電工薄膜高溫耐壓測(cè)試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電工薄膜耐壓測(cè)試儀，具體地說是一種電工薄膜高溫耐壓測(cè)試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]電工薄膜耐壓測(cè)試儀是用來對(duì)電工薄膜進(jìn)行耐壓試驗(yàn)的儀器，一般由設(shè)在工作臺(tái)上方的測(cè)試部分和設(shè)在工作臺(tái)下方的電控部分組成，CN201489083U公開的就是這樣一種電工薄膜耐壓測(cè)試儀。測(cè)試部分包括一對(duì)測(cè)試電極及絕緣支架，其中一個(gè)為固定電極，另一個(gè)為活動(dòng)電極。測(cè)試部分通常設(shè)有絕緣測(cè)試室內(nèi)，由于每次測(cè)試需要檢測(cè)多個(gè)點(diǎn)位，因此測(cè)試結(jié)束后需打開測(cè)試室更換測(cè)試點(diǎn)。為了方便更換測(cè)試點(diǎn)，CN202362418U公開的電工薄膜耐壓測(cè)試儀的耐壓測(cè)試室具有推拉門結(jié)構(gòu)，以方便工作人員更換測(cè)試點(diǎn)。但上述這些耐壓測(cè)試儀只能完成電工薄膜常溫下的耐壓性能測(cè)試，無法完成電工薄膜高溫下的耐壓性能測(cè)試；另外根據(jù)測(cè)試工藝要求，每個(gè)試樣需測(cè)試5個(gè)點(diǎn)位以上，仍需頻繁地打開安全門進(jìn)行更換測(cè)試點(diǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的是提供一種電工薄膜高溫耐壓測(cè)試儀，不僅可以測(cè)試電工薄膜在高溫下的耐壓性能，而且可以方便更換測(cè)試點(diǎn)，提高測(cè)試效率。
[0004]本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的:包括測(cè)試部分和電控部分，測(cè)試部分包括固定電極、活動(dòng)電極以及絕緣支架，測(cè)試部分設(shè)置在烘箱內(nèi)，所述絕緣支架包括上、下支架，固定電極由下支架固定在烘箱下部，上支架固定在烘箱上部，活動(dòng)電極通過金屬轉(zhuǎn)臂固定在金屬導(dǎo)電軸下端，上支架中間設(shè)有對(duì)導(dǎo)電軸周向定位的金屬套筒，導(dǎo)電軸上端固連有絕緣桿，烘箱頂部中間位置開有供絕緣桿通過的通孔，絕緣桿經(jīng)烘箱頂部的通孔延伸至烘箱外部，絕緣桿頂部固定有旋轉(zhuǎn)手柄，烘箱底部開有供測(cè)試導(dǎo)線通過的通孔。測(cè)試時(shí)，先將烘箱內(nèi)溫度升到設(shè)定溫度，再進(jìn)行測(cè)試，完成一個(gè)測(cè)試點(diǎn)測(cè)試后，向上提升手柄，再旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度后放下手柄，即可開展第二個(gè)點(diǎn)位測(cè)試，如此繼續(xù)，直至所需點(diǎn)位全部測(cè)試完成。
[0005]進(jìn)一步的，上支架上開有供金屬套筒通過的孔，金屬套筒上端有向側(cè)面凸出的、用來將金屬套筒懸掛在上支架上的擋邊。
[0006]進(jìn)一步的，上支架兩端通過立柱固定在下支架上，其中一側(cè)支柱中心開有通孔，與活動(dòng)電極相通的導(dǎo)線經(jīng)該支柱的中心通孔通過。
