測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種基準校對裝置，特別涉及一種測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]測量臂劃線技術(shù)主要采用測量臂對鑄件進行劃線，以驗證鑄件的尺寸是否合格。測量臂的檢測特點是將鑄件放置在工作場地上，鑄件不需要找正，通過測量臂測量點與鑄件的劃線基準相吻合后，隨即在鑄件上進行測量，軟件將測量點自動與3D數(shù)模吻合，測量點的尺寸會自動顯示在3D數(shù)模上，檢測結(jié)果直觀，利于發(fā)現(xiàn)問題。同時此技術(shù)也解決了三維劃線檢測圓弧面檢測效率低的問題，極大的提升了檢測效率。
[0003]當(dāng)產(chǎn)品品種繁多、且規(guī)格不一致時，由于測量臂的檢測設(shè)備手臂長為1.8米，因此在檢測大型鑄件時需要進行多次的轉(zhuǎn)站(轉(zhuǎn)移站位)ο目前使用的是設(shè)備自帶的“蛙跳球”進行轉(zhuǎn)站，基準校對的操作模式是沿著“蛙跳球”螺旋方向連續(xù)測量至少12個點，且必須測量三個“蛙跳球”，因此每轉(zhuǎn)站一次，需要檢測至少36個點。此基準校對方法費時費力、效率低下。
[0004]另外，在檢測精度方面設(shè)備自帶的“蛙跳球”基準測量方法誤差較大，一方面對于設(shè)備自身而言，每轉(zhuǎn)站一次，設(shè)備自身的精度誤差在0.5mm左右;另一方面由于人為操作，每個人操作者采點手法不同會導(dǎo)致檢測誤差在0.5-1.0_。因此如果檢測大型鑄件，需轉(zhuǎn)站兩次以上時將會嚴重影響到檢測尺寸的精度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明的目的在于提供一種測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，以實現(xiàn)快捷、方便、準確地測量臂的轉(zhuǎn)站。
[0006]根據(jù)本發(fā)明，提供了一種測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，包括:具有兩個相對的端面的主體結(jié)構(gòu)，所述主體結(jié)構(gòu)的一個端面上設(shè)置有用于與測量臂的測量球相匹配的錐形盲孔，所述錐形盲孔從開口向封閉端孔徑逐漸減小，所述主體結(jié)構(gòu)的另一個端面上設(shè)置有附接結(jié)構(gòu)。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述附接結(jié)構(gòu)為磁性結(jié)構(gòu)。
[0008]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述錐形盲孔的深度占所述兩個相對的端面之間的距離的三分之二。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置由鋼制成。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述主體結(jié)構(gòu)具有圓柱狀結(jié)構(gòu)。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述主體結(jié)構(gòu)具有圓臺狀結(jié)構(gòu)。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述錐形盲孔設(shè)置在所述圓臺狀結(jié)構(gòu)的較小端面上。
[0013]本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)中利用測量臂設(shè)備自帶“蛙跳球”進行基準校對費時費力、效率低下的缺陷，能快捷、方便、準確的實現(xiàn)測量臂的轉(zhuǎn)站，極大的提升了檢測效率；同時解決了檢測時的人為操作誤差，使得每轉(zhuǎn)站一次的誤差控制在0.3_及以內(nèi)，保證了檢測尺寸精度。
[0014]本發(fā)明的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置具有操作靈活、準確性高、結(jié)構(gòu)簡單等特點。所述基準校對裝置特別適合于公司生產(chǎn)的大型鑄件，特別是長度超過3.5米及以上的鑄件，同時也解決了多次轉(zhuǎn)站導(dǎo)致的檢測尺寸精度問題。
【附圖說明】
[0015]圖1是測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置的俯視圖；
[0016]圖2是從圖1的線A-A處截取的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置的截面圖。
[0017]其中，1-主體結(jié)構(gòu);2-錐形盲孔;3-磁性結(jié)構(gòu)；10-測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置。
【具體實施方式】
[0018]下面結(jié)合附圖對發(fā)明的各個實施例進行描述。
