一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于高壓開關(guān)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著自動(dòng)化設(shè)備的推廣應(yīng)用，目前市場(chǎng)上已經(jīng)出現(xiàn)了可以對(duì)真空滅弧室的自閉力、反力、回路電阻進(jìn)行測(cè)試的自動(dòng)綜合測(cè)試設(shè)備。為了實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品測(cè)試過程的自動(dòng)準(zhǔn)確定位，該測(cè)試設(shè)備上安裝有光控開關(guān)，待測(cè)產(chǎn)品需安裝專用過渡連接頭，然后放置在測(cè)試臺(tái)上進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)光控開關(guān)檢測(cè)到連接頭后，開始確定產(chǎn)品位置并自動(dòng)測(cè)試真空滅弧室產(chǎn)品的自閉力、反力和回路電阻。
[0003]自閉力、反力是抽樣測(cè)試，測(cè)試時(shí)需要連接頭。而回路電阻為100%測(cè)試，回路電阻測(cè)試只需在產(chǎn)品上施加向上壓力，然后測(cè)試導(dǎo)電性能，測(cè)試前后每只產(chǎn)品均需安裝和拆卸連接頭，這樣不但使得測(cè)試效率低下，而且給操作人員帶來一定的勞動(dòng)強(qiáng)度和無效動(dòng)作。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具，減少了操作人員無效的安裝和拆卸連接頭動(dòng)作、降低操作人員勞動(dòng)強(qiáng)度，同時(shí)減少了在裝卸連接頭過程中對(duì)滅弧室動(dòng)端面造成損傷的可能性。
[0005]本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具，包括下壓組件和支撐組件，下壓組件和支撐組件之間通過彈性組件相連。
[0006]本實(shí)用新型的特點(diǎn)還在于，
[0007]支撐組件具有上下貫通的通孔，下壓組件的下端面設(shè)置有與通孔形狀相適應(yīng)的凸柱。
[0008]彈性組件為輔助彈簧，輔助彈簧繞設(shè)于凸柱上。
[0009]下壓組件下端面的凸柱周圍和支撐組件上端面的通孔周圍設(shè)置有用于放置壓縮后的輔助彈簧的凹槽。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具在回路電阻測(cè)試過程中減少了操作人員無效的安裝和拆卸連接頭動(dòng)作，降低操作人員勞動(dòng)強(qiáng)度，同時(shí)減少了原有的在裝卸連接頭過程中對(duì)滅弧室動(dòng)端面造成損傷的可能性，進(jìn)而提升了真空滅弧室回路電阻測(cè)試的效率。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖中，1.下壓組件，2.支撐組件，3.彈性組件，4.凹槽，11.凸柱，21.通孔。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0014]本實(shí)用新型提供的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具的結(jié)構(gòu)如圖1所示，包括下壓組件I和支撐組件2，下壓組件I和支撐組件2之間通過彈性組件3相連。
[0015]支撐組件2具有上下貫通的通孔21，下壓組件I的下端面設(shè)置有與通孔21形狀相適應(yīng)的凸柱11。
[0016]彈性組件3為輔助彈簧，輔助彈簧繞設(shè)于凸柱11上。
[0017]下壓組件I下端面的凸柱11周圍和支撐組件2上端面的通孔21周圍設(shè)置有用于放置壓縮后的輔助彈簧的凹槽4。
