一種晶片長度測量裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種長度測量裝置，具體涉及一種晶片長度測量裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]將被測長度與已知長度比較，從而得出測量結(jié)果的工具，簡稱測量工具。長度測量工具包括量規(guī)、量具和量儀。測量工具還可按工作原理分為機械、光學(xué)、氣動、電動和光電等類型。這種分類方法是由測量工具的發(fā)展歷史形成的。但一些現(xiàn)代測量工具已經(jīng)發(fā)展成為同時采用精密機械、光、電等原理并與電子計算機技術(shù)相結(jié)合的測量工具，因此，這種分類方法僅適用于工作原理單一的測量工具。現(xiàn)有的測量工具不方便對晶片的長度進(jìn)行檢測，且檢測效率低。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷和不足，提供一種可以將待檢測的晶片放置在載物臺上，通過支撐柱可以起到支撐的作用;滑塊可以沿著導(dǎo)向桿實現(xiàn)滑動，從而方便對滑板進(jìn)行調(diào)節(jié)，滑板方便對晶片進(jìn)行裝夾，通過紅外測距頭可以方便對晶片的長度進(jìn)行檢測，檢測效率大大提高的晶片長度測量裝置。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]—種晶片長度測量裝置，包括第一底座與第二底座，第一底座上設(shè)有第一支撐桿，第一支撐桿為桿狀結(jié)構(gòu)，第一支撐桿呈豎直布置，第二底座上設(shè)有第二支撐桿，第二支撐桿為桿狀結(jié)構(gòu)，第二支撐桿呈豎直布置，第二支撐桿與第一支撐桿的端部之間設(shè)有導(dǎo)向桿，導(dǎo)向桿呈水平布置;導(dǎo)向桿套裝有第一滑塊，第一滑塊設(shè)有第一滑板，第一滑板的上端與第一滑塊連接，第一滑板的下端為自由端；導(dǎo)向桿套裝有第二滑塊，第二滑塊設(shè)有第二滑板，第二滑板的上端與第二滑塊連接，第二滑板的下端為自由端;導(dǎo)向桿的下方設(shè)有載物臺，載物臺呈水平布置，載物臺的一端設(shè)置在第一支撐柱的端部，第一支撐柱呈豎直布置，載物臺的另一端設(shè)置在第二支撐柱的端部，第二支撐柱呈豎直布置;第二底座上設(shè)有長度測試儀，第二滑板的對內(nèi)朝向面設(shè)有紅外測距頭，紅外測距頭與長度測試儀通過對接線連接。
[0006]進(jìn)一步的，所述第一滑板與第一滑塊之間設(shè)有第一加強桿。
[0007]進(jìn)一步的，所述第一加強桿為弧形形狀。
[0008]進(jìn)一步的，所述第二滑塊與第二滑板之間設(shè)有第二加強桿。
[0009]進(jìn)一步的，所述第二加強桿為弧形形狀。
[0010]采用上述結(jié)構(gòu)后，本實用新型有益效果為:可以將待檢測的晶片放置在載物臺上，通過第一支撐柱與第二支撐柱可以起到支撐的作用；第一滑塊可以沿著導(dǎo)向桿實現(xiàn)滑動，從而方便對第一滑板進(jìn)行調(diào)節(jié)，第二滑塊可以沿著導(dǎo)向桿實現(xiàn)滑動，從而方便對第二滑板進(jìn)行調(diào)節(jié)，通過第一滑板與第二滑板方便對晶片進(jìn)行裝夾，通過紅外測距頭可以方便對晶片的長度進(jìn)彳丁檢測，檢測效率大大提尚。
【附圖說明】
[ΟΟ??]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0012]附圖標(biāo)記說明:
[0013]第一底座11、第二底座12、第一支撐桿13、第二支撐桿14、導(dǎo)向桿15、第一滑塊16、第一滑板17、第一加強桿18、第二滑塊19、第二滑板20、第二加強桿21、載物臺22、第一支撐柱23、第二支撐柱24、紅外測距頭25、長度測試儀26、對接線27。
【具體實施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖對本實用新型作進(jìn)一步的說明。
[0015]如圖1所示，本實用新型所述的一種晶片長度測量裝置，包括第一底座11與第二底座12，第一底座11上設(shè)有第一支撐桿13，第一支撐桿13為桿狀結(jié)構(gòu)，第一支撐桿13呈豎直布置，第二底座12上設(shè)有第二支撐桿14，第二支撐桿14為桿狀結(jié)構(gòu)，第二支撐桿14呈豎直布置，第二支撐桿14與第一支撐桿13的端部之間設(shè)有導(dǎo)向桿15，導(dǎo)向桿15呈水平布置;導(dǎo)向桿15套裝有第一滑塊16，第一滑塊16設(shè)有第一滑板17，第一滑板17的上端與第一滑塊16連接，第一滑板17的下端為自由端;導(dǎo)向桿15套裝有第二滑塊19，第二滑塊19設(shè)有第二滑板20，第二滑板20的上端與第二滑塊19連接，第二滑板20的下端為自由端；導(dǎo)向桿15的下方設(shè)有載物臺22，載物臺22呈水平布置，載物臺22的一端設(shè)置在第一支撐柱23的端部，第一支撐柱23呈豎直布置，載物臺22的另一端設(shè)置在第二支撐柱24的端部，第二支撐柱24呈豎直布置;第二底座12上設(shè)有長度測試儀26，第二滑板20的對內(nèi)朝向面設(shè)有紅外測距頭25，紅外測距頭25與長度測試儀26通過對接線27連接;第一滑板17與第一滑塊16之間設(shè)有第一加強桿18，第一加強桿18為弧形形狀，第二滑塊19與第二滑板20之間設(shè)有第二加強桿21，第二加強桿21為弧形形狀。
