電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制【技術(shù)領(lǐng)域】，提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)。該方法及系統(tǒng)是在一次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)將待測(cè)內(nèi)核寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)的內(nèi)核寄存器進(jìn)行斷路故障檢測(cè)，以判斷相應(yīng)的內(nèi)核寄存器是否失效，從而能及時(shí)發(fā)現(xiàn)內(nèi)核寄存器的故障情況并對(duì)電機(jī)采取保護(hù)，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
【專利說明】電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著技術(shù)電子技術(shù)的進(jìn)步，在機(jī)電領(lǐng)域，普遍采用微電子控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)電機(jī)的控制及驅(qū)動(dòng)。圖1以三相電機(jī)控制系統(tǒng)為例，示出了現(xiàn)有采用磁場(chǎng)導(dǎo)向控制(FieldOriented Control, FOC)技術(shù)的電機(jī)控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)原理。
[0003]具體來說，現(xiàn)有的電機(jī)控制系統(tǒng)包括用于將直流輸入轉(zhuǎn)換成三相交流輸出的三相逆變器、以及用于輸出PWM信號(hào)以驅(qū)動(dòng)三相逆變器工作的微處理器。其中，位置和速度估算模塊估算電機(jī)的轉(zhuǎn)速ω ;速度PI調(diào)節(jié)模塊根據(jù)位置和速度估算模塊得到的偏差輸出T軸參考分量IS(Lreq ;ADC采樣模塊從三相逆變器的輸出采樣得到三相定子線圈電流，并經(jīng)A./D轉(zhuǎn)換和坐標(biāo)變換后，得到旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系中的直流分量Isd和Isq ;將T軸參考分量IS(LM1和M軸參考分量Isd—_分別與直流分量Isq和13(1進(jìn)行比較，得到的偏差分別經(jīng)相應(yīng)的轉(zhuǎn)矩電流PI調(diào)節(jié)模塊和勵(lì)磁電流PI調(diào)節(jié)模塊的調(diào)節(jié)，得到旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系的相電壓分量Uq和Ud，之后再通過坐標(biāo)變換，得到α-β直角坐標(biāo)系的定子相電壓矢量的分量仏和化；脈寬調(diào)制模塊根據(jù)兩個(gè)分量Ua和化計(jì)算實(shí)際輸出的PWM信號(hào)的占空比，生成并輸出具有相應(yīng)占空比的PWM信號(hào)，同時(shí)，ADC米樣模塊根據(jù)脈寬調(diào)制模塊的輸出，在PWM信號(hào)的下一周期進(jìn)行ADC米樣。
[0004]現(xiàn)有的微處理器的硬件架構(gòu)均包括實(shí)現(xiàn)運(yùn)算及控制等功能的處理器內(nèi)核、總線接口、調(diào)試接口等模塊，內(nèi)核寄存器是處理器內(nèi)核的組成部分，其完好性直接影響處理器內(nèi)核的邏輯處理及控制功能，進(jìn)而對(duì)電機(jī)運(yùn)行的可靠性產(chǎn)生影響，若某些處理器內(nèi)核中的某些關(guān)鍵內(nèi)核寄存器出現(xiàn)斷路故障，則會(huì)造成電機(jī)運(yùn)行異常。而現(xiàn)有技術(shù)并未提供內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)方法，無法及時(shí)發(fā)現(xiàn)內(nèi)核寄存器的故障情況并進(jìn)行保護(hù)，使得現(xiàn)有電機(jī)控制系統(tǒng)的運(yùn)行存在隱患，可靠 性差，甚至造成電機(jī)的損毀。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)無法及時(shí)發(fā)現(xiàn)電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器出現(xiàn)的故障情況，使得電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行可靠性差的問題。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，所述方法包括以下步驟:
[0007]在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份,并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容。
[0008]本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于,還提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:[0009]故障檢測(cè)模塊，用于在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容。
[0010]本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于，還提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)的微處理器，包括內(nèi)核寄存器，所述微處理器還包括連接所述內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)系統(tǒng)，所述故障檢測(cè)系統(tǒng)是如上所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)。
[0011]本發(fā)明實(shí)施例提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)是在一次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)將待測(cè)內(nèi)核寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)的內(nèi)核寄存器進(jìn)行斷路故障檢測(cè)，以判斷相應(yīng)的內(nèi)核寄存器是否失效，從而能及時(shí)發(fā)現(xiàn)內(nèi)核寄存器的故障情況并對(duì)電機(jī)采取保護(hù)，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是現(xiàn)有技術(shù)提供的電機(jī)控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)原理圖；
[0013]圖2是本發(fā)明實(shí)施例一的對(duì)各類待測(cè)內(nèi)核寄存器進(jìn)行故障檢測(cè)的詳細(xì)流程圖；
[0014]圖3是本發(fā)明實(shí)施例一的對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器進(jìn)行故障檢測(cè)的詳細(xì)流程圖；
