一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于平整度測量技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著我國科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，機(jī)械工業(yè)的不斷變革，對測量精度的要求也越來越高。平面的表面平整度在工業(yè)領(lǐng)域是一個(gè)常見且十分重要的一個(gè)測量項(xiàng)目，對于各類零件的定位，安裝及檢測等都有著廣泛而重要的應(yīng)用。平整度是加工或生產(chǎn)工業(yè)零件時(shí)表面不會絕對平整，所不平與絕對平整之間所差數(shù)據(jù)就是平整度，一般指晶片表面與基準(zhǔn)平面之間的最高點(diǎn)和最低點(diǎn)的差值。目前的平整度測量儀比較龐大，精度高的測量儀比較昂貴，缺乏自動化、高測量精度的便攜式平整度測量儀。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有平整度測量儀存在的不足，提供一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，包括機(jī)械探針，步進(jìn)電機(jī)，磁柵尺、底座，在所述底座的兩端設(shè)有支架，支架的一端安裝有步進(jìn)電機(jī)，在支架的中間設(shè)置絲杠導(dǎo)軌，步進(jìn)電機(jī)與絲杠導(dǎo)軌連接，在絲杠導(dǎo)軌上設(shè)置滑塊；所述磁柵尺為開放式，包括磁條、磁頭；所述磁柵尺安裝在所述滑塊的外表面，在所述滑塊上設(shè)置固定架，所述探針直接與磁條固定在固定架上，所述磁頭設(shè)置在滑塊上，所述磁頭與探針相嵌合。
[0005]進(jìn)一步地，所述磁條的輸出端與微型PC機(jī)連接，所述探針的位移轉(zhuǎn)化為所述磁條的位移，所述磁條位移轉(zhuǎn)化為模擬量輸出至微型PC機(jī)。
[0006]進(jìn)一步地，所述探針包括探針內(nèi)芯、探針外芯，在探針內(nèi)芯的下部設(shè)有彈簧。
[0007]進(jìn)一步地，所述探針內(nèi)芯的上部安裝支撐架，支撐架為倒“L”型，在“L”型的豎直邊安裝磁條。
[0008]進(jìn)一步地，在所述磁條與所述探針內(nèi)芯相平行。
[0009]進(jìn)一步地，所述探針在固定架上的固定端利用彈簧保持探針始終與待測平面保持接觸。
[0010]本發(fā)明技術(shù)方案是通過磁柵尺進(jìn)行位移測量結(jié)合微型控制面板進(jìn)行自動補(bǔ)償?shù)囊环N接觸式測量裝置，在滿足精度的要求下有效縮小裝置的尺寸，從而達(dá)到便攜的目的。
[0011]本發(fā)明設(shè)計(jì)的平整度測量儀適用于檢測中小型的金屬平面，相對輕巧，便于攜帶至實(shí)驗(yàn)現(xiàn)場，將本平整度測量儀固定于待測平面上，滑塊在步進(jìn)電機(jī)的驅(qū)動下，帶動探針沿著絲杠導(dǎo)軌來回做直線運(yùn)動，垂直于工作表面的探針隨著工作表面的不平輪廓產(chǎn)生垂直方向的位移，再通過磁柵尺將位移量轉(zhuǎn)換成電量的變化輸入微型PC機(jī)，微型PC機(jī)將在所有點(diǎn)測量完之后進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析，從而測出被測表面的表面平整度，通過液晶顯示屏顯示，從而實(shí)現(xiàn)對待測表面平整度的測量。
[0012]本發(fā)明平整度測量儀采用阿貝原則，即被測零件的尺寸線和儀器中作為讀數(shù)用的基準(zhǔn)線應(yīng)順序排成一條直線，只存在二次微小誤差，所以精度較高。
[0013]本發(fā)明的有益效果是:相對輕巧，便于攜帶至實(shí)驗(yàn)現(xiàn)場，尤其對于很多不便于拆卸的平面平整度能夠進(jìn)行有效而便捷的測量；精度較高，無需人員讀數(shù)或者其余高難度操作；自動化程度高，能夠準(zhǔn)確獲得位置信息及該位置的平整度信息；符合經(jīng)濟(jì)原則，成本低，物
美價(jià)廉。
【附圖說明】
[0014]圖1是一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀結(jié)構(gòu)圖。
[0015]圖2是探針及磁條的裝配圖。
[0016]其中:1.步進(jìn)電機(jī)；2.絲杠導(dǎo)軌；3.滑塊；4.固定架；5.支架；6.底座；7.探針；8.磁條；9.磁頭；10.待測平面；11.支撐架；12.探針內(nèi)芯；13.探針外芯；14.彈簧。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。
[0018]在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術(shù)語“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。
