本發(fā)明涉及一種高頻rfid標(biāo)簽性能檢測在線測試系統(tǒng),可在線測試包括頻點(diǎn)、q值、uid和rssi多種性能,屬于rfid標(biāo)簽測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
rfid是radiofrequencyidentification的英文縮寫,即射頻識別,又稱無線射頻電子標(biāo)簽,是一種非接觸式的自動識別技術(shù)。它通過無線電訊號識別特定的目標(biāo),并讀寫相關(guān)的數(shù)據(jù),而不需要識別系統(tǒng)與這個(gè)目標(biāo)有機(jī)械或者是光學(xué)接觸。它無須人工干預(yù),可用于各種惡劣環(huán)境,可識別高速運(yùn)動的物體,可同時(shí)識別多個(gè)標(biāo)簽,操作快捷方便。
rfid標(biāo)簽一般包括超高頻(uhf)rfid標(biāo)簽、高頻(hf)rfid標(biāo)簽、低頻(lf)rfid標(biāo)簽三大類,本發(fā)明屬于高頻(hf)rfid標(biāo)簽類別。
高頻(hf)是指工作在13.56mhz頻率下的rfid標(biāo)簽,此類標(biāo)簽通過線圈間的電感耦合進(jìn)行數(shù)據(jù)通信,主要的協(xié)議包括iso14443和iso15693,iso14443俗稱mifare1系列產(chǎn)品,識別距離近但價(jià)格低、保密性好,常作為公交卡、門禁卡來使用,iso15693的最大優(yōu)點(diǎn)在于他的識別效率,通過較大功率的閱讀器可將識別距離擴(kuò)展至1.5米以上。
常規(guī)高頻(hf)rfid標(biāo)簽在制造時(shí),綁定生產(chǎn)設(shè)備僅僅對其電性進(jìn)行測試,并將測試的結(jié)果(good或bad)顯示在人機(jī)界面內(nèi),對bad的標(biāo)簽進(jìn)行墨點(diǎn)標(biāo)記。制造部門通過抽樣的方式,在線外對抽樣的標(biāo)簽進(jìn)行頻點(diǎn)、q值測量,無法保證每一片標(biāo)簽的性能指標(biāo)。綁定生產(chǎn)設(shè)備無法記錄每片標(biāo)簽的信息,對于后續(xù)對產(chǎn)品的追蹤無法提供數(shù)據(jù)支持。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是提供一種高頻rfid標(biāo)簽性能檢測在線測試系統(tǒng),解決現(xiàn)有高頻(hf)rfid標(biāo)簽在制造時(shí),綁定生產(chǎn)設(shè)備僅僅對其頻點(diǎn)、q值電性進(jìn)行抽樣測試,從而存在無法保證每一片標(biāo)簽的性能指標(biāo)的不足,通過本發(fā)明在綁定生產(chǎn)設(shè)備時(shí)實(shí)現(xiàn)標(biāo)簽的頻點(diǎn)、q值、uid和rssi四項(xiàng)性能指標(biāo)的在線測試,當(dāng)四項(xiàng)指標(biāo)中的任意一個(gè)不符合標(biāo)簽的性能要求,均會被綁定設(shè)備標(biāo)記為不良,確保生產(chǎn)的每一片標(biāo)簽均符合客戶的性能指標(biāo)。同時(shí),記錄每一片標(biāo)簽的四項(xiàng)性能指標(biāo),為后續(xù)產(chǎn)品追蹤實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)支持。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的,一種高頻rfid標(biāo)簽性能檢測在線測試系統(tǒng),包括與綁定設(shè)備進(jìn)行通訊的計(jì)算機(jī),與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信的頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備,uid、rssi測試設(shè)備和運(yùn)行于計(jì)算機(jī)的測試軟件,其特征是,頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備、uid、rssi測試設(shè)備經(jīng)同軸電纜與測試板連接,所述測試板由頻點(diǎn)、q值測試板和uid、rssi測試板經(jīng)堆疊組合構(gòu)成;測試軟件通過串口1與綁定設(shè)備連接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通信;測試軟件通過串口2與頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備連接;測試軟件通過串口3和uid、rssi測試設(shè)備連接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通信;串口通信通過數(shù)據(jù)幀的方式進(jìn)行;測試軟件可以對頻點(diǎn)、q值、uid和rssi的門限進(jìn)行設(shè)定,只有被測rfid標(biāo)簽的頻點(diǎn)、q值、uid和rssi均在設(shè)定范圍內(nèi),計(jì)算機(jī)才會判定其為良品,否則判定為不良品;當(dāng)測試板運(yùn)動到被測rfid標(biāo)簽下方,