[0015]圖4是本發(fā)明實(shí)施例一的對(duì)待測(cè)堆棧寄存器進(jìn)行故障檢測(cè)的詳細(xì)流程圖；
[0016]圖5是本發(fā)明實(shí)施例一的對(duì)待測(cè)專用寄存器進(jìn)行故障檢測(cè)的詳細(xì)流程圖；
[0017]圖6是本發(fā)明實(shí)施例二提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法的流程圖；
[0018]圖7是本發(fā)明實(shí)施例三提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)中，故障檢測(cè)模塊的結(jié)構(gòu)圖；
[0019]圖8是圖7中第一檢測(cè)子模塊的結(jié)構(gòu)圖；
[0020]圖9是圖7中第二檢測(cè)子模塊的結(jié)構(gòu)圖；
[0021]圖10是圖7中第三檢測(cè)子模塊的結(jié)構(gòu)圖；
[0022]圖11是本發(fā)明實(shí)施例四提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0024]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)。該方法及系統(tǒng)是在一次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)將待測(cè)的每一類內(nèi)核寄存器進(jìn)行備份后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)的內(nèi)核寄存器進(jìn)行斷路故障檢測(cè)，以判斷相應(yīng)的內(nèi)核寄存器是否失效。以下將結(jié)合實(shí)施例詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)方式:
[0025]實(shí)施例一
[0026]本發(fā)明實(shí)施例一提出了 一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，包括:[0027]步驟SO:在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容。
[0028]本發(fā)明實(shí)施例一中，微處理器每產(chǎn)生一個(gè)周期的PWM信號(hào)波形觸發(fā)一次PWM中斷，PWM中斷的時(shí)間是指PWM信號(hào)的一個(gè)周期時(shí)長(zhǎng)(即PWM信號(hào)的頻率的倒數(shù))。
[0029]本發(fā)明實(shí)施例一中，存儲(chǔ)器測(cè)試算法優(yōu)選采用棋盤格測(cè)試算法，其基本執(zhí)行方式是:先運(yùn)行0-1棋盤格向量，即向第一存儲(chǔ)單元寫1，第二存儲(chǔ)單元寫0，第三存儲(chǔ)單元再寫I，依此類推，直到最后一存儲(chǔ)單元；之后再讀取并驗(yàn)證所有存儲(chǔ)單元；之后運(yùn)行1-0棋盤格向量，即向所有存儲(chǔ)單元寫入與運(yùn)行運(yùn)行0-1棋盤格時(shí)完全相反的數(shù)據(jù)；之后再讀取并驗(yàn)證所有存儲(chǔ)單元。
[0030]本發(fā)明實(shí)施例一中，待測(cè)內(nèi)核寄存器的類型可根據(jù)不同型號(hào)的微處理器所采用的處理器內(nèi)核而確定。例如，對(duì)于TMS320F28X系列的微處理器，其處理器內(nèi)核中的寄存器均為32bit寄存器，待測(cè)內(nèi)核寄存器可包括如下三類:第一類是數(shù)據(jù)寄存器，數(shù)據(jù)寄存器又可包括累加寄存器(即:ACC寄存器)、乘積寄存器(即:P寄存器)、輔助寄存器(即:XAR0-XAR7寄存器)、被乘數(shù)寄存器(即:XT寄存器)；第二類是堆棧寄存器(即:SP寄存器)；第三類是專用寄存器，專用寄存器又可包括狀態(tài)寄存器(即=STO-STl寄存器)、數(shù)據(jù)頁寄存器(即:DP寄存器)、中斷使能寄存器(即:IER寄存器)、中斷標(biāo)志寄存器(S卩:IFR寄存器)、調(diào)試中斷使能寄存器(S卩=DBGIER寄存器)。
[0031]本發(fā)明實(shí)施例一中，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的備份操作既可以在本類待測(cè)內(nèi)核寄存器進(jìn)行檢測(cè)之前進(jìn)行，也可在全部待測(cè)內(nèi)核寄存器進(jìn)行檢測(cè)之前進(jìn)行；同樣地，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的恢復(fù)操作既可以在本類待測(cè)內(nèi)核寄存器檢測(cè)完畢后立即進(jìn)行，也可在全部待測(cè)內(nèi)核寄存器檢測(cè)完畢后進(jìn)行。圖2以一種實(shí)現(xiàn)方式為例，示出了步驟SO的詳細(xì)流程，可包括以下步驟:
[0032]SOO:在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，關(guān)閉電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的全局中斷，以啟動(dòng)對(duì)待測(cè)內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)。
[0033]本發(fā)明實(shí)施例一中，關(guān)閉全局中斷即是說，在待測(cè)存儲(chǔ)單元的故障檢測(cè)過程中，不響應(yīng)其它任何中斷，以保證待測(cè)存儲(chǔ)單元的故障檢測(cè)過程不被可能的中斷打斷。
[0034]SOl:對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份。
[0035]S02:利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)。
[0036]進(jìn)一步地，當(dāng)存儲(chǔ)器測(cè)試算法采用棋盤格測(cè)試算法時(shí)，如圖3所示，步驟S02可包括以下步驟:
[0037]S0201:向待測(cè)累加寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容。
[0038]S0202:判斷待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S02023，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0039]S0203:向待測(cè)累加寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容。
[0040]S0204:判斷待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S0205，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0041]S0205:向待測(cè)乘積寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容。
[0042]S0206:判斷待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S0207，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0043]S0207:向待測(cè)乘積寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容。
