電測(cè)測(cè)試頭的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試機(jī)構(gòu)，特別是涉及一種電測(cè)測(cè)試頭，屬于鍵盤自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備用零部件技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]作為主要的輸入結(jié)構(gòu)，按鍵被廣泛地應(yīng)用于計(jì)算機(jī)鍵盤、手機(jī)以及計(jì)算器等電子產(chǎn)品中；對(duì)于計(jì)算機(jī)鍵盤、手機(jī)以及計(jì)算器等電子產(chǎn)品而言，工作時(shí)必須敲打按鍵以使得按鍵觸點(diǎn)導(dǎo)通斷開(kāi)，從而將字母、數(shù)字、標(biāo)點(diǎn)符號(hào)等輸入到相應(yīng)的計(jì)算機(jī)、手機(jī)或者計(jì)算器中。
[0003]因此，鍵盤的質(zhì)量及其功能是否正常操作，將直接影響到電子設(shè)備操作的穩(wěn)定性。同時(shí)，在鍵盤中直接的操作單元是按鍵，所以按鍵的品質(zhì)測(cè)試對(duì)于鍵盤而言，是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。在鍵盤生產(chǎn)過(guò)程中，出產(chǎn)前必須對(duì)鍵盤成品進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)，需要對(duì)每一個(gè)按鍵進(jìn)行擊打，以測(cè)試其回彈和觸點(diǎn)的通斷等測(cè)試項(xiàng)目。
[0004]然而，目前業(yè)界對(duì)于鍵盤按鍵的測(cè)試，一般采用人工或機(jī)器來(lái)測(cè)試。人工測(cè)試方式是以雇用大量勞工逐一按壓鍵盤中每一個(gè)按鍵，采用人工測(cè)試方式存在諸多缺點(diǎn):需要操作人員與測(cè)試軟體交互配合，在測(cè)試軟體發(fā)出命令之后，等待操作人員按壓按鍵；測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)且效率低；操作人員按壓按鍵時(shí)可能出錯(cuò)，需要多次反復(fù)測(cè)試；以及操作人員容易操作疲勞而出現(xiàn)怠工現(xiàn)象等。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)中采用機(jī)器測(cè)試鍵盤的方式已經(jīng)得到越來(lái)越廣泛的應(yīng)用，但是現(xiàn)有鍵盤自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備仍存在機(jī)械結(jié)構(gòu)復(fù)雜、不易維修、通用性差、定位精度低等缺陷。
[0006]電性能是電子元器件的質(zhì)量核心，隨著自動(dòng)化設(shè)備的大力推廣，高速、準(zhǔn)確和簡(jiǎn)便的元器件電性能測(cè)試方式尤顯重要。目前，對(duì)鍵盤按鍵進(jìn)行電性能或過(guò)靈敏等測(cè)試所使用的測(cè)試頭結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，在生產(chǎn)線實(shí)際的使用過(guò)程中由于測(cè)試頭易磨損，而導(dǎo)致測(cè)試頭必須定期更換，使得維修和維護(hù)頻次非常高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的主要目的在于，克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種新型結(jié)構(gòu)的電測(cè)測(cè)試頭，特別適用于計(jì)算機(jī)鍵盤的電性能測(cè)試機(jī)使用。
[0008]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供結(jié)構(gòu)緊湊、拆裝方便、制作容易、安全可靠、實(shí)用性強(qiáng)的電測(cè)測(cè)試頭，用于在減少人工參與的前提下，實(shí)現(xiàn)鍵盤的自動(dòng)測(cè)試電性功能和/或過(guò)靈敏性能，不僅自動(dòng)化程度高，測(cè)試準(zhǔn)確高效；而且可克服傳統(tǒng)的元器件測(cè)試結(jié)構(gòu)復(fù)雜不便于維護(hù)的缺點(diǎn)，簡(jiǎn)便耐損，大幅節(jié)省測(cè)試設(shè)備的更換成本；且具有產(chǎn)業(yè)上的利用價(jià)值。
[0009]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種電測(cè)測(cè)試頭，包括垂直設(shè)置的固定架、安裝于固定架的測(cè)試頭組件，所述測(cè)試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼。
