本發(fā)明涉及分析技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種光陷阱固定裝置。

背景技術(shù)：

在化學(xué)分析測(cè)試中，常用到紫外可見(jiàn)光譜儀，該種光譜儀包括一重要的測(cè)試元件——光陷阱。現(xiàn)有技術(shù)中，光陷阱均是利用彈簧固定夾的夾力來(lái)固定于光譜儀上。但是，長(zhǎng)久使用后的彈簧固定夾會(huì)疲軟無(wú)力，使得光陷阱無(wú)法夾緊，使得光陷阱在測(cè)試過(guò)程中容易滑落，導(dǎo)致光陷阱的白板沒(méi)有完全覆蓋上入射光的洞口，造成采集的數(shù)據(jù)完全就是錯(cuò)誤的情況發(fā)生。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種光陷阱固定裝置，增強(qiáng)所述光陷阱固定于光譜儀上的緊固力。

所述光陷阱固定裝置包括固定壁及與所述光陷阱具有相反磁性的磁性環(huán)；所述固定壁上設(shè)有一通光通光口；所述磁性環(huán)可拆卸式的固定于所述固定壁上；所述磁性環(huán)包括內(nèi)圈，所述通光口通光口位于所述內(nèi)圈內(nèi)；所述光陷阱內(nèi)陷并固定于所述磁性環(huán)的所述內(nèi)圈內(nèi)，并遮擋所述通光口通光口。

其中，所述磁性環(huán)上設(shè)有一定位凹槽，所述光陷阱上設(shè)有一定位凸起，所述光陷阱內(nèi)陷于所述磁性環(huán)的所述內(nèi)圈內(nèi)時(shí)，所述定位凸起內(nèi)陷于所述定位凹槽內(nèi)，實(shí)現(xiàn)所述光陷阱的定位。

其中，所述定位凸起可以為多個(gè)，所述磁性環(huán)上有多個(gè)與所述定位凸起相對(duì)應(yīng)的定位缺口。

其中，所述光陷阱固定裝置還包括一固定螺釘，固定所述磁性環(huán)與所述光陷阱。

其中，所述光陷阱固定裝置還包括固定于所述固定壁的卡板、可移動(dòng)裝于所述卡板上的固定夾，所述固定夾抵靠住所述光陷阱。

其中，所述光陷阱包括黑板及白板，所述黑板及所述白板的大小均大于所述通光口。

其中，所述光陷阱的大小與所述磁性環(huán)內(nèi)圈的大小相同。

其中，所述固定壁上的所述通光口為圓形，所述磁性環(huán)為圓形環(huán)，所述磁性環(huán)內(nèi)圈與所述通光口同心設(shè)置。

其中，所述磁性環(huán)可通過(guò)螺紋連接所述固定壁上或者通過(guò)卡持組件卡持。

本發(fā)明所述光陷阱固定裝置，通過(guò)增加一個(gè)可拆卸的磁性環(huán)，并使所述光陷阱具有與所述磁性環(huán)相異的磁性，使得所述光陷阱受到磁力的作用從而更牢固的固定于所述光譜儀內(nèi)。防止所述光陷阱的移動(dòng)或掉落而造成儀器測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的詳細(xì)發(fā)生。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明的光陷阱固定裝置的分解示意圖。

圖2是圖1所述的光陷阱固定裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參閱圖1與圖2，本發(fā)明較佳實(shí)施方式提供的所述光陷阱固定裝置包括固定壁10、磁性環(huán)20及光陷阱30。所述固定壁10上設(shè)有一用于通光的通光口11，。所述磁性環(huán)20可拆卸式的固定于所述固定壁10上。所述磁性環(huán)20包括內(nèi)圈21，所述通光口11位于所述內(nèi)圈21內(nèi)。所述光陷阱30內(nèi)陷于所述磁性環(huán)20的所述內(nèi)圈21內(nèi)，且所述光陷阱30遮擋所述通光口11。