[0007]由上述技術(shù)方案可知，本實(shí)用新型采用烘箱作為耐壓測(cè)試室，升溫方便精確，可以方便地進(jìn)行高溫下的耐壓性能測(cè)試；并且活動(dòng)電極偏置在可旋轉(zhuǎn)的導(dǎo)電軸下端，旋轉(zhuǎn)設(shè)在烘箱上方手柄即可改變活動(dòng)電極的位置，從而改變測(cè)試點(diǎn)位，因而不需打開耐壓測(cè)試室即烘箱門，烘箱內(nèi)的溫度不會(huì)下降，可以連續(xù)測(cè)試，因而可以提高測(cè)試效率。另外，采用金屬套筒與導(dǎo)電軸配合，不僅導(dǎo)電軸與金屬套筒電連接可靠，而且導(dǎo)電軸在金屬套筒中上下移動(dòng)也很方便。
【附圖說明】
[0008]圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]圖2是圖1中沿A-A線剖視圖。
[0010]圖中標(biāo)注符號(hào)的含義如下:
[0011]1-烘箱11-擋板12-絕緣套管13-烘箱門2-固定電極21-螺栓3_活動(dòng)電極31-金屬轉(zhuǎn)臂32-導(dǎo)電軸33-金屬套筒331-擋邊34-鎖緊螺母35-絕緣桿36-手柄41-下支架42-上支架43-立柱431-通孔烘箱51、52_導(dǎo)線6-測(cè)試軌跡
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0013]如圖1、圖2所示，測(cè)試部分設(shè)置在烘箱I內(nèi)，電控部分設(shè)在烘箱下方，圖中電控部分未畫出。測(cè)試部分包括固定電極2、活動(dòng)電極3以及絕緣支架。絕緣支架包括上、下支架42、41，烘箱I下部的兩側(cè)內(nèi)壁上固定有擋板11，下支架41兩端支撐在擋板11上。固定電極2由螺栓21固定在下支架41上方。上支架42兩端通過立柱43固定在下支架41上，其中左側(cè)支柱中心開有供與活動(dòng)電極3電連接的導(dǎo)線52通過的通孔431。
[0014]上支架42中間開有供金屬套筒33通過的孔，金屬套筒33上端有向側(cè)面凸出的、用來將金屬套筒33懸掛在上支架42上的擋邊331。金屬導(dǎo)電軸32由金屬套筒33中間穿過，導(dǎo)電軸32截面形狀與金屬套筒33內(nèi)徑配合，使得金屬套筒對(duì)導(dǎo)電軸周向定位，導(dǎo)電軸32可在金屬套筒33中作垂直升降動(dòng)作和旋轉(zhuǎn)動(dòng)作。導(dǎo)電軸32兩端設(shè)有連接螺紋，絕緣桿35和金屬轉(zhuǎn)臂31分別以螺紋連接固定在導(dǎo)電軸32的上、下端，烘箱I頂部中間位置開有供絕緣桿35通過的通孔，絕緣桿35經(jīng)烘箱I頂部的通孔延伸至烘箱外部，絕緣桿35頂部固定有旋轉(zhuǎn)手柄36，導(dǎo)電軸32上裝有對(duì)絕緣桿35鎖緊的鎖緊螺母34。
[0015]烘箱I底部開有供測(cè)試導(dǎo)線51、52通過的通孔，通孔中裝有絕緣套管12。與活動(dòng)電極3相通的導(dǎo)線52 —端由螺釘固定在金屬套筒33上，另一端經(jīng)支柱的中心通孔431及烘箱底部的絕緣套管12與下方的電控部分連接。與固定電極2相通的導(dǎo)線51 —端固定在螺栓21上，另一端經(jīng)烘箱底部的絕緣套管12與下方的電控部分連接。
[0016]需要指出的是，上支架可也以采用類似下支架固定方式固定在烘箱上部，活動(dòng)電極的導(dǎo)線可以采用線夾固定在上、下支架一側(cè)端。
