本發(fā)明涉及半實(shí)物仿真試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域。更具體地，涉及一種空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

半實(shí)物仿真是一種將控制器與在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)的控制對(duì)象的仿真模型聯(lián)接在一起進(jìn)行試驗(yàn)的技術(shù)。在這種試驗(yàn)中，控制器的動(dòng)態(tài)特性、靜態(tài)特性和非線性因素等都能真實(shí)地反映出來，因此它是一種更接近實(shí)際的仿真試驗(yàn)技術(shù)。這種仿真技術(shù)可用于修改控制器設(shè)計(jì)(即在控制器尚未安裝到真實(shí)系統(tǒng)中之前，通過半實(shí)物仿真來驗(yàn)證控制器的設(shè)計(jì)性能，若系統(tǒng)性能指標(biāo)不滿足設(shè)計(jì)要求，則可調(diào)整控制器的參數(shù)，或修改控制器的設(shè)計(jì))，同時(shí)也廣泛用于產(chǎn)品的修改定型、產(chǎn)品改型和出廠檢驗(yàn)等方面。

半實(shí)物仿真具有以下特點(diǎn)：

(1)只能是實(shí)時(shí)仿真，即仿真模型的時(shí)間標(biāo)尺和自然時(shí)間標(biāo)尺相同。

(2)需要解決控制器與仿真計(jì)算機(jī)之間的接口問題。例如，在進(jìn)行飛行器控制系統(tǒng)的半實(shí)物仿真時(shí)，在仿真計(jì)算機(jī)上解算得出的飛機(jī)姿態(tài)角、飛行高度、飛行速度等飛行動(dòng)力學(xué)參數(shù)會(huì)被飛行控制器的傳感器所感受，因而必須有信號(hào)接口或變換裝置。這些裝置例如是三自由度飛行仿真轉(zhuǎn)臺(tái)、動(dòng)壓－靜壓仿真器、負(fù)載力仿真器等。

(3)半實(shí)物仿真的實(shí)驗(yàn)結(jié)果比數(shù)學(xué)仿真更接近實(shí)際。

目前，三軸轉(zhuǎn)臺(tái)能為導(dǎo)引頭和慣性測(cè)量組合提供角運(yùn)動(dòng)環(huán)境，是半實(shí)物仿真試驗(yàn)系統(tǒng)中必不可少的設(shè)備。由于轉(zhuǎn)臺(tái)由金屬材料構(gòu)成，在射頻仿真暗室中必然產(chǎn)生電磁反射，對(duì)安裝于內(nèi)框上的無線電導(dǎo)引頭產(chǎn)生干擾，因此暗室中的轉(zhuǎn)臺(tái)需要進(jìn)行屏蔽處理。

低頻尋的制導(dǎo)仿真試驗(yàn)中，導(dǎo)引頭頻率的降低給射頻仿真試驗(yàn)系統(tǒng)帶來了顯著的問題。由于仿真暗室中轉(zhuǎn)臺(tái)在低頻段對(duì)導(dǎo)引頭探測(cè)精度影響顯著，目前常采用路饋方式解決低頻段仿真問題。路饋式由于信號(hào)直接注入，不能驗(yàn)證導(dǎo)引頭中射頻天線從接收無線電波到提取出有效信號(hào)的這部分功能，缺乏高可信度的導(dǎo)引頭數(shù)學(xué)模型，因此，路饋式仿真無法對(duì)導(dǎo)引頭進(jìn)行全面檢驗(yàn)。空饋式因?yàn)橥耆M了導(dǎo)引頭真實(shí)的工作環(huán)境，因此能夠全面驗(yàn)證導(dǎo)引頭的性能。

因此，需要提供一種空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)方法及系統(tǒng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明目的在于提供一種空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)方法，解決傳統(tǒng)路饋?zhàn)⑷胧椒抡嬖囼?yàn)方法無法對(duì)低頻導(dǎo)引頭進(jìn)行全面驗(yàn)證的半實(shí)物仿真試驗(yàn)問題。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用下述技術(shù)方案：

