薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于薄膜性能測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在薄膜性能測(cè)試領(lǐng)域中，目前的設(shè)備在技術(shù)上不能滿足薄膜穿刺強(qiáng)度的測(cè)試實(shí)驗(yàn)，無法進(jìn)行穿刺測(cè)試數(shù)據(jù)采集，給薄膜性能檢測(cè)帶來不便，有時(shí)候不能滿足客戶需求。目前的薄膜拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置帶有拉伸強(qiáng)度測(cè)試儀，只能準(zhǔn)確地檢測(cè)薄膜拉伸數(shù)據(jù)，用途較單一。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]為了解決上述問題，本實(shí)用新型提供了一種可進(jìn)行薄膜拉伸和穿刺兩種強(qiáng)度測(cè)試且能夠準(zhǔn)確采集數(shù)據(jù)的薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置。
[0004]根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面，提供一種薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，包括支架和底座，所述支架上方設(shè)有拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置，還包括穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，所述穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置包括穿刺頭，所述穿刺頭下方設(shè)有薄膜固定支架，所述穿刺頭連接有傳感器，所述傳感器連接自動(dòng)控制裝置。其有益效果是:本裝置在薄膜拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置的基礎(chǔ)上有效合理的增加了薄膜穿刺實(shí)驗(yàn)測(cè)試裝置，能有效準(zhǔn)確的測(cè)試薄膜穿刺性能，且能滿足實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集，解決薄膜中穿刺性能數(shù)據(jù)缺陷，為掌握薄膜工藝的改進(jìn)有了一個(gè)準(zhǔn)確地依據(jù)，從而使薄膜質(zhì)量得到有效的控制和改進(jìn)。
[0005]在一些實(shí)施方式中，所述穿刺頭還設(shè)有可松開與固定的穿刺頭卡具。其有益效果是:有效的固定和松開穿刺頭，使得測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
【附圖說明】
[0006]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0007]圖中:1-支架，2-底座，3-穿刺頭，4-薄膜固定支架，5-穿刺頭卡具，6_傳感器，7-拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置。
【具體實(shí)施方式】
[0008]下面結(jié)合附圖1對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明。附圖1示意性的顯示了本實(shí)用新型薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，包括支架I和底座2，所述支架I上方設(shè)有拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置7，還包括穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，所述穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置包括穿刺頭3，所述穿刺頭3下方設(shè)有薄膜固定支架4，所述穿刺頭3連接有傳感器6，所述傳感器6連接自動(dòng)控制裝置。本裝置在薄膜拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置7的基礎(chǔ)上增加了薄膜穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，在實(shí)驗(yàn)中，把薄膜展平延伸，用薄膜固定支架4將其拉平夾緊，穿刺頭3穿透薄膜的力度由傳感器6傳遞給自動(dòng)控制裝置，從而可以采集數(shù)據(jù)。
[0009]為使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確，所述穿刺頭3還設(shè)有可松開與固定的穿刺頭卡具5。穿刺頭卡具能平穩(wěn)的固定和松開穿刺頭3，保證采集的數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。
[0010]以上所述的僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型的創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出其它變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，包括支架(I)和底座(2)，所述支架(I)上方設(shè)有拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置(7)，其特征在于，還包括穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，所述穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置包括穿刺頭(3 )，所述穿刺頭(3 )下方設(shè)有薄膜固定支架(4)，所述穿刺頭(3 )連接有傳感器(6 )，所述傳感器(6)連接自動(dòng)控制裝置。
2.如權(quán)利要求1所述的薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，其特征在于，所述穿刺頭(3)還設(shè)有可松開與固定的穿刺頭卡具(5)。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種可進(jìn)行薄膜拉伸和穿刺兩種強(qiáng)度測(cè)試且能夠準(zhǔn)確采集數(shù)據(jù)的薄膜拉伸和穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，包括支架和底座，所述支架上方設(shè)有拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置，還包括穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置，所述穿刺強(qiáng)度測(cè)試裝置包括穿刺頭，所述穿刺頭下方設(shè)有薄膜固定支架，所述穿刺頭連接有傳感器，所述傳感器連接自動(dòng)控制裝置。本裝置在薄膜拉伸強(qiáng)度測(cè)試裝置的基礎(chǔ)上有效合理的增加了薄膜穿刺實(shí)驗(yàn)測(cè)試裝置，能有效準(zhǔn)確的測(cè)試薄膜穿刺性能，且能滿足實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集，解決薄膜中穿刺性能數(shù)據(jù)缺陷，為掌握薄膜工藝的改進(jìn)有了一個(gè)準(zhǔn)確地依據(jù)，從而使薄膜質(zhì)量得到有效的控制和改進(jìn)。
【IPC分類】G01N3-00
【公開號(hào)】CN204613016
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520255627
【發(fā)明人】王彩霞
【申請(qǐng)人】昆山運(yùn)城塑業(yè)有限公司
【公開日】2015年9月2日
【申請(qǐng)日】2015年4月24日