專利名稱：硬盤測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種計(jì)算機(jī)相關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)，尤其涉及一種計(jì)算機(jī)硬 盤相關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
計(jì)算機(jī)的硬盤安裝有運(yùn)行計(jì)算機(jī)所需的操作系統(tǒng)、安裝有不同的 應(yīng)用軟件、及保存有用戶需要的數(shù)據(jù)。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，硬盤 也存在不同的差異，比如硬盤與計(jì)算機(jī)聯(lián)接的接口的差異，硬盤的轉(zhuǎn) 速差異等等。硬盤接口是硬盤與計(jì)算機(jī)主機(jī)系統(tǒng)間的連接部件，作用是在硬盤 緩存和主機(jī)內(nèi)存之間傳輸數(shù)據(jù)。不同的硬盤接口決定著硬盤與計(jì)算機(jī) 之間的連接速度，在整個(gè)系統(tǒng)中，硬盤接口直接影響著程序運(yùn)行快慢和系統(tǒng)性能好壞。從整體角度上，硬盤接口分為IDE (Integrated Drive Electronics )、 SATA (Serial ATA)、 SCSI (Small Computer System Interface )和光纖通道四種，IDE及SATA接口硬盤多用于家用產(chǎn)品 中，也部分應(yīng)用于服務(wù)器，SCSI接口的硬盤則主要應(yīng)用于服務(wù)器市 場(chǎng)，而光纖通道只在高端服務(wù)器上。除了接口的不同影響硬盤與計(jì)算機(jī)的連接速度，硬盤本身的轉(zhuǎn)速 (Rotational Speed),即硬盤內(nèi)電機(jī)主軸的旋轉(zhuǎn)速度，也就是硬盤盤片 在一分鐘內(nèi)所能完成的最大轉(zhuǎn)數(shù)，也是決定硬盤內(nèi)部傳輸率的關(guān)鍵因 素之一，在很大程度上直接影響到硬盤的速度。硬盤的轉(zhuǎn)速越快，硬 盤尋找文件的速度也就越快，相對(duì)的硬盤的傳輸速度也就得到了提 高。家用的普通硬盤的轉(zhuǎn)速一般有5400 Revolutions Per Minute ( rpm, 轉(zhuǎn)/每分鐘)、7200rpm幾種，高轉(zhuǎn)速硬盤也是現(xiàn)在臺(tái)式機(jī)用戶的首選。 而對(duì)于筆記本用戶則是4200rpm、 5400rpm為主。服務(wù)器對(duì)硬盤性能 要求最高，服務(wù)器中使用的硬盤轉(zhuǎn)速基本都采用10000rpm。計(jì)算機(jī)類型的不同決定了硬盤的結(jié)構(gòu)大小，比如，筆記本內(nèi)部空 間狹小，筆記本硬盤的尺寸(2.5寸)也被設(shè)計(jì)的比臺(tái)式機(jī)硬盤(3.5 寸)小。計(jì)算機(jī)針對(duì)的用戶不同決定了硬盤容量的大小， 一般用戶使 用的硬盤基本上是80G,筆記本一般采用40G或60G硬盤，服務(wù)器 一般采用IOOG以上的硬盤。在操作系統(tǒng)中，硬盤還必須分區(qū)和格式 化，對(duì)硬盤進(jìn)行分區(qū)及格式化可更好的整理及管理硬盤的數(shù)據(jù)。綜上所述，不同的硬盤存在不同的參數(shù)，當(dāng)量產(chǎn)計(jì)算機(jī)的硬盤時(shí)， 需要對(duì)大量的硬盤做一些功能的測(cè)試，以確定硬盤的質(zhì)量合格。比如， 在硬盤中安裝操作系統(tǒng)，測(cè)試硬盤是否能正常運(yùn)行；對(duì)硬盤進(jìn)行格式 化；將硬盤數(shù)據(jù)刪除等等。傳統(tǒng)的測(cè)試硬盤的方法是通過一些測(cè)試軟件對(duì)硬盤的不同參數(shù) 進(jìn)行測(cè)試，比如，通過某個(gè)測(cè)試軟件測(cè)試硬盤的傳輸速度。