一種空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)方法，包括：

s1：搭建空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真系統(tǒng)；空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真系統(tǒng)包括彈上計(jì)算機(jī)、慣性測(cè)量裝置、低頻探測(cè)導(dǎo)引頭、三軸轉(zhuǎn)臺(tái)、低頻暗室、低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)、天線陣列及饋電分系統(tǒng)和仿真計(jì)算機(jī)，其中，低頻探測(cè)導(dǎo)引頭和天線陣列及饋電分系統(tǒng)設(shè)置于低頻暗室內(nèi)部；

s2：基于慣性坐標(biāo)系、彈體坐標(biāo)系和暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的變換關(guān)系，確定天線陣列位置控制指令；

s3：確定轉(zhuǎn)臺(tái)控制角；

s4：控制天線陣列和三軸轉(zhuǎn)臺(tái)；

s5：采集姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息和目標(biāo)信息。

優(yōu)選地，彈上計(jì)算機(jī)用于采集低頻探測(cè)導(dǎo)引頭和慣性測(cè)量裝置的輸出信息，進(jìn)行導(dǎo)航和制導(dǎo)控制；

慣性測(cè)量裝置用于測(cè)量三軸轉(zhuǎn)臺(tái)復(fù)現(xiàn)的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息；

低頻探測(cè)導(dǎo)引頭用于測(cè)量天線陣列輸出的低頻輻射，向彈上計(jì)算機(jī)提供目標(biāo)角度信息；

三軸轉(zhuǎn)臺(tái)用于模擬彈體的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)，為慣性測(cè)量組合提供角運(yùn)動(dòng)環(huán)境；

低頻暗室用于提供無回波的自由空間環(huán)境；

低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)用于模擬雷達(dá)照射信號(hào)；

天線陣列及饋電系統(tǒng)用于模擬彈目的視線角運(yùn)動(dòng)；

仿真計(jì)算機(jī)用于得到導(dǎo)彈的飛行彈道和目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)軌跡，形成各試驗(yàn)設(shè)備的控制參數(shù)。

優(yōu)選地，在低頻暗室內(nèi)采用無電磁反射或低電磁反射的支撐結(jié)構(gòu)對(duì)導(dǎo)引頭進(jìn)行支撐。

優(yōu)選地，慣性坐標(biāo)系，x軸在水平面上朝前指向發(fā)射方向，y軸在垂直面內(nèi)朝上，z軸符合右手定則；

彈體坐標(biāo)系，x軸沿導(dǎo)彈中軸從彈尾指向彈頭，y軸垂直朝上，z軸符合右手定則；

暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系，原點(diǎn)固定在導(dǎo)引頭安裝支架出，x軸朝前指向陣列，y軸垂直朝上，z軸符合右手定則。

進(jìn)一步優(yōu)選地，步驟s2具體包括以下步驟：

s201：在暗室中設(shè)置用于模擬射頻目標(biāo)的三元組天線陣列，被導(dǎo)引頭探測(cè)后形成兩軸目標(biāo)視線角；

s202：計(jì)算慣性坐標(biāo)系axyz下目標(biāo)的歸一化位置：

其中，(x，y，z)為慣性坐標(biāo)系下目標(biāo)的歸一化位置，qα為慣性坐標(biāo)系下的俯仰視線角，qβ為慣性坐標(biāo)系下的方位視線角；

s203：計(jì)算彈體坐標(biāo)系ox1y1z1下目標(biāo)的歸一化位置：

其中，(x1，y1，z1)為彈體坐標(biāo)系下目標(biāo)的歸一化位置，qα1為彈體坐標(biāo)系下的俯仰視線角，qβ1為彈體坐標(biāo)系下的方位視線角，為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣，n表示發(fā)射系，1表示彈體系，ψ為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系彈體的方位角的變換角度，θ為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系彈體的俯仰角的變換角度，γ為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系彈體的滾轉(zhuǎn)角的變換角度；

s204：計(jì)算暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系oxsyszs下目標(biāo)的歸一化位置：

