一種半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]半導(dǎo)體致冷又稱為溫差電致冷或熱電致冷。具有熱電能量轉(zhuǎn)換特性的材料，在通過直流電時有致冷功能。圖1為現(xiàn)有半導(dǎo)體致冷組件的結(jié)構(gòu)圖，圖2為現(xiàn)有半導(dǎo)體致冷組件的結(jié)構(gòu)分解圖。現(xiàn)有的半導(dǎo)體致冷組件為多個N型半導(dǎo)體元件和P型半導(dǎo)體元件串聯(lián)而成的回路，如圖2所示，現(xiàn)有的半導(dǎo)體致冷組件的結(jié)構(gòu)從上到下為冷面瓷板1、導(dǎo)流片3、致冷元件2、導(dǎo)流片3以及熱面瓷板4，另外引出兩條引出線，分別為正極引出線5和負極引出線6。
[0003]其中若干致冷元件2通過焊錫焊接形成回路，每個致冷元件2有兩個焊點，這樣整個致冷組件有幾十、幾百個焊點，只要一個焊點出現(xiàn)虛焊，就會影響整個致冷組件的壽命，甚至致冷組件不能工作。而大多數(shù)焊點在致冷組件內(nèi)部，無法直接觀察到焊點是否虛焊。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]鑒于上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，能夠方便的測試虛焊現(xiàn)象，提高半導(dǎo)體致冷組件的可靠性。
[0005]本實用新型提供一種半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，包括電壓沖擊電路和電阻測試裝置，其中:
[0006]所述電壓沖擊電路具備三條支路，第一支路串聯(lián)有若干個被測致冷元件以及時間繼電器觸點；
[0007]第二支路設(shè)置有時間繼電器，用于控制所述時間繼電器觸點的斷開時間；
[0008]第三支路串聯(lián)設(shè)置有電源和開關(guān)，用于為所述電壓沖擊電路提供電壓；
[0009]所述電阻測試裝置為電阻表，用于測試經(jīng)過電壓沖擊后的每個所述被測致冷元件的電阻變化。
[0010]優(yōu)選的，所述電壓沖擊電路還包括電壓表，所述電壓表并聯(lián)在相互串聯(lián)的若干被測致冷元件的兩端。
[0011]優(yōu)選的，所述電源電壓滿足:每個被測致冷元件兩端的電壓為其額定工作電壓的6?8倍。
[0012]優(yōu)選的，所述第一支路串聯(lián)有兩個被測致冷元件。
[0013]優(yōu)選的，所述電源電壓220V。
[0014]利用本實用新型的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，能夠檢測出半導(dǎo)體致冷元件的虛焊現(xiàn)象，提高產(chǎn)品在使用過程中的可靠性，電路簡單，方便實現(xiàn)。
【附圖說明】
[0015]圖1為現(xiàn)有半導(dǎo)體致冷組件的結(jié)構(gòu)圖；
[0016]圖2為現(xiàn)有半導(dǎo)體致冷組件的結(jié)構(gòu)分解圖；
[0017]圖3為本實用新型的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀的電壓沖擊電路的電路結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0018]以下結(jié)合附圖3對本實用新型的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀進行詳細的說明。如圖所示，包括相并聯(lián)的三條之路，具體的，將第一被測致冷元件21和第二被測致冷元件22以及時間繼電器觸點73串聯(lián)，構(gòu)成第一支路；第二支路上設(shè)置有時間繼電器71，用于控制時間繼電器觸點73的開閉，時間繼電器71設(shè)置電壓沖擊的時間，以免對被測致冷元件造成不可逆損害。第三支路上串聯(lián)有220V交流電壓75以及開關(guān)74。另外還具備電壓表72，用于檢測第一被測致冷元件21和第二被測致冷元件22兩端的電壓，確定電路正常工作。根據(jù)上述沖擊電路，每個被測致冷元件兩端的電壓約為110V，是其額定電壓的7倍。如果出現(xiàn)虛焊，在電壓沖擊后會出現(xiàn)電阻升高或者斷路，隨后利用電阻表對致冷元件的電阻進行檢測，如果出現(xiàn)電阻升高，則判斷該元件出現(xiàn)了虛焊。
[0019]經(jīng)此測試儀檢測致冷組件后，原先被掩蓋的虛焊現(xiàn)象體現(xiàn)出來，防止產(chǎn)品在使用后出現(xiàn)個別可靠性差的現(xiàn)象。
[0020]另外，本實用新型的保護范圍不限于本實施例的內(nèi)容，根據(jù)致冷組件的額定電壓的不同，其中第一支路可以串聯(lián)I片、3片或4片致冷元件，所提供的電壓滿足每個致冷元件兩端的電壓為其額定電壓的6?8倍。
【主權(quán)項】
1.一種半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，其特征在于，包括電壓沖擊電路和電阻測試裝置，其中: 所述電壓沖擊電路具備相互并聯(lián)三條支路，第一支路串聯(lián)有若干個被測致冷元件以及時間繼電器觸點； 第二支路設(shè)置有時間繼電器，用于控制所述時間繼電器觸點的斷開時間； 第三支路串聯(lián)設(shè)置有電源和開關(guān)，用于為所述電壓沖擊電路提供電壓； 所述電阻測試裝置為電阻表，用于測試經(jīng)過電壓沖擊后的每個所述被測致冷元件的電阻變化。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，其特征在于，所述電壓沖擊電路還包括電壓表，所述電壓表并聯(lián)在所述相互串聯(lián)的若干被測致冷元件的兩端。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，其特征在于，所述電源電壓滿足:所述每個被測致冷元件兩端的電壓為其額定工作電壓的6?8倍。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，其特征在于，所述第一支路串聯(lián)有兩個被測致冷元件。
5.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，其特征在于，所述電源電壓220V。
【專利摘要】一種半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，其特征在于，包括電壓沖擊電路和電阻測試裝置，其中：所述電壓沖擊電路具備三條支路，第一支路串聯(lián)有若干個被測致冷元件以及時間繼電器觸點；第二支路設(shè)置有時間繼電器，用于控制所述時間繼電器觸點的斷開時間；第三支路串聯(lián)設(shè)置有電源和開關(guān)，用于為所述電壓沖擊電路提供電壓；所述電阻測試裝置為電阻表，用于測試經(jīng)過電壓沖擊后的每個所述被測致冷元件的電阻變化。利用本實用新型的半導(dǎo)體致冷組件虛焊測試儀，能夠檢測出半導(dǎo)體致冷元件的虛焊現(xiàn)象，提高產(chǎn)品在使用過程中的可靠性，電路簡單，方便實現(xiàn)。
【IPC分類】G01N27-20
【公開號】CN204405586
【申請?zhí)枴緾N201520068922
【發(fā)明人】丁志海, 曹茜
【申請人】香河華北致冷設(shè)備有限公司
【公開日】2015年6月17日
【申請日】2015年1月30日