本技術(shù)屬于逆變器電路領(lǐng)域，具體涉及一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試方法和一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

1、npc?i型三電平電路是一種廣泛應(yīng)用于電力變換器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，如圖1所示。它具有高效率、低損耗以及能夠?qū)崿F(xiàn)較高電壓和電流等優(yōu)點(diǎn)。npc?i型三電平電路結(jié)構(gòu)特點(diǎn)在于通過增加鉗位二極管來實(shí)現(xiàn)三個(gè)電平(正電平、零電平和負(fù)電平)的輸出。在npc?i型三電平電路中，當(dāng)上橋臂導(dǎo)通而下橋臂斷開時(shí)，上輸出電壓為正電壓；當(dāng)下橋臂導(dǎo)通而上橋臂斷開時(shí)，上輸出電壓為負(fù)電壓；當(dāng)上、下橋臂均斷開時(shí)，上輸出電壓為零。電流通過中點(diǎn)電容器的方向變化是由控制開關(guān)來控制的?，F(xiàn)在為了npc?i型三電平電路的安全使用，設(shè)計(jì)了npc?i型三電平電路測(cè)試電路，如圖2所示。但是，由于需要測(cè)試雙脈沖和短路兩種情況下igbt管的情況，需要經(jīng)常更換測(cè)試設(shè)備，導(dǎo)致測(cè)試效率低下、測(cè)試成本增加。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決針對(duì)igbt管進(jìn)行的雙脈沖和短路測(cè)試時(shí)，測(cè)試效率低下、測(cè)試成本增加的技術(shù)問題，本技術(shù)提供了一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試方法和一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試裝置。

2、第一方面，提供一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試方法，用于對(duì)npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第一igbt管q1進(jìn)行雙脈沖及短路測(cè)試，包括如下步驟：

3、在npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第二igbt管q2、第三igbt管q3的連接點(diǎn)與第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)之間設(shè)置第一選擇裝置s1，用于選擇對(duì)所述第一igbt管q1進(jìn)行雙脈沖測(cè)試、短路測(cè)試或斷開連接；

4、當(dāng)?shù)谝贿x擇裝置s1設(shè)置為雙脈沖測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第一igbt管q1的門極發(fā)出雙脈沖信號(hào)，對(duì)第二igbt管q2的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第三igbt管q3的門極、第四igbt管q4的門極發(fā)出低電平信號(hào)；

5、當(dāng)?shù)谝贿x擇裝置s1設(shè)置為短路測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第一igbt管q1的門極發(fā)出單脈沖信號(hào)，對(duì)第二igbt管q2的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第三igbt管q3的門極、第四igbt管q4的門極發(fā)出低電平信號(hào)。

6、第二方面，提供一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試方法，用于對(duì)npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第二igbt管q2進(jìn)行雙脈沖及短路測(cè)試，包括如下步驟：

7、在npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的依次連接的第三igbt管q3、第四igbt管q4的兩端并聯(lián)設(shè)置第二選擇裝置s2，用于選擇對(duì)所述第二igbt管q2進(jìn)行雙脈沖測(cè)試、短路測(cè)試或斷開連接；

8、當(dāng)?shù)诙x擇裝置s2設(shè)置為雙脈沖測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第二igbt管q2的門極發(fā)出雙脈沖信號(hào)，對(duì)第三igbt管q3的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第一igbt管q1的門極、第四igbt管q4的門極發(fā)出低電平信號(hào)；

9、當(dāng)?shù)诙x擇裝置s2設(shè)置為短路測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第二igbt管q2的門極發(fā)出單脈沖信號(hào)，對(duì)第三igbt管q3的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第一igbt管q1的門極、第四igbt管q4的門極發(fā)出低電平信號(hào)。

10、第三方面，提供一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試方法，用于對(duì)npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第三igbt管q3進(jìn)行雙脈沖及短路測(cè)試，包括如下步驟：

11、在npc?i型三電平電路中的測(cè)試電路的依次連接的第一igbt管q1、第二igbt管q2的兩端并聯(lián)設(shè)置第三選擇裝置s3，用于選擇對(duì)所述第三igbt管q3進(jìn)行雙脈沖測(cè)試、短路測(cè)試或斷開連接；

12、當(dāng)?shù)谌x擇裝置s3設(shè)置為雙脈沖測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第三igbt管q3的門極發(fā)出雙脈沖信號(hào)，對(duì)第二igbt管q2的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第一igbt管q1的門極、第四igbt管q4的門極發(fā)出低電平信號(hào)；

13、當(dāng)?shù)谌x擇裝置s3設(shè)置為短路測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第三igbt管q3的門極發(fā)出單脈沖信號(hào)，對(duì)第二igbt管q2的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第一igbt管q1的門極、第四igbt管q4的門極發(fā)出低電平信號(hào)。

14、第四方面，提供一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試方法，用于對(duì)npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第四igbt管q4進(jìn)行雙脈沖及短路測(cè)試，包括如下步驟：

15、在npc?i型三電平電路中的第二igbt管q2、第三igbt管q3的連接點(diǎn)與第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)之間設(shè)置第一選擇裝置s1，用于選擇對(duì)所述第四igbt管q4進(jìn)行雙脈沖測(cè)試、短路測(cè)試或斷開連接；

16、當(dāng)?shù)谝贿x擇裝置s1設(shè)置為雙脈沖測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第四igbt管q4的門極發(fā)出雙脈沖信號(hào)，對(duì)第三igbt管q3的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第一igbt管q1的門極、第二igbt管q2的門極發(fā)出低電平信號(hào)；