其中，(xs，ys，zs)為暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系下目標(biāo)的歸一化位置，qαs為暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系下的俯仰視線角，qβs為暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系下的方位視線角，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的方位角的變換角度，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的俯仰角的變換角度，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的滾轉(zhuǎn)角的變換角度；

s205：計(jì)算天線陣列的控制角度：

進(jìn)一步優(yōu)選地，步驟s3具體包括以下步驟：

s301：建立轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系，其中x軸為內(nèi)框旋轉(zhuǎn)軸，y軸朝上，z軸與x、y軸符合右手定則；

s302：轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系與本體坐標(biāo)系之間的變換關(guān)系為：

其中，(ψt,θt,γt)為轉(zhuǎn)臺(tái)控制角，(ψ,θ,γ)為彈體相對(duì)于慣性坐標(biāo)系的姿態(tài)角，(ψ^*,θ^*,γ^*)為轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系和慣性坐標(biāo)系之間的偏差角，為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系的變換矩陣，為轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系到慣性坐標(biāo)系的變換矩陣，為轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系到本體坐標(biāo)系的變換矩陣；

s303：求解變換矩陣計(jì)算得到轉(zhuǎn)臺(tái)方位、俯仰和滾轉(zhuǎn)三軸的控制角(ψt,θt,γt)。

進(jìn)一步優(yōu)選地，步驟s4具體包括以下步驟：

s401：仿真計(jì)算機(jī)根據(jù)s2得到的天線陣列位置控制指令，控制信號(hào)源和陣列天線；

s402：仿真計(jì)算機(jī)根據(jù)s3得到的轉(zhuǎn)臺(tái)方位、俯仰、滾轉(zhuǎn)三軸的控制角(ψt,θt,γt)，控制三軸轉(zhuǎn)臺(tái)運(yùn)動(dòng)到指定的位置。

優(yōu)選地，彈上計(jì)算機(jī)采集慣性測(cè)量裝置測(cè)量得到的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息和低頻探測(cè)導(dǎo)引頭測(cè)量得到的目標(biāo)角度信息，進(jìn)行導(dǎo)航和制導(dǎo)控制。

本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括：彈上計(jì)算機(jī)、慣性測(cè)量裝置、低頻探測(cè)導(dǎo)引頭、三軸轉(zhuǎn)臺(tái)、低頻暗室、低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)、天線陣列及饋電分系統(tǒng)和仿真計(jì)算機(jī)，其中，低頻探測(cè)導(dǎo)引頭和天線陣列及饋電分系統(tǒng)設(shè)置于低頻暗室內(nèi)部，

彈上計(jì)算機(jī)用于采集低頻探測(cè)導(dǎo)引頭和慣性測(cè)量裝置的輸出信息，進(jìn)行導(dǎo)航和制導(dǎo)控制；

慣性測(cè)量裝置用于測(cè)量三軸轉(zhuǎn)臺(tái)復(fù)現(xiàn)的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息；

低頻探測(cè)導(dǎo)引頭用于測(cè)量天線陣列輸出的低頻輻射，向彈上計(jì)算機(jī)提供目標(biāo)角度信息；

三軸轉(zhuǎn)臺(tái)用于模擬彈體的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)，為慣性測(cè)量組合提供角運(yùn)動(dòng)環(huán)境；

低頻暗室用于提供無回波的自由空間環(huán)境；

低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)用于模擬雷達(dá)照射信號(hào)；

天線陣列及饋電系統(tǒng)用于模擬彈目的視線角運(yùn)動(dòng)；

仿真計(jì)算機(jī)用于得到導(dǎo)彈的飛行彈道和目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)軌跡，形成各試驗(yàn)設(shè)備的控制參數(shù)。