[0018]使用時(shí)，待測(cè)真空滅弧室接觸夾具下壓組件I，隨著系統(tǒng)運(yùn)行施力機(jī)構(gòu)上移，在產(chǎn)品未到達(dá)檢測(cè)位置時(shí)，由于支撐組件2的局部掏空使得光控開關(guān)檢測(cè)光線順暢通過，隨著夾具的不斷升高，下壓組件I的中心軸位置逐步下移，當(dāng)下壓組件I的下端面和支撐組件2的上端面貼合，輔助的輔助彈簧全部壓縮至凹槽4內(nèi)時(shí)，最終到達(dá)光控開關(guān)光線的控制范圍，光控開關(guān)在待測(cè)真空滅弧室到達(dá)測(cè)試位置時(shí)給測(cè)試系統(tǒng)信號(hào)，系統(tǒng)開始進(jìn)行回路電阻測(cè)試；測(cè)試結(jié)束后，施力機(jī)構(gòu)下移，下壓組件I的下端面和支撐組件2的上端面依靠輔助彈簧的彈力逐漸分開，直至復(fù)原至初始位置，然后準(zhǔn)備進(jìn)行測(cè)試下一只產(chǎn)品。這樣就通過本實(shí)用新型的夾具將測(cè)試回路電阻時(shí)在產(chǎn)品上裝卸連接頭的重復(fù)性、無效勞動(dòng)省掉，大幅提升了測(cè)試效率。
[0019]本實(shí)用新型的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具在初始狀態(tài)下，輔助彈簧將下壓組件I抬起，使其中心部位離開光控開關(guān)的光線檢測(cè)部位，由于支撐組件2為中空設(shè)計(jì)，初始狀態(tài)下光控開關(guān)的光線可以順利通過夾具，故系統(tǒng)此時(shí)會(huì)認(rèn)為沒有上升到位，可迅速上升。放置的真空滅弧室動(dòng)端接觸到下壓組件I時(shí)，在光控開光光源未被遮擋時(shí)系統(tǒng)會(huì)一直快速上升，當(dāng)真空滅弧室將下壓組件I的凸柱11下壓至遮擋光控開關(guān)光線時(shí)，光控開關(guān)給系統(tǒng)發(fā)出到位信號(hào)，系統(tǒng)會(huì)放慢施力機(jī)構(gòu)上升速度，緩慢施加壓力到標(biāo)準(zhǔn)要求值，然后開始測(cè)試，測(cè)試結(jié)束后施力機(jī)構(gòu)下移，本實(shí)用新型的夾具也會(huì)隨之逐步恢復(fù)到初始狀態(tài)，輔助彈簧將下壓組件I頂起，準(zhǔn)進(jìn)行下一只真空滅弧室回路電阻測(cè)試。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具，其特征在于，包括下壓組件(I)和支撐組件(2)，所述下壓組件(I)和支撐組件(2)之間通過彈性組件(3)相連。2.如權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具，其特征在于，所述支撐組件(2)具有上下貫通的通孔(21)，所述下壓組件(I)的下端面設(shè)置有與所述通孔(21)形狀相適應(yīng)的凸柱(11)。3.如權(quán)利要求2所述的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具，其特征在于，所述彈性組件(3)為輔助彈簧，所述輔助彈簧繞設(shè)于凸柱(11)上。4.如權(quán)利要求3所述的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具，其特征在于，所述下壓組件(I)下端面的凸柱(11)周圍和支撐組件(2)上端面的通孔(21)周圍設(shè)置有用于放置壓縮后的輔助彈簧的凹槽(4)。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具，包括下壓組件和支撐組件，下壓組件和支撐組件之間通過彈性組件相連。本實(shí)用新型的一種用于測(cè)試真空滅弧室回路電阻參數(shù)的夾具在回路電阻測(cè)試過程中減少了操作人員無效的安裝和拆卸連接頭動(dòng)作，降低操作人員勞動(dòng)強(qiáng)度，同時(shí)減少了原有的在裝卸連接頭過程中對(duì)滅弧室動(dòng)端面造成損傷的可能性，進(jìn)而提升了真空滅弧室回路電阻測(cè)試的效率。
【IPC分類】G01R31/327
【公開號(hào)】CN205317903
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201521052529
【發(fā)明人】王 鋒, 陳勇
【申請(qǐng)人】陜西寶光真空電器股份有限公司
【公開日】2016年6月15日
【申請(qǐng)日】2015年12月16日