[0019]—種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，包括機(jī)械探針7，步進(jìn)電機(jī)1，磁柵尺、底座6，在所述底座6的兩端設(shè)有支架5，支架5的一端安裝有步進(jìn)電機(jī)1，在支架5的中間設(shè)置絲杠導(dǎo)軌2，步進(jìn)電機(jī)1與絲杠導(dǎo)軌2連接，在絲杠導(dǎo)軌2上設(shè)置滑塊3 ;所述磁柵尺為開放式，包括磁條8、磁頭9 ;所述磁柵尺安裝在所述滑塊3的外表面，在所述滑塊3上設(shè)置固定架4，所述探針7直接與磁條8固定在固定架4上，所述磁頭9設(shè)置在滑塊3上，所述磁頭9與探針7相嵌合。
[0020]所述磁條8的輸出端與微型PC機(jī)連接，所述探針7的位移轉(zhuǎn)化為所述磁條8的位移，所述磁條8位移轉(zhuǎn)化為模擬量輸出至微型PC。
[0021]所述探針7包括探針內(nèi)芯12、探針外芯13，在探針內(nèi)芯12的下部設(shè)有彈簧14。
[0022]在所述探針內(nèi)芯12的上部安裝支撐架11，支撐架11為倒“L”型，在“L”型的豎直邊安裝磁條8。
[0023]在所述磁條8與所述探針內(nèi)芯12相平行。
[0024]所述探針7在固定架4上的固定端利用彈簧14保持探針7始終與待測平面10保持接觸。
[0025]盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例，可以理解的是，上述實(shí)施例是示例性的，不能理解為對本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，包括機(jī)械探針(7)，步進(jìn)電機(jī)(1)，磁柵尺、底座(6 )，其特征是在所述底座(6 )的兩端設(shè)有支架(5 )，支架(5 )的一端安裝有步進(jìn)電機(jī)(1)，在支架(5)的中間設(shè)置絲杠導(dǎo)軌(2)，步進(jìn)電機(jī)(1)與絲杠導(dǎo)軌(2)連接，在絲杠導(dǎo)軌(2)上設(shè)置滑塊(3);所述磁柵尺為開放式，包括磁條(8)、磁頭(9);所述磁柵尺安裝在所述滑塊(3 )的外表面，在所述滑塊(3 )上設(shè)置固定架(4 )，所述探針(7 )直接與磁條(8 )固定在固定架(4 )上，所述磁頭(9 )設(shè)置在滑塊(3 )上，所述磁頭(9 )與探針(7 )相嵌合。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述磁條(8)的輸出端與微型PC機(jī)連接，所述探針(7)的位移轉(zhuǎn)化為所述磁條(8)的位移，所述磁條(8)位移轉(zhuǎn)化為模擬量輸出至微型PC。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述探針(7)包括探針內(nèi)芯(12)、探針外芯(13)，在探針內(nèi)芯(12)的下部設(shè)有彈簧(14)。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是在所述探針內(nèi)芯(12)的上部安裝支撐架(11)，支撐架(11)為倒“L”型，在“L”型的豎直邊安裝磁條(8)05.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是在所述磁條(8)與所述探針內(nèi)芯(12)相平行。6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述探針(7)在固定架(4)上的固定端利用彈簧(14)保持探針(7)始終與待測平面(10)保持接觸。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀。包括機(jī)械探針7，步進(jìn)電機(jī)1，磁柵尺、底座6，在所述底座6的兩端設(shè)有支架5，支架5的一端安裝有步進(jìn)電機(jī)1，在支架5的中間設(shè)置絲杠導(dǎo)軌2，步進(jìn)電機(jī)1與絲杠導(dǎo)軌2連接，在絲杠導(dǎo)軌2上設(shè)置滑塊3；所述磁柵尺為開放式，包括磁條8、磁頭9；所述磁柵尺安裝在所述滑塊3的外表面，在所述滑塊3上設(shè)置固定架4，所述探針7直接與磁條8固定在固定架4上，所述磁頭9設(shè)置在滑塊3上，所述磁頭9與探針7相嵌合。本發(fā)明便于攜帶至實(shí)驗(yàn)現(xiàn)場，尤其對于很多不便于拆卸的平面平整度能夠進(jìn)行有效而便捷的測量；精度較高，無需人員讀數(shù)或者其余高難度操作；自動化程度高，能夠準(zhǔn)確獲得位置信息及該位置的平整度信息。
【IPC分類】G01B7/34
【公開號】CN105403142
【申請?zhí)枴緾N201510826674
【發(fā)明人】張代林, 朱鴻, 左蘇, 劉陽, 陳幼平, 張岡, 張興, 張湧正
【申請人】華中科技大學(xué)
【公開日】2016年3月16日
【申請日】2015年11月25日