[0016]本實用新型晶片長度測量裝置，可以將待檢測的晶片放置在載物臺22上，通過第一支撐柱23與第二支撐柱24可以起到支撐的作用；第一滑塊16可以沿著導(dǎo)向桿15實現(xiàn)滑動，從而方便對第一滑板17進(jìn)行調(diào)節(jié)，第二滑塊19可以沿著導(dǎo)向桿15實現(xiàn)滑動，從而方便對第二滑板20進(jìn)行調(diào)節(jié)，通過第一滑板17與第二滑板20方便對晶片進(jìn)行裝夾，通過紅外測距頭25可以方便對晶片的長度進(jìn)彳丁檢測，檢測效率大大提尚。
[0017]其中，第一滑板17與第一滑塊16之間設(shè)有第一加強桿18，第一加強桿18為弧形形狀，所以方便對第一滑板17進(jìn)行牢固安裝。
[0018]其中，第二滑塊19與第二滑板20之間設(shè)有第二加強桿21，第二加強桿21為弧形形狀，所以方便對第二滑板20進(jìn)行牢固安裝。
[0019]以上所述僅是本實用新型的較佳實施方式，故凡依本實用新型專利申請范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包括于本實用新型專利申請范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種晶片長度測量裝置，包括第一底座(11)與第二底座(12)，其特征在于:第一底座(11)上設(shè)有第一支撐桿(13)，第一支撐桿(13)為桿狀結(jié)構(gòu)，第一支撐桿(13)呈豎直布置，第二底座(12)上設(shè)有第二支撐桿(14)，第二支撐桿(14)為桿狀結(jié)構(gòu)，第二支撐桿(14)呈豎直布置，第二支撐桿(14)與第一支撐桿(13)的端部之間設(shè)有導(dǎo)向桿(15)，導(dǎo)向桿(15)呈水平布置;導(dǎo)向桿(15)套裝有第一滑塊(16)，第一滑塊(16)設(shè)有第一滑板(17)，第一滑板(17)的上端與第一滑塊(16)連接，第一滑板(17)的下端為自由端；導(dǎo)向桿(15)套裝有第二滑塊(19)，第二滑塊(19)設(shè)有第二滑板(20)，第二滑板(20)的上端與第二滑塊(19)連接，第二滑板(20)的下端為自由端;導(dǎo)向桿(15 )的下方設(shè)有載物臺(22)，載物臺(22)呈水平布置，載物臺(22)的一端設(shè)置在第一支撐柱(23)的端部，第一支撐柱(23)呈豎直布置，載物臺(22)的另一端設(shè)置在第二支撐柱(24)的端部，第二支撐柱(24)呈豎直布置;第二底座(12)上設(shè)有長度測試儀(26)，第二滑板(20)的對內(nèi)朝向面設(shè)有紅外測距頭(25)，紅外測距頭(25)與長度測試儀(26)通過對接線(27)連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片長度測量裝置，其特征在于:第一滑板(17)與第一滑塊(16)之間設(shè)有第一加強桿(18)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶片長度測量裝置，其特征在于:第一加強桿(18)為弧形形狀。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶片長度測量裝置，其特征在于:第二滑塊(19)與第二滑板(20)之間設(shè)有第二加強桿(21)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶片長度測量裝置，其特征在于:第二加強桿(21)為弧形形狀。
【專利摘要】本實用新型涉及一種晶片長度測量裝置，包括底座，底座上設(shè)有支撐桿，支撐桿的端部之間設(shè)有導(dǎo)向桿，導(dǎo)向桿套裝有滑塊，滑塊設(shè)有滑板，導(dǎo)向桿的下方設(shè)有載物臺，底座上設(shè)有長度測試儀，滑板的對內(nèi)朝向面設(shè)有紅外測距頭，紅外測距頭與長度測試儀通過對接線連接。本實用新型方便對滑板進(jìn)行調(diào)節(jié)，滑板方便對晶片進(jìn)行裝夾，通過紅外測距頭可以方便對晶片的長度進(jìn)行檢測，檢測效率大大提高。
【IPC分類】G01B11/02
【公開號】CN205209435
【申請?zhí)枴緾N201521026662
【發(fā)明人】許春杰, 謝保衛(wèi)
【申請人】江蘇潤麗光能科技發(fā)展有限公司
【公開日】2016年5月4日
【申請日】2015年12月10日