[0017]測(cè)試時(shí)，打開烘箱門13，將待測(cè)試電工薄膜試樣平輔放置在固定電極2上端，關(guān)閉烘箱門，打開烘箱加溫旋鈕，至烘箱升溫至設(shè)定溫度，放下手柄36，使活動(dòng)電極3接觸被測(cè)試樣，進(jìn)行第一個(gè)點(diǎn)的耐壓測(cè)試。待該點(diǎn)位耐壓測(cè)試結(jié)束后，向上提起手柄36，使活動(dòng)電極3脫離被測(cè)式樣，同時(shí)旋轉(zhuǎn)手柄36 —定角度，再次放下手柄36，使活動(dòng)電極3接觸被測(cè)試樣，再啟動(dòng)第二個(gè)點(diǎn)的耐壓測(cè)試。依此類推，在不打開烘箱門13的情況下可在活動(dòng)電極3的旋轉(zhuǎn)軌跡即測(cè)試軌跡6上更換不同的測(cè)試點(diǎn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.電工薄膜高溫耐壓測(cè)試儀，包括測(cè)試部分和電控部分，測(cè)試部分包括固定電極(2)、活動(dòng)電極(3)以及絕緣支架，其特征是:測(cè)試部分設(shè)置在烘箱(I)內(nèi)，所述絕緣支架包括上、下支架(42、41)，固定電極(2)由下支架(41)固定在烘箱(I)下部，上支架(42)固定在烘箱(I)上部，活動(dòng)電極(3)通過金屬轉(zhuǎn)臂(31)固定在金屬導(dǎo)電軸(32)下端，上支架(42)中間設(shè)有對(duì)導(dǎo)電軸(32)周向定位的金屬套筒(33)，導(dǎo)電軸(32)上端固連有絕緣桿(35)，烘箱(I)頂部中間位置開有供絕緣桿(35)通過的通孔，絕緣桿(35)經(jīng)烘箱頂部的通孔延伸至烘箱外部，絕緣桿(35)頂部固定有旋轉(zhuǎn)手柄(36)，烘箱(I)底部開有供測(cè)試導(dǎo)線(51、52)通過的通孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電工薄膜高溫耐壓測(cè)試儀，其特征是:上支架(42)上開有供金屬套筒(33)通過的孔，金屬套筒(33)上端有向側(cè)面凸出的、用來將金屬套筒(33)懸掛在上支架(42)上的擋邊(331) ο
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電工薄膜高溫耐壓測(cè)試儀，其特征是:上支架(42)兩端通過立柱(43)固定在下支架(41)上，其中一側(cè)支柱中心開有通孔(431)，與活動(dòng)電極(3)相通的導(dǎo)線(52)經(jīng)該支柱的中心通孔(431)通過。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種電工薄膜高溫耐壓測(cè)試儀，包括測(cè)試部分和電控部分，測(cè)試部分包括固定電極、活動(dòng)電極以及絕緣支架，測(cè)試部分設(shè)置在烘箱內(nèi)，所述絕緣支架包括上、下支架，活動(dòng)電極通過金屬轉(zhuǎn)臂固定在金屬導(dǎo)電軸下端，上支架中間設(shè)有對(duì)導(dǎo)電軸周向定位的金屬套筒，導(dǎo)電軸上端固連有絕緣桿，烘箱頂部中間位置開有供絕緣桿通過的通孔，絕緣桿頂部固定有旋轉(zhuǎn)手柄，烘箱底部開有供測(cè)試導(dǎo)線通過的通孔。采用烘箱作為耐壓測(cè)試室，可在高溫下的耐壓性能測(cè)試；并且不需打開耐壓測(cè)試室即烘箱門，即可以連續(xù)測(cè)試，可提高測(cè)試效率。
【IPC分類】G01R31-16, G01R31-12
【公開號(hào)】CN204556777
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520216300
【發(fā)明人】錢立文, 余柏南, 吳建章, 陳翠玉
【申請(qǐng)人】安徽銅峰電子股份有限公司
【公開日】2015年8月12日
【申請(qǐng)日】2015年4月10日