當(dāng)量產(chǎn)計(jì) 算機(jī)的硬盤時(shí)，需要對(duì)大量的硬盤做不同的測(cè)試，使用傳統(tǒng)的方法針 對(duì)每一個(gè)硬盤做不同的測(cè)試需要將硬盤從計(jì)算機(jī)拆分，并更換不同的硬盤，所作的測(cè)試種類也不同，從而需要耗費(fèi)大量的時(shí)間。 發(fā)明內(nèi)容鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種硬盤測(cè)試系統(tǒng)，可以對(duì)不同的硬 盤做多種測(cè)試，節(jié)約量產(chǎn)硬盤時(shí)的測(cè)試作業(yè)。一種硬盤測(cè)試系統(tǒng)，其包括計(jì)算機(jī)及硬盤測(cè)試裝置，該計(jì)算機(jī)包 括一個(gè)設(shè)有南橋的主板，其中，所述硬盤測(cè)試裝置連接于所述計(jì)算機(jī) 的主板，該硬盤測(cè)試裝置包括待測(cè)硬盤接口，用于連接待測(cè)硬盤至 所述主板的南橋；按鍵面板，連接一個(gè)連接于所述主板的按鍵面板控 制器，用于為用戶提供硬盤測(cè)試控制界面；及硬盤測(cè)試模塊，其連接 至主板的南橋，用于對(duì)所述待測(cè)硬盤進(jìn)行測(cè)試作業(yè)。相較現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明所提供的硬盤測(cè)試系統(tǒng)，針對(duì)不同的 硬盤可做多種的測(cè)試作業(yè)，于量產(chǎn)計(jì)算機(jī)硬盤時(shí)，節(jié)約測(cè)試硬盤的時(shí) 間，提高測(cè)試效率。


圖1是本發(fā)明硬盤測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖。 圖2是圖1中硬盤測(cè)試裝置運(yùn)作系統(tǒng)架構(gòu)圖。圖3是圖2中硬盤測(cè)試模塊的功能模塊圖。 圖4是圖1中硬盤測(cè)試裝置的具體實(shí)例圖。
具體實(shí)施方式
如圖l所示，是本發(fā)明硬盤測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖。該系統(tǒng)包括一個(gè)計(jì)算機(jī)1及一個(gè)硬盤測(cè)試裝置20,用于對(duì)待測(cè)硬盤 30進(jìn)行多種測(cè)試作業(yè)。所述計(jì)算機(jī)1可以是采用IBM架構(gòu)的個(gè)人電腦(PC)或者筆記 本電腦，還可以是采用Apple架構(gòu)的MAC PC,其包括一個(gè)主板10。所述硬盤測(cè)試裝置20是一個(gè)韌體，即能夠安裝運(yùn)行軟件的硬件， 其連接于計(jì)算機(jī)1的主板10。所述待測(cè)硬盤30可以是3.5英寸硬盤、2.5英寸硬盤或者1.8英 寸硬盤，其連接于硬盤測(cè)試裝置20從而進(jìn)行測(cè)試作業(yè)。 一般而言， 可同時(shí)進(jìn)行2個(gè)或者3個(gè)待測(cè)硬盤30的測(cè)試作業(yè)。如圖2所示，圖1中硬盤測(cè)試裝置運(yùn)作系統(tǒng)架構(gòu)圖。該運(yùn)作系統(tǒng) 包括所述主板10及所述硬盤測(cè)試裝置20。所述主板10包括一個(gè)南橋101并連接一個(gè)按一睫面板控制器102。所述硬盤測(cè)試裝置20包括硬盤測(cè)試模塊200、 一個(gè)待測(cè)硬盤接 口 201及一個(gè)按鍵面板202。其中，硬盤測(cè)試4莫塊200，連接至主板10的南橋101。該硬盤測(cè) 試模塊200是通過計(jì)算機(jī)1控制運(yùn)行的程序，用于對(duì)待測(cè)硬盤30進(jìn) 行多種測(cè)試作業(yè)。待測(cè)硬盤接口 201，可以是針對(duì)不同的待測(cè)硬盤30的不同接口， 比如針對(duì)SATA硬盤的SATA接口 ，或者針對(duì)PATA硬盤的PATA 接口 ，用于將待測(cè)硬盤30連接至主板10的南橋101 。按鍵面板202連接至按鍵面板控制器102，用于提供硬盤測(cè)試控 制界面，使用戶可對(duì)待測(cè)硬盤進(jìn)行多種測(cè)試作業(yè)。