厚度檢測儀的制作方法
【技術領域】
[0001 ]本發(fā)明涉及機械領域，特別涉及一種厚度檢測儀。
【背景技術】
[0002]薄膜晶體管液晶顯不器(英文:ThinFilm Transistor-Liquid CrystalDisplay ；簡稱:TFT-1XD)由顯示面板和背光源組成，在生產(chǎn)制造TFT-LCD的過程中，經(jīng)常需要檢測顯示面板的厚度是否符合標準(英文:SpeC)。
[0003]相關技術中，采用千分尺對顯示面板的厚度進行檢測。具體的，在檢測顯示面板的厚度時，工作人員可以控制千分尺將顯示面板鎖緊，并讀取千分尺上的數(shù)據(jù)，從而獲取顯示面板的厚度，然后判斷該顯示面板的厚度是否位于標準厚度范圍內，若顯示面板的厚度位于標準厚度范圍內，則確定顯示面板符合標準，若顯示面板的厚度位于標準厚度范圍外，則確定顯示面板不符合標準。
[0004]由于相關技術中，在檢測顯示面板的厚度時，需要工作人員采用千分尺測量每一塊顯示面板的厚度，且測量厚度的速度較慢，因此，顯示面板厚度檢測的效率較低。

【發(fā)明內容】

[0005]為了解決顯示面板厚度檢測的效率較低的問題，本發(fā)明提供了一種厚度檢測儀。所述技術方案如下:
[0006]—方面，提供了一種一種厚度檢測儀，所述厚度檢測儀包括:標定組件，
[0007]所述標定組件位于用于承載待檢測物體的承載組件的上方，所述標定組件上靠近所述承載組件的面與所述承載組件的承載面平行，且所述標定組件靠近所述承載組件的面與所述承載面的距離為標定距離，所述標定組件能夠與所述承載組件發(fā)生相對位移。
[0008]可選的，所述厚度檢測儀還包括:所述承載組件，所述承載組件能夠帶動所述承載面上的待檢測物體運動。
[0009]可選的，所述標定組件包括:滾輪和套接在所述滾輪內的滾軸，
[0010]所述滾輪與所述滾軸共軸線，且所述滾輪能夠以所述滾軸的軸線為軸轉動。
[0011 ]可選的，所述厚度檢測儀還包括:控制器，所述控制器與所述承載組件連接，
[0012]所述控制器用于控制所述承載組件帶動所述承載面上的待檢測物體運動。
[0013]可選的，所述厚度檢測儀還包括:與所述控制器相連接的傳感器，
[0014]所述傳感器用于檢測所述滾輪是否運動，在檢測到所述滾輪運動時，指示所述控制器停止控制所述承載組件帶動所述承載面上的待檢測物體運動。
[0015]可選的，所述厚度檢測儀還包括:與所述傳感器相連接的報警器，
[0016]所述傳感器還用于在檢測到所述滾輪運動時，指示所述報警器發(fā)出報警信號。
[0017]可選的，所述厚度檢測儀還包括:第一支撐桿、第二支撐桿、第三支撐桿、第一固定桿、第二固定桿、第三固定桿、高度調節(jié)桿和鎖緊結構，
[0018]所述第二支撐桿和所述第三支撐桿分別固定設置在所述第一支撐桿的兩端，且垂直于所述第一支撐桿，并位于所述第一支撐桿的同一側，
[0019]所述第二固定桿和所述第三固定桿分別固定設置在所述第一固定桿的兩端，且垂直于所述第一固定桿，并位于所述第一固定桿的同一側；
[0020]所述高度調節(jié)桿通過所述鎖緊結構可拆卸設置在所述第一支撐桿上，所述第一固定桿固定設置在所述高度調節(jié)桿靠近所述承載組件的一端，且所述高度調節(jié)桿同時垂直于所述第一支撐桿和所述第一固定桿；
[0021]所述滾軸的兩端分別固定設置在所述第二固定桿和所述第三固定桿上，所述滾軸與所述第一固定桿平行，所述滾軸的長度小于所述第一固定桿的長度。