[0044]S0208:判斷待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S0209，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0045]S0209:向待測(cè)的各輔助寄存器分別寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的各輔助寄存器的內(nèi)容。
[0046]S0210:判斷待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S0211，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0047]S0211:向待測(cè)的各輔助寄存器分別寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的各輔助寄存器的內(nèi)容。
[0048]S0212:判斷待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S0213，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0049]S0213:向待測(cè)被乘數(shù)寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容。
[0050]S0214:判斷待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S0215，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0051]S0215:向待測(cè)被乘數(shù)寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容。
[0052]S0216:判斷待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S03，否則執(zhí)行步驟S0217。
[0053]S0217:判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)，即判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器存在斷路。
[0054]本發(fā)明實(shí)施例一中，當(dāng)各數(shù)據(jù)寄存器為32bit寄存器時(shí)，第一數(shù)據(jù)為OxAAAAAAAA，第二數(shù)據(jù)為0x55555555，或者第一數(shù)據(jù)為0x55555555，第二數(shù)據(jù)為OxAAAAAAAA。
[0055]S03:待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的檢測(cè)通過后，對(duì)待測(cè)堆棧寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份。
[0056]S04:利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)待測(cè)堆棧寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)。
[0057]進(jìn)一步地，當(dāng)存儲(chǔ)器測(cè)試算法采用棋盤格測(cè)試算法時(shí)，如圖4所示，步驟S04可包括以下步驟:
[0058]S041:向待測(cè)堆棧寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容。
[0059]S042:判斷待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S043，否則執(zhí)行步驟S045。
[0060]S043:向待測(cè)堆棧寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容。
[0061]S044:判斷待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S05，否則執(zhí)行步驟S045。
[0062]S045:判定堆棧寄存器未通過檢測(cè)，即判定相應(yīng)的堆棧寄存器存在斷路。
[0063]同樣地，當(dāng)堆棧寄存器為32bit寄存器時(shí)，第一數(shù)據(jù)為OxAAAAAAAA，第二數(shù)據(jù)為0x55555555，或者第一數(shù)據(jù)為 0x55555555，第二數(shù)據(jù)為 OxAAAAAAAA。
[0064]S05:待測(cè)堆棧寄存器的檢測(cè)完成后，恢復(fù)堆棧寄存器的內(nèi)容。
[0065]S06:對(duì)待測(cè)專用寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份。
[0066]S07:利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)待測(cè)專用寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)。
[0067]進(jìn)一步地，當(dāng)存儲(chǔ)器測(cè)試算法采用棋盤格測(cè)試算法時(shí)，如圖5所示，步驟S07可包括以下步驟:[0068]S071:向待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器分別寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器的內(nèi)容。
[0069]S072:判斷讀取的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S073，否則執(zhí)行步驟S075。
[0070]S073:向待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器分別寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器的內(nèi)容。
[0071]S074:判斷讀取的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則執(zhí)行步驟S08，否則執(zhí)行步驟S075。
[0072]S075:判定相應(yīng)的專用寄存器未通過檢測(cè)，即判定相應(yīng)的專用寄存器存在斷路。
[0073]S08:待測(cè)專用寄存器的檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)的專用寄存器的內(nèi)容。
[0074]S09:恢復(fù)相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器的內(nèi)容。