該按鍵面板202可 以是普通按^^建面板，如計(jì)算機(jī)的鍵盤、電話的數(shù)字按鍵等，還可以是 觸摸屏按鍵面板，如銀行架設(shè)的自動(dòng)存取款機(jī)的觸摸屏、商業(yè)終端的 觸摸屏等。按鍵面板控制器102其連接至硬盤測(cè)試模塊200。該按鍵 面板控制器102可以直接是連接于主板10上擴(kuò)展插槽的控制擴(kuò)展卡 或者部件，用于接收用戶使用按鍵面板202的硬盤測(cè)試信息，并根據(jù) 該所接收的測(cè)試信息控制硬盤測(cè)試模塊200，對(duì)待測(cè)硬盤30進(jìn)行多 種測(cè)試作業(yè)。如圖3所示，是圖2中硬盤測(cè)試模塊的功能模塊圖。所述硬盤測(cè) 試模塊200包括格式化測(cè)試模塊2001、分區(qū)測(cè)試模塊2002、數(shù)據(jù)寫 入及刪除測(cè)試才莫塊2003 、速度測(cè)試4莫塊2004、操作系統(tǒng)測(cè)試才莫塊2005 及測(cè)試結(jié)果輸出模塊2006。根據(jù)硬盤測(cè)試模塊200所包括的不同功 能模塊，按^t面板202可設(shè)置不同的按鍵來實(shí)現(xiàn)不同功能模塊的不同 測(cè)試作業(yè)，比如設(shè)置"格式化測(cè)試，，、"分區(qū)測(cè)試"、"數(shù)據(jù)寫入及 刪除測(cè)試"、"速度測(cè)試"、及"操作系統(tǒng)測(cè)試"按鍵分別對(duì)應(yīng)上述 不同的功能模塊。格式化測(cè)試才莫塊2001,用于測(cè)試所述待測(cè)硬盤30能否進(jìn)行格式 化作業(yè)。硬盤格式化是將硬盤劃分出柱面和磁道，再將磁道劃分為若 干個(gè)物理扇區(qū)，每個(gè)物理扇區(qū)再劃分出標(biāo)識(shí)部分、間隔區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)等。 該格式化測(cè)試才莫塊2001通過南橋101對(duì)待測(cè)硬盤30進(jìn)行格式化，測(cè) 試格式化操作是否成功，并于測(cè)試結(jié)果輸出模塊2006輸出測(cè)試結(jié)果。 若待測(cè)硬盤30能夠進(jìn)行格式化作業(yè)，則說明待測(cè)硬盤30沒有損壞； 若待測(cè)硬盤30不能夠進(jìn)行格式化作業(yè)，則說明待測(cè)硬盤3(U茲道損壞 或者有瑕疵。分區(qū)測(cè)試模塊2002，用于測(cè)試所述待測(cè)硬盤30能否進(jìn)行分區(qū)作 業(yè)。在讀取一個(gè)硬盤相應(yīng)的文件時(shí)，必須要給出相應(yīng)的規(guī)則，比如硬 盤通常都會(huì)分成幾個(gè)區(qū)(C區(qū)、D區(qū)、E區(qū)等等)，該分區(qū)是對(duì)硬盤 進(jìn)行邏輯分區(qū)，其目的是為更合理、有效地去保存數(shù)據(jù)，為文件存放
提供更大的空間。 一般一個(gè)硬盤最多可有24個(gè)邏輯分區(qū)。分區(qū)測(cè)試 模塊2002通過南橋101對(duì)待測(cè)硬盤30進(jìn)行邏輯分區(qū)作業(yè)，測(cè)試邏輯 分區(qū)作業(yè)是否成功，并于測(cè)試結(jié)果輸出模塊2006輸出測(cè)試結(jié)果。若 待測(cè)硬盤30能夠進(jìn)行邏輯分區(qū)作業(yè)，則說明待測(cè)硬盤30沒有損壞； 若待測(cè)硬盤30不能夠進(jìn)行邏輯分區(qū)作業(yè)，則說明待測(cè)硬盤30磁道損 壞或者有瑕疵。數(shù)據(jù)寫入及刪除測(cè)試模塊2003,用于測(cè)試所述待測(cè)硬盤30能否 進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入、刪除作業(yè)。即對(duì)待測(cè)硬盤30進(jìn)行寫入數(shù)據(jù)作業(yè)及刪 除數(shù)據(jù)測(cè)試作業(yè)，并于測(cè)試結(jié)果輸出模塊2006輸出測(cè)試結(jié)果。若待 測(cè)硬盤30寫入數(shù)據(jù)成功，但無法刪除寫入的數(shù)據(jù)，則說明待測(cè)硬盤 3(U茲道損壞或者有瑕疵；若待測(cè)硬盤30寫入數(shù)據(jù)不成功，則說明待 測(cè)硬盤30^f茲道損壞或者有瑕瘋；若待測(cè)硬盤30寫入數(shù)據(jù)成功，也能 成功刪除寫入的數(shù)據(jù)，則說明待測(cè)硬盤30沒有損壞。