金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)裝置、透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)裝置、其評(píng)價(jià)程序及記錄有其的 ...的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及一種金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)裝置、透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)裝置、 其評(píng)價(jià)程序及記錄有其的電腦可讀取記錄媒體。
【背景技術(shù)】
[000引于智能型手機(jī)或平板PC等小型電子機(jī)器中，由于配線的容易性或輕量性，而采用 可提性印刷配線板（W下，記作FPC)。近年來(lái)，通過該些電子機(jī)器的高功能化，信號(hào)傳輸速 度的高速化取得進(jìn)展，于FPC中阻抗（impedance)匹配亦成為重要的要素。作為對(duì)于信號(hào) 容量增加的阻抗匹配的對(duì)策，不斷推進(jìn)成為FPC的基底的樹脂絕緣層（例如，聚酷亞胺）的 厚層化。另一方面，F(xiàn)PC雖被實(shí)施朝液晶基材的接合或1C晶片的搭載等加工，但此時(shí)的位 置對(duì)準(zhǔn)是經(jīng)由通過于對(duì)銅巧與樹脂絕緣層的積層板中的銅巧進(jìn)行蝕刻后殘留的樹脂絕緣 層而視認(rèn)的定位圖案來(lái)進(jìn)行，因此，樹脂絕緣層的視認(rèn)性及對(duì)其產(chǎn)生影響的積層于樹脂絕 緣層的銅巧的表面狀態(tài)變得重要。
[0003] 作為此種樹脂絕緣層的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)方法，于專利文獻(xiàn)1中是觀察通過 CCD(charge-coupleddevice,電荷禪合器件）相機(jī)隔著樹脂絕緣層而拍攝的圖像進(jìn)行評(píng) 價(jià)。又，于專利文獻(xiàn)2中，評(píng)價(jià)于利用CCD相機(jī)自相對(duì)于評(píng)價(jià)對(duì)象的樹脂絕緣層的水平面呈 30°的角度拍攝到的圖像中測(cè)試圖案是否產(chǎn)生應(yīng)變而映出。
[0004] [【背景技術(shù)】文獻(xiàn)]
[000引[專利文獻(xiàn)]
[0006] [專利文獻(xiàn)1]日本特開2003-309336號(hào)公報(bào)
[0007] [專利文獻(xiàn)2]日本特開2006-001056號(hào)公報(bào)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[000引[發(fā)明所欲解決的課題]
[0009] 然而，事實(shí)上，若如專利文獻(xiàn)1般利用CCD相機(jī)觀察而單純地觀察圖像，則視認(rèn)性 評(píng)價(jià)的精度有限，若不于生產(chǎn)線上實(shí)際地制作，則無(wú)法判斷是否可隔著透明基材視認(rèn)為了 進(jìn)行位置對(duì)準(zhǔn)等而設(shè)置的標(biāo)記，于制造成本方面存在問題。即便為如專利文獻(xiàn)2般評(píng)價(jià)于 該圖像中測(cè)試圖案是否產(chǎn)生應(yīng)變而映出的方法，該情況亦同樣。而且，若視認(rèn)性評(píng)價(jià)的精度 如此低，則積層于樹脂絕緣層的銅巧的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)的精度亦變低。
[0010] 本發(fā)明提供一種可高效率且準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)金屬材料的表面狀態(tài)的金屬材料的表面 狀態(tài)的評(píng)價(jià)裝置、透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)裝置、其評(píng)價(jià)程序及記錄有其的電腦可讀取記錄 媒體。
[0011] [解決課題的技術(shù)手段]
[0012] 本發(fā)明者等人經(jīng)過反復(fù)銳意研究，結(jié)果發(fā)現(xiàn)，于將金屬材料貼合于透明基材的至 少一面之后，通過蝕刻去除金屬材料，并隔著透明基材拍攝通過蝕刻而去除該金屬材料后 存在于透明基材的下方的標(biāo)記，著眼于自該標(biāo)記部分的圖像獲得的觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中 所描繪的標(biāo)記端部附近的亮度曲線，對(duì)該亮度曲線進(jìn)行評(píng)價(jià)，由此可不受透明基材的種類 或透明基材的厚度的影響而高效率且準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)透明基材的視認(rèn)性，由此，可高效率且準(zhǔn) 確地評(píng)價(jià)積層于透明基材的金屬材料的表面狀態(tài)。
[0013] 基于W上見解而完成的本發(fā)明于一方面中是一種金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)裝 置，該裝置具備W下手段：攝影手段，其于將金屬材料的表面貼合于透明基材的至少一面之 后，通過蝕刻去除上述金屬材料的至少一部分，并隔著上述透明基材拍攝于通過蝕刻而去 除該金屬材料后存在于上述透明基材的下方的標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì) 于通過上述拍攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮 度而制作觀察點(diǎn)-亮度曲線圖；及金屬材料表面狀態(tài)評(píng)價(jià)手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線 圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率評(píng)價(jià)上述透明 基材的視認(rèn)性，并基于上述視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果評(píng)價(jià)金屬材料的表面狀態(tài)；上述金屬材料表 面狀態(tài)評(píng)價(jià)手段將自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均 值化與底部平均值化的差設(shè)為AB(AB=化一化），使用Sv進(jìn)行透明基材的視認(rèn)性的評(píng) 價(jià)，并基于上述透明基材的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果評(píng)價(jià)金屬材料的表面狀態(tài)，上述Sv是于在上 述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置 的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)， 亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1) 式進(jìn)行定義。