[0010]其中，所述電磁鐵固定于固定架，電磁鐵的頂端為自由端、用于與測(cè)試導(dǎo)線相連，電磁鐵的底端套穿入砝碼的頂端并鎖緊有墊片；所述砝碼的頂端套接于電磁鐵底端、并懸掛搭接于墊片，砝碼的底端為自由端、作用于待測(cè)試鍵盤中的按鍵；所述砝碼在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵的底端上移。
[0011]本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為:所述固定架包括底板，垂直設(shè)置于底板的固定環(huán)和限位環(huán)；所述電磁鐵固定于固定環(huán)，所述砝碼套裝入限位環(huán)。
[0012]本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為:所述底板的頂端設(shè)置有懸掛連接用的固定孔。
[0013]本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為:所述底板設(shè)置有減輕孔。
[0014]本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為:所述固定環(huán)為一個(gè)，所述限位環(huán)為兩個(gè)、自上而下依次為第一限位環(huán)和第二限位環(huán)；所述電磁鐵的底端和砝碼的頂端分布于固定環(huán)和第一限位環(huán)之間，所述砝碼的底端延伸出第二限位環(huán)。
[0015]本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為:所述電磁鐵的頂端套裝有彈簧。
[0016]本發(fā)明進(jìn)一步設(shè)置為:所述電磁鐵通過(guò)螺母鎖緊于固定環(huán)，所述螺母鎖緊于固定環(huán)的頂面。
[0017]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有的有益效果是:
通過(guò)固定架和測(cè)試頭組件的設(shè)置，其中測(cè)試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼，采用砝碼自由落體敲擊按鍵的方式可實(shí)現(xiàn)過(guò)靈敏性能的測(cè)試，采用電磁導(dǎo)通擊打按鍵的方式可實(shí)現(xiàn)電性功能的測(cè)試，測(cè)試頭組件集成度高、自動(dòng)化程度高，模組共用，大幅節(jié)省成本，并且測(cè)試準(zhǔn)確高效；可克服傳統(tǒng)的元器件測(cè)試結(jié)構(gòu)復(fù)雜不便于維護(hù)的缺點(diǎn)，簡(jiǎn)便耐損，從而大幅節(jié)省測(cè)試設(shè)備的更換成本。
[0018]上述內(nèi)容僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了更清楚的了解本發(fā)明的技術(shù)手段，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。
【附圖說(shuō)明】
[0019]圖1為本發(fā)明電測(cè)測(cè)試頭的立體結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為本發(fā)明電測(cè)測(cè)試頭的正視結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3為本發(fā)明電測(cè)測(cè)試頭的側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0020]下面結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。
[0021]如圖1、圖2及圖3所示，一種電測(cè)測(cè)試頭，包括垂直設(shè)置的固定架1、安裝于固定架1的測(cè)試頭組件，所述測(cè)試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵2和砝碼3 ;所述電磁鐵2固定于固定架1，電磁鐵2的頂端為自由端、用于與測(cè)試導(dǎo)線相連，電磁鐵2的底端套穿入砝碼3的頂端并鎖緊有墊片4 ;所述砝碼3的頂端套接于電磁鐵2底端、并懸掛搭接于墊片4，砝碼3的底端為自由端、作用于待測(cè)試鍵盤中的按鍵；所述砝碼3在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵2的底端上移。
[0022]所述固定架1包括底板11，垂直設(shè)置于底板11的固定環(huán)12和限位環(huán)13 ;所述電磁鐵2固定于固定環(huán)12，所述砝碼3套裝入限位環(huán)13 ;所述電磁鐵2的頂端套裝有彈簧21，所述電磁鐵2通過(guò)螺母22鎖緊于固定環(huán)12，所述螺母22鎖緊于固定環(huán)12的頂面。