本發(fā)明的有益效果如下：

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于采用轉(zhuǎn)臺(tái)外置、導(dǎo)引頭固定的方式徹底消除轉(zhuǎn)臺(tái)對(duì)導(dǎo)引頭探測(cè)精度的影響，解決了空饋低頻的技術(shù)難題，準(zhǔn)確、逼真的完成了空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)。

附圖說明

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

圖1示出空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)方法步驟圖。

圖2示出空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真系統(tǒng)組成示意圖。

圖3示出不同坐標(biāo)系變換關(guān)系示意圖。

圖中：1、彈上計(jì)算機(jī)；2、慣性測(cè)量裝置；3、低頻探測(cè)導(dǎo)引頭；4、三軸轉(zhuǎn)臺(tái)；5、低頻暗室；6、低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)；7、天線陣列及饋電分系統(tǒng)；8、仿真計(jì)算機(jī)。

具體實(shí)施方式

為了更清楚地說明本發(fā)明，下面結(jié)合優(yōu)選實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的說明。附圖中相似的部件以相同的附圖標(biāo)記進(jìn)行表示。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，下面所具體描述的內(nèi)容是說明性的而非限制性的，不應(yīng)以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

空饋式仿真方法已經(jīng)在2-18ghz的導(dǎo)引頭仿真試驗(yàn)中得到了充分的驗(yàn)證，由于和高頻段相比，暗室中模擬彈體姿態(tài)的三軸轉(zhuǎn)臺(tái)在低頻段對(duì)導(dǎo)引頭影響顯著，所以該方法之前沒有能夠應(yīng)用在低頻(200m～2ghz)導(dǎo)引頭仿真試驗(yàn)。

本發(fā)明針對(duì)轉(zhuǎn)臺(tái)對(duì)導(dǎo)引頭的潛在影響，提出采用轉(zhuǎn)臺(tái)外置的空饋式低頻制導(dǎo)半實(shí)物仿真試驗(yàn)方法。轉(zhuǎn)臺(tái)外置是指將安裝慣性測(cè)量組合的三軸飛行轉(zhuǎn)臺(tái)從暗室內(nèi)轉(zhuǎn)到暗室外，而將導(dǎo)引頭固定在暗室內(nèi)。由于采用導(dǎo)引頭固定安裝的方式，在仿真試驗(yàn)過程中暗室內(nèi)復(fù)現(xiàn)的彈目相對(duì)運(yùn)動(dòng)關(guān)系不再處于慣性空間，而是以導(dǎo)引頭(彈體)為基準(zhǔn)的非慣性空間。此時(shí)，外置于暗室的三軸飛行轉(zhuǎn)臺(tái)連同內(nèi)框上的慣性測(cè)量組合仍處在慣性空間中來模擬彈體的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)。

如圖1所示，一種空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)方法的具體步驟為：

第一步搭建空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真系統(tǒng)

如圖2所示，空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真系統(tǒng)，包括：彈上計(jì)算機(jī)1，慣性測(cè)量裝置2，低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3，三軸轉(zhuǎn)臺(tái)4，低頻暗室5，低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)6，天線陣列及饋電分系統(tǒng)7，仿真計(jì)算機(jī)8。其中，彈上計(jì)算機(jī)1、慣性測(cè)量裝置2和低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3通稱彈上實(shí)物。

其中，各部分功能介紹如下：

彈上計(jì)算機(jī)1用于采集低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3和慣性測(cè)量裝置2的輸出信息，進(jìn)行導(dǎo)航和制導(dǎo)控制。

慣性測(cè)量裝置2用于測(cè)量三軸轉(zhuǎn)臺(tái)4復(fù)現(xiàn)的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息。

低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3用于測(cè)量天線陣列輸出的低頻輻射，向彈上計(jì)算機(jī)1提供目標(biāo)角度信息。

