一種電流式反饋運算放大器測試環(huán)路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及半導體測試領(lǐng)域，特別是指一種電流式反饋運算放大器測試環(huán)路。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，在模擬集成電路測試系統(tǒng)AMIDA-3KS上，多數(shù)采用電壓式反饋運算放大器運放環(huán)的設計，沒有電流式運放環(huán)的設計。測量參數(shù)有開環(huán)參數(shù)和閉環(huán)參數(shù)兩類，開環(huán)參數(shù)包括失調(diào)電壓、偏置電流、開環(huán)增益、共模抑制比以及電源電壓抑制比等參數(shù)，閉環(huán)測試包括壓擺率等參數(shù)的測試。開環(huán)參數(shù)測試時被測運放必須處于開環(huán)狀態(tài)，閉環(huán)參數(shù)測試時被測運放必須處于閉環(huán)狀態(tài)。運放環(huán)設計主要實現(xiàn)輔助運放補償、輔助運放供電、不同測試電路的切換等功能。由于諸多因素的影響，運放環(huán)的參數(shù)測量精度容易受到影響，其中最主要的影響因素是閉環(huán)系統(tǒng)不穩(wěn)定，即寄生振蕩，導致寄生振蕩的因素有以下幾種，包括:輔助運放性能不良，不能與各種被測運放構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)系統(tǒng)，會導致測試某些被測試運放品種時表現(xiàn)出寄生振蕩；閉環(huán)系統(tǒng)補償不良，輔助運放即使自身性能良好，由于閉環(huán)系統(tǒng)中的布線和相關(guān)元器件總會存在一些分布電容和分布電感，增加了系統(tǒng)的分布參數(shù)，進而影響閉環(huán)系統(tǒng)的總體幅頻和相頻特性；被測運放補償不良，難于與輔助運放共同構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)系統(tǒng)，實際采用的補償線路和數(shù)值與典型補償線路和補償電阻不同。
[0003]工頻干擾，最容易表現(xiàn)在輸入偏置電流和輸入失調(diào)電流參數(shù)的測試上，因為這些參數(shù)測試時需要在被測運放的輸入端接入采樣電阻RS，特別是高阻抗運放的測試，采樣電阻的阻值會達到數(shù)兆，這樣高的輸入阻抗只要在被測運放端引入很小一點工頻干擾，經(jīng)數(shù)百倍放大后，在輔助運放的輸出端就得到很大的干擾。
[0004]由于測量參數(shù)還包括輸入阻抗和開環(huán)傳輸阻抗等參數(shù)，這些參數(shù)在電壓式反饋運算放大器測試環(huán)路上不能實現(xiàn)測試，因此，電壓式反饋運算放大器測試環(huán)路通用性較差，因此還需要開發(fā)具有這些測試功能的運放環(huán)，浪費了成本和時間。同時，由于電壓式運放環(huán)運算放大器開關(guān)的引入造成的運放環(huán)路上的振蕩，使測量結(jié)果誤差增大。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種能夠避免輔助運放造成的測量結(jié)果不準確且通用性強的新式反饋運算放大器運放測試環(huán)路。
[0006]基于上述目的本實用新型提供的一種電流式反饋運算放大器測試環(huán)路，包括輔助隔離放大器INA116電路、被測運算放大器放置槽電路、輔助運算放大器741電路，其中，所述被測運算放大器放置槽電路分別與輔助隔離放大器INA116電路、輔助運算放大器741電路和測試系統(tǒng)供壓模塊電路連接，所述被測運算放大器放置槽用于放置被測運算放大器；所述輔助隔離放大器INAl 16電路和被測運算放大器放置槽連接，所述輔助運算放大器741電路和被測運算放大器放置槽連接，所述輔助隔離放大器INA116電路和所述輔助運算放大器741電路均用于測量運算放大器的參數(shù)；利用所述電流式反饋運算放大器測試環(huán)路在不使用所述輔助運算放大器741電路的情況下，僅利用所述隔離放大器INA116電路測試失調(diào)電壓、失調(diào)電流、偏置電流和共模抑制比。
[0007]所述電流式反饋運算放大器測試環(huán)路的連接方式為:電阻Rl接地，電阻Rl與開關(guān)K4連接，開關(guān)K4分別與電容Cl、電阻R7、電阻R8、電阻R10、電阻Rl1、電阻R12、開關(guān)K1、開關(guān)K6、開關(guān)K36、開關(guān)K9、開關(guān)K19、電阻R13連接，開關(guān)K6接地，電容Cl與開關(guān)K13連接，電阻R7與開關(guān)K14連接，電阻R8分別與開關(guān)K15、開關(guān)K28連接，開關(guān)Kl與電阻R2連接，電阻R2與測試系統(tǒng)供壓模塊連接，開關(guān)K36與電阻R3連接，電阻R3與測試系統(tǒng)供壓模塊連接，電阻R13與開關(guān)K39連接，電阻RlO與開關(guān)K16連接，電阻Rll與開關(guān)K17連接，電阻R12與開關(guān)K18連接，開關(guān)K39、開關(guān)K19、電阻R14都接入被測器件放置槽，被測器件放置槽分別與電容C2、電容C3、電阻R14、開關(guān)K20、開關(guān)K21、開關(guān)K32、開關(guān)K33、開關(guān)K34、開關(guān)K35、開關(guān)K16、開關(guān)K17、開關(guān)K18、電阻R9、開關(guān)K30、開關(guān)K31連接，電容C2 —端接測試電源正電壓，另一端接地，電容C3 —端接測試電源負電壓，另一端接地，開關(guān)K21與電阻R16連接，電阻R14與開關(guān)K20都與開關(guān)K2、開關(guān)K8、開關(guān)K10、開關(guān)K11、開關(guān)K12連接，開關(guān)K2與電阻R4連接，電阻R4與測試系統(tǒng)供壓模塊連接，開關(guān)K12與測試系統(tǒng)供壓模塊連接，開關(guān)KlO與電阻R5連接，開關(guān)Kl I與電阻R6連接，開關(guān)K8、電阻R5、電阻R6都接地，開關(guān)K12與測試系統(tǒng)供壓模塊連接，開關(guān)K32與電阻R17連接，開關(guān)K33與電阻R18連接，開關(guān)K34與電阻R19連接，開關(guān)K35與電阻R20連接，電阻R17、電阻R18、電阻R19、電阻R20都接地，電阻R9與開關(guān)K29連接，開關(guān)K28、開關(guān)K29、開關(guān)K30與測試系統(tǒng)供壓模塊連接，開關(guān)K31與電阻R21連接，電阻R21分別與電阻R22、輔助運放741連接，電阻R22與測試系統(tǒng)供壓模塊連接；
[0008]輔助運放分別與電容C4、電容C5、開關(guān)K13、開關(guān)K14、開關(guān)K15、電阻R23、電阻R24、電阻R30連接，電阻R24與電容C6連接，電容C6分別與電阻R23、輔助運放741連接，電容一端C4與測試系統(tǒng)正電壓連接，另一端接地，電容C5 —端與測試系統(tǒng)負電壓連接，另一端接地；
[0009]電阻R25與開關(guān)K37串聯(lián)，電阻R26與開關(guān)K38串聯(lián)，將上述串聯(lián)的電路并聯(lián)，并聯(lián)后電路一端與測試系統(tǒng)供壓模塊連接，另一端分別與第一接頭和開關(guān)K26連接，開關(guān)K26分別與開關(guān)K27、電阻R28、開關(guān)K25連接，開關(guān)K27接地，開關(guān)K25與第四接頭連接，電阻R28接入INA116，第二接頭分別與開關(guān)K22、電阻R27、開關(guān)K24連接，開關(guān)K22與第三抽頭連接，電阻R27接入INA116，開關(guān)K24接地，INAl 16分別與電容C7、電容C8、電阻R29連接，電容C7 —端與測試系統(tǒng)正電源電壓連接，另一端接地，電容C8 —端與測試系統(tǒng)負電源電壓連接，另一端接地，電阻R29與測試系統(tǒng)測量單元連接，第一、三接頭分別接入電阻R15兩端，第二、四接頭分別接入電阻R14兩端；
[0010]所述電流式反饋運算放大器測試環(huán)路的電阻R14的阻值為100歐姆，電阻R15的阻值為100歐姆，通過閉合開關(guān)K6，K8，K22, K25，其余開關(guān)處于斷開狀態(tài)，在不使用輔助運算放大器741電路的情況下，利用輔助隔離放大器INA116電路測量輸入失調(diào)電壓；
[0011]所述電流式反饋運算放大器測試環(huán)路的電阻R14的阻值為100歐姆，電阻R15的阻值為100歐姆，電阻R12的阻值為910歐姆，通過閉合開關(guān)Kl，K8，K18，K23，K25，其余開關(guān)處于斷開狀態(tài)，測量負輸入偏置電流，閉合開關(guān)Kl，K8，K18，K22，K26，其余開關(guān)處于斷開狀態(tài)測量正輸入偏置電流；
[0012]所述電流式反饋運算放大器測試環(huán)路的電阻R14的阻值為100歐姆，電阻R15的阻值為100歐姆，電阻町2的阻值為910歐姆，通過閉合開關(guān)1(1，1(2，1(11，1(18，1(19，1(20，1(29，其余開關(guān)處于斷開狀態(tài)，利用輔助隔離放大器INA116電路測量并計算得出共模抑制比；
[0013]所述開關(guān)為表貼開關(guān)。
[0014]從上面所述可以看出，本實用新型提供的電流式反饋運算放大器測試環(huán)路采用輔助隔離放大器INA116電路測試失調(diào)電壓、失調(diào)電流和偏置電流，避免使用輔助放大器測試失調(diào)電壓、失調(diào)電流和偏置電流，避免了使用輔助放大器造成的系統(tǒng)不穩(wěn)定，減少了寄生振蕩的產(chǎn)生，進而減小了測量失調(diào)電壓、失調(diào)電流和偏置電流的誤差，使測量結(jié)果更準確；由于電流式反饋運算放大器測試環(huán)路所用開關(guān)都為表貼開關(guān)，減少了使用開關(guān)造成的振蕩，避免了開關(guān)引入的干擾，增加了測試結(jié)果的準確性。由于電流式反饋運算放大器測試環(huán)路還能夠測試輸入阻抗和開環(huán)傳輸阻抗等參數(shù)，避免了同類產(chǎn)品的開發(fā)，縮短了此類器件運放環(huán)的重復開發(fā)，節(jié)約了成本，縮短了開發(fā)周期，增加了本實用新型的通用性。
【附圖說明】
[0015]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中電壓式反饋運放電路連接示意圖；
[0016]圖2為本實用新型電流式反饋運放電路連接示意圖；
[0017]圖3為本實用新型測試輸入失調(diào)電壓示意圖；
[0018]圖4為本實用新型測試偏置電流示意圖；
[0019]圖5為本實用新型共模抑制比示意圖。
【具體實施方式】
[