本實(shí)用新型涉及一種一體式干式空心電抗器缺陷檢測(cè)裝置。
背景技術(shù):
電力系統(tǒng)內(nèi)的串聯(lián)空心電抗器和并聯(lián)電抗器的絕緣缺陷檢測(cè),電抗器的匝間絕緣狀態(tài)在整個(gè)運(yùn)行期間都是無法進(jìn)行監(jiān)督考核,其運(yùn)行的可靠性主要取決于產(chǎn)品本身的質(zhì)量(運(yùn)行風(fēng)險(xiǎn)高),電網(wǎng)多次出現(xiàn)著火燃燒,尤其是在無人值守的變電站,后果更嚴(yán)重。尤其是還在運(yùn)行狀態(tài)下的電抗器年限有幾年到十幾年的,其中部分存在較大的安全隱患。
目前已有廠家開始提出試驗(yàn)方案和檢測(cè)方式(匝間過電壓試驗(yàn)),采用直流對(duì)電容充電,用球隙對(duì)空心電抗器瞬間放電,形成衰減振蕩波,用頻率判斷是否有缺陷;存在以下問題:1)由于球隙放電受天氣和濕度的影響,每次的放電電壓不一致;2)采用工頻倍壓整流對(duì)電容充電,體積龐大,不利于現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);3)試驗(yàn)方案對(duì)電抗器試驗(yàn)時(shí),隨著電壓升高,會(huì)導(dǎo)致電抗器由于試驗(yàn)造成絕緣損壞;4)部件散裝、現(xiàn)場(chǎng)還需要組裝、工作效率低下。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,提供一種一體式干式空心電抗器缺陷檢測(cè)裝置。
本實(shí)用新型的目的通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
一體式干式空心電抗器缺陷檢測(cè)裝置,特點(diǎn)是:包括設(shè)于車底盤上的車載平臺(tái),車載平臺(tái)上固定有控制箱,控制箱內(nèi)集成有直流電源、放電開關(guān)、光信號(hào)發(fā)生器、充電電容、分壓器和電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng),所述直流電源的輸出端依次連接充電電容和試品,試品接地,直流電源的輸出端還連接一放電開關(guān),放電開關(guān)接地,光信號(hào)發(fā)生器通過光纖與放電開關(guān)控制連接,所述充電電容與試品之間的電路上引出一連接線,連接線接至分壓器,分壓器接地,所述分壓器的電壓及波形輸出端口與電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng)相連。
進(jìn)一步地,上述的一體式干式空心電抗器缺陷檢測(cè)裝置,其中,所述分壓器包含依次串接的電阻、第一電容和第二電容。
進(jìn)一步地,上述的一體式干式空心電抗器缺陷檢測(cè)裝置,其中,所述直流電源的輸出端先連接一充電電阻,充電電阻的輸出端依次連接充電電容和試品,充電電阻的輸出端還連接放電開關(guān)。
進(jìn)一步地,上述的一體式干式空心電抗器缺陷檢測(cè)裝置,其中,所述直流電源通過整流升壓?jiǎn)卧c交流電源相連。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有顯著的優(yōu)點(diǎn)和有益效果,具體體現(xiàn)在以下方面:
由光信號(hào)發(fā)生器控制放電開關(guān)導(dǎo)通或斷開,充電電容通過放電開關(guān)和試品構(gòu)成阻尼振蕩放電回路,當(dāng)振蕩回路電壓衰減至足夠小時(shí),光信號(hào)發(fā)生器控制放電開關(guān)斷開,充電電容又開始充電,充電達(dá)到一定值時(shí),光信號(hào)發(fā)生器控制放電開關(guān)導(dǎo)通,充電電容和試品回路又構(gòu)成衰減振蕩;
試品兩端施加試驗(yàn)電壓,作為標(biāo)定電壓,記錄電壓波形,再施加全電壓試驗(yàn)過程中,由電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng)記錄電壓波形,通過電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng)比較標(biāo)定電壓和全電壓下的電壓波形,進(jìn)而判斷干式空心電抗器是否通過匝間過電壓試驗(yàn);
解決了放電引起的自身電壓不穩(wěn)的問題,試驗(yàn)系統(tǒng)集成化,現(xiàn)場(chǎng)無需另外組裝,方便現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);同時(shí)可以滿足10kV和35kV干式空心電抗器的試驗(yàn)要求,提供了新的試驗(yàn)方式和判斷依據(jù)。
附圖說明
圖1:本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖
圖2:本實(shí)用新型的電路原理示意圖。
圖中各附圖標(biāo)記的含義見下表:
具體實(shí)施方式
為了對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解,現(xiàn)對(duì)照附圖詳細(xì)說明具體實(shí)施方案。
如圖1、圖2所示,一體式干式空心電抗器缺陷檢測(cè)裝置,包括設(shè)于車底盤上的車載平臺(tái)1,車載平臺(tái)1上固定有控制箱2,控制箱2內(nèi)集成有直流電源103、放電開關(guān)105、光信號(hào)發(fā)生器104、充電電容106、分壓器108和電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng)109,直流電源103通過整流升壓?jiǎn)卧?02與交流電源103相連,直流電源103的輸出端先連接一充電電阻,充電電阻的輸出端依次連接充電電容106和試品107(干式空心電抗器),試品107接地,充電電阻的輸出端還連接放電開關(guān)105,放電開關(guān)105接地,光信號(hào)發(fā)生器104通過光纖與放電開關(guān)105控制連接,所述充電電容106與試品107之間的電路上引出一連接線,連接線接至分壓器108,分壓器108接地,分壓器108包含依次串接的電阻、第一電容和第二電容,分壓器108的電壓及波形輸出端口與電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng)109相連。
通過整流升壓?jiǎn)卧?02使直流電源103輸出可抗沖擊的高壓電源,輸出電流大。
充電電阻和充電電容106,啟動(dòng)放電后為諧振電容。
光信號(hào)發(fā)生器104控制放電開關(guān)105,放電開關(guān)105在任意高壓環(huán)境下可啟動(dòng)放電。
放電開關(guān)105采用高壓電子開關(guān),放電電壓可由控制箱遠(yuǎn)程控制,放電電壓更精確更接近電抗器的運(yùn)行電壓;采用試驗(yàn)平臺(tái)后,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)效率更高,減輕了高壓試驗(yàn)人員的體力勞動(dòng)。
試驗(yàn)時(shí),充電電容106通過直流電源103充電,當(dāng)充電電容106被充電達(dá)到一定值時(shí),光信號(hào)發(fā)生器104控制放電開關(guān)105導(dǎo)通,充電電容106通過放電開關(guān)105和試品107構(gòu)成阻尼振蕩放電回路,當(dāng)振蕩回路電壓衰減至足夠小時(shí),光信號(hào)發(fā)生器104控制放電開關(guān)105斷開,充電電容106又開始充電,充電達(dá)到一定值時(shí),光信號(hào)發(fā)生器104控制放電開關(guān)105導(dǎo)通,充電電容106和試品107回路又構(gòu)成衰減振蕩。
試品107(干式空心電抗器)受到的過電壓波形為衰減振蕩波,每次放電的初始峰應(yīng)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值,振蕩頻率是試品107(干式空心電抗器)和充電電容106的函數(shù)。
先在試品107(干式空心電抗器)兩端施加不高于20%的試驗(yàn)電壓,作為標(biāo)定電壓,記錄電壓波形。再施加全電壓(100%試驗(yàn)電壓),試驗(yàn)持續(xù)1分鐘,試驗(yàn)過程中由電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng)109記錄電壓波形,通過電壓測(cè)量及波形對(duì)比系統(tǒng)109比較標(biāo)定電壓和全電壓下的電壓波形,進(jìn)而判斷干式空心電抗器是否通過匝間過電壓試驗(yàn)。
解決了放電引起的自身電壓不穩(wěn)的問題,試驗(yàn)系統(tǒng)集成化,現(xiàn)場(chǎng)無需另外組裝,方便現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);同時(shí)可以滿足10kV和35kV干式空心電抗器的試驗(yàn)要求,提供了新的試驗(yàn)方式和判斷依據(jù)(局放測(cè)試)。
需要說明的是:以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,并非用以限定本實(shí)用新型的權(quán)利范圍;同時(shí)以上的描述,對(duì)于相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的專門人士應(yīng)可明了及實(shí)施,因此其它未脫離本實(shí)用新型所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾,均應(yīng)包含在申請(qǐng)專利范圍中。