所述固定壁10為光譜儀的一個(gè)內(nèi)壁。所述固定壁10上設(shè)有一所述通光口11，所述通光口11用于使穿過(guò)檢測(cè)樣品的光線穿過(guò)所述通光口11并照射到所述光陷阱20上，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)所述檢測(cè)樣品的透過(guò)率、濃度等參數(shù)的測(cè)試。本實(shí)施例中，所述通光口11為一圓形開(kāi)口?？梢岳斫獾氖?，所述通光口11的形狀并不固定，可以為方形或多邊形等各種形狀。

所述磁性環(huán)20為帶有磁性的空心柱狀環(huán)，可以為磁性鋼圈或或者環(huán)狀磁鐵等。本實(shí)施例中，所述磁性環(huán)20為磁性鋼圈。所述磁性環(huán)20可拆卸式的固定于所述固定壁10上，從而能夠在不同的使用情況下對(duì)所述磁性環(huán)20進(jìn)行自由的拆卸。例如，不使用所述光陷阱時(shí)，可以自由拆下所述磁性環(huán)20，對(duì)其進(jìn)行保養(yǎng)及清潔操作。所述磁性環(huán)20的可拆卸式固定方式包括螺紋連接或通過(guò)卡持組件卡持等。本實(shí)施例優(yōu)選方式中，所述磁性環(huán)20通過(guò)卡勾卡持固定于所述固定壁10上。即所述固定壁10上設(shè)有卡勾，所述磁性環(huán)20上設(shè)有卡槽，所述卡勾卡持于與所述卡槽內(nèi)以實(shí)現(xiàn)所述磁性環(huán)20的可拆卸式連接。所述磁性環(huán)20包括一內(nèi)圈21，所述固定壁10上的所述通光口11位于所述內(nèi)圈21內(nèi)，即所述內(nèi)圈21的大小大于所述通光口11的大小。本實(shí)施例中，所述磁性環(huán)20為一圓形環(huán)，其與本實(shí)施例中的圓形的所述通光口11同心設(shè)置。所述磁性環(huán)20上還設(shè)有定位缺口22，所述定位缺口22可以為一個(gè)或多個(gè)，本實(shí)施例中，所述定位缺口22為一個(gè)。并且，所述磁性環(huán)20上還設(shè)有螺孔23。

所述光陷阱30具有與所述磁性環(huán)20相反的磁性，且包括白板31及層疊于所述白板31上的黑板32。所述黑板32及所述白板31的大小均大于所述通光口11，且當(dāng)所述光陷阱30內(nèi)陷并固定于所述磁性環(huán)20的所述內(nèi)圈21內(nèi)時(shí)，所述黑板32或所述白板31均能夠遮擋所述通光口11。所述白板31與所述黑板32具有相同的形狀，且所述黑板31與所述白板32同心設(shè)置。本實(shí)施例中，所述白板31與所述黑板32為同心設(shè)置的圓形板。并且，所述光陷阱30的大小與所述磁性環(huán)20的所述內(nèi)圈21的大小相同。本實(shí)施例中，所述黑板32的大小大于所述白板31的大小，所述光陷阱30的所述黑板32的大小與所述磁性環(huán)的所述內(nèi)圈21的相同。當(dāng)所述光陷阱30用于反射光時(shí)，所述光陷阱30與所述磁性環(huán)20受到磁力的吸引進(jìn)行固定，所述光陷阱30正好內(nèi)陷于所述磁性環(huán)20內(nèi)，所述白板31一側(cè)面向所述通光口11并固定于所述磁性環(huán)20內(nèi)，且所述白板31完全遮擋所述通光口11；當(dāng)所述光陷阱30用于吸收光時(shí)，將所述光陷阱30從所述磁性環(huán)20內(nèi)取下，蓋上一個(gè)外蓋遮住所述通光口11即可，現(xiàn)有技術(shù)的儀器中均有所述外蓋，在此不再進(jìn)行贅述。