17、當(dāng)?shù)谝贿x擇裝置s1設(shè)置為短路測(cè)試時(shí)，同時(shí)對(duì)第四igbt管q4的門極發(fā)出單脈沖信號(hào)，對(duì)第三igbt管q3的門極發(fā)出高電平信號(hào)，對(duì)第一igbt管q1的門極、第二igbt管q2的門極發(fā)出低電平信號(hào)。

18、優(yōu)選的，所述第一選擇裝置s1，包括：第一轉(zhuǎn)換器sw1、第一電感l(wèi)1和第一銅片u1；所述第一轉(zhuǎn)換器sw1用于在雙脈沖測(cè)試時(shí)，將第一電感l(wèi)1接入第二igbt管q2、第三igbt管q3的連接點(diǎn)與第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)之間；或用于在短路測(cè)試時(shí)，將第一銅片u1接入第二igbt管q2、第三igbt管q3的連接點(diǎn)與第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)之間；

19、所述第二選擇裝置s2，包括：第二轉(zhuǎn)換器sw2、第二電感l(wèi)2和第二銅片u2；所述第二轉(zhuǎn)換器sw2用于在雙脈沖測(cè)試時(shí)，將第二電感l(wèi)2并聯(lián)接入依次連接的第三igbt管q3、第四igbt管q4的兩端；或用于在短路測(cè)試時(shí)，將第二銅片u2并聯(lián)接入依次連接的第三igbt管q3、第四igbt管q4的兩端；

20、所述第三選擇裝置s3，包括：第三轉(zhuǎn)換器sw3、第三電感l(wèi)3和第三銅片u3；所述第三轉(zhuǎn)換器sw3用于在雙脈沖測(cè)試時(shí)，將第三電感l(wèi)3并聯(lián)接入依次連接的第一igbt管q1、第二igbt管q2的兩端；或用于在短路測(cè)試時(shí)，將第三銅片u3并聯(lián)接入依次連接的第一igbt管q1、第二igbt管q2的兩端。

21、優(yōu)選的，還包括：

22、將過流電阻rs設(shè)置在npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)與第一電容c1、第二電容c2的連接點(diǎn)之間；

23、獲取流過過流電阻rs的電流值，以決定在所述電流值超過預(yù)設(shè)閾值時(shí)，將所述第一選擇裝置s1、第二選擇裝置s2或第三選擇裝置s3斷開連接。

24、優(yōu)選的，還包括：

25、獲取流過過流電阻rs的電流值，以決定在所述電流值超過預(yù)設(shè)閾值時(shí)，將發(fā)送給所述第一igbt管q1、第二igbt管q2、第三igbt管q3和/或第四igbt管q4的門極的雙脈沖信號(hào)和/或高電平信號(hào)均改為低電平信號(hào)。

26、第五方面，提供一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試裝置，用于對(duì)npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第一igbt管q1或第四igbt管q4進(jìn)行雙脈沖及短路測(cè)試，包括：第一選擇裝置s1：設(shè)置在npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第二igbt管q2、第三igbt管q3的連接點(diǎn)與第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)之間；用于選擇對(duì)所述第一igbt管q1或第四igbt管q4進(jìn)行雙脈沖測(cè)試、短路測(cè)試或斷開連接；

27、過流電阻rs：設(shè)置在npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)與第一電容c1、第二電容c2的連接點(diǎn)之間；用于獲取測(cè)試中流經(jīng)第一igbt管q1和第二igbt管q2，以及第一電感l(wèi)1或第一銅片u1的電流；或用于獲取測(cè)試中流經(jīng)第三igbt管q3和第四igbt管q4，以及第一電感l(wèi)1或第一銅片u1的電流。

28、第六方面，提供一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試裝置，用于對(duì)npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第二igbt管q1進(jìn)行雙脈沖及短路測(cè)試，包括：

29、第二選擇裝置s2：并聯(lián)設(shè)置在依次連接的第三igbt管q3、第四igbt管q4的兩端；用于選擇對(duì)所述第二igbt管q2進(jìn)行雙脈沖測(cè)試、短路測(cè)試或斷開連接；

30、過流電阻rs：設(shè)置在npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)與第一電容c1、第二電容c2的連接點(diǎn)之間；用于獲取測(cè)試中流經(jīng)第一二極管d1、第二igbt管q2、第三電感l(wèi)3的電流。

31、第七方面，提供一種npc?i型三電平電路的雙脈沖及短路測(cè)試裝置，用于對(duì)npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第三igbt管q3進(jìn)行雙脈沖及短路測(cè)試，包括：

32、第三選擇裝置s3：并聯(lián)設(shè)置在依次連接的第一igbt管q1、第二igbt管q2的兩端；用于選擇對(duì)所述第三igbt管q2進(jìn)行雙脈沖測(cè)試、短路測(cè)試或斷開連接；

33、過流電阻rs：設(shè)置在npc?i型三電平電路的測(cè)試電路中的第一二極管d1、第二二極管d2的連接點(diǎn)與第一電容c1、第二電容c2的連接點(diǎn)之間；用于獲取測(cè)試中流經(jīng)第二二極管d2、第三igbt管q3、第二電感l(wèi)2的電流。

34、綜上所述，本技術(shù)包括以下至少一種有益技術(shù)效果：

35、1、利用第一選擇裝置s1、第二選擇裝置s2或第三選擇裝置s3，使得對(duì)igbt管進(jìn)行雙脈沖測(cè)試或短路測(cè)試之間，能夠快速切換，避免了測(cè)試成本過高和測(cè)試效率較低的技術(shù)問題；2、增加過流電阻rs，使得在對(duì)igbt管進(jìn)行雙脈沖測(cè)試或短路測(cè)試時(shí)，如果出現(xiàn)電流過大的情況，能夠快速地中止測(cè)試，避免被測(cè)試的igbt管被燒毀。