[0014] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0015] 本發(fā)明于另一方面中是一種金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)裝置，該裝置具備W下手 段：攝影手段，其于將金屬材料的經(jīng)表面處理的表面?zhèn)荣N合于透明基材的至少一面之后，通 過蝕刻去除上述金屬材料的至少一部分，并隔著上述透明基材拍攝于通過蝕刻而去除該金 屬材料后存在于上述透明基材的下方的標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì)于通過 上述拍攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制 作觀察點(diǎn)-亮度曲線圖；及金屬材料表面狀態(tài)評(píng)價(jià)手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中， 根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率評(píng)價(jià)上述透明基材 的視認(rèn)性，并基于上述視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果評(píng)價(jià)金屬材料的表面狀態(tài)；上述金屬材料表面狀 態(tài)評(píng)價(jià)手段使用AB(AB=化一Bb)及Sv進(jìn)行透明基材的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)，并基于上述透 明基材的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果對(duì)金屬材料的表面狀態(tài)進(jìn)行評(píng)價(jià)，上述AB(AB=化一Bb)是 自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均值 化的差，上述Sv是于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中最接 近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為基準(zhǔn) 0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置 的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行定義。
[0016] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0017] 本發(fā)明于又一方面中是一種用W使電腦作為本發(fā)明的金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng) 價(jià)裝置而發(fā)揮功能的程序。
[0018] 本發(fā)明于又一方面中是一種記錄有本發(fā)明的程序的電腦可讀取記錄媒體。
[0019] 本發(fā)明于又一方面中是一種金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)方法，該方法是于將金屬 材料的表面貼合于透明基材的至少一面之后，通過蝕刻去除上述金屬材料的至少一部分， 并隔著上述透明基材拍攝于通過蝕刻而去除該金屬材料后存在于上述透明基材的下方的 標(biāo)記，對(duì)于通過上述拍攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀 察點(diǎn)的亮度而制作觀察點(diǎn)-亮度曲線圖，于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的 端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率評(píng)價(jià)上述透明基材的視認(rèn)性，并基于上 述視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果對(duì)金屬材料的表面狀態(tài)進(jìn)行評(píng)價(jià)；上述金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)是 將自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均 值化的差設(shè)為AB(AB=化一化），使用Sv進(jìn)行透明基材的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)，并基于上述 透明基材的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果對(duì)金屬材料的表面狀態(tài)進(jìn)行評(píng)價(jià)，上述Sv是于在上述觀察 點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè) 為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲 線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行 定義。
[0020]Sv= (ABX0.l)/(tl-t2) (1)
[0021] 本發(fā)明于又一方面中是一種金屬材料的表面狀態(tài)的評(píng)價(jià)方法，該方法是于將金屬 材料的經(jīng)表面處理的表面?zhèn)荣N合于透明基材的至少一面之后，通過蝕刻去除上述金屬材料 的至少一部分，并隔著上述透明基材拍攝于通過蝕刻而去除該金屬材料后存在于上述透明 基材的下方的標(biāo)記，對(duì)于通過上述拍攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方 向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察點(diǎn)-亮度曲線圖，于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù) 自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率評(píng)價(jià)上述透明基材的視 認(rèn)性，并基于上述視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果對(duì)金屬材料的表面狀態(tài)進(jìn)行評(píng)價(jià)；上述金屬材料的表 面狀態(tài)的評(píng)價(jià)是使用AB(AB=化一化）及Sv進(jìn)行透明基材的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)，并基于上述 透明基材的視認(rèn)性的評(píng)價(jià)結(jié)果對(duì)金屬材料的表面狀態(tài)進(jìn)行評(píng)價(jià)，上述ab(ab=化一化） 是自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均 值化的差，上述Sv是于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中最 接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為基 準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位 置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行定義。
[002引Sv= (ABX0.l)/(tl-t2) (1)
[0023] 本發(fā)明于又一方面中是一種透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)裝置，該裝置具備W下手段： 攝影手段，其隔著上述透明基材拍攝存在于透明基材的下方的標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖 制作手段，其對(duì)于通過上述拍攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定 每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察點(diǎn)-亮度曲線圖；及視認(rèn)性評(píng)價(jià)手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度 曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率評(píng)價(jià)上述 透明基材的視認(rèn)性；上述視認(rèn)性評(píng)價(jià)手段將自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生 的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均值化的差設(shè)為AB(AB=化一化），使用Sv進(jìn)行 視認(rèn)性的評(píng)價(jià)，上述Sv是于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中 最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為 基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的 位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行定義。