[0075]本發(fā)明實(shí)施例一提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法是在一次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)將待測(cè)內(nèi)核寄存器中的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)的內(nèi)核寄存器進(jìn)行斷路故障檢測(cè)，以判斷相應(yīng)的內(nèi)核寄存器是否失效，從而能及時(shí)發(fā)現(xiàn)內(nèi)核寄存器的故障情況并對(duì)電機(jī)采取保護(hù)，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。再有，由于存儲(chǔ)器測(cè)試算法為破壞性測(cè)試，會(huì)將待測(cè)內(nèi)核寄存器中原本的存儲(chǔ)內(nèi)容覆蓋掉，因此，在故障檢測(cè)開始后，首先對(duì)待測(cè)的內(nèi)核寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份，并在故障檢測(cè)完成后，將備份內(nèi)容恢復(fù)到相應(yīng)的內(nèi)核寄存器，從而不會(huì)造成對(duì)內(nèi)核寄存器的影響，檢測(cè)過程安全而可靠。
[0076]實(shí)施例二
[0077]本發(fā)明實(shí)施例二提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，如圖6所示。與實(shí)施例一不同，實(shí)施例二中,在步驟SO之前還包括:
[0078]步驟S1:觸發(fā)本次P麗中斷，并根據(jù)本次PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計(jì)算ADC采樣模塊在下次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)的采樣時(shí)刻，即根據(jù)本次PWM中斷首先執(zhí)行算法程序，例如執(zhí)行FOC算法。
[0079]同時(shí)與實(shí)施例一不同，實(shí)施例二中，在步驟SO之后還包括:
[0080]步驟S2:在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，打開微處理器的全局中斷，在上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)計(jì)算得到的采樣時(shí)刻到達(dá)時(shí)，觸發(fā)ADC中斷，以使得ADC采樣模塊對(duì)電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
[0081]本發(fā)明實(shí)施例二中，ADC采樣模塊對(duì)電機(jī)定子線圈電流的采樣時(shí)刻發(fā)生在本次PWM中斷的最后四分之一周期內(nèi)。
[0082]與實(shí)施例一不同，本發(fā)明實(shí)施例二提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法在一次PWM中斷開始后，首先執(zhí)行算法程序，之后執(zhí)行如上實(shí)施例一所述的內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)，之后在打開全局中斷后ADC采樣模塊執(zhí)行對(duì)電機(jī)定子線圈電流的采樣和轉(zhuǎn)換，從而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行。此時(shí)，要保證算法程序的執(zhí)行時(shí)間與ADC采樣模塊的正常電流采樣之間的時(shí)間間隔大于內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)的時(shí)間，例如，當(dāng)PWM中斷的頻率為8KHz時(shí)，每一 PWM中斷的時(shí)間內(nèi)對(duì)內(nèi)核寄存器進(jìn)行故障檢測(cè)，且故障檢測(cè)的時(shí)間可為 14 μ S。
[0083]實(shí)施例三[0084]本發(fā)明實(shí)施例三提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)，包括:故障檢測(cè)模塊，用于在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容。
[0085]進(jìn)一步地，如圖7所示，故障檢測(cè)模塊可包括:檢測(cè)啟動(dòng)子模塊11，用于在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，關(guān)閉電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的全局中斷，以啟動(dòng)對(duì)待測(cè)內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)；第一備份子模塊12，用于在檢測(cè)啟動(dòng)子模塊11執(zhí)行完畢后，對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份；第一檢測(cè)子模塊13，用于在第一備份子模塊12執(zhí)行完畢后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)；第二備份子模塊14，用于在第一檢測(cè)子模塊13執(zhí)行完畢后，若待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的檢測(cè)通過，則對(duì)待測(cè)堆棧寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份；第二檢測(cè)子模塊15，用于在第二備份子模塊14執(zhí)行完畢后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)待測(cè)堆棧寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)；第一恢復(fù)子模塊16，用于在第二檢測(cè)子模塊15執(zhí)行完畢后，若待測(cè)堆棧寄存器的檢測(cè)完成，則恢復(fù)堆棧寄存器的內(nèi)容；第三備份子模塊17，用于在第一恢復(fù)子模塊16執(zhí)行完畢后，對(duì)待測(cè)專用寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份；第三檢測(cè)子模塊18，用于在第三備份子模塊17執(zhí)行完畢后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)待測(cè)專用寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)；第二恢復(fù)子模塊19，用于在第三檢測(cè)子模塊18執(zhí)行完畢后，若待測(cè)專用寄存器的檢測(cè)完成，則恢復(fù)相應(yīng)的專用寄存器的內(nèi)容；第三恢復(fù)子模塊20，用于在第二恢復(fù)子模塊19執(zhí)行完畢后,恢復(fù)相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器的內(nèi)容。
