本發(fā)明涉及集成電路測試，尤其涉及一種用于檢測集成電路性能的測試方法。

背景技術(shù)：

1、集成電路（integratedcircuit）是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上，然后封裝在一個管殼內(nèi)，成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)；其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步。

2、集成電路是新型半導(dǎo)體器件。它是經(jīng)過氧化、光刻、擴散、外延、蒸鋁等半導(dǎo)體制造工藝，把構(gòu)成具有一定功能的電路所需的半導(dǎo)體、電阻、電容等元件及它們之間的連接導(dǎo)線全部集成在一小塊硅片上，然后焊接封裝在一個管殼內(nèi)的電子器件。其封裝外殼有圓殼式、扁平式或雙列直插式等多種形式。集成電路技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計技術(shù)，主要體現(xiàn)在加工設(shè)備，加工工藝，封裝測試，批量生產(chǎn)及設(shè)計創(chuàng)新的能力上。

3、由于很多集成電路設(shè)置有接口，在傳統(tǒng)的測試中，均需要人工進行測試，人工測試效率低，無法達到工業(yè)化生產(chǎn)的要求。在現(xiàn)有的技術(shù)中，均需要設(shè)置測試接口板，然后將測試接口插在測試接口板上進行測試，這種測試方法也需要人工進行輔助，效率也不高。

4、中國專利公開號：cn110404823b，公開了一種集成電路性能檢測裝置，包括電控箱，設(shè)置在電控箱上部的測試平臺，設(shè)置在測試平臺上部右側(cè)一端的進料槽，在進料槽左側(cè)末端設(shè)置有翻轉(zhuǎn)機構(gòu)，在翻轉(zhuǎn)機構(gòu)后端設(shè)置有上下料機構(gòu)，在翻轉(zhuǎn)機構(gòu)的左側(cè)末端設(shè)置有測試定位機構(gòu)，測試定位機構(gòu)后端設(shè)置測試插頭機構(gòu)，測試插頭機構(gòu)的左側(cè)末端設(shè)置有分揀機構(gòu)，在分揀機構(gòu)的左側(cè)一端設(shè)置有ccd相機檢測機構(gòu)，ccd相機檢測機構(gòu)左側(cè)設(shè)置有出料槽；由此可見，上述技術(shù)方案存在以下問題：無法在對電路板檢測的過程中自動化調(diào)節(jié)檢測參數(shù)，影響了對電路板的檢測準確性，進一步影響了對電路板的檢測效率。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為此，本發(fā)明提供一種用于檢測集成電路性能的測試方法，用以克服現(xiàn)有技術(shù)中無法在對電路板檢測的過程中自動化調(diào)節(jié)檢測參數(shù)，影響了對電路板的檢測準確性，進一步影響了對電路板的檢測效率的問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種用于檢測集成電路性能的測試方法，包括：

3、s1，供能機械臂夾持電源供應(yīng)器的電源輸出端為固定夾具固定的電路板提供電源，檢測機械臂夾持電壓表的輸出探頭獲取電路板中對應(yīng)測試觸點的檢測電壓；

4、s2，將測試數(shù)據(jù)輸入到電路板中，監(jiān)測數(shù)據(jù)回報頻率；

5、s3，對電路進行濾波；

6、s4，基于檢測電壓和測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定電路板是否合格，在判定電路板異常時，基于電壓波動參量確定針對電路板異常的處理方式，處理方式為將各機械臂針對電路板的對應(yīng)觸點施加的測試壓力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值，或?qū)﹄娐返臑V波區(qū)間調(diào)節(jié)至對應(yīng)值；

7、在判定電路板合格，或判定發(fā)出針對電路板異常的警報信息時，對下一電路板進行測試。

8、進一步地，在所述步驟s4中，基于檢測電壓確定電路板是否合格，包括：

9、若檢測電壓小于等于第一預(yù)設(shè)電壓，則判定電路板異常，并基于電壓波動參量確定針對電路板異常的處理方式；

10、若檢測電壓小于等于第二預(yù)設(shè)電壓且大于第一預(yù)設(shè)電壓，則結(jié)合測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定電路板是否合格；

11、若檢測電壓大于第二預(yù)設(shè)電壓，則判定電路板合格，并判定對下一電路板進行測試。

12、進一步地，基于測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定電路板是否合格，包括：

13、若測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量小于等于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)量，則判定電路板異常，并基于電壓波動參量確定針對電路板異常的處理方式；

14、若測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)量，則基于測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量將第一預(yù)設(shè)電壓調(diào)節(jié)至對應(yīng)值。

15、進一步地，基于測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量將第一預(yù)設(shè)電壓調(diào)節(jié)至對應(yīng)值，其中：

16、基于測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定的第一預(yù)設(shè)電壓的增加幅度與測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量成正比。

17、進一步地，基于電壓波動參量確定針對電路板異常的處理方式，包括：

18、確定電壓波動參量，獲取若干時間節(jié)點下的檢測電壓值，并求解各監(jiān)測電壓值的方差，得到電壓波動參量；

19、若電壓波動參量小于等于第一預(yù)設(shè)電壓波動參量，則基于數(shù)據(jù)回報頻率確定針對電路板異常的處理方式；

20、若電壓波動參量小于等于第二預(yù)設(shè)電壓波動參量且大于第一預(yù)設(shè)電壓波動參量，則基于電壓波動參量將各機械臂針對對應(yīng)觸點施加的測試壓力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值；

