本實用新型屬于工程機械領(lǐng)域，具體一種可調(diào)節(jié)電子探針用樣品座。

背景技術(shù)：

電子探針是一種微區(qū)化學(xué)分析手段，其基本原理是根據(jù)高能電子與固體物質(zhì)相互作用的原理，利用能量足夠高的一束細聚焦的電子束轟擊樣品表面，激發(fā)樣品產(chǎn)生特征X射線信號，達到固體樣品微區(qū)成分分析的目的。

目前，電子探針只有一套用于夾持鑲樣樣品的樣品座，因無法完成高低方向的調(diào)節(jié)而使分析工作受到了一定程度的限制。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的在于克服上述不足，提供一種可調(diào)節(jié)電子探針用樣品座，能夠適用于不同規(guī)格的鑲樣樣品。

為了達到上述目的，本實用新型包括底座，底座的兩側(cè)分別設(shè)置有左側(cè)板和右側(cè)板，底座上開設(shè)有滑動槽，左側(cè)板和右側(cè)板置于滑動槽內(nèi)，左側(cè)板和右側(cè)板能夠在滑動槽內(nèi)調(diào)節(jié)兩者的距離，在左側(cè)板和右側(cè)板之間的底座上設(shè)置有能夠伸縮的中心支撐桿，左側(cè)板、右側(cè)板和底座上設(shè)置有若干定位螺釘。

所述中心支撐桿為螺紋桿。

所述中心支撐桿設(shè)置在底座的中部。

所述左側(cè)板和右側(cè)板上的定位螺釘對稱設(shè)置。

所述底座上的定位螺釘沿中軸線對稱設(shè)置。

所述左側(cè)板和右側(cè)板的頂部平齊。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型通過調(diào)節(jié)中心支撐桿的高度來實現(xiàn)對不同高度鑲樣樣品的夾持，同時，將左右兩側(cè)板設(shè)計為活動側(cè)板，從而完成對不同尺寸樣品的夾持，拓展了樣品座的使用范圍，有利于分析工作的開展。

進一步的，本實用新型的中心支撐桿為螺紋桿，能夠通過選擇調(diào)節(jié)支承高度，使調(diào)節(jié)更加準確。

附圖說明

圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；

其中，1、左側(cè)板；2、中心支撐桿；3、底座；4、右側(cè)板；5，定位螺釘。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖對本實用新型做進一步說明。

參見圖1，本實用新型包括底座3，底座3的兩側(cè)分別設(shè)置有左側(cè)板1和右側(cè)板4，左側(cè)板1和右側(cè)板4的頂部平齊，底座3上開設(shè)有滑動槽，左側(cè)板1和右側(cè)板4置于滑動槽內(nèi)，左側(cè)板1和右側(cè)板4能夠在滑動槽內(nèi)調(diào)節(jié)兩者的距離，在左側(cè)板1和右側(cè)板4之間的底座3上設(shè)置有能夠伸縮的中心支撐桿2，左側(cè)板1、右側(cè)板4和底座3上設(shè)置有若干定位螺釘5，中心支撐桿2為螺紋桿，中心支撐桿2設(shè)置在底座3的中部，左側(cè)板1和右側(cè)板4上的定位螺釘5對稱設(shè)置，底座3上的定位螺釘5沿中軸線對稱設(shè)置。

將鑲樣后的測試樣品置于中心支撐桿2上，旋轉(zhuǎn)中心支撐桿2，使樣品上表面與左側(cè)板1和右側(cè)板4的頂端平齊，調(diào)節(jié)左右側(cè)板位置，使其與樣品相接觸，并通過底座3上的兩個定位螺釘5將左右側(cè)板位置固定，然后通過調(diào)節(jié)左右側(cè)板上的定位螺釘5，將樣品水平且牢固的夾持在樣品座上。