本實用新型實施例涉及測試裝置技術(shù)，尤其涉及一種用于電容式觸摸按鍵的測試裝置及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

現(xiàn)在的終端設(shè)備大多可以實現(xiàn)觸控操作，即用戶通過手指觸摸觸控屏來實現(xiàn)各種控制指令的觸發(fā)，尤其是智能手機(jī)和平板電腦等移動終端，更是離不開觸控操作。

目前測試電容式觸摸按鍵性能是通過測試人員用手指去觸摸按鍵來進(jìn)行測試的。這種人工操作的測試方法，測試效率低，使得產(chǎn)品的生產(chǎn)周期長，生產(chǎn)效率低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型實施例提供一種用于電容式觸摸按鍵的測試裝置及系統(tǒng)，以提高測試效率。

第一方面，本實用新型實施例提供了一種用于電容式觸摸按鍵的測試裝置，該裝置包括容性電路和電容值檢測電路，所述容性電路的一端接地，所述容性電路的另一端用于與電容式觸摸按鍵連接，所述電容值檢測電路的測試端用于與所述電容式觸摸按鍵連接，所述電容值檢測電路用于檢測所述電容式觸摸按鍵的對地電容值。

進(jìn)一步地，所述容性電路包括相互串聯(lián)的電容和開關(guān)模塊。

進(jìn)一步地，所述容性電路還包括串聯(lián)在所述電容與所述開關(guān)模塊的電路中的測試針，所述測試針與所述電容式觸摸按鍵連接。

進(jìn)一步地，所述電容內(nèi)置于所述測試針中。

進(jìn)一步地，所述開關(guān)模塊包括第一NMOS管，所述第一NMOS管的柵極為所述開關(guān)模塊的控制端，所述第一NMOS管的漏極與所述電容的一端相連，所述第一NMOS管的源極接地。

進(jìn)一步地，所述開關(guān)模塊包括第二NMOS管和第三NMOS管，所述第二NMOS管的柵極和第三NMOS管的柵極相連作為所述開關(guān)模塊的控制端，第二NMOS管的漏極與第三NMOS管的漏極相連，所述第二NMOS管的源極接地，所述第三NMOS管的源極與所述電容的一端相連。

進(jìn)一步地，所述開關(guān)模塊包括繼電器。

進(jìn)一步地，所述開關(guān)模塊還包括NPN三極管，其中，所述繼電器的線圈的一端與所述NPN三極管的集電極相連，所述繼電器的觸點開關(guān)與所述電容串聯(lián)，所述NPN三極管的基極為所述開關(guān)模塊的控制端，所述NPN三極管的發(fā)射極接地。

第二方面，本實用新型實施例還提供了一種用于電容式觸摸按鍵的測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括測試臺和如本實用新型任意實施例提供的用于電容式觸摸按鍵的測試裝置，所述測試臺上設(shè)置第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽用于安裝電容式觸摸按鍵，所述第二卡槽用于安裝所述用于電容式觸摸按鍵的測試裝置。

進(jìn)一步地，還包括工控機(jī)，所述工控機(jī)的輸出端與所述容性電路的控制端相連，所述工控機(jī)輸出所述容性電路的控制信號，控制所述容性電路與所述電容式觸摸按鍵的通斷。

本實用新型實施例，通過將容性電路的一端接地，容性電路的另一端用于與電容式觸摸按鍵連接，進(jìn)而控制容性電路的另一端與電容式觸摸按鍵的連接狀態(tài)或方式，來模擬手指是否觸摸電容式觸摸按鍵的情況，并通過電容值檢測電路檢測電容式觸摸按鍵的對地電容值，可以根據(jù)該電容值，獲取輸入的觸摸參數(shù)，解決了對具有觸控功能的終端設(shè)備等進(jìn)行測試時，只能通過測試人員用手指去觸摸按鍵來進(jìn)行測試，從而造成測試效率低的問題，使得測試過程達(dá)到自動化，進(jìn)而提高測試效率。

附圖說明

圖1是本實用新型實施例一中提供的一種用于電容式觸摸按鍵的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實用新型實施例一中提供的另一種用于電容式觸摸按鍵的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實用新型實施例一中提供的一種開關(guān)模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本實用新型實施例一中提供的另一種開關(guān)模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5是本實用新型實施例一中提供的另一種開關(guān)模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6是本實用新型實施例二中提供的一種用于電容式觸摸按鍵的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本實用新型，而非對本實用新型的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本實用新型相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。

實施例一

圖1為本實用新型實施例一提供的一種用于電容式觸摸按鍵的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，該測試裝置包括容性電路110和電容值檢測電路120，所述容性電路110的一端接地，所述容性電路110的另一端用于與電容式觸摸按鍵130連接，所述電容值檢測電路120的測試端用于與所述電容式觸摸按鍵130連接，所述電容值檢測電路120用于檢測所述電容式觸摸按鍵130的對地電容值。

