本發(fā)明涉及一種金屬探測設(shè)備、一種用于測試金屬探測設(shè)備的裝置和用于優(yōu)化具備有測試裝置的金屬探測設(shè)備的方法。

背景技術(shù)：

金屬探測設(shè)備被用于探測并拒絕不希望有的金屬污染物。當被適當?shù)匕惭b和操作時，其將有助于減少金屬污染物并且提高食物安全性。最新型的金屬探測器應(yīng)用包含“平衡線圈系統(tǒng)”的搜索頭部。該設(shè)計的探測器能夠探測出所有的金屬污染物種類，包括諸如新鮮產(chǎn)品和冷凍產(chǎn)品的各種各樣產(chǎn)品中的含鐵、不含鐵和不銹鋼。

該金屬探測設(shè)備典型地包括金屬外殼，該金屬外殼具有在外殼內(nèi)部限定出行進路徑的具有不同尺寸或者相等尺寸橫截面積的進口孔和出口孔，受檢查的目標沿該行進路徑移動。

按照“平衡線圈”原理工作的金屬探測設(shè)備典型地包括被纏繞在非金屬的框架或者架座上的三個線圈。線圈系統(tǒng)包括至少一個發(fā)射線圈和至少一個第一接收線圈及至少一個第二接收線圈；相應(yīng)的接收線圈在外殼內(nèi)部的進口孔和出口孔之間界定出探測區(qū)。該探測區(qū)具有沿著行進路徑變化或者恒定的橫截面輪廓。具有圓柱形探測區(qū)的系統(tǒng)典型地使用具有相同尺寸的線圈，該線圈具有在兩個接收線圈之間居中的發(fā)射線圈。具有圓錐形探測區(qū)的系統(tǒng)使用在尺寸方面相互不同的線圈，該線圈典型地具有在兩個接收線圈之間偏離中心的發(fā)射線圈。在兩種系統(tǒng)中，線圈被設(shè)置成當至少一個發(fā)射線圈被交變電流激勵時，所產(chǎn)生的電磁場因此在第一接收線圈中感應(yīng)出第一電壓并且在第二接收線圈中感應(yīng)出第二電壓，當受檢查的目標中不存在金屬時第一電壓和第二電壓相互抵消。

當金屬顆粒穿過線圈布置時，首先在一個接收線圈附近并且然后在另一個接收線圈附近擾動了高頻場。當金屬顆粒被傳送穿過接收線圈時，每個接收線圈中所感應(yīng)出的電壓是變化的。平衡方面的該變化在接收線圈的輸出端處引起了信號，該信號可被放大、處理并且隨后被用于探測金屬污染物的存在。

信號處理通道典型地將接收的信號分開成相互分開90°的兩個單獨分量。合成矢量具有特有地用于被傳送穿過線圈系統(tǒng)的產(chǎn)品和污染物的數(shù)值和相位角。為了識別出金屬污染物，必須除去或者減小“產(chǎn)品效應(yīng)”。如果產(chǎn)品的相位是已知的，于是可減小對應(yīng)信號的矢量。從信號頻譜中除去非期望的信號從而導(dǎo)致了對于來源于污染物的信號的更高靈敏度。

因此，用于從信號頻譜中除去非期望信號所應(yīng)用的方法利用了以下事實：產(chǎn)品、污染物及其他干擾對磁場具有不同的影響以使得所產(chǎn)生的信號在相位方面不同。

不同來源的信號分量的相位之間的區(qū)別借助于相位探測器允許獲得關(guān)于產(chǎn)品和污染物的信息。相位探測器(例如，混頻器或者模擬乘法器電路)產(chǎn)生電壓信號，該電壓信號表示信號輸入(諸如，來自接收線圈的信號)和由發(fā)射單元提供給接收單元的參考信號之間的相位差。因此，通過將參考信號的相位選擇成與產(chǎn)品信號分量的相位一致，獲得了相位探測器的輸出處的相位差和相應(yīng)產(chǎn)品的信號，該相位差為零。如果來源于污染物的信號分量的相位不同于產(chǎn)品信號分量的相位，則可探測出污染物的信號分量。然而，如果污染物的信號分量的相位接近于產(chǎn)品信號分量的相位，則污染物的探測失敗，因為污染物的信號分量與產(chǎn)品信號分量一起被抑制。

