本發(fā)明屬于材料檢測，具體是涉及一種用于薄膜孔洞檢測的裝置、方法及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在電子和電氣工程領(lǐng)域中，對使用高分子材料制成的薄膜進行準(zhǔn)確的孔洞檢測是一項至關(guān)重要的技術(shù)。這些薄膜通常應(yīng)用于電子設(shè)備中，例如鋰電池隔膜，其精確的制造對電池的性能和安全至關(guān)重要?，F(xiàn)有的檢測方法主要包括物理測量和影像測量。

2、影像測量儀是一種先進的設(shè)備，通過使用高精度的攝像系統(tǒng)和復(fù)雜的圖像處理算法來定位和測量薄膜上的孔洞。盡管該方法具有較高的精度，但其缺點在于設(shè)備成本高，操作復(fù)雜且需要專門編程。此外，影像測量儀在使用過程中通常需要人工干預(yù)來選擇和定位測量點，增加了操作的復(fù)雜性和時間消耗。

3、另一種常見的方法是使用尺子等傳統(tǒng)工具進行直接測量。這種方法的優(yōu)點在于設(shè)備簡單、成本低，但其精度受限，并且測量結(jié)果容易受到操作員的主觀影響，可能導(dǎo)致誤差較大和不合格產(chǎn)品的誤放。

4、鑒于現(xiàn)有技術(shù)的局限性，市場急需一種既能滿足嚴(yán)格檢測標(biāo)準(zhǔn)，又具有成本效益的新型檢測儀器。這種新型儀器應(yīng)能夠自動進行高精度的孔洞尺寸測量，且操作簡便，以減少人工干預(yù)和相關(guān)的錯誤風(fēng)險。此外，新技術(shù)還應(yīng)能擴展到更多的檢測功能，如電氣性能測試，以提供更全面的材料特性評估。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、(一)要解決的技術(shù)問題

2、本發(fā)明主要針對以上問題，提出了一種用于薄膜孔洞檢測的裝置、方法及存儲介質(zhì)，其目的是解決傳統(tǒng)方法的精度和成本問題。

3、(二)技術(shù)方案

4、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第一方面提供了一種用于薄膜孔洞檢測的裝置，所述裝置包括：

5、上導(dǎo)電板和下絕緣板，所述上導(dǎo)電板位于所述下絕緣板的上方，用于包夾薄膜，所述下絕緣板設(shè)置有多個貫穿孔；

6、電阻材料，所述電阻材料為電阻隨溫度線性變化，所述電阻材料位于所述下絕緣板的下方，且所述電阻材料朝向所述下絕緣板電連接有兩排導(dǎo)電部，每排的每個所述導(dǎo)電部均與所述下絕緣板上的貫穿孔相對應(yīng)；

7、當(dāng)所述上導(dǎo)電板與所述下絕緣板包夾薄膜時，每排所述導(dǎo)電部中的部分所述導(dǎo)電部分別穿出隔膜的孔洞并接觸所述上導(dǎo)電板，形成閉合電路；所述閉合回路上設(shè)置有電源、電壓表、溫度計以及多個電流表，其中，所述電壓表與所述電源并聯(lián)，所述溫度計與所述電阻材料接觸，多個所述電流表分別連接在兩排所述導(dǎo)電部中的一排所述導(dǎo)電部上。

8、進一步地，所述電阻材料為鉑金電阻、鎳鉻合金電阻、鉬錳電阻或錫氧化物電阻。

9、進一步地，所述導(dǎo)電部為彈性探針，所述彈性探針的直徑小于薄膜孔洞的直徑。

10、進一步地，所述上導(dǎo)電板為銅板。

11、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第二方面提供了一種用于薄膜孔洞的檢測方法，包括使用上述所述的裝置實現(xiàn)所述檢測方法，所述檢測方法包括：

12、將薄膜放入上導(dǎo)電板和下絕緣板之間；

13、通過上導(dǎo)電板和下絕緣板包夾隔膜，以使每排導(dǎo)電部中的部分導(dǎo)電部分別穿出隔膜的孔洞并接觸上導(dǎo)電板，形成閉合電路；

14、通過連接的電流表和電壓表檢測并獲取干路的起始電流及電壓值，通過連接的溫度計獲取電阻材料的實時溫度；

15、根據(jù)電流表讀數(shù)以及電壓表讀數(shù)，計算電阻材料的電阻；根據(jù)實時溫度計算該電阻材料的電阻率；

16、根據(jù)電阻材料的橫截面為固定值、且計算得到的電阻率和電阻計算孔洞的距離。

17、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第三方面提供了一種測量隔膜熱收縮的方法，包括使用上述所述的裝置實現(xiàn)所述方法，所述方法包括：