其中，容性電路110的一端可以用于接地，容性電路110的另一端可以用于與電容式觸摸按鍵120(可以是觸控電極)連接，容性電路110的一端與地的連接狀態(tài)或方式可以包括通態(tài)或斷態(tài)，容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130的連接狀態(tài)或方式可以包括通態(tài)或斷態(tài)，可以通過控制容性電路110的一端與地的連接狀態(tài)或方式或者通過控制容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130的連接狀態(tài)或方式，與手指觸摸和未觸摸電容式觸摸按鍵的情況相對應(yīng)。電容值檢測電路120的測試端用于與電容式觸摸按鍵130(可以是觸控電極)連接，電容值檢測電路120用于檢測電容式觸摸按鍵的對地電容值，通過檢測該電容值，可以根據(jù)該電容值，獲取輸入的觸摸參數(shù)。

優(yōu)選的，如圖1所示，所述容性電路110包括相互串聯(lián)的電容C1和開關(guān)模塊111。

其中，容性電路110包括電容C1和開關(guān)模塊111，電容C1和開關(guān)模塊111串聯(lián)連接，串聯(lián)后的一端可以接地，另一端可以與電容式觸摸按鍵130連接。電容C1的容量值可以為預(yù)設(shè)電容值，該預(yù)設(shè)電容值的大小的設(shè)置可以與設(shè)置有電容式觸摸按鍵130的電子設(shè)備的外殼材料等有關(guān)。開關(guān)模塊111的開通和關(guān)斷可以分別對應(yīng)手指觸摸和未觸摸電容式觸摸按鍵的情況。

優(yōu)選的，所述容性電路110還包括串聯(lián)在所述電容C1與所述開關(guān)模塊111的電路中的測試針112，所述測試針與所述電容式觸摸按鍵130連接。

其中，容性電路110可以還包括串聯(lián)在電容C1與開關(guān)模塊111的電路中的測試針112，測試針112與電容式觸摸按鍵130連接。測試針112可以與電容式觸摸按鍵130的測試點接觸良好，相比于將引線焊接在電容式觸摸按鍵的測試點等方式，可以避免拆卸焊接的引線，可以方便后續(xù)處理。

優(yōu)選的，如圖2所示，所述電容C1內(nèi)置于所述測試針112中。

其中，測試針112包括觸點、接線柱和外套管，其中，觸點的底部從外套管的下部插入，接線柱的一端從外套管的上部插入，電容可以內(nèi)置于測試針中，可以設(shè)置在觸點和接線柱之間，相比于將電容焊接在印刷電路板上等方式，可以方便更換電容，且節(jié)省成本。

優(yōu)選的，如圖3所示，所述開關(guān)模塊包括第一NMOS管Q1，所述第一NMOS管Q1的柵極為所述開關(guān)模塊111的控制端，所述第一NMOS管Q1的漏極與所述電容C1的一端相連，所述第一NMOS管Q1的源極接地。

其中，當(dāng)開關(guān)模塊111的控制端的控制信號為高電平時，第一NMOS管Q1的柵極為高電平，使得第一NMOS管Q1的源極和漏極導(dǎo)通，使得容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130為通態(tài)，對應(yīng)手指觸摸電容式觸摸按鍵的情況。當(dāng)開關(guān)模塊111的控制端的控制信號為低電平時，第一NMOS管Q1的柵極為低電平，使得第一NMOS管Q1截止，使得容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130為斷態(tài)，對應(yīng)手指未觸摸電容式觸摸按鍵的情況。還可以通過控制開關(guān)模塊111的控制端的控制信號的高電平持續(xù)時間，與觸摸操作的點觸和長按等情況對應(yīng)?？梢钥刂贫鄠€位置連續(xù)的電容式觸控按鍵對應(yīng)的開關(guān)模塊的控制端的控制信號來實現(xiàn)觸摸操作的滑動操作等情況。

優(yōu)選的，如圖4所示，所述開關(guān)模塊包括第二NMOS管Q2和第三NMOS管Q3，所述第二NMOS管Q2的柵極和第三NMOS管Q3的柵極相連作為所述開關(guān)模塊111的控制端，第二NMOS管Q2的漏極與第三NMOS管Q3的漏極相連，所述第二NMOS管Q2的源極接地，所述第三NMOS管Q3的源極與所述電容C1的一端相連。

其中，第三NMOS管Q3的源極可以與電容C1的一端相連當(dāng)開關(guān)模塊111的控制端的控制信號為高電平時，第二NMOS管Q2的柵極和第三NMOS管Q3的柵極均為高電平，使得第二NMOS管Q2的源極和漏極導(dǎo)通，第三NMOS管Q3的源極和漏極導(dǎo)通，使得容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130為通態(tài)，對應(yīng)手指觸摸電容式觸摸按鍵的情況。當(dāng)開關(guān)模塊的控制端的控制信號為低電平時，第二NMOS管Q2的柵極和第三NMOS管Q3的柵極均為低電平，使得第二NMOS管Q2的源極和漏極不導(dǎo)通，第三NMOS管Q3的源極和漏極不導(dǎo)通，使得容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130為斷態(tài)，對應(yīng)手指未觸摸電容式觸摸按鍵的情況。還可以通過控制開關(guān)模塊的控制端的控制信號的高電平持續(xù)時間，與觸摸操作的點觸和長按等情況對應(yīng)?？梢钥刂贫鄠€位置連續(xù)的電容式觸控按鍵對應(yīng)的開關(guān)模塊的控制端的控制信號來實現(xiàn)觸摸操作的滑動操作等情況。