因此，在已知的系統(tǒng)中，發(fā)射頻率可被選擇成，金屬污染物的信號分量的相位與產(chǎn)品信號分量不同相。

wo2012045578a1公開了一種用于操作金屬探測系統(tǒng)的方法，其允許確定優(yōu)選的發(fā)射頻率，利用該發(fā)射頻率，最小尺寸的金屬顆粒的信號分量在相位和幅度方面與產(chǎn)品信號的相位和幅度非常不同。

因此，為了測試和優(yōu)化金屬探測設(shè)備，必須利用不同的污染物進行測試，然而這是耗時的。此外，應(yīng)該特別有規(guī)律地進行所處理產(chǎn)品的變化的調(diào)整。

us5160885a公開了一種用于測試金屬探測設(shè)備的測試裝置，其中樣品金屬的測試件在線圈系統(tǒng)內(nèi)穿過用于記錄測試信號的探測區(qū)，該測試信號相當于由包含在穿過探測區(qū)的產(chǎn)品中的金屬顆粒所引起的響應(yīng)信號。該測試件被導(dǎo)入非金屬導(dǎo)管內(nèi)部，該非金屬導(dǎo)管延伸通過從金屬探測設(shè)備的輸入孔口至輸出孔口的探測區(qū)。

該測試物品被嵌入芯塊并且被穿過空氣管引入的脈沖空氣強制沿著其移動，該芯塊可在導(dǎo)管內(nèi)從一端自由地移動至另一端。在應(yīng)用脈沖空氣首先通過一個接合部并且然后通過另一個接合部時，該芯塊將從左到右地行進并且然后從右到左地行進。測試物品可以在有或者沒有產(chǎn)品同時穿過探測區(qū)的情況下被移動。因此，在金屬探測設(shè)備的兩側(cè)，管形導(dǎo)向件的端部接合部被連接至氣動的配件和管。

設(shè)置在兩端的導(dǎo)向管和氣動裝備需要在典型的金屬探測裝置中很少獲得的相當大的空間。由于空間方面的限制，已經(jīng)避免例如在使用圓錐形的探測區(qū)的金屬探測裝置中安裝該測試裝置。

在食物環(huán)境中，測試裝置的氣動元件和配件起到集污器的作用并且需要清理和維護。此外，這些物品是障礙物并且例如當裝卸產(chǎn)品時可遭受意外損壞。

此外，除氣動裝備之外，將金屬探測設(shè)備與這種測試裝置組裝到一起需要相當多的工作。將測試裝置安裝到已經(jīng)在場中工作的金屬探測設(shè)備中是幾乎不可能的，因為不可獲得用于過大體積的測試裝置的空間。

us5994897a公開了一種使用us5160885a中所公開的測試裝置的金屬探測設(shè)備。頻率產(chǎn)生器能夠在50khz到2mhz范圍的許多頻率下工作，該頻率產(chǎn)生器產(chǎn)生被提供給發(fā)射線圈的信號。對于每個工作頻率，在有和沒有提供測試物品的情況下，使產(chǎn)品穿過探測頭。對于每個工作頻率，評估來自產(chǎn)品的響應(yīng)信號和來自產(chǎn)品與金屬的響應(yīng)信號。如此，可識別出產(chǎn)生污染的產(chǎn)品的信號與未污染產(chǎn)品的信號相比的最高比值的頻率。然而，再一次，優(yōu)化金屬探測設(shè)備的該過程是非常費勁的。

因此，本發(fā)明是基于提供配備有改進的測試裝置的改進的金屬探測設(shè)備、改進的測試裝置和用于優(yōu)化該金屬探測設(shè)備的改進的方法的目的的。

特別地，本發(fā)明是基于提供一種包括測試裝置的金屬探測設(shè)備的目的的，該測試裝置在金屬探測設(shè)備的制造期間可以減少工作地安裝或者可被安裝到已在使用的金屬探測設(shè)備內(nèi)。

本發(fā)明的測試裝置應(yīng)當需要較少的空間、較少的安裝材料、特別地較少的氣動材料。

因此，本發(fā)明的測試裝置應(yīng)當適合于安裝在任何種類的金屬探測設(shè)備中，特別地適合于安裝在圓柱形和圓錐形種類的金屬探測器頭部中，該種類的金屬探測器頭部一般呈現(xiàn)出用于進一步安裝的小空間。

當操作金屬探測設(shè)備時，本發(fā)明的測試裝置或其部件不會產(chǎn)生易受意外損壞的障礙物。

應(yīng)該避免或者減少集污器。因此，本發(fā)明的金屬探測設(shè)備應(yīng)該需要較少維護。

此外，本發(fā)明的方法應(yīng)當允許在短時間間隔內(nèi)執(zhí)行金屬探測設(shè)備的廣泛優(yōu)化。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的上述及其他目的通過如權(quán)利要求1中所限定的改進的金屬探測設(shè)備、如權(quán)利要求13中所限定的用于金屬探測設(shè)備的測試裝置和如權(quán)利要求14中所限定的用于優(yōu)化金屬探測設(shè)備的方法來實現(xiàn)。

