫工作范圍，而N4以上可定義為過熱工作范圍。由于載入命令信號以及清除命令信號會周期性地產(chǎn)生，因此，第二時脈數(shù)目會周期性地更新，而第三D型觸發(fā)器482的輸出端即會根據(jù)載入命令信號周期性地栓鎖住更新的第二時脈數(shù)目。因此，根據(jù)監(jiān)測j個比較器491～49j所產(chǎn)生比較結(jié)果，即可隨時得知芯片組的溫度或者芯片組的門延遲。例如，當?shù)诙r脈數(shù)目小于N1時，由比較器491的A＜B輸出端輸出高電平，而其他輸出端為低電平時，芯片組即可得知正處于芯片組正在低溫工作范圍。同理，芯片組也可以根據(jù)j個比較器491～49j所產(chǎn)生的比較結(jié)果得知正處于正常溫度工作范圍、高溫工作范圍或者過熱工作范圍。
再者，芯片組也可以根據(jù)j個比較器491～49j所產(chǎn)生的比較結(jié)果利用函數(shù)(M×1/fosc×1/N×1/P)來估計芯片組中的門延遲。其中，(M×1/fosc)即為計數(shù)周期，N為第二計數(shù)值，P為反向器門的數(shù)目。
本發(fā)明的精神亦可適用于內(nèi)置于芯片的振蕩電路，該振蕩電路基本元件至少包含奇數(shù)個反向器門，例如為P個反向器門。第P個反向器門的輸出端反饋至該振蕩電路的輸入端。該奇數(shù)個反向器門可串接與門、或門等任何的組合，使該振蕩電路的輸入信號向后級輸出即可。該振蕩電路輸出一時脈信號，且該時脈信號的頻率受到該振蕩電路的門延遲或該芯片的溫度所影響。因此，可通過接收一外界時脈信號且相比較后，得知該振蕩電路的門延遲或該芯片的溫度。
綜上所述，透過本發(fā)明的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)與方法，芯片組內(nèi)的門延遲將可被估計出來，且芯片組的溫度將可透過此數(shù)字式溫度感測方法來獲得，如此一來，將可解決常用模擬式芯片組溫度感測系統(tǒng)占用芯片組較大面積，較復(fù)雜的電路設(shè)計所造成成本的提高，以及無法實際測量芯片組內(nèi)門延遲的問題。
以上所述僅為本發(fā)明較佳實施例，然其并非用以限定本發(fā)明的范圍，任何熟悉本項技術(shù)的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可在此基礎(chǔ)上做進一步的改進和變化，因此本發(fā)明的保護范圍當以本申請的權(quán)利要求書所界定的范圍為準。
附圖中符號的簡單說明如下轉(zhuǎn)換電路10模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換單元102信號溫度映射單元104熱敏二極管12反向器門20門延遲測量裝置40命令信號產(chǎn)生單元46命令信號處理單元48時脈產(chǎn)生裝置42P個串接反向器門組4權(quán)利要求
1.一種數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)包括一時脈產(chǎn)生裝置，該時脈產(chǎn)生裝置可產(chǎn)生一固定頻率的一第一時脈信號；一振蕩電路包含P個反向器門，使得該振蕩電路可輸出一第二時脈信號，其中P為一奇數(shù)；一命令信號產(chǎn)生單元，該命令信號產(chǎn)生單元連接至該時脈產(chǎn)生裝置，用以根據(jù)該第一時脈信號產(chǎn)生一參考命令信號，使得該參考命令信號可周期性地產(chǎn)生一計數(shù)周期；以及一命令信號處理單元，該命令信號處理單元連接至該命令信號產(chǎn)生單元和該振蕩電路，用以于該計數(shù)周期時計數(shù)該第二時脈信號的一時脈數(shù)目，并根據(jù)該時脈數(shù)目決定一工作溫度范圍。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該命令信號處理單元可在一恢復(fù)周期時根據(jù)該時脈數(shù)目估計一門延遲時間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該振蕩電路的第P個反向器門的輸出端反饋至該振蕩電路的輸入端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該參考命令信號可周期性地產(chǎn)生該計數(shù)周期與一恢復(fù)周期，且在該恢復(fù)周期時根據(jù)該時脈數(shù)目決定該工作溫度范圍。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該命令信號產(chǎn)生單元更可以產(chǎn)生一載入命令信號，使得該命令信號處理單元可在該恢復(fù)周期時根據(jù)該載入命令信號更新該時脈數(shù)目。