速度測(cè)試才莫塊2004，用于對(duì)所述待測(cè)硬盤30的轉(zhuǎn)速進(jìn)行測(cè)試， 從而判斷硬盤轉(zhuǎn)速是否符合標(biāo)準(zhǔn)。硬盤量產(chǎn)過程中，會(huì)根據(jù)需求量產(chǎn) 不同轉(zhuǎn)速標(biāo)準(zhǔn)的硬盤，若待測(cè)硬盤30按照量產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)該是轉(zhuǎn)速 5400rpm的硬盤，而速度測(cè)試模塊2004探測(cè)待測(cè)硬盤30單位時(shí)間轉(zhuǎn) 速不等于5400rpm，則說明待測(cè)硬盤30不符合標(biāo)準(zhǔn)；反之，若速度 測(cè)試模塊2004探測(cè)待測(cè)硬盤30單位時(shí)間轉(zhuǎn)速等于5400rpm，則說明 待測(cè)硬盤30符合標(biāo)準(zhǔn)。所述速度測(cè)試模塊2004測(cè)試待測(cè)硬盤30的 轉(zhuǎn)速可通過采集待測(cè)硬盤30單位時(shí)間轉(zhuǎn)動(dòng)次數(shù)來進(jìn)行；還可以連接 一紅外測(cè)量?jī)x器，通過控制該紅外測(cè)量?jī)x器發(fā)射出的紅外線經(jīng)待測(cè)硬 盤30上反射后，接收反射波，處理該反射波后得到轉(zhuǎn)速。操作系統(tǒng)測(cè)試模塊2005,用于對(duì)待測(cè)硬盤30安裝操作系統(tǒng)，并 測(cè)試操作系統(tǒng)運(yùn)行是否正常。硬盤測(cè)試裝置20可備份需要安裝的操 作系統(tǒng)文件，當(dāng)需要對(duì)待測(cè)硬盤30進(jìn)行安裝操作系統(tǒng)作業(yè)時(shí)，操作 系統(tǒng)測(cè)試模塊2005調(diào)用硬盤測(cè)試裝置20備份的操作系統(tǒng)文件，直接 安裝于待測(cè)硬盤30,安裝完畢后，進(jìn)行簡(jiǎn)單的運(yùn)行操作系統(tǒng)作業(yè)(如， 重新啟動(dòng)計(jì)算機(jī)l、關(guān)閉計(jì)算機(jī)l等簡(jiǎn)單作業(yè))。若能夠于待測(cè)硬
30安裝操作系統(tǒng)，并能夠正常運(yùn)行操作系統(tǒng)，則說明待測(cè)硬盤30沒 有損壞；若能夠于待測(cè)硬盤30安裝操作系統(tǒng)，在計(jì)算機(jī)l其他硬件 正常時(shí)，無法正常運(yùn)行操作系統(tǒng)，則說明待測(cè)硬盤30磁道損壞或有 瑕瘋；若根本無法安裝操作系統(tǒng)，則說明待測(cè)硬盤30磁道損壞或有 瑕疵。測(cè)試結(jié)果輸出模塊2006,用于輸出對(duì)所述待測(cè)硬盤30的測(cè)試結(jié) 果。該測(cè)試結(jié)果輸出模塊2006可直接將測(cè)試結(jié)果通過計(jì)算機(jī)1的顯 示器顯示給用戶，也可以控制計(jì)算機(jī)l的打印設(shè)備，打印輸出測(cè)試結(jié) 果給用戶。如圖4所示，是圖1中硬盤測(cè)試裝置的具體實(shí)例圖。該硬盤測(cè)試 裝置20的待測(cè)硬盤接口 201已經(jīng)連接有兩個(gè)待測(cè)硬盤30 (圖中一個(gè) 3.5英寸硬盤及一個(gè)2.5英寸硬盤)，按鍵面板202設(shè)置有"格式化 測(cè)試"、"分區(qū)測(cè)試"、"數(shù)據(jù)寫入及刪除測(cè)試"、"速度測(cè)試"、 及"操作系統(tǒng)測(cè)試"按鍵，用戶可通過選擇使用上述按鍵，同時(shí)對(duì)圖 示的一個(gè)3.5英寸硬盤及一個(gè)2.5英寸硬盤進(jìn)行多種測(cè)試。以下再列舉一 簡(jiǎn)單實(shí)例來說明使用硬盤測(cè)試系統(tǒng)對(duì)待測(cè)硬盤30 進(jìn)行測(cè)試作業(yè)的實(shí)施過程。