該金屬探測設(shè)備包括具有進口孔與出口孔的外殼和線圈系統(tǒng)，該進口孔和出口孔在外殼的內(nèi)部限定了行進路徑，受檢查的目標可沿著該行進路徑移動，該線圈系統(tǒng)包括在外殼內(nèi)部在進口孔和出口孔之間界定出探測區(qū)的至少一個發(fā)射線圈和至少一個第一接收線圈及至少一個第二接收線圈。該發(fā)射線圈和接收線圈被定位和定尺寸成，當該發(fā)射線圈被交變電流激勵時，由此所產(chǎn)生的電磁場在第一接收線圈中感應(yīng)出第一電壓并且在第二接收線圈中感應(yīng)出第二電壓，當受檢查的目標中不存在金屬時第一電壓和第二電壓相互抵消。

在進口孔和出口孔之間安裝架座，該進口孔和出口孔呈現(xiàn)出相等尺寸或者不同尺寸的橫截面積，該架座具有恒定的或者沿著受檢查的目標的行進路徑變化的橫截面輪廓并且支撐該線圈系統(tǒng)。

根據(jù)本發(fā)明，該設(shè)備配備有至少一個測試裝置，該測試裝置包括僅在近端被連接至氣動控制單元的非金屬導(dǎo)向管，該測試裝置在遠端呈現(xiàn)出至少一個通風(fēng)端口并且容納測試物品，該測試物品在導(dǎo)向管的近端和遠端之間可向前和向后至少移動通過電磁場的一區(qū)段。氣動控制單元能夠給導(dǎo)向管的近端應(yīng)用空氣壓力，以便向前和向后或者如果其由重力返回則僅沿一個方向地驅(qū)動測試物品，所應(yīng)用的空氣壓力相對于環(huán)境壓力被升高或降低。

例如，可給導(dǎo)向管應(yīng)用壓力來向上移動測試物品并且當除去壓力時使其因重力而再次落下。備選地，可給導(dǎo)向管應(yīng)用真空以用于提升測試物品并且當除去真空時使其因重力而再次落下。還可以通過有選擇地應(yīng)用真空或者壓力來向前和向后驅(qū)動物品。在所有的變化中，僅在導(dǎo)向管的近端應(yīng)用壓力或者真空。即，氣動控制單元僅被連接至導(dǎo)向管的近端，而不是遠端。

因此，測試裝置可有利地僅被安裝在金屬探測設(shè)備的一側(cè)上，以導(dǎo)向管以其遠端延伸至或者延伸超過第一或者第二接收線圈。因為磁場在發(fā)射線圈和接收線圈的內(nèi)側(cè)和外側(cè)展開，所以導(dǎo)向管可被設(shè)置在發(fā)射線圈和接收線圈的內(nèi)部或外部，優(yōu)選被設(shè)置在線圈線附近。將至少一個測試裝置安裝在發(fā)射線圈和接收線圈的外部，在發(fā)射線圈和接收線圈內(nèi)部留出了用于轉(zhuǎn)移例如糧食的物品的探測區(qū)，而當測試物品沿著線圈系統(tǒng)移動時磁場仍然達到不平衡。

由于減小的空間需求并且特別地通過避免了從一個孔到另一個孔地完全地橫跨設(shè)備的導(dǎo)向管，所以本發(fā)明的測試裝置可被安裝到任何種類的金屬探測設(shè)備中，包括具有圓錐形探測區(qū)的金屬探測設(shè)備。

該測試樣品被在導(dǎo)向管的近端和遠端之間移動，在該近端和遠端處，該測試樣品被端部止擋件止擋，該端部止擋件優(yōu)選包括設(shè)置在導(dǎo)向管內(nèi)的螺釘或者塞的形式。在螺釘?shù)膶嵤├?，端部止擋件允許調(diào)整測試物品沿著其行進的路徑長度。如果，使用許多具有不同測試物品的測試裝置，則可對準端部止擋件。此外，該端部止擋件防止粉塵顆粒進入第一導(dǎo)向管從而沿著測試物品的行進路徑形成障礙物。