進(jìn)一步的，所述黑板32上還設(shè)有定位凸起33。所述定位凸起33與所述磁性環(huán)20上的所述定位缺口22大小相同，且一一對(duì)應(yīng)。當(dāng)所述光陷阱30內(nèi)陷于所述磁性環(huán)20內(nèi)時(shí)，所述定位凸起33剛好定位與所述定位缺口22內(nèi)，從而實(shí)現(xiàn)所述光陷阱30的定位，保證每次使用所述光陷阱30時(shí)，所述光陷阱30能夠安裝在相同的位置，避免所述光陷阱30安裝在別的位置時(shí)，由于所安裝位置不是慣常使用位置而又較多污物，從而對(duì)所述光陷阱30造成污染，進(jìn)而防止光陷阱30由于受到污染而使測(cè)試數(shù)據(jù)出現(xiàn)錯(cuò)誤的情況出現(xiàn)。同時(shí)，在每次安裝所述光陷阱30時(shí)，可以僅對(duì)所述磁性環(huán)20的內(nèi)圈所覆蓋的所述固定壁10的區(qū)域進(jìn)行清潔，減小工作量，并可以更好的保證所述光陷阱30的清潔度。并且，所述光陷阱30上還設(shè)有一螺紋孔34，用于進(jìn)一步固定所述光陷阱30。

所述光陷阱固定裝置還包括一固定螺釘(圖中未示出)。所述固定螺釘穿過(guò)所述磁性環(huán)20上的螺孔23并擰入所述光陷阱30上的所述螺紋孔34，進(jìn)一步固定所述磁性環(huán)20與所述光陷阱30。防止所述磁性環(huán)20與所述光陷阱30之間的磁力不夠而使所述磁性環(huán)20發(fā)生松動(dòng)，造成測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的情況出現(xiàn)。

進(jìn)一步的，所述光陷阱固定裝置還可以進(jìn)一步通過(guò)彈簧固定夾50來(lái)進(jìn)一步固定。所述彈簧固定夾50包括固定于所述固定壁20的卡板51、可移動(dòng)裝于所述卡板51上的固定夾54。所述板卡51垂直固定與所述固定壁10上的通光口11的下方。所述固定夾54包括滑槽52及與所述滑槽52連接的固定板53。本實(shí)施例中，所述滑槽52與所述固定板53通過(guò)扭轉(zhuǎn)彈簧(圖中未示出)進(jìn)行連接。所述卡板51插入所述滑槽52內(nèi)并使所述滑槽52帶動(dòng)與其連接的所述固定板53在所述卡板51上進(jìn)行滑動(dòng)。使用所述彈簧固定夾50來(lái)固定所述光陷阱30時(shí)，移動(dòng)所述固定夾54，所述固定夾54通過(guò)所述滑槽52在所述卡板51上移動(dòng)并靠近所述通光口11，使所述所述固定夾54抵靠住所述光陷阱30，從而固定住所述光陷阱30；測(cè)試完畢取出所述光陷阱30時(shí)，移動(dòng)所述固定夾54，使所述固定夾54遠(yuǎn)離所述通光口11，從而松開(kāi)所述光陷阱30，即可方便簡(jiǎn)單的取下所述光陷阱30。

本發(fā)明所述光陷阱固定裝置，通過(guò)增加可拆卸的所述磁性環(huán)20，并使所述光陷阱30具有與所述磁性環(huán)20相異的磁性，使得所述光陷阱20受到磁力的作用更牢固的固定于所述光譜儀內(nèi)。進(jìn)一步的，通過(guò)所述螺釘將所述磁性環(huán)20與所述光陷阱30進(jìn)行進(jìn)一步固定，進(jìn)一步增加所述光陷阱30固定于所述光譜儀內(nèi)的緊固程度。并且，通過(guò)在所述光陷阱上增加一個(gè)定位凸起33，使得所述光陷阱30在每次測(cè)試中均固定于所述光譜儀內(nèi)相同的位置，防止所述光陷阱30的污染，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)正確性。

以上所揭露的僅為本發(fā)明一種較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來(lái)限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分流程，并依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬于發(fā)明所涵蓋的范圍。