Sld器件可靠性評估方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子器件檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種SLD器件可靠性評估方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 超輻射發(fā)光二極管（SLD)是一種介于激光二極管（LD)和發(fā)光二極管（LED)之間 的半導(dǎo)體光源，滿足光纖陀螺所要求的高輸出功率和短相干長度。
[0003] 隨著武器裝備向高可靠性發(fā)展，超輻射發(fā)光二極管（SLD)作為武器裝備的一種新 型、關(guān)鍵電子元器件，其可靠性水平對武器裝備的安全使用具有重要影響，當(dāng)前SLD可靠性 在武器裝備中相對薄弱，因此對其開展可靠性預(yù)計(jì)研宄十分必要。目前尚沒有針對SLD器 件的可靠性評估模型，在具體應(yīng)用中，一般直接套用激光二極管（LD)的可靠性評估模型。
[0004] 考慮到SLD器件的可靠性對武器裝備的重大影響，SLD的可靠性預(yù)計(jì)模型必須有 效的反映出其真實(shí)的可靠性水平，且SLD作為一個組件級別的元器件，其內(nèi)部包括各種組 成器件，而現(xiàn)有的LD可靠性預(yù)計(jì)模型將器件作為整體，給出了一個基本失效率，這樣無法 反映出SLD器件內(nèi)不同型號的組成器件對SLD器件可靠性的影響，因此，直接套用激光二極 管LD的可靠性評估模型對SLD器件進(jìn)行可靠性評估的評估結(jié)果與SLD器件的真實(shí)可靠性 存在較大偏差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 基于此，有必要針對直接套用激光二極管LD的可靠性評估模型對SLD器件進(jìn)行可 靠性評估的評估結(jié)果與SLD器件的真實(shí)可靠性存在較大偏差的問題，提供一種SLD器件可 靠性評估方法。
[0006] 一種SLD器件可靠性評估方法，包括以下步驟：
[0007] 獲取SLD器件內(nèi)管芯的基本失效率和溫度系數(shù)，并將所述管芯的基本失效率和所 述管芯的溫度系數(shù)的乘積轉(zhuǎn)換為所述管芯的失效參數(shù)；
[0008] 獲取所述SLD器件內(nèi)光纖焊點(diǎn)的耦合失效率，生成所述光纖焊點(diǎn)的失效參數(shù)；
[0009] 獲取所述SLD器件內(nèi)制冷器的基本失效率，生成所述制冷器的失效參數(shù)；
[0010] 獲取所述SLD器件內(nèi)熱敏電阻的基本失效率和溫度系數(shù)，并將所述熱敏電阻的基 本失效率和所述熱敏電阻的溫度系數(shù)的乘積的2倍轉(zhuǎn)換為所述熱敏電阻的失效參數(shù)； [0011] 將所述管芯的失效參數(shù)、所述光纖焊點(diǎn)的失效參數(shù)、所述制冷器的失效參數(shù)和所 述熱敏電阻的失效參數(shù)轉(zhuǎn)換為所述SLD器件的失效參數(shù)；
[0012] 根據(jù)所述SLD器件的失效參數(shù)對所述SLD器件的可靠性進(jìn)行評估。
[0013] 上述SLD器件可靠性評估方法，獲取SLD器件內(nèi)管芯的失效參數(shù)、光纖焊點(diǎn)的失效 參數(shù)、制冷器的失效參數(shù)和熱敏電阻的失效參數(shù)，將所述管芯的失效參數(shù)、所述光纖焊點(diǎn)的 失效參數(shù)、所述制冷器的失效參數(shù)和所述熱敏電阻的失效參數(shù)轉(zhuǎn)換為所述SLD器件的失效 參數(shù)；根據(jù)所述SLD器件的失效參數(shù)對所述SLD器件的可靠性進(jìn)行評估，可反映出SLD器 件內(nèi)不同型號的組成器件對SLD器件可靠性的影響，保證了可靠性評估結(jié)果的完整性和準(zhǔn) 確性，且簡捷高效、工程實(shí)用性強(qiáng)，同時又能夠反映當(dāng)前國內(nèi)SLD器件存在的主要可靠性問 題。
【附圖說明】
[0014] 圖1是本發(fā)明SLD器件可靠性評估方法第一實(shí)施方式的流程示意圖；
[0015] 圖2是本發(fā)明SLD器件可靠性評估方法第二實(shí)施方式的流程示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016] 本發(fā)明中的步驟雖然用標(biāo)號進(jìn)行了排列，但并不用于限定步驟的先后次序，除非 明確說明了步驟的次序或者某步驟的執(zhí)行需要其他步驟作為基礎(chǔ)，否則步驟的相對次序是 可以調(diào)整的。