[0019]圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置10的一個實施例的俯視圖。該測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置10包括主體結(jié)構(gòu)I，主體結(jié)構(gòu)I具有兩個相對的端面。主體結(jié)構(gòu)的一個端面上設(shè)置有錐形盲孔2，如圖2的截面圖所示，錐形盲孔2從開口向封閉端孔徑逐漸減小，用于與測量臂的測量球相匹配;主體結(jié)構(gòu)的另一個端面上設(shè)置有附接結(jié)構(gòu)3。在使用時，通過附接結(jié)構(gòu)3將該測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置10附接至待測量的鑄件，測量臂的測量球伸入到錐形盲孔2中以與錐形盲孔2的錐面配合。與傳統(tǒng)的“蛙跳球”基準測量方法相比，本發(fā)明將傳統(tǒng)點配合改變?yōu)闇y量球與錐形盲孔2之間的面配合，提高了精度。
[0020]該主體結(jié)構(gòu)具有如圖所示的圓柱狀結(jié)構(gòu)，也可以具有圓臺狀結(jié)構(gòu)或其他形狀的結(jié)構(gòu)。在該主體結(jié)構(gòu)具有圓臺狀結(jié)構(gòu)的實施例中，錐形盲孔可以設(shè)置在圓臺狀結(jié)構(gòu)的較小端面上，相應(yīng)地，附接結(jié)構(gòu)設(shè)置在圓臺狀結(jié)構(gòu)的較大端面上。然而，也可以根據(jù)實際需要將錐形盲孔設(shè)置在圓臺狀結(jié)構(gòu)的較大端面上。
[0021]錐形盲孔2的深度可以自由選擇，在一個優(yōu)選實施例中，錐形盲孔2的深度可以占所述兩個相對的端面之間的距離的三分之二。
[0022]針對鑄件是鐵鑄件的情況，附接結(jié)構(gòu)可以選擇為磁性結(jié)構(gòu)，例如磁鐵。然而，在鑄件由其他材料構(gòu)成時，可以相應(yīng)地將附接結(jié)構(gòu)構(gòu)造成其他結(jié)構(gòu)，例如粘接結(jié)構(gòu)、吸附結(jié)構(gòu)等。
[0023]測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置可以由鋼制成，例如由45#鋼制成。
[0024]在使用時，將三個轉(zhuǎn)站基準校對裝置放置在鑄件平臺上，將測量臂測量球伸到錐形盲孔中，通過測量臂的讀數(shù)系統(tǒng)快速、準確的實現(xiàn)相應(yīng)位置的基準，從而實現(xiàn)測量臂的快速轉(zhuǎn)站。
[0025]本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)中利用測量臂設(shè)備自帶“蛙跳球”進行基準校對費時費力、效率低下的缺陷，能快捷、方便、準確的實現(xiàn)測量臂的轉(zhuǎn)站，極大的提升了檢測效率；同時解決了檢測時的人為操作誤差，使得每轉(zhuǎn)站一次的誤差控制在0.3_及以內(nèi)，保證了檢測尺寸精度。
[0026]本發(fā)明的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置具有操作靈活、準確性高、結(jié)構(gòu)簡單等特點。所述基準校對裝置特別適合于公司生產(chǎn)的大型鑄件，特別是長度超過3.5米及以上的鑄件，同時也解決了多次轉(zhuǎn)站導(dǎo)致的檢測尺寸精度問題。
[0027]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，其特征在于，包括:具有兩個相對的端面的主體結(jié)構(gòu)，所述主體結(jié)構(gòu)的一個端面上設(shè)置有用于與測量臂的測量球相匹配的錐形盲孔，所述錐形盲孔從開口向封閉端孔徑逐漸減小，所述主體結(jié)構(gòu)的另一個端面上設(shè)置有附接結(jié)構(gòu)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，其特征在于，所述附接結(jié)構(gòu)為磁性結(jié)構(gòu)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，其特征在于，所述錐形盲孔的深度占所述兩個相對的端面之間的距離的三分之二。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，其特征在于，所述測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置由鋼制成。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，其特征在于，所述主體結(jié)構(gòu)具有圓柱狀結(jié)構(gòu)。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，其特征在于，所述主體結(jié)構(gòu)具有圓臺狀結(jié)構(gòu)。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，其特征在于，所述錐形盲孔設(shè)置在所述圓臺狀結(jié)構(gòu)的較小端面上。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置，包括：具有兩個相對的端面的主體結(jié)構(gòu)，所述主體結(jié)構(gòu)的一個端面上設(shè)置有用于與測量臂的測量球相匹配的錐形盲孔，所述錐形盲孔從開口向封閉端孔徑逐漸減小，所述主體結(jié)構(gòu)的另一個端面上設(shè)置有附接結(jié)構(gòu)。本發(fā)明的測量臂轉(zhuǎn)站基準校對裝置具有操作靈活、準確性高、結(jié)構(gòu)簡單等特點。
【IPC分類】G01B5/00
【公開號】CN105588484
【申請?zhí)枴緾N201610107232
【發(fā)明人】郭新光, 石光順
【申請人】共享裝備股份有限公司
【公開日】2016年5月18日
【申請日】2016年2月26日