在優(yōu)選實施例中，測試物品的移動相對于加速度、速度和行進距離被控制。例如，通過短期應(yīng)用特定壓力后繼之以應(yīng)用真空，可完全控制測試物品的移動。

對于測試物品在導(dǎo)向管內(nèi)部的自由移動或者受控移動，通風(fēng)端口處的氣道阻力是恒定的且優(yōu)選較低是重要的。因此，在優(yōu)選實施例中，測試裝置配備有通風(fēng)管，該通風(fēng)管以一端連接至導(dǎo)向管的遠端并且優(yōu)選以另一端布線至設(shè)備的外部。因此，在測試物品的操作期間，脫離或者進入導(dǎo)向管的空氣可通過通風(fēng)管在導(dǎo)向管的遠端和設(shè)備的外部之間自由地移動。

在特別優(yōu)選的實施例中，導(dǎo)向管被同心地對準在通風(fēng)管內(nèi)部并且以其遠端被連接至通風(fēng)管的遠端，該通風(fēng)管包括大于導(dǎo)向管的外徑的內(nèi)徑。因此，在導(dǎo)向管和通風(fēng)管之間產(chǎn)生了空的柱形空間，通過該柱形空間，空氣可在位于導(dǎo)向管的遠端的第一通風(fēng)端口和設(shè)置在通風(fēng)管的近端的至少一個第二通風(fēng)端口之間自由地移動。

導(dǎo)向管的遠端和通風(fēng)管的遠端之間的連接優(yōu)選利用支承元件建立，該支承元件位于通風(fēng)管的遠端并且將導(dǎo)向管的遠端同心地保持在通風(fēng)管的遠端內(nèi)并防止粉塵顆粒進入通風(fēng)管中。

測試裝置被安裝成，導(dǎo)向管的被連接至配件的近端優(yōu)選被定位在設(shè)備的出口孔附近，在該處，被檢查的目標離開探測區(qū)。外殼優(yōu)選被連接至保持測試裝置的安裝塊。安裝塊優(yōu)選包括安裝孔，導(dǎo)向管或者所涉及測試裝置的通風(fēng)管被保持在該安裝孔中。選擇性地，導(dǎo)向管的近端處的配件被連接至安裝塊。一個或者多個配件還可以有利地被結(jié)合到安裝塊中。優(yōu)選地，提供環(huán)形的安裝塊，該安裝塊圍繞進口孔或者最優(yōu)選地圍繞出口孔。

在優(yōu)選實施例中，在導(dǎo)向管的近端處設(shè)置配件，其將通風(fēng)管的近端至少大致同心地保持至導(dǎo)向管的近端。導(dǎo)向管和通風(fēng)管的該同心對準導(dǎo)致了測試裝置的緊湊設(shè)計，其可以被以小尺寸地制造。然而，本發(fā)明不限于該理想的配置。導(dǎo)向管和通風(fēng)管還可例如被相互挨著平行對準地設(shè)置。例如，可使用結(jié)合導(dǎo)向管和通風(fēng)管的u形管。按與測試物品形成u字形地結(jié)合兩個導(dǎo)向管也是可能的，該測試物品在每個u形部段中同時向前和向后地移動。

測試物品是按需要選擇的并且優(yōu)選包含或者包括諸如鋼、不銹鋼、黃銅或者鋁的鐵類材料或者非鐵類材料。為了確保流暢和受控的滑動，測試物品優(yōu)選被嵌入非金屬載體或者芯塊中。導(dǎo)向管和通風(fēng)管例如是由諸如尼龍或者丙烯(acryl)的塑料制成的，其理想地支撐該芯塊。

因為本發(fā)明的裝置需要較小的空間，所以其可被有利地安裝在具有圓柱形探測區(qū)或者圓錐形探測區(qū)或者其他探測區(qū)的任何金屬探測設(shè)備中。此外，許多測試裝置或者具有許多導(dǎo)向管(優(yōu)選導(dǎo)向管被連接至單獨的通風(fēng)管或者公共的通風(fēng)管)的測試裝置可被有利地安裝在金屬探測設(shè)備中以允許對于各種污染物自動地執(zhí)行測試。

本發(fā)明的設(shè)備可以通過順序地選擇一個測試物品并且對于每個測試物品從一組預(yù)定的工作頻率中順序地選擇一工作頻率，并且使所選的測試物品移動通過電磁場的區(qū)段而同時觀察電磁場的變化而對于所有的應(yīng)用和污染物被自動地優(yōu)化。當產(chǎn)品經(jīng)過金屬探測設(shè)備時這些測試可自動地執(zhí)行。因此，對于所關(guān)心的所有污染物可在短時期內(nèi)自動地獲得優(yōu)化的工作頻率，為此測試物品被設(shè)置在測試裝置中。