三軸轉(zhuǎn)臺(tái)4用于模擬彈體的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)，為慣性測(cè)量組合提供角運(yùn)動(dòng)環(huán)境。

低頻暗室5用于提供一個(gè)無回波的自由空間環(huán)境，防止外部的電磁信號(hào)對(duì)試驗(yàn)的影響。

低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)6用于模擬雷達(dá)照射信號(hào)。

天線陣列及饋電系統(tǒng)7用于模擬彈目的視線角運(yùn)動(dòng)。

仿真計(jì)算機(jī)8用于得到導(dǎo)彈的飛行彈道和目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)軌跡，形成各試驗(yàn)設(shè)備的控制參數(shù)。

和現(xiàn)有半實(shí)物仿真系統(tǒng)相比，本系統(tǒng)最大的區(qū)別是在暗室中采用無或低電磁反射的支撐結(jié)構(gòu)代替了三軸飛行轉(zhuǎn)臺(tái)來對(duì)導(dǎo)引頭進(jìn)行支撐，而將三軸飛行轉(zhuǎn)臺(tái)置于射頻暗室外，徹底消除低頻信號(hào)下三軸飛行轉(zhuǎn)臺(tái)對(duì)導(dǎo)引頭探測(cè)精度的影響。

第二步確定天線陣列位置控制指令

暗室內(nèi)復(fù)現(xiàn)的彈目相對(duì)運(yùn)動(dòng)關(guān)系是以導(dǎo)引頭(彈體)為基準(zhǔn)的非慣性空間。

(1)在暗室中設(shè)置用于模擬射頻目標(biāo)的三元組天線陣列，被導(dǎo)引頭探測(cè)后形成兩軸目標(biāo)視線角；

(2)計(jì)算慣性坐標(biāo)系axyz下目標(biāo)的歸一化位置：

其中，(x，y，z)為慣性坐標(biāo)系下目標(biāo)的歸一化位置，qα為慣性坐標(biāo)系下的俯仰視線角，qβ為慣性坐標(biāo)系下的方位視線角；

(3)計(jì)算彈體坐標(biāo)系ox1y1z1下目標(biāo)的歸一化位置：

其中，(x1，y1，z1)為彈體坐標(biāo)系下目標(biāo)的歸一化位置，qα1為彈體坐標(biāo)系下的俯仰視線角，qβ1為彈體坐標(biāo)系下的方位視線角，為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣，n表示發(fā)射系，1表示彈體系，ψ為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系彈體的方位角的變換角度，θ為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系彈體的俯仰角的變換角度，γ為慣性坐標(biāo)系到彈體坐標(biāo)系彈體的滾轉(zhuǎn)角的變換角度；

應(yīng)注意的是，通常兩個(gè)坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換關(guān)系如下：

設(shè)坐標(biāo)系a按照順序分別經(jīng)過的ψ,θ,γ角度旋轉(zhuǎn)變換到坐標(biāo)系b對(duì)應(yīng)的旋轉(zhuǎn)矩陣為則有：

(4)計(jì)算暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系oxsyszs下目標(biāo)的歸一化位置：

其中，(xs，ys，zs)為暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系下目標(biāo)的歸一化位置，qαs為暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系下的俯仰視線角，qβs為暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系下的方位視線角，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的方位角的變換角度，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的俯仰角的變換角度，為彈體坐標(biāo)系到暗室內(nèi)實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系的滾轉(zhuǎn)角的變換角度；

(5)計(jì)算天線陣列的控制角度：

三個(gè)坐標(biāo)系的相互關(guān)系是用于在實(shí)驗(yàn)室坐標(biāo)系下去控制目標(biāo)陣列來模擬發(fā)射坐標(biāo)系和彈體坐標(biāo)系下的導(dǎo)彈-目標(biāo)視線角。