綁定設(shè)備發(fā)送測試命令給測試軟件,測試軟件接收到命令后分別發(fā)送測試命令給頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備和uid、rssi測試設(shè)備,頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備和uid、rssi測試設(shè)備測試完成后將測試結(jié)果(頻點(diǎn)、q值、uid、rssi數(shù)值)發(fā)送給測試軟件,測試軟件分別對4種數(shù)據(jù)進(jìn)行判定,將良品或不良品的結(jié)果返回再給綁定設(shè)備,若綁定設(shè)備接收的結(jié)果是不良品,它控制打墨點(diǎn)裝置對該枚rfid標(biāo)簽進(jìn)行標(biāo)記,標(biāo)記完會測試板移動到下一枚rfid標(biāo)簽繼續(xù)進(jìn)行測試;若綁定設(shè)備接收的結(jié)果是良品,測試板則會移動到下一枚rfid標(biāo)簽繼續(xù)進(jìn)行測試。
所述的測試板由上層包括線圈結(jié)構(gòu)的頻點(diǎn)、q值測試板和下層包括電阻電容的uid、rssi測試板構(gòu)成,兩層測試板通過尼龍螺絲連接固定,兩者間距通過螺帽調(diào)節(jié)。
所述的同軸電纜為50歐同軸電纜,一根50歐同軸電纜的一端連接頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備,另一端連接到測試板上層的頻點(diǎn)、q值測試板;另一根50歐同軸電纜一端與uid、rssi測試設(shè)備進(jìn)行連接,另一端連接到測試板下層的uid、rssi測試板
所述頻點(diǎn)、q值測試板上的線圈可以為任意形狀,根據(jù)被測rfid標(biāo)簽的形狀不同,線圈可以被設(shè)計(jì)為圓形、矩形,。
所述uid、rssi測試板上線圈為矩形線圈,矩形線圈與連接的電阻和電容組成lc振蕩電路,振蕩頻率到達(dá)高頻13.56mhz。
所述上層的頻點(diǎn)、q值測試板長寬為256mmx170mm,下層的uid、rssi測試板長寬為64mmx54mm,目的是為了能夠安裝到綁定設(shè)備的測試位置。
綁定設(shè)備使用的型號是紐豹tal15k和fcm10k,頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備使用的型號是testram的t8200ud,uid、rssi測試設(shè)備使用的型號的是德州儀器的trf7970aevm。
本發(fā)明能夠?qū)?biāo)簽的四項(xiàng)重要性能指標(biāo)進(jìn)行測試,以確保生產(chǎn)的每一片標(biāo)簽都符合客戶需求,極大提高公司的產(chǎn)品核心競爭力,為企業(yè)帶來強(qiáng)大的經(jīng)濟(jì)效益。
附圖說明
圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明中測試板的立體結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是圖2的主視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為圖2的俯視結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為圖2中uid、rssi測試板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6為測試軟件與綁定設(shè)備連接示意圖。
圖7為測試軟件與頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備(t8200ud)和uid、rssi測試設(shè)備(trf7970aevm)連接示意圖。
圖8為本發(fā)明循環(huán)測試框圖。
圖中,1頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備,2uid、rssi測試設(shè)備,3同軸電纜,4測試板,5頻點(diǎn)、q值測試板,6uid、rssi測試板,7尼龍螺絲,8尼龍螺帽,9圓形線圈,10矩形線圈,11電阻,12電容。
具體實(shí)施方式
結(jié)合附圖和實(shí)施例進(jìn)一步說明本發(fā)明,本發(fā)明包括測試模塊、測試板的硬件部分和測試軟件部分構(gòu)成。如圖1所示,硬件部分中的頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備1和uid、rssi測試設(shè)備2經(jīng)同軸電纜3連接測試板4,硬件部分中的頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備1和uid、rssi測試設(shè)備2與與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信,計(jì)算機(jī)與綁定設(shè)備進(jìn)行通訊,因綁定設(shè)備tal15k是雙道測試,即每次可以同時(shí)測試兩枚rfid標(biāo)簽,故此處是兩套測試系統(tǒng)。綁定設(shè)備使用的型號是紐豹tal15k和fcm10k,頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備使用的型號是testram的t8200ud,uid、rssi測試設(shè)備使用的型號的是德州儀器的trf7970aevm。