附圖說明

已經(jīng)陳述了本發(fā)明的一些目的和優(yōu)點，當連同附圖一起考慮以下說明時其它的目的和優(yōu)點將呈現(xiàn)出來，其中：

圖1顯示了配備有三個測試裝置2a、2b、2c的本發(fā)明的金屬探測設(shè)備1，該測試裝置被連接至氣動控制裝置3；

圖2顯示了已經(jīng)被沿圖1中所示的長線a--a剖切的金屬探測設(shè)備1的剖視圖；

圖3a顯示了本發(fā)明的測試裝置2，該測試裝置包括被連接至配件20的導(dǎo)向管21并且其封入如圖3b中所示地嵌入芯塊28中的測試物品7；

圖3b顯示了圖3a的測試裝置2已經(jīng)被按沿著導(dǎo)向管21和配件20的中心軸線的平面剖切的剖視圖；

圖3c以分解視圖顯示了圖3a的測試裝置；

圖4a進一步顯示了本發(fā)明的測試裝置2，該測試裝置包括被連接至配件20的導(dǎo)向管21，該導(dǎo)向管如圖4b中所示地封入被嵌入芯塊28中的測試物品7并且被保持在通風(fēng)管22內(nèi)部；

圖4b顯示了圖4a的測試裝置2已經(jīng)被按沿著導(dǎo)向管21和配件20的中心軸線的平面剖切的剖視圖；

圖4c以分解視圖顯示了圖4a的測試裝置；

圖5以剖視圖顯示了本發(fā)明的金屬探測設(shè)備1，該金屬探測設(shè)備包括具有漏斗19和測試裝置2a、2b的空心的圓筒形架座13，該漏斗19已經(jīng)通過第一口孔111被從上方插入，該測試裝置已經(jīng)通過第二口孔112被插入；和

圖6顯示了圖5的測試裝置2a、2b并且象征性地顯示了線圈系統(tǒng)，該線圈系統(tǒng)包括設(shè)置在兩個接收線圈141、142之間的發(fā)射線圈143。

具體實施方式

圖1顯示了配備有三個測試裝置2a、2b、2c的本發(fā)明的金屬探測設(shè)備1，該測試裝置如由箭頭象征性地指示的那樣被連接至氣動控制裝置3。

金屬探測設(shè)備1被設(shè)計成能探測豎直封裝應(yīng)用中的金屬污染產(chǎn)品，即，用于在插入到密封的包裝內(nèi)之前檢查飛行中的產(chǎn)品。該設(shè)備被設(shè)計成使得高度最小以允許其例如被安裝到秤和制袋機之間受限的空間中。

金屬探測設(shè)備1包括具有進口孔111和出口孔112的外殼11，該進口孔和出口孔在外殼11內(nèi)部限定了行進路徑，受檢查的目標9可沿著該行進路徑移動通過探測區(qū)100。為了安裝金屬探測設(shè)備1，外殼11配備有諸如安裝法蘭115和安裝孔116的安裝器件。

金屬探測設(shè)備1配備有本地控制單元15，該本地控制單元包括顯示器18并且優(yōu)選經(jīng)由線纜端口6和第一控制總線151被連接至主計算機150。金屬探測設(shè)備1可自主地或者在主計算機150的控制下工作，該主計算機可控制一個或多個金屬探測設(shè)備1并且可提供應(yīng)用參數(shù)并采集測量結(jié)果。

為了測試和/或優(yōu)化金屬探測設(shè)備1，配備了三個測試裝置2a、2b、2c，該測試裝置被安裝在外殼11的下側(cè)在出口孔112附近并且包括配件20a、20b、20c，該配件20a、20b、20c經(jīng)由例如空氣軟管的氣動管線23a、23b、23c被連接至設(shè)置在氣動控制裝置3處的配件30a、30b、30c。