優(yōu)選的，所述開關(guān)模塊111包括繼電器1111。

其中，開關(guān)模塊111包括繼電器1111，繼電器1111包括線圈和觸點開關(guān)。

優(yōu)選的，如圖5所示，所述開關(guān)模塊111還包括NPN三極管Q4，其中，所述繼電器1111的線圈的一端與所述NPN三極管Q4的集電極相連，所述繼電器1111的觸點開關(guān)與所述電容C1串聯(lián)，所述NPN三極管Q4的基極為所述開關(guān)模塊111的控制端，所述NPN三極管Q4的發(fā)射極接地。

其中，繼電器1111的線圈的另一端可以與電壓電源連接。當(dāng)開關(guān)模塊111的控制端的控制信號為高電平時，NPN三極管Q4的基極為高電平，使得NPN三極管Q4的集電極和發(fā)射極導(dǎo)通，使得容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130為通態(tài)，對應(yīng)手指觸摸電容式觸摸按鍵的情況。當(dāng)開關(guān)模塊111的控制端的控制信號為低電平時，NPN三極管Q4的基極為高電平，使得NPN三極管Q4的集電極和發(fā)射極導(dǎo)通，使得容性電路110的另一端與電容式觸摸按鍵130為斷態(tài)，對應(yīng)手指未觸摸電容式觸摸按鍵的情況。還可以通過控制開關(guān)模塊111的控制端的控制信號的高電平持續(xù)時間，與觸摸操作的點觸和長按等情況對應(yīng)。可以控制多個位置連續(xù)的電容式觸控按鍵對應(yīng)的開關(guān)模塊的控制端的控制信號來實現(xiàn)觸摸操作的滑動操作等情況。

本實施例的技術(shù)方案，通過將容性電路的一端接地，容性電路的另一端用于與電容式觸摸按鍵連接，進(jìn)而控制容性電路的另一端與電容式觸摸按鍵的連接狀態(tài)或方式，來模擬手指是否觸摸電容式觸摸按鍵的情況，并通過電容值檢測電路檢測電容式觸摸按鍵的對地電容值，可以根據(jù)該電容值，獲取輸入的觸摸參數(shù)，解決了對具有觸控功能的終端設(shè)備等進(jìn)行測試時，只能通過測試人員用手指去觸摸按鍵來進(jìn)行測試，從而造成測試效率低的問題，使得測試過程達(dá)到自動化，進(jìn)而提高測試效率。

實施例二

圖6為本實用新型實施例二提供的一種用于電容式觸摸按鍵的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖6所示，該測試系統(tǒng)包括測試臺210和如本實用新型任意實施例提供的用于電容式觸摸按鍵的測試裝置220，所述測試臺上設(shè)置第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽用于安裝電容式觸摸按鍵130，所述第二卡槽用于安裝所述用于電容式觸摸按鍵的測試裝置220。

其中，測試系統(tǒng)包括測試臺210和如本實用新型任意實施例提供的用于電容式觸摸按鍵的測試裝置220，本實用新型任意實施例提供的用于電容式觸摸按鍵的測試裝置和對應(yīng)的電容式觸摸按鍵的數(shù)量可以為多個，如可以是終端設(shè)備的觸控屏上的多個觸控按鍵。

優(yōu)選的，還包括工控機(jī)230，所述工控機(jī)230的輸出端與所述容性電路的控制端相連，所述工控機(jī)230輸出所述容性電路的控制信號，控制所述容性電路與所述電容式觸摸按鍵的通斷。

其中，工控機(jī)230輸出容性電路的控制信號，該控制信號可以控制容性電路與電容式觸摸按鍵的通斷狀態(tài)、持續(xù)時間和通斷時刻等，從而實現(xiàn)模擬各種觸摸操作(可以是點觸、長按和滑動等操作)。

本實施例的技術(shù)方案，通過將電容式觸摸按鍵和用于電容式觸摸按鍵的測試裝置分別安裝在測試臺的第一卡槽和第二卡槽中，并通過工控機(jī)輸出容性電路的控制信號，控制容性電路與電容式觸摸按鍵的通斷，來模擬各種觸摸操作的情況，進(jìn)而實現(xiàn)測試過程自動化和智能化。

注意，上述僅為本實用新型的較佳實施例及所運(yùn)用技術(shù)原理。本領(lǐng)域技術(shù)人員會理解，本實用新型不限于這里所述的特定實施例，對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說能夠進(jìn)行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會脫離本實用新型的保護(hù)范圍。因此，雖然通過以上實施例對本實用新型進(jìn)行了較為詳細(xì)的說明，但是本實用新型不僅僅限于以上實施例，在不脫離本實用新型構(gòu)思的情況下，還可以包括更多其他等效實施例，而本實用新型的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。