主板測試裝置及測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種通過測試智能平臺管理總線對主板進(jìn)行 測試的主板測試裝置及測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 目前，服務(wù)器等電子裝置的主板上大都集成智能平臺管理總線（Intelligent Plat化rm Management Bus, IPMB)。主板通過該智能平臺管理總線可W用來控制各種支持 IPMB協(xié)議的外圍設(shè)備，例如背板、配電板（Power Distribution Board,PDB)等。然而，目前 尚缺少通過智能平臺管理總線對主板進(jìn)行測試的測試裝置，難W及時了解主板的運(yùn)行狀況 及對外圍設(shè)備的控制是否良好。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于W上情況，有必要提供一種通過測試智能平臺管理總線對主板進(jìn)行測試的主 板測試裝置。
[0004] 另，還有必要提供一種通過測試智能平臺管理總線對主板進(jìn)行測試的主板測試方 法。
[0005] -種主板測試裝置，其用于測試一集成至少一個電子元件的主板，該主板上連接 一智能平臺管理總線，該智能平臺管理總線包括連接器，所述主板測試裝置包括控制器及 與控制器電性連接的顯示單元，所述控制器通過所述連接器與主板建立通信并向所述至少 一個電子元件發(fā)送測試數(shù)據(jù)包，W獲取相關(guān)的測試數(shù)據(jù)，所述測試數(shù)據(jù)通過顯示單元顯示。
[0006] -種主板測試方法，其通過一主板測試裝置對集成至少一個電子元件的主板進(jìn)行 測試，該主板上連接一智能平臺管理總線，該智能平臺管理總線包括連接器，該主板測試裝 置包括控制器與顯示單元，所述主板測試方法包括如下步驟：控制器與連接器建立連接W 使控制器上電；控制器通過連接器與主板建立通信；控制器向所述電子元件發(fā)送測試數(shù)據(jù) 包，W獲取相關(guān)的測試數(shù)據(jù)；顯示單元顯示測試數(shù)據(jù)。
[0007] 上述的主板測試裝置的控制器通過智能平臺管理總線與主板建立通信，W便對主 板進(jìn)行測試，獲得相應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，從而及時了解主板對外圍設(shè)備的控制是否良好。該主板 測試裝置使用簡便，測試精確度高。
【附圖說明】
[0008] 圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施方式的主板測試裝置的電路圖； 圖2為本發(fā)明較佳實(shí)施方式的主板測試方法的流程圖。
[0009] 主要元件符號說明
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種主板測試裝置，其用于測試一集成至少一個電子元件的主板，該主板上連接一 智能平臺管理總線，該智能平臺管理總線包括連接器，其特征在于：所述主板測試裝置包括 控制器及與控制器電性連接的顯示單元，所述控制器通過所述連接器與主板建立通信并向 所述至少一個電子元件發(fā)送測試數(shù)據(jù)包，以獲取相關(guān)的測試數(shù)據(jù)，所述測試數(shù)據(jù)通過顯示 單元顯示。
2. 如權(quán)利要求1所述的主板測試裝置，其特征在于：所述主板測試裝置還包括指示單 元，所述指示單元包括第一發(fā)光二極管，所述第一發(fā)光二極管與控制器電性連接，當(dāng)所述控 制器上電時，所述控制器控制第一發(fā)光二極管點(diǎn)亮。
3. 如權(quán)利要求2所述的主板測試裝置，其特征在于：所述指示單元還包括第二發(fā)光二 極管，所述第二發(fā)光二極管與控制器電性連接，當(dāng)所述控制器與主板建立通信時，所述控制 器控制第二發(fā)光二極管點(diǎn)亮。
4. 如權(quán)利要求1所述的主板測試裝置，其特征在于：所述控制器通過所述連接器向電 子元件發(fā)送地址掃描信號，并接收電子元件反饋的應(yīng)答信號，進(jìn)而獲取電子元件的地址并 與對應(yīng)地址的電子元件建立通信。
5. 如權(quán)利要求4所述的主板測試裝置，其特征在于：所述控制器將電子元件的地址轉(zhuǎn) 換為控制指令，以控制所述顯示單元顯示該電子元件的地址。
6. -種主板測試方法，其通過一主板測試裝置對集成至少一個電子元件的主板進(jìn)行測 試，該主板上連接一智能平臺管理總線，該智能平臺管理總線包括連接器，該主板測試裝置 包括控制器與顯示單元，其特征在于：所述主板測試方法包括如下步驟： 控制器與連接器建立連接以使控制器上電； 控制器通過連接器與主板建立通信； 控制器向所述電子元件發(fā)送測試數(shù)據(jù)包，以獲取相關(guān)的測試數(shù)據(jù)； 顯示單元顯示測試數(shù)據(jù)。
7. 如權(quán)利要求6所述的主板測試方法，其特征在于：所述控制器與連接器建立連接以 使控制器上電的步驟還包括控制器控制一第一發(fā)光二極管點(diǎn)亮的步驟。
8. 如權(quán)利要求6所述的主板測試方法，其特征在于：所述控制器通過連接器與主板建 立通信的步驟后還包括控制器控制一第二發(fā)光二極管點(diǎn)亮的步驟。
9. 如權(quán)利要求6所述的主板測試方法，其特征在于：所述主板測試方法還包括控制器 通過所述連接器向電子元件發(fā)送地址掃描信號，并接收電子元件反饋的應(yīng)答信號，進(jìn)而獲 取電子元件的地址的步驟。
10. 如權(quán)利要求9所述的主板測試方法，其特征在于：所述主板測試方法還包括控制器 將電子元件的地址轉(zhuǎn)換為控制指令，以控制所述顯示單元顯示該電子元件的地址的步驟。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種主板測試裝置，其用于測試一集成至少一個電子元件的主板，該主板上連接一智能平臺管理總線，該智能平臺管理總線包括連接器，所述主板測試裝置包括控制器及與控制器電性連接的顯示單元，所述控制器通過所述連接器與主板建立通信并向所述至少一個電子元件發(fā)送測試數(shù)據(jù)包，以獲取相關(guān)的測試數(shù)據(jù)，所述測試數(shù)據(jù)通過顯示單元顯示。本發(fā)明還提供一種主板測試方法，通過該主板測試裝置及測試方法，可及時了解主板對外圍設(shè)備的控制是否良好。
【IPC分類】G01R31-28
【公開號】CN104569781
【申請?zhí)枴緾N201310478223
【發(fā)明人】張萬宏, 朱鴻儒
【申請人】鴻富錦精密電子(天津)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2013年10月14日