[0024] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0025] 本發(fā)明于又一方面中是一種透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)裝置，該裝置具備W下手段： 攝影手段，其隔著上述透明基材拍攝存在于透明基材的下方的標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖 制作手段，其對(duì)于通過上述拍攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定 每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察點(diǎn)-亮度曲線圖；及視認(rèn)性評(píng)價(jià)手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度 曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率評(píng)價(jià)上述 透明基材的視認(rèn)性；上述視認(rèn)性評(píng)價(jià)手段使用AB(AB=化一Bb)及Sv進(jìn)行視認(rèn)性的評(píng) 價(jià)，上述AB(AB=化一Bb)是自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線 的頂部平均值化與底部平均值化的差，上述Sv是于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表 示亮度曲線與化的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度 曲線與化的交點(diǎn)至W化為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中 最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行定義。
[0026] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0027] 本發(fā)明于又一方面中是一種用W使電腦作為本發(fā)明的透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)裝 置而發(fā)揮功能的程序。
[002引本發(fā)明于又一方面中是一種電腦可讀取記錄媒體，其記錄有用W使電腦作為本發(fā) 明的透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)裝置而發(fā)揮功能的程序。
[0029] 本發(fā)明于又一方面中是一種積層體的定位裝置，該裝置用W進(jìn)行金屬與透明基材 的積層體的定位；具備W下手段：攝影手段，其對(duì)于具有標(biāo)記的上述金屬與透明基材的積 層體，隔著上述透明基材拍攝上述標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì)于通過上述拍 攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察 點(diǎn)-亮度曲線圖；及定位手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起 至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率決定上述積層體的位置；上述定位手段于將自 上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均值化 的差設(shè)為ab(ab=化一化），于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的 交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至 W化為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的 交點(diǎn)的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式定義的Sv成為特定值W上的情形時(shí)，基于測(cè)定出 上述Sv的位置檢測(cè)上述標(biāo)記的位置，并基于上述所檢測(cè)出的標(biāo)記的位置進(jìn)行金屬與透明 基材的積層體的定位。
[0030] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0031] 本發(fā)明于又一方面中是一種積層體的定位裝置，該裝置用W進(jìn)行金屬與透明基材 的積層體的定位；具備W下手段：攝影手段，其對(duì)于具有標(biāo)記的上述金屬與透明基材的積 層體，隔著上述透明基材拍攝上述標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì)于通過上述拍 攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察 點(diǎn)-亮度曲線圖；及定位手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起 至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率決定上述積層體的位置；上述定位手段使用 AB(AB=化一Bb)及Sv，于AB及Sv成為特定值W上的情形時(shí)，基于測(cè)定出上述Sv的 位置檢測(cè)上述標(biāo)記的位置，并基于上述所檢測(cè)出的標(biāo)記的位置進(jìn)行金屬與透明基材的積層 體的定位，上述AB(AB=化一Bb)是自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮 度曲線的頂部平均值Bt與底部平均值化的差，上述Sv是于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖 中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于 自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的 交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行定義。
[003引Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0033] 本發(fā)明于又一方面中是一種用W使電腦作為本發(fā)明的積層體的定位裝置而發(fā)揮 功能的程序。
[0034] 本發(fā)明于又一方面中是一種電腦可讀取記錄媒體，其記錄有用W使電腦作為本發(fā) 明的積層體的定位裝置而發(fā)揮功能的程序。
[0035] 本發(fā)明于又一方面中是一種印刷配線板（printedwiringboard)的制造方法，該 方法包含W下步驟；使用本發(fā)明的定位裝置進(jìn)行印刷配線板的定位，于經(jīng)定位的上述印刷 配線板安裝零件。
