一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電子器件的測(cè)試系統(tǒng)，具體涉及一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]電子產(chǎn)品的可靠性從根本上由元器件的質(zhì)量來(lái)決定，電阻器是使用最廣泛的元器件之一，其測(cè)試工作開(kāi)始規(guī)范化，《GB/T 5729-2003電子設(shè)備用固定電阻器》與《Q/GDW11179.3電能表用元器件技術(shù)規(guī)范第3部分:電阻器》元器件標(biāo)準(zhǔn)都對(duì)電阻器測(cè)試方法進(jìn)行了明確規(guī)定。隨著表面貼裝技術(shù)的發(fā)展貼片電阻器逐漸取代引線電阻器，而貼片電阻器由于體積太小導(dǎo)致了測(cè)試的不便，具體為:
[0003]1、分組及編號(hào)困難且易丟失
[0004]貼片電阻器由于體積太小，無(wú)法在電阻器上直接編號(hào)分組且電阻器容易丟失，這給電阻器分組試驗(yàn)測(cè)試帶來(lái)了極大的不便，試驗(yàn)人員經(jīng)常因找尋貼片電阻器而浪費(fèi)大量的時(shí)間和精力。
[0005]2、電阻器測(cè)量易受引線及接觸電阻的影響
[0006]電阻器測(cè)量電路中總是存在接觸電阻和導(dǎo)線電阻，其數(shù)量級(jí)有時(shí)和被測(cè)電阻相同，甚至可能高于被測(cè)電阻，所以會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成很大影響，甚至使測(cè)量結(jié)果完全失去正確性。導(dǎo)線電阻是可控的，而接觸電阻的隨意性非常大，同一個(gè)電阻放置在夾具的不同位置接觸電阻不同，不同的測(cè)試人員測(cè)試時(shí)用力的差別也可能帶來(lái)接觸電阻的不同。
[0007]3、電阻環(huán)境試驗(yàn)難以開(kāi)展
[0008]環(huán)境對(duì)元器件性能的影響一直是評(píng)價(jià)元器件性能的關(guān)鍵指標(biāo)，《GB/T 5729-2003電子設(shè)備用固定電阻器》與《Q/GDW 11179.3電能表用元器件技術(shù)規(guī)范第3部分:電阻器》對(duì)電阻器的環(huán)境試驗(yàn)要求作了明確規(guī)定，其中溫度系數(shù)實(shí)驗(yàn)需要測(cè)試_55°C與125°C時(shí)的電阻值，此時(shí)的溫度值測(cè)試顯然需要將電阻測(cè)試用導(dǎo)線引到溫箱外進(jìn)行測(cè)試，而且測(cè)試過(guò)程中需要更換測(cè)試電阻。在常規(guī)方法下，引線引入的電阻是難以去除的，不利于精密測(cè)量，另外不便在高低溫環(huán)境下更換測(cè)試電阻。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，能夠通過(guò)測(cè)量模塊采用四線法測(cè)量待測(cè)電阻并通過(guò)控制模塊自動(dòng)化控制對(duì)待測(cè)電阻的測(cè)量，即能排除引線電阻和接觸電阻對(duì)電阻值測(cè)量的影響，又能有效的提高電阻器的測(cè)量效率。
[0010]本發(fā)明的目的是采用下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
[0011]一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其改進(jìn)之處在于，包括:
[0012]測(cè)量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測(cè)試模塊；
[0013]所述控制模塊包括:繼電器列陣單元、MCU單元、鍵盤(pán)和LED單元；
[0014]在所述控制模塊中，所述鍵盤(pán)與MCU單元連接；所述MCU單元又分別與所述繼電器列陣單元、LED單元連接；
[0015]所述測(cè)量模塊、底座、控制模塊中的繼電器列陣單元、數(shù)字測(cè)試模塊依次連接；
[0016]所述測(cè)量模塊，由nXm個(gè)Cnxn矩陣式排列并具有標(biāo)號(hào)k的四線法測(cè)試夾具組成，用于放置所述待測(cè)電阻器，k為所述四線法測(cè)試夾具的標(biāo)號(hào)，k ( nXm ;n為所述矩陣的行數(shù)，m為所述矩陣的列數(shù)；
[0017]所述控制模塊，用于根據(jù)用戶指令通過(guò)所述底座采集所述測(cè)量模塊的待測(cè)電阻數(shù)據(jù)并控制所述電阻數(shù)據(jù)的輸出。
[0018]優(yōu)選的，所述四線法測(cè)試夾具包括:1+導(dǎo)線、I _導(dǎo)線、U.導(dǎo)線和U _導(dǎo)線；所述I +導(dǎo)線和1-導(dǎo)線，用于測(cè)量所述待測(cè)電阻電流，所述U +導(dǎo)線和U _導(dǎo)線，用于測(cè)量所述待測(cè)電阻電壓。