例如，用戶需要測(cè)試一塊3.5英寸的SATA 硬盤，此時(shí)，用戶將此3.5英寸的SATA硬盤連接至硬盤測(cè)試裝置20 的待測(cè)硬盤接口 201;然后，用戶按下按鍵面板202的按鍵，比如"格 式化測(cè)試"纟^4建；按鍵面板控制器102接收到用戶按下"格式化測(cè)試" 按鍵的信息，并根據(jù)接收的信息控制硬盤測(cè)試模塊200的格式化測(cè)試 模塊2001;格式化測(cè)試模塊2001開始對(duì)3.5英寸的SATA硬盤進(jìn)行 格式化作業(yè)，若該格式化作業(yè)成功，測(cè)試結(jié)果輸出模塊2006輸出測(cè) 試結(jié)果，說明測(cè)試的3.5英寸的SATA硬盤磁道沒有損壞。
權(quán)利要求
1.一種硬盤測(cè)試系統(tǒng)，其包括計(jì)算機(jī)及硬盤測(cè)試裝置，該計(jì)算機(jī)包括一個(gè)設(shè)有南橋的主板，其特征在于，所述硬盤測(cè)試裝置連接于所述計(jì)算機(jī)的主板，該硬盤測(cè)試裝置包括待測(cè)硬盤接口，用于連接待測(cè)硬盤至所述主板的南橋；按鍵面板，連接一個(gè)連接于所述主板的按鍵面板控制器，用于為用戶提供硬盤測(cè)試控制界面；及硬盤測(cè)試模塊，其連接至主板的南橋，用于對(duì)所述待測(cè)硬盤進(jìn)行測(cè)試作業(yè)。
2. 如權(quán)利要求1所述的硬盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述硬盤 測(cè)試模塊包括格式化測(cè)試模塊，用于測(cè)試所述待測(cè)硬盤能否進(jìn)行格式化作業(yè)； 分區(qū)測(cè)試模塊，用于測(cè)試所述待測(cè)硬盤能否進(jìn)行分區(qū)作業(yè)； 數(shù)據(jù)寫入及刪除測(cè)試模塊，用于測(cè)試所述待測(cè)硬盤能否進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入、刪除作業(yè)；速度測(cè)試模塊，用于對(duì)所述待測(cè)硬盤的轉(zhuǎn)速進(jìn)行測(cè)試，從而判斷硬盤轉(zhuǎn)速是否符合標(biāo)準(zhǔn)；操作系統(tǒng)測(cè)試模塊，用于對(duì)待測(cè)硬盤安裝操作系統(tǒng)，并測(cè)試操作系統(tǒng)運(yùn)行是否正常；及測(cè)試結(jié)果輸出模塊，用于輸出對(duì)所述待測(cè)硬盤的測(cè)試結(jié)果。
3. 如權(quán)利要求1所述的硬盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述按鍵 面板控制器用于接收用戶使用按鍵面板的硬盤測(cè)試信息，并根據(jù)該所 接收的測(cè)試信息控制硬盤測(cè)試模塊，對(duì)待測(cè)硬盤進(jìn)行各種測(cè)試作業(yè)。
全文摘要
一種硬盤測(cè)試系統(tǒng)，其包括計(jì)算機(jī)及硬盤測(cè)試裝置，該計(jì)算機(jī)包括一個(gè)設(shè)有南橋的主板，其中，所述硬盤測(cè)試裝置連接于所述計(jì)算機(jī)的主板，該硬盤測(cè)試裝置包括待測(cè)硬盤接口，用于連接待測(cè)硬盤至所述主板的南橋；按鍵面板，連接一個(gè)連接于所述主板的按鍵面板控制器，用于為用戶提供硬盤測(cè)試控制界面；及硬盤測(cè)試模塊，其連接至主板的南橋，用于對(duì)所述待測(cè)硬盤進(jìn)行測(cè)試作業(yè)。利用本發(fā)明所提供之硬盤測(cè)試系統(tǒng)，可以對(duì)不同的硬盤做多種測(cè)試，節(jié)約量產(chǎn)硬盤時(shí)的測(cè)試作業(yè)。
文檔編號(hào)G06F11/267GK101149696SQ200610062730
公開日2008年3月26日 申請(qǐng)日期2006年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月22日
發(fā)明者范秋玲, 陳進(jìn)豐, 黃盈智 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司