[0036] 本發(fā)明于又一方面中是一種判定金屬與透明基材的積層體所具有的標(biāo)記是否存 在的裝置，該裝置具備W下手段：攝影手段，其對(duì)于具有標(biāo)記的上述金屬與透明基材的積層 體，隔著上述透明基材拍攝上述標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì)于通過上述拍 攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察 點(diǎn)-亮度曲線圖；及判定手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起 至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率判定標(biāo)記是否存在；上述判定手段于將自上述 標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均值化的差 設(shè)為AB(AB=化一化），于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn) 中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化 為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn) 的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式定義的Sv成為特定值W上的情形時(shí)，判定為上述標(biāo)記 存在。
[0037] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[003引本發(fā)明于又一方面中是一種判定金屬與透明基材的積層體所具有的標(biāo)記是否存 在的裝置，該裝置具備W下手段：攝影手段，其對(duì)于具有標(biāo)記的上述金屬與透明基材的積 層體，隔著上述透明基材拍攝上述標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì)于通過上述 拍攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀 察點(diǎn)-亮度曲線圖；及判定手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端 部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率判定標(biāo)記是否存在；上述判定手段使用 AB(AB=化一Bb)及Sv，于AB及Sv成為特定值W上的情形時(shí)，判定為上述標(biāo)記存在， 上述AB(AB=化一Bb)是自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的 頂部平均值化與底部平均值化的差，上述Sv是于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示 亮度曲線與化的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲 線與化的交點(diǎn)至W化為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最 接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行定義。
[0039] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0040] 本發(fā)明于又一方面中是一種用W使電腦作為本發(fā)明所記載的判定裝置而發(fā)揮功 能的程序。
[0041] 本發(fā)明于又一方面中是一種電腦可讀取記錄媒體，其記錄有用W使電腦作為本發(fā) 明所記載的判定裝置而發(fā)揮功能的程序。
[0042] 本發(fā)明于又一方面中是一種檢測(cè)金屬與透明基材的積層體所具有的標(biāo)記的位置 的裝置，該裝置具備W下手段：攝影手段，其對(duì)于具有標(biāo)記的上述金屬與透明基材的積層 體，隔著上述透明基材拍攝上述標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì)于通過上述拍 攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察 點(diǎn)-亮度曲線圖；及檢測(cè)手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起 至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率檢測(cè)標(biāo)記的位置；上述檢測(cè)手段于將自上述標(biāo) 記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均值化的差設(shè) 為AB(AB=化一化），于在上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中 最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為 基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的 位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式定義的Sv成為特定值W上的情形時(shí)，基于測(cè)定出上述Sv 的位置檢測(cè)上述標(biāo)記的位置。
[0043] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0044] 本發(fā)明于又一方面中是一種檢測(cè)金屬與透明基材的積層體所具有的標(biāo)記的位置 的裝置，該裝置具備W下手段：攝影手段，其對(duì)于具有標(biāo)記的上述金屬與透明基材的積層 體，隔著上述透明基材拍攝上述標(biāo)記；觀察點(diǎn)-亮度曲線圖制作手段，其對(duì)于通過上述拍 攝而獲得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察 點(diǎn)-亮度曲線圖；及檢測(cè)手段，其于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部 起至無(wú)上述標(biāo)記的部分產(chǎn)生的亮度曲線的斜率檢測(cè)上述標(biāo)記的位置；上述檢測(cè)手段使用 AB(AB=化一Bb)及Sv，于AB及Sv成為特定值W上的情形時(shí)，基于測(cè)定出上述Sv的 位置檢測(cè)上述標(biāo)記的位置，上述AB(AB=化一Bb)是自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記 的部分產(chǎn)生的亮度曲線的頂部平均值化與底部平均值化的差，上述Sv是于在上述觀察 點(diǎn)-亮度曲線圖中，將表示亮度曲線與化的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè) 為tl，將表示于自亮度曲線與化的交點(diǎn)至W化為基準(zhǔn)0. 1AB為止的深度范圍內(nèi)，亮度曲 線與0. 1AB的交點(diǎn)中最接近于上述標(biāo)記的交點(diǎn)的位置的值設(shè)為t2時(shí)，由下述（1)式進(jìn)行 定義。
[0045] Sv = (ABX0. l)/(tl - t2) (1)
[0046] 本發(fā)明于又一方面中是一種用W使電腦作為本發(fā)明的檢測(cè)裝置而發(fā)揮功能的程 序。
[0047] 本發(fā)明于又一方面中是一種電腦可讀取記錄媒體，其記錄有用W使電腦作為本發(fā) 明的檢測(cè)裝置而發(fā)揮功能的程序。
[0048] 本發(fā)明于又一方面中是一種透明基材的視認(rèn)性評(píng)價(jià)方法，該方法是于透明基材的 下方設(shè)置標(biāo)記，并利用攝影手段隔著上述透明基材拍攝上述標(biāo)記，對(duì)于通過上述拍攝而獲 得的圖像，沿著橫穿所觀察到的上述標(biāo)記的方向測(cè)定每個(gè)觀察點(diǎn)的亮度而制作觀察點(diǎn)-亮 度曲線圖，于上述觀察點(diǎn)-亮度曲線圖中，根據(jù)自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記的部分 產(chǎn)生的亮度曲線的斜率評(píng)價(jià)上述透明基材的視認(rèn)性；將自上述標(biāo)記的端部起至無(wú)上述標(biāo)記 的部分產(chǎn)生的亮度曲線的