氣動控制裝置3優(yōu)選包括諸如壓力產(chǎn)生器、真空產(chǎn)生器和閥器件(未顯示)的氣動裝置，該氣動裝置可被手動地操作或者經(jīng)由第二控制總線153受本地控制裝置15或者主計算機150的控制。氣動控制裝置3可例如包括一個或多個空氣泵和/或例如按照文丘里原理(ventureprinciple)工作的一個或多個真空產(chǎn)生器。該壓力和真空產(chǎn)生器優(yōu)選配備有控制或開關(guān)器件以用于允許特定壓力或者真空的脈沖式應(yīng)用。用于控制該氣動設(shè)備的氣動設(shè)備和裝置可例如從festoag處獲得(參見www.festo.us)。由festo出版的出版物“具有增加值的合伙公司(partnership-withaddedvalue)”公開了氣動工程和電氣工程范圍內(nèi)的產(chǎn)品，具有處于控制水平的控制系統(tǒng)與控制器和處于磁場水平的氣動的、伺服氣動的、電動的物件，諸如，致動器、驅(qū)動器、閥、真空產(chǎn)生器、馬達，和利用管件、配件、氣動聯(lián)接器的連接技術(shù)。氣動控制裝置3被設(shè)計成能按所選的測試間隔(例如，每15分鐘或者30分鐘)優(yōu)選脈沖地給氣動管線23a、23b和23c提供壓力或者真空。

氣動控制裝置3可通過按壓相關(guān)的鈕31、32、33中的一個來選擇測試裝置2a、2b或者2c和通過按壓鈕39以利用所選的測試裝置2a、2b或者2c來啟動測試地手動操作。然而，測試集(suites)被優(yōu)選地提供并且由主計算機150自動地執(zhí)行。

圖2顯示了已經(jīng)被沿圖1中所示的長線a--a剖切的金屬探測設(shè)備1的剖視圖。顯示了架座13被設(shè)置在進口孔111和出口孔112之間，該架座具有沿著受檢查的目標9的行進路徑變化的橫截面輪廓。架座13被具有設(shè)置在至少兩個接收線圈之間的至少一個發(fā)射線圈的線圈系統(tǒng)環(huán)繞(embraced)，該架座由安裝架、優(yōu)選環(huán)形的安裝架或者第一安裝環(huán)128保持在出口孔112附近并且由第二安裝環(huán)127保持在輸入孔支撐件111附近。線圈系統(tǒng)被設(shè)計和設(shè)置成提供給發(fā)射線圈的信號在接收線圈中產(chǎn)生相同的信號，如果產(chǎn)品9中不存在污染物8則其因此抵消。象征性地顯示了，經(jīng)過的產(chǎn)品9包含金屬元件8，該金屬元件首先在第一接收線圈中引起信號變化并且然后在第二接收線圈中引起信號變化，并且因此在線圈系統(tǒng)和有關(guān)的電磁場中引起不平衡。

漏斗19被保持在架座13內(nèi)，該漏斗將豎直地落下的產(chǎn)品從其輸入部導(dǎo)引至其輸出部。

在該剖視圖中，顯示了，三個測試裝置2a、2b、2c被安裝并保持在環(huán)形的安裝架(即，第一安裝環(huán)128)中，該第一安裝環(huán)位于圍繞出口孔112的外殼11上。

測試裝置2a、2b、2c各包括導(dǎo)向管21a、21b、21c，該導(dǎo)向管被保持在設(shè)置于環(huán)形安裝塊128中的安裝孔1280中，其以遠端延伸到探測設(shè)備1中，其在近端處被連接到保持在金屬探測設(shè)備1外部、出口孔112下面的配件20a、20b、20c上，并且其包括測試物品7a、7b、7c。可見，測試裝置2a、2b、2c可例如通過壓入配合被容易地安裝到環(huán)形安裝塊128的安裝孔1280中、以高數(shù)量地相互緊挨。

導(dǎo)向管21a、21b、21c優(yōu)選各被與圓錐形架座13的母線平行對準地設(shè)置在圓錐形架座13外側(cè)。因此，測試裝置2a、2b、2c、...可被輕易地以高數(shù)量地安裝在金屬探測設(shè)備1內(nèi)，而不與探測區(qū)100干涉并且不使用金屬探測設(shè)備1的上側(cè)上的空間。因此，測試裝置2a、2b、2c、...可被輕易地在已經(jīng)在沒有該測試選項的場中工作的設(shè)備1中更新改進。

通過對配件20a、20b、20c應(yīng)用空氣壓力或者真空，優(yōu)選地應(yīng)用空氣壓力或者真空的脈沖，測試物品7a、7b、7c可被在有關(guān)的導(dǎo)向管21a、21b、21c中上、下單獨地移動，該測試物品優(yōu)選被嵌入芯塊28中(參見圖3b)。測試物品7a、7b、7c可通過應(yīng)用空氣壓力被向上移動并且可通過重力或者應(yīng)用真空被返回。

