一種輸入輸出阻抗智能化測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種輸入輸出阻抗智能化測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 輸入輸出阻抗測(cè)試是航天控制分系統(tǒng)測(cè)試前必須先執(zhí)行的一項(xiàng)重要工作，系統(tǒng)中 產(chǎn)品之間相互連接，阻抗匹配對(duì)信號(hào)傳輸至關(guān)重要。
[0003] 長(zhǎng)期以來(lái)，輸入阻抗測(cè)試方法采用外加供電電壓和串接一個(gè)電阻的方式實(shí)現(xiàn)測(cè) 試。輸出阻抗測(cè)試方法采用串接一個(gè)電阻并測(cè)量串接前后的電壓實(shí)現(xiàn)測(cè)試。該測(cè)試方法效 率低，操作方法繁瑣，且容易出錯(cuò)。而且，不同產(chǎn)品的輸入輸出阻抗值差異性較大，在輸入輸 出阻抗測(cè)試過(guò)程中，采用同一固定串接電阻參與測(cè)量，容易產(chǎn)生非常大的誤差。當(dāng)測(cè)試用的 匹配串接電阻值與需要測(cè)量的輸入或輸出阻抗值差距較大時(shí)，測(cè)試產(chǎn)生的數(shù)據(jù)甚至將無(wú)法 使用。
[0004] 目前市場(chǎng)上的阻抗測(cè)試儀測(cè)試方法主要是基于阻抗網(wǎng)絡(luò)測(cè)試方法和電流激勵(lì)測(cè) 試方法。直流阻抗測(cè)試方法測(cè)量時(shí)需要在短時(shí)間內(nèi)在產(chǎn)品內(nèi)通過(guò)一個(gè)很大的恒定直流電 流，這樣對(duì)產(chǎn)品會(huì)造成損傷。若通過(guò)電流太小，在內(nèi)阻較小的情況下，測(cè)量誤差大。阻抗網(wǎng) 絡(luò)測(cè)試方法引入了復(fù)雜的阻抗網(wǎng)絡(luò)，在操作和實(shí)現(xiàn)上復(fù)雜化，由于操作和使用上存在一些 限制，在航天產(chǎn)品輸入輸出阻抗測(cè)試應(yīng)用上存在不足。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的技術(shù)解決問(wèn)題是：克服現(xiàn)有輸入輸出阻抗測(cè)試方法操作繁瑣、容易產(chǎn)生 錯(cuò)誤的不足，提出了一種輸入輸出阻抗智能化測(cè)試方法，本發(fā)明能夠在輸入輸出阻抗測(cè)試 過(guò)程中選擇切換最佳接入電阻測(cè)量并通過(guò)多組測(cè)量降低誤差，解決了現(xiàn)有技術(shù)效率低、操 作復(fù)雜和誤差大的問(wèn)題，同時(shí)避免電流過(guò)大對(duì)產(chǎn)品造成傷害。
[0006] 本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：
[0007] -種輸入輸出阻抗智能化測(cè)試方法，包括輸入阻抗測(cè)試方法和輸出阻抗測(cè)試方 法；
[0008] 其中，輸入阻抗測(cè)試方法包括如下步驟：
[0009] (101)所需測(cè)試的輸入阻抗R人一端接地，另一端接入電阻R1;
[0010] (102)在輸入阻抗R人接地端及電阻R1未與輸入阻抗R人連接的一端加電壓V。；
[0011] (103)測(cè)量輸入阻抗R人兩端電壓V1;
[0012] (104)判斷電壓乂1是否大于
[0013] (105)若V1不大于I，則減小電阻&的阻值后重新接入電阻R 1;
[0014] (106)接入減小了阻值的電阻&后，預(yù)估電路中電流值是否大于設(shè)定值；
[0015] (107)若電流值大于設(shè)定值，則減小步驟（102)中所加電壓V。的電壓值，重復(fù)步驟 (103)~步驟（106)，直到V1大于I;若電流值在設(shè)定值的范圍內(nèi)，重復(fù)步驟（103)~步驟 (106)，直到V1大于I; 2
[0016] (108)比較H j I和11?的大小，其中，Via為步驟（107)中測(cè)得的首個(gè)大 于與的V1,V1前為在V1當(dāng)前測(cè)得的最后一個(gè)小于.的V1;若H-導(dǎo)丨小于Kr廠導(dǎo)I，則取V 1 2. 2. L 2 3為V1的計(jì)算電壓值，否則取V i M為V1的計(jì)算電壓值；
[0017] (109)將步驟（108)中獲得的V1的計(jì)算電壓值V1計(jì)、與V 1 i+對(duì)應(yīng)的電阻R1和電壓 V0代入公式R人=R1 · W(V0-Vlit)，計(jì)算得出輸入阻抗R入；
[0018] (110)重復(fù)步驟（101)~步驟（109)，計(jì)算獲得至少兩組輸入阻抗R入值，對(duì)獲得的 輸入阻抗Rx值進(jìn)行算術(shù)平均作為最終的輸入阻抗值；
[0019] 輸出阻抗測(cè)試方法包括如下步驟：
[0020] (201)將電壓源負(fù)極接地，正極連接所需測(cè)試的輸出阻抗R出；
[0021] (202)測(cè)量輸出阻抗1^未與電壓源連接的一端及電壓源接地端之間的電壓V。；
[0022] (203)接入電阻R1，電阻R1-端接地，另一端與輸出阻抗R a未與電壓源連接的一 端相連；
[0023] (204)測(cè)量電阻札兩端電壓V 1;
[0024] (205)判斷電SV1是否小于^; .2.
