本發(fā)明涉及信號傳輸技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種適用于高回?fù)p陰陽式光固定衰減器的自動測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

衰減器是一種提供衰減的電子元器件，廣泛地應(yīng)用于電子設(shè)備中，它的主要用途是:調(diào)整電路中信號的大??；在比較法測量電路中，可用來直讀被測網(wǎng)絡(luò)的衰減值；改善阻抗匹配，若某些電路要求有一個比較穩(wěn)定的負(fù)載阻抗時，則可在此電路與實際負(fù)載阻抗之間插入一個衰減器，能夠緩沖阻抗的變化。

傳統(tǒng)的測試系統(tǒng)，在使用過程中，容易出現(xiàn)由于信號傳輸線路過長而導(dǎo)致的誤差過大，難以很好的對衰減器的性能進(jìn)行評估，降低了測試系統(tǒng)的精準(zhǔn)度，給使用者的使用帶來不便。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

(一)解決的技術(shù)問題

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種適用于高回?fù)p陰陽式光固定衰減器的自動測試系統(tǒng)，解決了容易出現(xiàn)由于信號傳輸線路過長而導(dǎo)致誤差過大的問題。

(二)技術(shù)方案

為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案予以實現(xiàn)：一種適用于高回?fù)p陰陽式光固定衰減器的自動測試系統(tǒng)，包括外殼，所述外殼的內(nèi)腔通過螺栓固定連接有電路板，所述電路板上分別固定連接有處理器、內(nèi)存條、第一信號強度檢測裝置、第二信號強度檢測裝置、放大器和信號比較器，所述外殼的頂部從左往右依次貫穿設(shè)置有信號發(fā)送端和信號接收端，所述外殼的右側(cè)從上往下依次固定連接有顯示屏和控制面板，所述外殼的底部貫穿設(shè)置有電源接口，所述外殼正表面的左側(cè)通過轉(zhuǎn)軸活動連接有裝置蓋，所述裝置蓋的正表面固定安裝有裝置鎖，所述外殼內(nèi)腔的右側(cè)固定連接有與裝置鎖配合設(shè)置的卡塊。

所述處理器的輸入端分別與電源接口和控制面板的輸出端電性連接，所述電源接口的輸入端與電源的輸出端電性連接，所述處理器的輸出端與顯示屏的輸入端電性連接，所述處理器分別與信號比較器和內(nèi)存條雙向連接，所述信號比較器的輸出端與第一信號強度檢測裝置的輸入端電性連接，所述第一信號強度檢測裝置的輸出端依次通過信號發(fā)送端、衰減器和信號接收端的輸入端電性連接，所述信號接收端的輸出端通過放大器與第二信號強度檢測裝置的輸入端電性連接，所述第二信號強度檢測裝置的輸出端與信號比較器的輸入端電性連接。

優(yōu)選的，所述電路板的正表面且位于第一信號強度檢測裝置和第二信號強度檢測裝置之間開設(shè)有散熱孔。

優(yōu)選的，所述裝置蓋的正表面固定連接有與外殼配合設(shè)置的緩沖膠皮。

優(yōu)選的，所述處理器的主頻率至少為2.2GHz。

優(yōu)選的，所述內(nèi)存條的存儲容量至少為512M。

(三)有益效果

本發(fā)明提供了一種適用于高回?fù)p陰陽式光固定衰減器的自動測試系統(tǒng)。具備以下有益效果：該適用于高回?fù)p陰陽式光固定衰減器的自動測試系統(tǒng)，通過處理器、內(nèi)存條、第一信號強度檢測裝置、第二信號強度檢測裝置、放大器、信號比較器、信號發(fā)送端、信號接收端、顯示屏和控制面板的配合使用，縮短了信號傳輸線路的長度，避免了由于信號傳輸線路過長而導(dǎo)致的誤差過大，使得測試系統(tǒng)可以很好的對衰減器的性能進(jìn)行評估，提高了測試系統(tǒng)的精準(zhǔn)度，方便了使用者的使用。