[0022]可選的，所述高度調節(jié)桿包括:第一調節(jié)桿、彈性元件和第二調節(jié)桿，
[0023]所述第一調節(jié)桿和所述第二調節(jié)桿的軸線共線，且所述第一調節(jié)桿和所述第二調節(jié)桿通過所述彈性元件相連接，所述彈性元件的伸縮方向平行于所述第一調節(jié)桿的軸線。
[0024]可選的，所述厚度檢測儀還包括:指示桿，
[0025]所述指示桿固定設置在所述高度調節(jié)桿上，且垂直于所述高度調節(jié)桿的軸線，所述第二支撐桿和所述第三支撐桿中的至少一個支撐桿上設置有刻度，所述指示桿指示的刻度對應的長度為:所述滾輪靠近所述承載組件的面與所述承載面的距離。
[0026]可選的，所述承載組件為傳送帶組件，所述滾輪的材質為橡膠，所述彈性元件為壓縮彈簧。
[0027]綜上所述，本發(fā)明提供了一種厚度檢測儀，該厚度檢測儀中的標定組件上靠近承載組件的面與承載面平行，且標定組件上靠近承載組件的面與承載面的距離為標定距離，標定組件能夠與承載組件發(fā)生相對位移。在檢測物體的厚度是否符合標準時，可以控制標定組件與承載組件發(fā)生相對位移，并判斷置于承載面上的待檢測物體能否從標定組件與承載組件之間的空間通過，若待檢測物體無法從標定組件和承載組件之間通過，則確定該待檢測物體不符合標準。由于在檢測物體的厚度是否符合標準時，僅僅需要控制標定組件和承載組件發(fā)生相對位移，并檢測物體能否從標定組件和承載組件之間通過，厚度檢測的方法較簡單，所以，厚度檢測的速度較快，提高了厚度檢測的效率。
【附圖說明】
[0028]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0029]圖1是本發(fā)明實施例提供的一種厚度檢測儀的結構示意圖；
[0030]圖2是本發(fā)明實施例提供的另一種厚度檢測儀的結構示意圖；
[0031]圖3是本發(fā)明實施例提供的一種厚度檢測儀的局部結構示意圖；
[0032]圖4是本發(fā)明實施例提供的另一種厚度檢測儀的局部結構示意圖。
【具體實施方式】
[0033]為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合附圖對本發(fā)明實施方式作進一步地詳細描述。
[0034]如圖1所示，本發(fā)明實施例提供了一種厚度檢測儀0，該厚度檢測儀O可以包括:標定組件O I。
[0035]標定組件01位于用于承載待檢測物體I的承載組件02的上方，標定組件01上靠近承載組件02的面(圖1中未標出)與承載組件02的承載面021平行，且標定組件01靠近承載組件02的面與承載面021的距離A為標定距離，標定組件01能夠與承載組件02發(fā)生相對位移。
[0036]綜上所述，由于本發(fā)明實施例提供的厚度檢測儀中，標定組件上靠近承載組件的面與承載面平行，且標定組件上靠近承載組件的面與承載面的距離為標定距離，標定組件能夠與承載組件發(fā)生相對位移。在檢測物體的厚度是否符合標準時，可以控制標定組件與承載組件發(fā)生相對位移，并判斷置于承載面上的待檢測物體能否從標定組件與承載組件之間的空間通過，若待檢測物體無法從標定組件和承載組件之間通過，則確定該待檢測物體不符合標準。由于在檢測物體的厚度是否符合標準時，僅僅需要控制標定組件和承載組件發(fā)生相對位移，并檢測物體能否從標定組件和承載組件之間通過，厚度檢測的方法較簡單，所以，厚度檢測的速度較快，提高了厚度檢測的效率。
[0037]圖2為本發(fā)明實施例