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該命令信號產(chǎn)生單元更可以產(chǎn)生一清除命令信號，使得該命令信號處理單元可在該恢復(fù)周期時根據(jù)該清除命令信號歸零該時脈數(shù)目。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該命令信號產(chǎn)生單元更包括一第一計數(shù)器，該第一計數(shù)器的致能端連接至一高電平，該第一計數(shù)器的時脈輸入端連接至該第一時脈信號用以計算該第一時脈信號所產(chǎn)生的一第一時脈數(shù)目；一第一比較器，該第一比較器的第一輸入端連接至該第一計數(shù)器的輸出端，該第一比較器的第二輸入端提供一第一數(shù)值；一第二比較器，該第二比較器的第一輸入端連接至該第一計數(shù)器的輸出端，該第二比較器的第二輸入端提供一第二數(shù)值，該第二比較器的輸出端連接至該第一計數(shù)器的清除端；一第三比較器，該第三比較器的第一輸入端連接至該第一計數(shù)器的輸出端，該第三比較器的第二輸入端提供一第三數(shù)值；一第四比較器，該第四比較器的第一輸入端連接至該第一計數(shù)器的輸出端，該第四比較器的第二輸入端提供一第四數(shù)值，該第四比較器的輸出端可輸出一載入命令信號；一反向器門，該反向器門的輸入端連接至該第一比較器的輸出端；一多工器，該多工器的第一輸入端連接至該反向器門的輸出端，該多工器的第二輸入端連接至該第二比較器的輸出端；一第一D型觸發(fā)器，該第一D型觸發(fā)器的輸入端連接至該多工器的輸出端，該第一D型觸發(fā)器的時脈輸入端連接至該第一時脈信號，該第一D型觸發(fā)器的輸出端連接至該多工器的選擇端并可輸出該參考命令信號；以及一第二D型觸發(fā)器，該第二D型觸發(fā)器的輸入端連接至該第三比較器的輸出端，該第二D型觸發(fā)器的時脈輸入端連接至該第一時脈信號，而該第二D型觸發(fā)器的輸出端可輸出一清除命令信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該載入命令信號與該清除命令信號是于一恢復(fù)周期內(nèi)依序產(chǎn)生。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該第二數(shù)值大于該第三數(shù)值，該第三數(shù)值大于該第四數(shù)值，且該第四數(shù)值大于該第一數(shù)值。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該命令信號處理單元包括一第二計數(shù)器，該第二計數(shù)器的致能端可輸入該參考命令信號，該第二計數(shù)器的清除端可輸入該清除命令信號，該第二計數(shù)器的時脈輸入端可輸入該第二時脈信號；一第三D型觸發(fā)器，該第三D型觸發(fā)器的輸入端連接至該第二計數(shù)器的輸出端，該第三D型觸發(fā)器的時脈輸入端可輸入該載入命令信號；多個比較器皆連接至該第三D型觸發(fā)器的輸出端，且所述比較器皆設(shè)定不同的多個預(yù)設(shè)比較值，使得所述預(yù)設(shè)比較值與該第三D型觸發(fā)器的輸出端的該時脈數(shù)目進行比較，并可輸出一比較結(jié)果。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，該工作溫度范圍是由該比較結(jié)果來決定。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，其特征在于，一門延遲時間是由該比較結(jié)果來決定。
全文摘要
本發(fā)明為一種數(shù)字式溫度感測系統(tǒng)，包括一時脈產(chǎn)生裝置用以產(chǎn)生一固定頻率的一第一時脈信號；一振蕩電路包含P個反向器門，使得該振蕩電路可輸出一第二時脈信號，其中P為一奇數(shù)；一命令信號產(chǎn)生單元連接至該時脈產(chǎn)生裝置，用以根據(jù)該第一時脈信號產(chǎn)生一參考命令信號，使得該參考命令信號可周期性地產(chǎn)生一計數(shù)周期；以及，一命令信號處理單元，該命令信號處理單元連接至該命令信號產(chǎn)生單元和該振蕩電路，用以于該計數(shù)周期時計數(shù)該第二時脈信號的一時脈數(shù)目，并根據(jù)該時脈數(shù)目決定一工作溫度范圍。本發(fā)明可解決常用模擬式芯片組溫度感測系統(tǒng)占用芯片組較大面積，較復(fù)雜的電路設(shè)計所造成成本的提高，以及無法實際測量芯片組內(nèi)門延遲的問題。
文檔編號G06F11/30GK1971530SQ20061016790
公開日2007年5月30日 申請日期2006年12月19日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月19日
發(fā)明者郭宏益, 蘇家弘 申請人:威盛電子股份有限公司