[0086]更進(jìn)一步地，如圖8所示，第一檢測(cè)子模塊13可包括:第一讀寫子模塊1301，用于向待測(cè)累加寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容；第一判斷子模塊1302，用于判斷第一讀寫子模塊1301讀取的待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù);第二讀寫子模塊1303，用于當(dāng)?shù)谝慌袛嘧幽K1302判斷第一讀寫子模塊1301讀取的待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容為第一數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)累加寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容；第二判斷子模塊1304，用于判斷第二讀寫子模塊1303讀取的待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)；第三讀寫子模塊1305，用于當(dāng)?shù)诙袛嘧幽K1304判斷第二讀寫子模塊1303讀取的待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容為第二數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)乘積寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容；第三判斷子模塊1306，用于判斷第三讀寫子模塊1305讀取的待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)；第四讀寫子模塊1307，用于當(dāng)?shù)谌袛嘧幽K1306判斷第三讀寫子模塊1305讀取的待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容為第一數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)乘積寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容；第四判斷子模塊1308，用于判斷第四讀寫子模塊1307讀取的待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)；第五讀寫子模塊1309，用于當(dāng)?shù)谒呐袛嘧幽K1308判斷第四讀寫子模塊1307讀取的待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容為第二數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)的各輔助寄存器分別寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的各輔助寄存器的內(nèi)容；第五判斷子模塊1310，用于判斷第五讀寫子模塊1309讀取的待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)；第六讀寫子模塊1311，用于當(dāng)?shù)谖迮袛嘧幽K1310判斷第五讀寫子模塊1309讀取的待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容為第一數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)的各輔助寄存器分別寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的各輔助寄存器的內(nèi)容；第六判斷子模塊1312，用于判斷第六讀寫子模塊1311讀取的待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)；第七讀寫子模塊1313，用于當(dāng)?shù)诹袛嘧幽K1312判斷第六讀寫子模塊1311讀取的待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容為第二數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)被乘數(shù)寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容；第七判斷子模塊1314，用于判斷第七讀寫子模塊1313讀取的待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)；第八讀寫子模塊1315，用于當(dāng)?shù)谄吲袛嘧幽K1314判斷第七讀寫子模塊1313讀取的待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容為第一數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)被乘數(shù)寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容；第八判斷子模塊1316，用于判斷第八讀寫子模塊1315讀取的待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的檢測(cè)通過，由第二備份子模塊14繼續(xù)執(zhí)行；第一判定子模塊1317，用于當(dāng)?shù)谝慌袛嘧幽K1302判斷第一讀寫子模塊1301讀取的待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容不為第一數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)诙袛嘧幽K1304判斷第二讀寫子模塊1303讀取的待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容不為第二數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)谌袛嘧幽K1306判斷第三讀寫子模塊1305讀取的待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容不為第一數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)谒呐袛嘧幽K1308判斷第四讀寫子模塊1307讀取的待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容不為第二數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)谖迮袛嘧幽K1310判斷第五讀寫子模塊1309讀取的待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容不為第一數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)诹袛嘧幽K1312判斷第六讀寫子模塊1311讀取的待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容不為第二數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)谄吲袛嘧幽K1314判斷第七讀寫子模塊1313讀取的待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容不為第一數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)诎伺袛嘧幽K1316判斷第八讀寫子模塊1315讀取的待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容不為第二數(shù)據(jù)時(shí)，判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)，即判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器存在斷路。