21、若電壓波動參量大于第二預(yù)設(shè)電壓波動參量，則基于電壓積分參量將對電路的濾波區(qū)間調(diào)節(jié)至對應(yīng)值。

22、進一步地，基于數(shù)據(jù)回報頻率確定針對電路板異常的處理方式，包括：

23、若數(shù)據(jù)回報頻率小于等于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報頻率，則基于電壓波動參量將各機械臂針對對應(yīng)觸點施加的測試壓力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值；

24、若數(shù)據(jù)回報頻率大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報頻率，則發(fā)出針對電路板異常的警報信息。

25、進一步地，基于電壓波動參量將各機械臂針對對應(yīng)觸點施加的測試壓力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值，其中：

26、基于電壓波動參量確定的測試壓力的增加幅度與電壓波動參量成正比。

27、進一步地，在完成對測試壓力的調(diào)節(jié)時，將調(diào)節(jié)后的測試壓力與預(yù)設(shè)最大壓力進行比對，若調(diào)節(jié)后的測試壓力小于等于預(yù)設(shè)最大壓力，則使用調(diào)節(jié)后的測試壓力作為針對電路板的檢測參數(shù)；若調(diào)節(jié)后的測試壓力大于預(yù)設(shè)最大壓力，則使用預(yù)設(shè)最大壓力作為針對電路板的檢測參數(shù)，并使用預(yù)設(shè)夾緊力調(diào)節(jié)系數(shù)將固定夾具固定的電路板的夾緊力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值。

28、進一步地，基于電壓積分參量將對電路的濾波區(qū)間調(diào)節(jié)至對應(yīng)值，包括：

29、確定電壓積分參量，基于獲取的若干時間節(jié)點下的檢測電壓值，繪制電壓時域曲線，求解電壓時域曲線的積分值，得到電壓積分參量；

30、基于電壓積分參量確定的濾波區(qū)間的縮小幅度與電壓積分參量成正比。

31、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果在于，獲取電路板的電參數(shù)，對電路板是否合格進行檢測，在確定電路板異常時，依據(jù)電壓波動參量進一步對電路板的檢測參數(shù)進行調(diào)節(jié)，在提高了對電路板的檢測準確性的同時，進一步提高了對電路板的檢測效率。

32、進一步地，依據(jù)檢測電壓對電路板是否合格進行判定，在檢測電壓小于等于第二預(yù)設(shè)電壓且大于第一預(yù)設(shè)電壓時，電路板的輸出電壓偏低，此情況下獲取電路板的數(shù)據(jù)處理量即測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量，在測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)量時，電路板的數(shù)據(jù)處理量過大，集成電路中的晶體管開關(guān)切換頻繁，導(dǎo)致芯片內(nèi)部的電流需求增大，電流通過電路板上的線路和元件時，由于線路電阻和元件內(nèi)阻產(chǎn)生電壓降，從而使輸出端實際測量到的電壓降低，此情況下依據(jù)測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量對電路板的判定標準進行調(diào)節(jié)，以依據(jù)具體檢測情況適應(yīng)性調(diào)節(jié)針對電路板的檢測參數(shù)，有效提高了針對電路板的檢測精度。

33、進一步地，在確定電路板異常時，獲取電壓波動參量和數(shù)據(jù)回報頻率以進一步確定是否由于針對電路板的檢測參數(shù)出現(xiàn)異常導(dǎo)致對電路板進行誤判，在確定不存在誤判的情況下發(fā)出針對電路板異常的警報信息，并對下一電路板進行檢測；電壓波動參量表征了針對單個電路板獲取的若干檢測電壓值的波動情況，在電壓波動參量小于等于第二預(yù)設(shè)電壓波動參量且大于第一預(yù)設(shè)電壓波動參量時，檢測電壓值的波動相對較大，此情況下由于在對電路板進行檢測時，與觸點的接觸不良導(dǎo)致檢測數(shù)據(jù)出現(xiàn)偏差，此時將各機械臂針對對應(yīng)觸點施加的測試壓力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值，以對電路板進行穩(wěn)定的標準化檢測，在電壓波動參量小于等于第一預(yù)設(shè)電壓波動參量時，此情況下檢測電壓穩(wěn)定，此時獲取數(shù)據(jù)回報頻率，在數(shù)據(jù)回報頻率大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報頻率時，此情況下由于電路板部分出現(xiàn)故障，導(dǎo)致數(shù)據(jù)產(chǎn)生和傳輸?shù)乃俣燃涌?，高頻數(shù)據(jù)產(chǎn)生的電磁干擾耦合到電源線路中，造成檢測電壓降低，以致工作狀態(tài)異常，此情況下確定單個電路板異常，且針對電路板的檢測參數(shù)正常；在數(shù)據(jù)回報頻率小于等于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報頻率時，此情況下數(shù)據(jù)回報頻率正常，由于針對觸點的檢測不穩(wěn)定導(dǎo)致對電路板存在誤判，此時針對測試壓力進行調(diào)節(jié)，進一步提高了針對電路板的檢測效率。

34、進一步地，在電壓波動參量大于第二預(yù)設(shè)電壓波動參量時，檢測電壓值的波動大，此情況下由于電路板中存在高頻的雜波信號，這些雜波影響對集成電路正常工作電壓的測量和判斷，此情況下對濾波區(qū)間進行調(diào)節(jié)以通過濾波將高頻雜波濾除，提高了對電路板的檢測電壓的觀察清晰度，進一步提高了對電路板的檢測效率。