如圖2、3、4、5所示,測試板4由頻點(diǎn)、q值測試板5和uid、rssi測試板6經(jīng)堆疊組合構(gòu)成。測試板4堆疊組合由上層包括線圈的頻點(diǎn)、q值測試板5和下層包括電阻電容的uid、rssi測試板6構(gòu)成,兩層測試板經(jīng)尼龍螺絲7連接,兩者間距通過螺帽8調(diào)節(jié)。同軸電纜3為50歐同軸電纜,50歐同軸電纜3的一端分別連接頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備1和uid、rssi測試設(shè)備2的信號輸入端,50歐同軸電纜3的另一端分別連接堆疊組合測試板4中頻點(diǎn)、q值測試板5、uid、rssi測試板6上線圈的接線端。頻點(diǎn)、q值測試板5上的線圈為圓形線圈9,圓形線圈9數(shù)量不少于兩個(gè)。uid、rssi測試板6上線圈為矩形線圈10,矩形線圈10的一端連接電阻11和電容12,矩形線圈與電阻電容形成lc振蕩,振蕩頻率為13.56mhz。上層的頻點(diǎn)、q值測試板5長寬為256mmx170mm,下層的uid、rssi測試板6長寬為64mmx54mm。
測試軟件部分中的軟件運(yùn)行于計(jì)算機(jī)上,主機(jī)通過串口與綁定設(shè)備進(jìn)行通訊,通過usb口與頻點(diǎn)測試設(shè)備和uid、rssi測試設(shè)備進(jìn)行通訊,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通訊。測試軟件可對頻點(diǎn)、q值、uid及rssi的上下限進(jìn)行設(shè)置。
本發(fā)明中的測試板4固定在相關(guān)設(shè)備上,當(dāng)測試板4運(yùn)動到標(biāo)簽下方,綁定設(shè)備發(fā)送測試命令給測試系統(tǒng),測試系統(tǒng)接收到命令后開始測試,并將測試結(jié)果返回給設(shè)備。
如圖6所示,測試軟件通過串口1與綁定設(shè)備連接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通信。串口通信通過數(shù)據(jù)幀的方式進(jìn)行,也就是數(shù)據(jù)的編碼方式,包含:幀頭+數(shù)據(jù)長度+數(shù)據(jù)+幀尾。
如圖7所示,測試軟件通過串口2和串口3分別與頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備和uid、rssi測試設(shè)備連接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通信。串口通信通過數(shù)據(jù)幀的方式進(jìn)行,也就是數(shù)據(jù)的編碼方式,包含:幀頭+命令位+數(shù)據(jù)長度+數(shù)據(jù)+幀尾。
測試軟件界面會有相應(yīng)結(jié)果的判定設(shè)置,只有頻點(diǎn)、q值、uid和rssi在我們設(shè)定范圍內(nèi),計(jì)算機(jī)才會判定為良品,否則判定為不良品,測試軟件會記錄每一枚標(biāo)簽的頻點(diǎn)、q值、uid和rssi的數(shù)據(jù)。
綁定設(shè)備接收到計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)結(jié)果只有良品和不良品。
如圖8所示,1個(gè)循環(huán)測試過程:綁定設(shè)備將測試命令編碼,通過串口1發(fā)送到計(jì)算機(jī);計(jì)算機(jī)將測試命令解碼,并重新編碼,通過串口2和串口3發(fā)送給頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備和uid、rssi測試設(shè)備;頻點(diǎn)、q值測試設(shè)備和uid、rssi測試設(shè)備解碼獲得測試命令,執(zhí)行測試動作,測試完成后將測試結(jié)果數(shù)據(jù)重新編碼通過串口2和串口3發(fā)送計(jì)算機(jī),計(jì)算機(jī)將獲得的數(shù)據(jù)解碼,并進(jìn)行判定,將判定結(jié)果重新編碼通過串口1發(fā)送給綁定設(shè)備(發(fā)送給綁定設(shè)備的只有良品和不良品兩種結(jié)果),綁定設(shè)備解碼獲得數(shù)據(jù),若結(jié)果數(shù)據(jù)顯示是良品,增加良品數(shù)字;若結(jié)果數(shù)據(jù)顯示為不良品,則增加不良品數(shù)字,并在對應(yīng)標(biāo)簽上打印不良墨點(diǎn)。
綁定設(shè)備到計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)編碼方式,與計(jì)算機(jī)到兩臺測試設(shè)備的數(shù)據(jù)編碼方式不一致,故需要計(jì)算機(jī)作為中間媒介對數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼和重新編碼。
綁定設(shè)備在生產(chǎn)過程中,不停地執(zhí)行上述循環(huán),才能實(shí)現(xiàn)對每一枚標(biāo)簽的測試。