測試裝置2a、2b、2c優(yōu)選地包括不同的測試物品7a、7b、7c，該測試物品包含或者包括鐵類材料或者非鐵類材料，諸如鋼、不銹鋼、黃銅或者鋁。第一測試物品7a可包含鋼，第二測試物品7b可包含黃銅并且第三測試物品7c可包含鋁。因此，在有或者沒有產(chǎn)品9經(jīng)過探測區(qū)100的情況下對于所有的這些材料可以進行測試。對于每個所選的測試物品7a或者7b或者7c，可手動地或者優(yōu)選對于預(yù)定的工作頻率數(shù)自動地執(zhí)行測試。根據(jù)測試，選擇已經(jīng)利用其來獲得最佳結(jié)果或者最強響應(yīng)信號的工作頻率或者多個工作頻率。

因為這些測試可被自動地執(zhí)行，所以有可能在短時期內(nèi)優(yōu)化測試參數(shù)。優(yōu)選地，間隔地執(zhí)行用于測試和優(yōu)化金屬探測設(shè)備1的序列?？稍诶?5分鐘或者30分鐘的小間隔內(nèi)進行工作測試。當已經(jīng)出現(xiàn)重大的產(chǎn)品變化時，例如在早晨和在下午或者總是運行最佳的序列。

圖2顯示了測試裝置2a、2b、2c未延伸至金屬探測設(shè)備1的上側(cè)，其中閉合環(huán)129被安裝在第二安裝環(huán)127的上方。該閉合環(huán)129和第二安裝環(huán)127不受測試裝置2a、2b、2c中的任何部分的影響。因此，在金屬探測設(shè)備1的上側(cè)不存在集污器。可橫跨第二安裝環(huán)129輕易地除去分布在金屬探測設(shè)備1的頂部上的食物顆粒。當在金屬探測設(shè)備1上方裝卸產(chǎn)品9時或者當清理金屬探測設(shè)備1時，測試裝置2a、2b、2c不易于意外損壞。除了操作和維修方面的優(yōu)點之外，進一步的優(yōu)點涉及通過避免用于金屬探測設(shè)備1的上側(cè)上的測試裝置2a、2b、2c的管和配件減少了制造工作。

雖然導(dǎo)向管21a、21b、21c未延伸至金屬探測設(shè)備1的上側(cè)，但是單獨的測試物品7a、7b、7c仍然能經(jīng)過整個線圈系統(tǒng)。在某一應(yīng)用中，如果測試物品7a、7b、7c被提升至較低的第二接收線圈，則甚至可以是足夠的。

圖3a和圖3b以立體圖和剖視圖顯示了測試裝置2。圖3c以分解視圖顯示了圖3a的測試裝置2。測試裝置2包括空心的圓筒形導(dǎo)向管21，該導(dǎo)向管在近端處被連接至配件20并且封入了被嵌入芯塊28中的測試物品7。在導(dǎo)向管21的遠端處配備有具有兩個排氣孔的通風(fēng)端口211并且配備有端部止擋件25被插入其中的螺紋，該端部止擋件可以是螺栓。端部止擋件25起到用于芯塊28的端部止擋件的作用并且可優(yōu)選地被調(diào)整以便達到芯塊28的行進路徑的希望長度。角度配件20包括其中保持導(dǎo)向管21的第一裝配件201和可被連接至氣動聯(lián)接器或被直接連接至空氣軟管的第二裝配件202。通過應(yīng)用空氣壓力、真空或者重力，芯塊28可在導(dǎo)向管21的近端和遠端之間被向前和向后移動。本發(fā)明還可以其他氣體或者流體來實施。

圖4a和圖4b以立體圖和剖視圖顯示了本發(fā)明的進一步的測試裝置2。圖4c以分解圖顯示了圖4a的測試裝置2。該測試裝置2還包括空心的圓筒形導(dǎo)向管21，該導(dǎo)向管在近端處被連接至配件20并且封入被嵌入芯塊28中的測試物品7。在導(dǎo)向管21的遠端處也配備有具有兩個排氣孔的通風(fēng)端口211并且配備有端部止擋件25被插入其中的螺紋，在實施例中螺栓已經(jīng)被旋轉(zhuǎn)到該端部止擋件25中。在該實施例中，配件20僅包括第一裝配件201，該配件完全被導(dǎo)向管21橫穿并且被鎖定螺釘209固定至導(dǎo)向管21。圓柱支承元件26位于導(dǎo)向管21的遠端上，該圓柱支承元件包括沿著其縱軸線的中心孔，該孔在不覆蓋住第一通風(fēng)端口211的排氣孔的情況下接收導(dǎo)向管21的遠端。