[0019]優(yōu)選的，底座用于建立測(cè)量模塊與控制模塊的通信連接，包括:可插拔接口和與可插拔接口連接的四線法測(cè)試夾具的導(dǎo)線；所述底座還用于將所述四線法測(cè)試夾具的導(dǎo)線分為四組，第一組包括Ik+導(dǎo)線、第二組包括I k-導(dǎo)線、第三組包括Uk+導(dǎo)線和第四組包括UkJl線。
[0020]優(yōu)選的，所述繼電器列陣單元，用于分別將所述四線法測(cè)試夾具的四組導(dǎo)線的多路輸入轉(zhuǎn)換為單路輸出。
[0021]優(yōu)選的，所述控制模塊，用于根據(jù)用戶指令通過(guò)所述底座采集所述測(cè)量模塊的待測(cè)電阻數(shù)據(jù)并控制所述電阻數(shù)據(jù)的輸出包括:
[0022]用戶通過(guò)所述鍵盤(pán)輸入用戶指令，所述MCU單元能夠根據(jù)所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元選擇標(biāo)號(hào)為k+Ι或k-Ι的四線法測(cè)試夾具的導(dǎo)線導(dǎo)通并將所述四線法測(cè)試夾具對(duì)應(yīng)的待測(cè)電阻的電阻數(shù)據(jù)輸出至所述數(shù)字測(cè)試模塊；或者所述MCU單元根據(jù)所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元依次將所述四線法測(cè)試夾具的導(dǎo)線導(dǎo)通并將所述四線法測(cè)試夾具對(duì)應(yīng)的待測(cè)電阻的電阻數(shù)據(jù)輸出至所述數(shù)字測(cè)試模塊。
[0023]優(yōu)選的，所述數(shù)字測(cè)試模塊，用于根據(jù)所述控制模塊的所述待測(cè)電阻數(shù)據(jù)通過(guò)四線法測(cè)量所述待測(cè)電阻的阻值并通過(guò)接口輸出至計(jì)算機(jī)。
[0024]優(yōu)選的，所述LED單元，用于顯示所述系統(tǒng)正在測(cè)量的所述待測(cè)電阻對(duì)應(yīng)的四線法測(cè)試夾具的標(biāo)號(hào)。
[0025]優(yōu)選的，所述控制模塊通過(guò)開(kāi)關(guān)電源供電。
[0026]與最接近的現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有的有益效果:
[0027]1、通過(guò)測(cè)量模塊的導(dǎo)線連接，采用四線法測(cè)量待測(cè)電阻，能夠有效的排除引線電阻和接觸電阻對(duì)電阻值測(cè)量的影響；
[0028]2、通過(guò)將電阻放置于四線法測(cè)試夾具上并對(duì)四線法測(cè)試夾具進(jìn)行標(biāo)號(hào)，解決了貼片電阻器由于體積太小，無(wú)法在電阻器上直接編號(hào)分組且電阻器容易丟失的問(wèn)題；
[0029]3、通過(guò)控制模塊自動(dòng)化控制待測(cè)電阻的測(cè)量，解決了高低溫環(huán)境下更換測(cè)試電阻困難的問(wèn)題，同時(shí)能夠有效的提高電阻器的測(cè)量效率。
【附圖說(shuō)明】
[0030]圖1是本發(fā)明提供的一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖2是本發(fā)明提供的一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的四線法測(cè)試夾具結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032]圖3是四線法測(cè)量電阻原理圖；
[0033]圖4是本發(fā)明提供的一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的底座結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0034]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。
[0035]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0036]本發(fā)明提供的一種電阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，如圖1所示，包括:
[0037]測(cè)量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測(cè)試模塊；
[0038]所述控制模塊包括:繼電器列陣單元、MCU單元、鍵盤(pán)和LED單元；
[0039]在所述控制模塊中，所述鍵盤(pán)與MCU單元連接；所述MCU單元又分別與所述繼電器列陣單元、LED單元連接；
[0040]所述測(cè)量模塊、底座、控制模塊中的繼電器列陣單元、數(shù)字測(cè)試模塊依次連接；
[0041]所述測(cè)量模塊，由n