第三步確定轉(zhuǎn)臺(tái)控制角

如圖3所示，外置于暗室的三軸飛行轉(zhuǎn)臺(tái)連同內(nèi)框上的慣性測(cè)量組合仍處在慣性空間中來模擬彈體的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)。(ψt,θt,γt)為轉(zhuǎn)臺(tái)控制角，(ψ,θ,γ)為本體相對(duì)于赤道慣性系的姿態(tài)角，(ψ^*,θ^*,γ^*)為轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系和慣性坐標(biāo)系之間的偏差角。為慣性坐標(biāo)系到本體坐標(biāo)系的變換矩陣，值得注意的是并不是赤道慣性系到本體坐標(biāo)系的變換矩陣。為轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系到慣性坐標(biāo)系的變換矩陣，為轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系到本體坐標(biāo)系的變換矩陣。轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)系與本體坐標(biāo)系之間的變換關(guān)系為：

通過求解變換矩陣可計(jì)算得到轉(zhuǎn)臺(tái)方位、俯仰、滾轉(zhuǎn)三軸的控制角(ψt,θt,γt)。

第四步控制天線陣列和三軸轉(zhuǎn)臺(tái)4

仿真計(jì)算機(jī)8根據(jù)第二步得到的天線陣列位置控制指令，控制信號(hào)源和陣列天線。根據(jù)第三步得到的轉(zhuǎn)臺(tái)方位、俯仰、滾轉(zhuǎn)三軸的控制角(ψt,θt,γt)，控制三軸轉(zhuǎn)臺(tái)4運(yùn)動(dòng)到指定的位置。

第五步采集姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息和目標(biāo)信息

彈上計(jì)算機(jī)1采集慣性測(cè)量裝置2測(cè)量得到的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息和低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3測(cè)量得到的目標(biāo)角度信息，進(jìn)行導(dǎo)航和制導(dǎo)控制。

至此，實(shí)現(xiàn)了一種空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)。

本發(fā)明還公開了一種應(yīng)用上述方法的空饋式低頻尋的半實(shí)物仿真試驗(yàn)系統(tǒng)，包括：彈上計(jì)算機(jī)1、慣性測(cè)量裝置2、低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3、三軸轉(zhuǎn)臺(tái)4、低頻暗室5、低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)6、天線陣列及饋電分系統(tǒng)7和仿真計(jì)算機(jī)8，其中，低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3和天線陣列及饋電分系統(tǒng)7設(shè)置于低頻暗室內(nèi)部，

彈上計(jì)算機(jī)1用于采集低頻探測(cè)導(dǎo)引頭和慣性測(cè)量裝置的輸出信息，進(jìn)行導(dǎo)航和制導(dǎo)控制；慣性測(cè)量裝置2用于測(cè)量三軸轉(zhuǎn)臺(tái)復(fù)現(xiàn)的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)信息；低頻探測(cè)導(dǎo)引頭3用于測(cè)量天線陣列輸出的低頻輻射，向彈上計(jì)算機(jī)提供目標(biāo)角度信息；三軸轉(zhuǎn)臺(tái)4用于模擬彈體的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)，為慣性測(cè)量組合提供角運(yùn)動(dòng)環(huán)境；低頻暗室5用于提供無回波的自由空間環(huán)境；低頻信號(hào)生成分系統(tǒng)6用于模擬雷達(dá)照射信號(hào)；天線陣列及饋電系統(tǒng)7用于模擬彈目的視線角運(yùn)動(dòng)；仿真計(jì)算機(jī)8用于得到導(dǎo)彈的飛行彈道和目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)軌跡，形成各試驗(yàn)設(shè)備的控制參數(shù)。

顯然，本發(fā)明的上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說明本發(fā)明所作的舉例，而并非是對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式的限定，對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)，這里無法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉，凡是屬于本發(fā)明的技術(shù)方案所引伸出的顯而易見的變化或變動(dòng)仍處于本發(fā)明的保護(hù)范圍之列。