測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源，函數信號發(fā)生器的輸出信號送至功率CMOS開關驅動單元，所述功率VMOS開關驅動單元驅動VMOS功率晶體管，所述VOMS功率晶體管與大功率繞線可變電阻器和24V/10A開關電源依次連接組成功率輸出回路；數字雙蹤示波器的一個輸入通道與函數信號發(fā)生器的輸出端測試點相連接，另一個輸入通道與VMOS功率晶體管的漏極信號輸出端測試點相連接。該功率信號源用來測試工業(yè)控制通訊系統對不同頻率干擾信號敏感程度，分析判斷被測系統對何種性質的干擾信號敏感，針對性地制定預防干擾的技術措施，在一定條件下重現干擾引起的故障狀態(tài)，配合檢測和分析儀表對干擾進行定性或相對定量的分析，從而找到解決問題的方法。
【專利說明】測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種功率信號源，尤其涉及一種測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源。
【背景技術】
[0002]隨著工業(yè)生產自動化程度的提高，特別是各種調速系統廣泛應用，工業(yè)現場電磁環(huán)境越來越復雜，各種各樣的干擾信號通過各種途徑向外傳播，廣泛分布在工業(yè)現場的控制通訊系統極易因干擾而產生故障。
[0003]在生產實踐中，因電磁干擾引起的通訊故障非常多，目前沒有有效的手段判斷故障發(fā)生的原因，因此需要制造一個預先“可知”的干擾源，對被測控制通訊系統實施干擾，使之故障再現，從而為故障分析提供技術數據。
實用新型內容
[0004]本實用新型的目的在于提供一種簡單、實用的測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源。
[0005]為實現上述目的，本實用新型采取的技術方案是:
[0006]一種測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源，，函數信號發(fā)生器的輸出信號送至功率CMOS開關驅動單元，所述功率VMOS開關驅動單元驅動VMOS功率晶體管，所述VOMS功率晶體管與大功率繞線可變電阻器和24V/10A開關電源依次連接組成功率輸出回路；數字雙蹤示波器的一個輸入通道與函數信號發(fā)生器的輸出端測試點相連接，另一個輸入通道與VMOS功率晶體管的漏極信號輸出端測試點相連接。
[0007]所述功率VMOS開關驅動單元由TLP521光耦集成電路構成，VOMS功率晶體管由5只VMOS晶體管并聯組成。
[0008]采用本實用新型提供的測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源，可以用來測試工業(yè)控制通訊系統對不同頻率干擾信號敏感程度，通過該設備提供的測試信號，可用來分析判斷被測系統對何種性質的干擾信號敏感，從而可針對性地制定預防干擾的技術措施?？梢詫崿F常見工業(yè)環(huán)境控制系統干擾問題的仿真和分析，在一定條件下重現干擾引起的故障狀態(tài)，配合檢測和分析儀表對干擾進行定性或相對定量的分析，從而找到解決問題的方法。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型的結構示意圖。
[0010]圖中，1-函數信號發(fā)生器,2-功率CMOS開關驅動單元,3-VM0S功率晶體管,4-大功率繞線可變電阻器，5- 24V/10A開關電源，6-數字雙蹤示波器，7-函數信號發(fā)生器的輸出端測試點，8-VM0S功率晶體管的漏極信號輸出端測試點?！揪唧w實施方式】
[0011]下面結合具體實施例及其附圖，對本實用新型作進一步的詳細說明，但本實用新型的實施方式不限于此。
[0012]如圖1所示，本實用新型提供的測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源，函數信號發(fā)生器I的輸出信號送至功率CMOS開關驅動單元2，由功率VMOS開關驅動單元2驅動VMOS功率晶體管3，VOMS功率晶體管3與大功率繞線可變電阻器4和24V/10A開關電源5依次連接組成功率輸出回路，VMOS功率晶體管3的漏極D與大功率繞線可變電阻器4的連接端作為干擾信號輸出端注入被測系統。數字雙蹤示波器6的一個輸入通道與函數信號發(fā)生器的輸出端測試點7相連接，另一個輸入通道與VMOS功率晶體管的漏極信號輸出端測試點8相連接，用于監(jiān)測這兩點信號波形。
[0013]功率VMOS開關驅動單元2由TLP521光耦集成電路構成。VOMS功率晶體管3由5只IRF3710VM0S晶體管并聯組成，VMOS晶體管并聯，可以提高輸出功率，在滿足電壓、電流、工作頻率的情況下也可選用其它型號的VMOS晶體管。
[0014]函數信號發(fā)生器I的輸出頻率能夠達到1MHz，信號幅度可調并能達到2Vp_p的函數信號發(fā)生器。數字雙蹤示波器6采用帶寬IOMHz的通用雙蹤。
[0015]工業(yè)控制通訊系統往往對特定的干擾頻譜敏感，分析系統敏感頻率是排除干擾的重要依據。本實用新型可以產生頻率、幅度連續(xù)可調的特定功率信號對被測系統進行干擾，定量產生可控頻率和幅度的干擾信號，從而驗證目標系統故障發(fā)生規(guī)律，驗證抗干擾措施的可行性或效果。信號源輸出的干擾信號通過近距離輻射、無回路電容耦合或單端直接注入被測系統，調節(jié)信號源同時監(jiān)測系統狀態(tài)，配合其它儀器進行相關測試，得到相關的技術數據。
[0016]目前本實用新型在現場通訊故障分析中得到應用和驗證。2013年對于某煉鋼控制系統DeviceNet現場通訊總線的通訊故障進行了干擾分析，準確地確定了該系統的敏感頻率點，同時確定了信號強度不是主要影響因素，從而針對性地采取措施，有效解決問題，效果明顯。
[0017]以上所述的僅是本實用新型的較佳實施例，并不局限本實用新型。應當指出對于本領域的普通技術人員來說，在本實用新型所提供的技術啟示下，還可以做出其它等同變型和改進，均可以實現本實用新型的目的，都應視為本實用新型的保護范圍。
【權利要求】
1.一種測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源，其特征在于，函數信號發(fā)生器(O的輸出信號送至功率CMOS開關驅動單元(2)，所述功率VMOS開關驅動單元(2)驅動VMOS功率晶體管(3)，所述VOMS功率晶體管(3)與大功率繞線可變電阻器(4)和24V/10A開關電源(5)依次連接組成功率輸出回路；數字雙蹤示波器(6)的一個輸入通道與函數信號發(fā)生器的輸出端測試點(7)相連接，另一個輸入通道與VMOS功率晶體管的漏極信號輸出端測試點(8)相連接。
2.一種測試工控通訊系統抗干擾性能用功率信號源，其特征在于，所述功率VMOS開關驅動單元(2)由TLP521光耦集成電路構成，VOMS功率晶體管(3)由5只VMOS晶體管并聯組成。
【文檔編號】G05B23/02GK203554398SQ201320646386
【公開日】2014年4月16日 申請日期:2013年10月19日 優(yōu)先權日:2013年10月19日
【發(fā)明者】李令文, 張進忠, 陳蘭芳, 王波, 裴國兵, 胡煒, 周立群, 王磊, 李景利, 魏忠寶 申請人:甘肅酒鋼集團宏興鋼鐵股份有限公司