[0087]更進(jìn)一步地，如圖9所示，第二檢測(cè)子模塊15可包括:第九讀寫子模塊151，用于向待測(cè)堆棧寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容；第九判斷子模塊152，用于判斷第九讀寫子模塊151讀取的待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)；第十讀寫子模塊153，用于當(dāng)?shù)诰排袛嘧幽K152判斷第九讀寫子模塊151讀取的待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容為第一數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)堆棧寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容；第十判斷子模塊154，用于判斷第十讀寫子模塊153讀取的待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則待測(cè)堆棧寄存器的檢測(cè)通過，由第一恢復(fù)子模塊16繼續(xù)執(zhí)行；第二判定子模塊155，用于當(dāng)?shù)诰排袛嘧幽K152判斷第九讀寫子模塊151讀取的待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容不為第一數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)谑袛嘧幽K154判斷第十讀寫子模塊153讀取的待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容不為第二數(shù)據(jù)時(shí)，判定堆棧寄存器未通過檢測(cè)，即判定相應(yīng)的堆棧寄存器存在斷路。
[0088]更進(jìn)一步地，如圖10所示，第三檢測(cè)子模塊18可包括:第十一讀寫子模塊181，用于向待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器分別寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器的內(nèi)容；第十一判斷子模塊182，用于判斷第十一讀寫子模塊181讀取的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)；第十二讀寫子模塊183，用于當(dāng)?shù)谑慌袛嘧幽K182判斷第十一讀寫子模塊181讀取的內(nèi)容為第一數(shù)據(jù)時(shí)，向待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器分別寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器的內(nèi)容；第十二判斷子模塊184，用于判斷第十二讀寫子模塊183讀取的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則待測(cè)專用寄存器的檢測(cè)通過，由第二恢復(fù)子模塊19繼續(xù)執(zhí)行；第三判定子模塊185，用于當(dāng)?shù)谑慌袛嘧幽K182判斷第十一讀寫子模塊181讀取的內(nèi)容不為第一數(shù)據(jù)時(shí)，或當(dāng)?shù)谑袛嘧幽K184判斷第十二讀寫子模塊183讀取的內(nèi)容不為第二數(shù)據(jù)時(shí)，判定相應(yīng)的專用寄存器未通過檢測(cè)，即判定相應(yīng)的專用寄存器存在斷路。
[0089]本發(fā)明實(shí)施例三提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)是在一次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)將待測(cè)內(nèi)核寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)的內(nèi)核寄存器進(jìn)行斷路故障檢測(cè)，以判斷相應(yīng)的內(nèi)核寄存器是否失效，從而能及時(shí)發(fā)現(xiàn)內(nèi)核寄存器的故障情況并對(duì)電機(jī)采取保護(hù)，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。再有，由于存儲(chǔ)器測(cè)試算法為破壞性測(cè)試，會(huì)將待測(cè)內(nèi)核寄存器中原本的存儲(chǔ)內(nèi)容覆蓋掉，因此，在故障檢測(cè)開始后，首先對(duì)待測(cè)的內(nèi)核寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份，并在故障檢測(cè)通過后，將備份內(nèi)容恢復(fù)到相應(yīng)的內(nèi)核寄存器，從而不會(huì)造成對(duì)內(nèi)核寄存器的影響，檢測(cè)過程安全而可靠。
[0090]實(shí)施例四
[0091]本發(fā)明實(shí)施例四提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)，如圖11所示，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例四相關(guān)的部分。
[0092]與實(shí)施例三不同，本發(fā)明實(shí)施例四提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)在故障檢測(cè)模塊I的基礎(chǔ)上，還包括:計(jì)算模塊2，用于觸發(fā)本次PWM中斷，在故障檢測(cè)模塊I執(zhí)行前，根據(jù)本次PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計(jì)算ADC采樣模塊在下次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)的采樣時(shí)刻，即根據(jù)本次PWM中斷首先執(zhí)行算法程序，例如執(zhí)行FOC算法；采樣觸發(fā)模塊3，用于在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，在故障檢測(cè)模塊I執(zhí)行完畢后，打開微處理器的全局中斷，在上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)計(jì)算得到的采樣時(shí)刻到達(dá)時(shí)，觸發(fā)ADC中斷，以使得ADC采樣模塊對(duì)電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
[0093]與實(shí)施例三不同，本發(fā)明實(shí)施例四提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)在一次PWM中斷開始后，首先執(zhí)行算法程序，之后執(zhí)行如上實(shí)施例一所述的內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)，之后在打開全局中斷后ADC采樣模塊執(zhí)行對(duì)電機(jī)定子線圈電流的采樣和轉(zhuǎn)換，從而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行。
[0094]實(shí)施例五
[0095]本發(fā)明實(shí)施例五提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)的微處理器，包括內(nèi)核寄存器，以及連接內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)系統(tǒng)。該故障檢測(cè)系統(tǒng)是如上實(shí)施例三或?qū)嵤├乃龅碾姍C(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)，在此不贅述。