[0025] (206)若V1不小于I則減小電阻R1的阻值，重復(fù)步驟（203)~步驟（205)，直到 VJ、于 V: 2
[0026] (207)比較Ik-和I 的大小，其中，Via為步驟（206)中測(cè)得的首個(gè)小 于警.的V" V1前為在V1當(dāng)前測(cè)得的最后一個(gè)大于的V1;若丨{^當(dāng)I小于'.I.朽:前-警|，則取V 1 3為V1的計(jì)算電壓值，否則取V i M為V1的計(jì)算電壓值；
[0027] (208)將步驟（207)中獲得的V1的計(jì)算電壓值V li+·、與Vh+對(duì)應(yīng)的電阻R1和電壓 V。代入公式R a = R1 · (Vq-V1計(jì)）/V1計(jì)，計(jì)算得出輸出阻抗R出；
[0028] (209)重復(fù)步驟（203)~步驟（208)，計(jì)算獲得至少兩組輸出阻抗Ra值，對(duì)獲得的 輸出阻抗R a值進(jìn)行算術(shù)平均作為最終的輸出阻抗值。
[0029] 所述的輸入阻抗測(cè)試方法中設(shè)定值為輸入阻抗Rx所在產(chǎn)品的額定電流值。
[0030] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于：
[0031] (1)本發(fā)明的輸入輸出阻抗測(cè)試方法可以根據(jù)電壓測(cè)量信息及歷史測(cè)量的相對(duì)誤 差反饋信息選擇測(cè)量使用的接入電阻R1，通過(guò)測(cè)量過(guò)程不斷的測(cè)量反饋，改變所選擇的接 入電阻&的電阻值，選擇與所需測(cè)試的產(chǎn)品輸入輸出阻抗最匹配的接入電壓，提高測(cè)量精 度。
[0032] (2)本發(fā)明的輸入阻抗測(cè)試方法中，通過(guò)設(shè)定限定值及預(yù)估電路中的電流值來(lái)及 時(shí)降低輸入阻抗測(cè)試初始步驟中的接入電壓，避免輸入電流過(guò)大，具有產(chǎn)品保護(hù)功能。
[0033] (3)本發(fā)明所有測(cè)試流程通過(guò)測(cè)量設(shè)備自動(dòng)化完成，同時(shí)對(duì)最終的測(cè)試數(shù)據(jù)取多 次平均處理，精度高，效率高，避免了常規(guī)的測(cè)量操作和阻抗選擇帶來(lái)的巨大工作量。
【附圖說(shuō)明】
[0034] 圖1為本發(fā)明輸入阻抗測(cè)試方法的流程框圖；
[0035] 圖2為本發(fā)明輸入阻抗測(cè)試方法原理圖；
[0036] 圖3為本發(fā)明輸出阻抗測(cè)試方法的流程框圖；
[0037] 圖4為本發(fā)明輸出阻抗測(cè)試方法原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0038] -種輸入輸出阻抗智能化測(cè)試方法，包括輸入阻抗測(cè)試方法和輸出阻抗測(cè)試方 法；根據(jù)所需測(cè)試的產(chǎn)品中測(cè)量對(duì)象的需求，選擇采用輸入阻抗測(cè)試方法或輸出阻抗測(cè)試 方法；如果測(cè)量對(duì)象為輸入阻抗則采用輸入阻抗測(cè)量方法；如果測(cè)量對(duì)象為輸出阻抗則采 用輸出阻抗測(cè)量方法。
[0039] 其中，如圖1所示，輸入阻抗測(cè)試方法包括如下步驟：
[0040] (101)所需測(cè)試的輸入阻抗R人一端接地，另一端接入電阻R1;
[0041] (102)在輸入阻抗Rx接地端及電阻R1未與輸入阻抗R a連接的一端加電壓V。；
[0042] (103)測(cè)量輸入阻抗R人兩端電壓V1;
[0043] (104)判斷電壓否大于
[0044] (105)若V1不大于^，則減小電阻札的阻值后重新接入電阻R 1; .1
[0045] (106)接入減小了阻值的電阻R1后，預(yù)估電路中電流值是否大于設(shè)定值，其中，設(shè) 定值為所需測(cè)試的產(chǎn)品的額定電流值；
[0046] (107)若電