[0017] 請參閱圖1，圖1是本發(fā)明SLD器件可靠性評估方法第一實(shí)施方式的流程示意圖。
[0018] 本實(shí)施方式所述的SLD器件可靠性評估方法，可包括以下步驟：
[0019] 步驟SlOl，獲取SLD器件內(nèi)管芯的基本失效率和溫度系數(shù)，并將所述管芯的基本 失效率和所述管芯的溫度系數(shù)的乘積轉(zhuǎn)換為所述管芯的失效參數(shù)。
[0020] 步驟S102,獲取所述SLD器件內(nèi)光纖焊點(diǎn)的耦合失效率，生成所述光纖焊點(diǎn)的失 效參數(shù)。
[0021] 步驟S103,獲取所述SLD器件內(nèi)制冷器的基本失效率，生成所述制冷器的失效參 數(shù)。
[0022] 步驟S104,獲取所述SLD器件內(nèi)熱敏電阻的基本失效率和溫度系數(shù)，并將所述熱 敏電阻的基本失效率和所述熱敏電阻的溫度系數(shù)的乘積的2倍轉(zhuǎn)換為所述熱敏電阻的失 效參數(shù)。
[0023] 步驟S105,將所述管芯的失效參數(shù)、所述光纖焊點(diǎn)的失效參數(shù)、所述制冷器的失效 參數(shù)和所述熱敏電阻的失效參數(shù)轉(zhuǎn)換為所述SLD器件的失效參數(shù)。
[0024] 步驟S106,根據(jù)所述SLD器件的失效參數(shù)對所述SLD器件的可靠性進(jìn)行評估。
[0025] 本實(shí)施方式，獲取SLD器件內(nèi)管芯的失效參數(shù)、光纖焊點(diǎn)的失效參數(shù)、制冷器的失 效參數(shù)和熱敏電阻的失效參數(shù)，將所述管芯的失效參數(shù)、所述光纖焊點(diǎn)的失效參數(shù)、所述制 冷器的失效參數(shù)和所述熱敏電阻的失效參數(shù)轉(zhuǎn)換為所述SLD器件的失效參數(shù)；根據(jù)所述 SLD器件的失效參數(shù)對所述SLD器件的可靠性進(jìn)行評估，可反映出SLD器件內(nèi)不同型號的組 成器件對SLD器件可靠性的影響，保證了可靠性評估結(jié)果的完整性和準(zhǔn)確性，且簡捷高效、 工程實(shí)用性強(qiáng)，同時又能夠反映當(dāng)前國內(nèi)SLD器件存在的主要可靠性問題。
[0026] 其中，對于步驟S101，優(yōu)選地，管芯的基本失效率為3. 3xl0_7,管芯的溫度系數(shù)為 管芯的溫度應(yīng)力系數(shù)，隨環(huán)境溫度的變化而變化。
[0027] 在一個實(shí)施例中，獲取SLD器件內(nèi)管芯的基本失效率和溫度系數(shù)的步驟包括以下 步驟：
[0028] 檢測所述管芯的環(huán)境溫度。
[0029] 根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)境溫度與管芯的溫度應(yīng)力系數(shù)間的對應(yīng)關(guān)系，生成與檢測的環(huán)境溫 度對應(yīng)的溫度應(yīng)力系數(shù)為所述管芯的溫度系數(shù)。
[0030] 優(yōu)選地，檢測的環(huán)境溫度的范圍為0攝氏度至125攝氏度。
[0031] 進(jìn)一步地，管芯的溫度應(yīng)力系數(shù)如表1所示：
[0032] 表1管芯的溫度應(yīng)力系數(shù)：
[0033]
[0034] 其中，π n為溫度應(yīng)力系數(shù)。
[0035] 對于步驟S102,優(yōu)選地，光纖焊點(diǎn)的耦合失效率與焊點(diǎn)工藝相關(guān)，可為5χ1〇Λ
[0036] 對于步驟S103,優(yōu)選地，制冷器的基本失效率可為4. 9χ1〇Λ
[0037] 對于步驟S104,優(yōu)選地，熱敏電阻的基本失效率為4. 5xl(T8,熱敏電阻的溫度系數(shù) 為管芯的溫度應(yīng)力系數(shù)，隨環(huán)境溫度的變化而變化。
[0038] 在一個實(shí)施例中，獲取所述SLD器件內(nèi)熱敏電阻的基本失效率和溫度系數(shù)的步驟 包括以下步驟：
[0039] 檢測所述熱敏電阻的環(huán)境溫度。
[0040] 根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)境溫度與熱敏電阻的溫度應(yīng)力系數(shù)間的對應(yīng)關(guān)系，生成與檢測的環(huán) 境溫度對應(yīng)的溫度應(yīng)力系數(shù)為所述熱敏電阻的溫度系數(shù)。
[0041] 優(yōu)選地，檢測的環(huán)境溫度的范圍可為25攝氏度至125攝氏度。
[0042] 進(jìn)一步地，熱敏電阻的溫度系數(shù)如表2所示