[0096]綜上所述，本發(fā)明提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)是在一次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)將待測(cè)內(nèi)核寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份后，利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)每一類待測(cè)的內(nèi)核寄存器進(jìn)行斷路故障檢測(cè)，以判斷相應(yīng)的內(nèi)核寄存器是否失效，從而能及時(shí)發(fā)現(xiàn)內(nèi)核寄存器的故障情況并對(duì)電機(jī)采取保護(hù)，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。再有，由于存儲(chǔ)器測(cè)試算法為破壞性測(cè)試，會(huì)將待測(cè)內(nèi)核寄存器中原本的存儲(chǔ)內(nèi)容覆蓋掉，因此，在故障檢測(cè)開始后，首先對(duì)待測(cè)的內(nèi)核寄存器的存儲(chǔ)內(nèi)容進(jìn)行備份，并在故障檢測(cè)通過后，將備份內(nèi)容恢復(fù)到相應(yīng)的內(nèi)核寄存器，從而不會(huì)造成對(duì)內(nèi)核寄存器的影響，檢測(cè)過程安全而可靠。另外，在一次PWM中斷開始后，首先執(zhí)行算法程序，之后執(zhí)行內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)，之后在打開全局中斷后ADC采樣模塊執(zhí)行對(duì)電機(jī)定子線圈電流的采樣和轉(zhuǎn)換，從而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行。
[0097]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來控制相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以在存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)，如ROM/RAM、磁盤、光盤等。
[0098] 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟: 在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容。
2.如權(quán)利要求1所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述待測(cè)內(nèi)核寄存器包括待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器、待測(cè)堆棧寄存器和待測(cè)專用寄存器； 所述在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容的步驟進(jìn)一步包括以下步驟: 在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，關(guān)閉電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的全局中斷，以啟動(dòng)對(duì)所述待測(cè)內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)； 對(duì)所述待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份； 利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)； 所述待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的檢測(cè)通過后，對(duì)所述待測(cè)堆棧寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份； 利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述待測(cè)堆棧寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)； 所述待測(cè)堆棧寄存器的檢測(cè)完成后，恢復(fù)堆棧寄存器的內(nèi)容； 對(duì)所述待測(cè)專用寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份； 利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述待測(cè)專用寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)； 所述待測(cè)專用寄存器的檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)的專用寄存器的內(nèi)容； 恢復(fù)相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器的內(nèi)容。
3.如權(quán)利要求2所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器包括待測(cè)累加寄存器、待測(cè)乘積寄存器、待測(cè)輔助寄存器、待測(cè)被乘數(shù)寄存器； 所述利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)的步驟進(jìn)一步包括以下步驟: 向所述待測(cè)累加寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容。 判斷所述待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是向所述待測(cè)累加寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)累加寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)乘積寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)乘積寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)乘積寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)的各輔助寄存器分別寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)的各輔助寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)的各輔助寄存器分別寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)的各輔助寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)的輔助寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)被乘數(shù)寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)被乘數(shù)寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)被乘數(shù)寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則待測(cè)數(shù)據(jù)寄存器的檢測(cè)通過，否則判定相應(yīng)的數(shù)據(jù)寄存器未通過檢測(cè)。