18、步驟s1、在第一溫度下，將薄膜放入上導(dǎo)電板和下絕緣板之間；

19、步驟s2、通過上導(dǎo)電板和下絕緣板包夾隔膜，以使每排導(dǎo)電部中的部分導(dǎo)電部分別穿出隔膜的孔洞并接觸上導(dǎo)電板，形成閉合電路；

20、步驟s3、通過連接的電流表和電壓表檢測并獲取干路的起始電流及電壓值，通過連接的溫度計獲取電阻材料的實時溫度；

21、步驟s4、根據(jù)電流表讀數(shù)以及電壓表讀數(shù)，計算電阻材料的電阻；根據(jù)實時溫度計算該電阻材料的電阻率；

22、步驟s5、根據(jù)電阻材料的橫截面為固定值、且得到的電阻率和電阻計算孔洞在第一溫度下的第一距離；

23、步驟s6、在第二溫度下，重復(fù)步驟s1-步驟s5,計算孔洞在第二溫度下的第二距離；

24、步驟s7、根據(jù)第一溫度與第二溫度的溫差，以及第一距離和第二距離的差值得到隔膜的熱收縮。

25、進一步地，測試完熱收縮后，使用程序控制電流，持續(xù)增加電壓，記錄擊穿電壓值，并通過顯示器輸出。

26、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第四方面提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)所述的方法。

27、(三)有益效果

28、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的一種用于薄膜孔洞檢測的裝置、方法及存儲介質(zhì)，在本發(fā)明中，上導(dǎo)電板和下絕緣板的配置允許薄膜在兩板之間被包夾，下絕緣板上的多個貫穿孔確保每個孔洞的位置都與電阻材料上的對應(yīng)導(dǎo)電部精確對齊。當(dāng)上導(dǎo)電板與下絕緣板包夾薄膜時，部分導(dǎo)電部穿過薄膜孔洞與上導(dǎo)電板接觸，形成閉合電路，此時兩孔洞之間的距離等同于部分導(dǎo)電部連接在電阻材料上的距離，使得可以通過電流表和電壓表精確測量通過孔洞的電流和電壓，結(jié)合溫度計監(jiān)測的電阻材料溫度變化數(shù)據(jù)，通過計算公式u＝ir和r＝ρl/s計算出兩孔洞之間的距離。通過該方法不僅可以提高測量精度，而且大幅降低了設(shè)備和運行成本，使得孔洞檢測更加快速、經(jīng)濟和可靠。

技術(shù)特征：

1.一種用于薄膜孔洞檢測的裝置，其特征在于，所述裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于薄膜孔洞檢測的裝置，其特征在于，所述電阻材料為鉑金電阻、鎳鉻合金電阻、鉬錳電阻或錫氧化物電阻。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于薄膜孔洞檢測的裝置，其特征在于，所述導(dǎo)電部為彈性探針，所述彈性探針的直徑小于薄膜孔洞的直徑。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于薄膜孔洞檢測的裝置，其特征在于，所述上導(dǎo)電板為銅板。

5.一種用于薄膜孔洞的檢測方法，其特征在于，包括使用上述權(quán)利要求1-4任一項所述的裝置實現(xiàn)所述檢測方法，所述檢測方法包括：

6.一種測量隔膜熱收縮的方法，其特征在于，包括使用上述權(quán)利要求1-4任一項所述的裝置實現(xiàn)所述方法，所述方法包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種測量隔膜熱收縮的方法，其特征在于，測試完熱收縮后，使用程序控制電流，持續(xù)增加電壓，記錄擊穿電壓值，并通過顯示器輸出。

8.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求5或6所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明屬于材料檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體是涉及一種用于薄膜孔洞檢測的裝置、方法及存儲介質(zhì)。裝置包括上導(dǎo)電板和下絕緣板，上導(dǎo)電板和下絕緣板用于包夾薄膜，下絕緣板設(shè)有貫穿孔；電阻材料隨溫度線性變化，電阻材料朝向下絕緣板電連接有導(dǎo)電部，導(dǎo)電部與下絕緣板上的貫穿孔相對應(yīng)；當(dāng)上導(dǎo)電板與下絕緣板包夾薄膜時，導(dǎo)電部中的部分導(dǎo)電部分別穿出隔膜的孔洞并接觸上導(dǎo)電板形成閉合電路；閉合回路上設(shè)置有電源、電壓表、溫度計以及電流表，電壓表與電源并聯(lián)，溫度計與電阻材料接觸，多個電流表分別連接在導(dǎo)電部上。通過特定的結(jié)構(gòu)和電路設(shè)計，能準(zhǔn)確檢測薄膜孔洞距離具有定位精準(zhǔn)、適應(yīng)不同條件、可靠性高等效果。

技術(shù)研發(fā)人員：冷松,楊威,胡宇,張思宇
受保護的技術(shù)使用者：康輝南通新材料科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9