附圖說明

圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明結(jié)構(gòu)原理框圖。

圖中：1外殼、2電路板、3處理器、4內(nèi)存條、5第一信號強度檢測裝置、6第二信號強度檢測裝置、7放大器、8信號比較器、9散熱孔、10信號發(fā)送端、11信號接收端、12顯示屏、13電源接口、14裝置蓋、15裝置鎖、16卡塊、17緩沖膠皮、18控制面板、19電源、20衰減器。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請參閱圖1-2，本發(fā)明提供一種技術(shù)方案：一種適用于高回?fù)p陰陽式光固定衰減器的自動測試系統(tǒng)，包括外殼1，外殼1的內(nèi)腔通過螺栓固定連接有電路板2，電路板2的正表面且位于第一信號強度檢測裝置5和第二信號強度檢測裝置6之間開設(shè)有散熱孔9，電路板2上分別固定連接有處理器3、內(nèi)存條4、第一信號強度檢測裝置5、第二信號強度檢測裝置6、放大器7和信號比較器8，處理器3的主頻率至少為2.2GHz，內(nèi)存條4的存儲容量至少為512M，外殼1的頂部從左往右依次貫穿設(shè)置有信號發(fā)送端10和信號接收端11，外殼1的右側(cè)從上往下依次固定連接有顯示屏12和控制面板18，外殼1的底部貫穿設(shè)置有電源接口13，外殼1正表面的左側(cè)通過轉(zhuǎn)軸活動連接有裝置蓋14，裝置蓋14的正表面固定連接有與外殼1配合設(shè)置的緩沖膠皮17，裝置蓋14的正表面固定安裝有裝置鎖15，外殼1內(nèi)腔的右側(cè)固定連接有與裝置鎖15配合設(shè)置的卡塊16。

處理器3的輸入端分別與電源接口13和控制面板18的輸出端電性連接，電源接口13的輸入端與電源19的輸出端電性連接，處理器3的輸出端與顯示屏12的輸入端電性連接，處理器3分別與信號比較器8和內(nèi)存條4雙向連接，信號比較器8的輸出端與第一信號強度檢測裝置5的輸入端電性連接，第一信號強度檢測裝置5的輸出端依次通過信號發(fā)送端10、衰減器20和信號接收端11的輸入端電性連接，信號接收端11的輸出端通過放大器7與第二信號強度檢測裝置6的輸入端電性連接，第二信號強度檢測裝置6的輸出端與信號比較器8的輸入端電性連接。

工作時，將電源19與電源接口13連接，將待測衰減器20的輸入端與信號發(fā)送端10連接，將待測衰減器20的輸出端與信號接收端11連接，通過控制面板18控制處理器3向信號比較器8發(fā)送信號，信號比較器8將信號發(fā)送給第一信號強度檢測裝置5，信號被第一信號強度檢測裝置5記錄后，第一信號強度檢測裝置5將第一次記錄和信號依次通過信號發(fā)送端10、衰減器20和信號接收端11發(fā)送給放大器7，放大器7將信號放大后將信號和第一次記錄發(fā)送給第二信號強度檢測裝置6，第二信號強度檢測裝置6將信號記錄，并將信號、第一次記錄和第二次記錄發(fā)送給信號比較器8，信號比較器8比較收到的信號和發(fā)送的信號并將比較結(jié)果、第一次記錄和第二次記錄發(fā)送給處理器3，處理器3處理收到的數(shù)據(jù)得出衰減器20的性能并將數(shù)據(jù)存儲于內(nèi)存條4中，處理器3將衰減器20的性能通過顯示屏12顯示，當(dāng)需要調(diào)出記錄時，通過控制面板18控制處理器3調(diào)用內(nèi)存條4內(nèi)的記錄，并通過顯示屏12顯示。

綜上所述，該適用于高回?fù)p陰陽式光固定衰減器的自動測試系統(tǒng)，通過處理器3、內(nèi)存條4、第一信號強度檢測裝置5、第二信號強度檢測裝置6、放大器7、信號比較器8、信號發(fā)送端10、信號接收端11、顯示屏12和控制面板18的配合使用，縮短了信號傳輸線路的長度，避免了由于信號傳輸線路過長而導(dǎo)致的誤差過大，使得測試系統(tǒng)可以很好的對衰減器的性能進(jìn)行評估，提高了測試系統(tǒng)的精準(zhǔn)度，方便了使用者的使用。

需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下。由語句“包括一個......限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素”。

盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實施例，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對這些實施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型，本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。