4.如權(quán)利要求2所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述待測(cè)堆棧寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)的步驟進(jìn)一步包括以下步驟: 向所述待測(cè)堆棧寄存器寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容； 判斷所述待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)堆棧寄存器寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容，否則判定所述堆棧寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的所述待測(cè)堆棧寄存器的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則所述待測(cè)堆棧寄存器的檢測(cè)通過，否則判定所述堆棧寄存器未通過檢測(cè)。
5.如權(quán)利要求2所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述待測(cè)專用寄存器包括待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器、調(diào)試中斷使能寄存器；` 所述利用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述待測(cè)專用寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)的步驟進(jìn)一步包括以下步驟: 向所述待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器分別寫入第一數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器的內(nèi)容； 判斷讀取的內(nèi)容是否為第一數(shù)據(jù)，是則向所述待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器分別寫入第二數(shù)據(jù)后，讀取所述待測(cè)的狀態(tài)寄存器、數(shù)據(jù)頁寄存器、中斷使能寄存器、中斷標(biāo)志寄存器和調(diào)試中斷使能寄存器的內(nèi)容，否則判定相應(yīng)的專用寄存器未通過檢測(cè)； 判斷讀取的內(nèi)容是否為第二數(shù)據(jù)，是則所述待測(cè)專用寄存器的檢測(cè)通過，否則判定相應(yīng)的專用寄存器未通過檢測(cè)。
6.如權(quán)利要求3至5任一項(xiàng)所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述第一數(shù)據(jù)為OxAAAAAAAA，所述第二數(shù)據(jù)為0x55555555 ;或者所述第一數(shù)據(jù)為0x55555555，所述第二數(shù)據(jù)為OxAAAAAAAA。
7.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)方法，其特征在于，在所述在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容的步驟的步驟之前，所述方法還包括以下步驟:觸發(fā)本次PWM中斷，并根據(jù)所述本次PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計(jì)算所述ADC采樣模塊在下次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)的采樣時(shí)刻； 在所述在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容的步驟的步驟之后，所述方法還包括以下步驟:在所述本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，打開微處理器的全局中斷，在所述上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)計(jì)算得到的采樣時(shí)刻到達(dá)時(shí)，觸發(fā)ADC中斷，以使得所述ADC采樣模塊對(duì)電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
8.一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 故障檢測(cè)模塊，用于在本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，對(duì)每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器中的內(nèi)容進(jìn)行備份，并采用存儲(chǔ)器測(cè)試算法對(duì)所述每一類待測(cè)內(nèi)核寄存器的斷路故障進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)完成后，恢復(fù)相應(yīng)類的內(nèi)核寄存器的內(nèi)容。
9.如權(quán)利要求8所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括: 計(jì)算模塊，用于觸發(fā)本 次PWM中斷，在所述故障檢測(cè)模塊執(zhí)行前，根據(jù)所述本次PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計(jì)算所述ADC采樣模塊在下次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)的采樣時(shí)刻； 采樣觸發(fā)模塊，用于在所述本次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)，在所述故障檢測(cè)模塊執(zhí)行完畢后，打開微處理器的全局中斷，在所述上次PWM中斷的時(shí)間內(nèi)計(jì)算得到的采樣時(shí)刻到達(dá)時(shí)，觸發(fā)ADC中斷，以使得所述ADC采樣模塊對(duì)電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
10.一種電機(jī)控制系統(tǒng)的微處理器，包括內(nèi)核寄存器，其特征在于，所述微處理器還包括連接所述內(nèi)核寄存器的故障檢測(cè)系統(tǒng)，所述故障檢測(cè)系統(tǒng)是如權(quán)利要求8或9所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測(cè)系統(tǒng)。
【文檔編號(hào)】G05B23/02GK103744413SQ201310586787
【公開日】2014年4月23日 申請(qǐng)日期:2013年11月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月19日
【發(fā)明者】張倩, 金萬兵, 柯文靜 申請(qǐng)人:廣東威靈電機(jī)制造有限公司