[0023]所述固定環(huán)12為一個(gè)，所述限位環(huán)13為兩個(gè)、自上而下依次為第一限位環(huán)131和第二限位環(huán)132 ;所述電磁鐵2的底端和砝碼3的頂端分布于固定環(huán)12和第一限位環(huán)131之間，所述砝碼3的底端延伸出第二限位環(huán)132。
[0024]如圖1所示，所述底板11的頂端設(shè)置有懸掛連接用的固定孔111，所述底板11設(shè)置有減輕孔112。
[0025]本發(fā)明的創(chuàng)新點(diǎn)在于，自動(dòng)化程度高，測(cè)試準(zhǔn)確高效，結(jié)構(gòu)緊湊、簡(jiǎn)便耐損、更換成本低。
[0026]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何的簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電測(cè)測(cè)試頭，其特征在于:包括垂直設(shè)置的固定架、安裝于固定架的測(cè)試頭組件，所述測(cè)試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼； 所述電磁鐵固定于固定架，電磁鐵的頂端為自由端、用于與測(cè)試導(dǎo)線相連，電磁鐵的底端套穿入砝碼的頂端并鎖緊有墊片； 所述砝碼的頂端套接于電磁鐵底端、并懸掛搭接于墊片，砝碼的底端為自由端、作用于待測(cè)試鍵盤中的按鍵；所述砝碼在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵的底端上移。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電測(cè)測(cè)試頭，其特征在于:所述固定架包括底板，垂直設(shè)置于底板的固定環(huán)和限位環(huán)；所述電磁鐵固定于固定環(huán)，所述砝碼套裝入限位環(huán)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電測(cè)測(cè)試頭，其特征在于:所述底板的頂端設(shè)置有懸掛連接用的固定孔。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電測(cè)測(cè)試頭，其特征在于:所述底板設(shè)置有減輕孔。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電測(cè)測(cè)試頭，其特征在于:所述固定環(huán)為一個(gè)，所述限位環(huán)為兩個(gè)、自上而下依次為第一限位環(huán)和第二限位環(huán)；所述電磁鐵的底端和砝碼的頂端分布于固定環(huán)和第一限位環(huán)之間，所述砝碼的底端延伸出第二限位環(huán)。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電測(cè)測(cè)試頭，其特征在于:所述電磁鐵的頂端套裝有彈簧。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電測(cè)測(cè)試頭，其特征在于:所述電磁鐵通過(guò)螺母鎖緊于固定環(huán)，所述螺母鎖緊于固定環(huán)的頂面。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種電測(cè)測(cè)試頭，包括垂直設(shè)置的固定架、安裝于固定架的測(cè)試頭組件，所述測(cè)試頭組件自上而下包括搭接式相連的電磁鐵和砝碼；所述電磁鐵固定于固定架，電磁鐵的頂端為自由端、用于與測(cè)試導(dǎo)線相連，電磁鐵的底端套穿入砝碼的頂端并鎖緊有墊片；所述砝碼的頂端套接于電磁鐵底端、并懸掛搭接于墊片，砝碼的底端為自由端、作用于待測(cè)試鍵盤中的按鍵；所述砝碼在作用于按鍵而向上受力后可沿電磁鐵的底端上移。結(jié)構(gòu)緊湊、拆裝方便、制作容易、安全可靠、實(shí)用性強(qiáng)，不僅自動(dòng)化程度高，測(cè)試準(zhǔn)確高效；而且可克服傳統(tǒng)的元器件測(cè)試結(jié)構(gòu)復(fù)雜不便于維護(hù)的缺點(diǎn)，簡(jiǎn)便耐損，大幅節(jié)省測(cè)試設(shè)備的更換成本。
【IPC分類】G01R31/327
【公開(kāi)號(hào)】CN105277877
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510700945
【發(fā)明人】劉利剛
【申請(qǐng)人】昆山鴻志犀自動(dòng)化機(jī)電設(shè)備有限公司
【公開(kāi)日】2016年1月27日
【申請(qǐng)日】2015年10月26日