空心的圓筒形通風(fēng)管22的近端和遠端被與導(dǎo)向管21同心對齊地設(shè)置在配件20的第一裝配件201上和支承元件26上，以使得導(dǎo)向管21的遠端和至少部分近端與通風(fēng)管22重疊。通風(fēng)管22包括靠近配件20的近端處的通風(fēng)端口221。通風(fēng)管22包括內(nèi)徑，該內(nèi)徑大于導(dǎo)向管21的外徑從而在導(dǎo)向管21和通風(fēng)管22之間提供了空的圓柱形通風(fēng)空間，通過該通風(fēng)空間，空氣可在位于導(dǎo)向管21的遠端的第一通風(fēng)端口211和設(shè)置在通風(fēng)管22的近端處的第二通風(fēng)端口221之間移動。當測試裝置2被操作并且芯塊28被在導(dǎo)向管21的近端和遠端之間移動時，導(dǎo)向管21和通風(fēng)管22的該配置允許自由空氣向前和向后流動。雖然已經(jīng)產(chǎn)生了導(dǎo)向管21外部的另外空氣路徑，但是測試裝置2的尺寸僅輕微地增大。因此，還在該實施例中，其中除了活動的芯塊28之外，形成了從金屬探測設(shè)備1的外部通過導(dǎo)向管21和通風(fēng)管22返回到金屬探測設(shè)備1的外部的不受阻礙的氣流，測試裝置2需要很小的空間并且可被容易地安裝到任何種類的金屬探測設(shè)備1中。

圖5以剖視圖顯示了本發(fā)明的金屬探測設(shè)備1，該金屬探測設(shè)備包括具有漏斗19和測試裝置2a、2b的空心的圓筒形架座13，該漏斗19已經(jīng)通過第一口孔111被從上方插入，該測試裝置已經(jīng)通過第二口孔112被插入。漏斗19完全填充第一口孔111并且不允許在第一口孔111附近安裝任何測試裝置或者其部件。因此，如上描述的現(xiàn)有技術(shù)的測試裝置不能被安裝到金屬探測設(shè)備1的該實施例中。

而是，本發(fā)明的測試裝置2不需要很多空間并且可被安裝在金屬探測設(shè)備1的側(cè)部上，在該處可獲得自由空間。因為測試裝置2a、2b、...的導(dǎo)向管21a、21b、...不需要完全橫跨架座13，所以它們能被容易地安裝到一側(cè)上。

安裝環(huán)128配備有孔，該安裝環(huán)保持圓錐形漏斗19的下側(cè)，測試裝置2a、2b、...的導(dǎo)向管21a、21b、...被通過該孔插入。這可以在金屬探測設(shè)備1的生產(chǎn)期間或者在已經(jīng)處于工作的金屬探測設(shè)備1處的磁場中做到。圖5中所示的安裝環(huán)或者安裝器件128的形狀僅是一實例。安裝器件128還可以是矩形的或者簡單的凸緣元件，該元件是金屬探測設(shè)備的一部分或者被連接至金屬探測設(shè)備，例如外殼11或者架座13。

在圖5的實施例中，測試裝置2a、2b、...的導(dǎo)向管21a、21b、...被保持在架座13內(nèi)，該架座支承線圈系統(tǒng)(未顯示)。因此，本發(fā)明的測試裝置2可被安裝到架座和連接至其上的線圈系統(tǒng)的內(nèi)部或者外部。此外，本發(fā)明的測試裝置2實際上可被與任何種類的架座或者金屬探測設(shè)備一起使用。本發(fā)明的測試裝置2可被安裝到且特別是被用于為檢查貨物所設(shè)置的金屬探測設(shè)備中，該貨物通過線圈系統(tǒng)豎直地掉落或者被輸送器水平地傳送過線圈系統(tǒng)。

圖6以剖視圖顯示了圖5的測試裝置2a、2b、測試裝置2a并且象征性地顯示了線圈系統(tǒng)，該線圈系統(tǒng)包括設(shè)置在兩個接收線圈141、142之間的發(fā)射線圈143。線圈系統(tǒng)141、142、143被設(shè)計和設(shè)置成，提供給發(fā)射線圈143的信號在接收線圈141、142中生成相同的信號，因此如果移動通過線圈系統(tǒng)的產(chǎn)品9中不存在污染物8并且沒有測試物品7移動通過接收線圈141、142中感應(yīng)出的電磁場，則該信號抵消。為了該目的，測試物品7可被在發(fā)射線圈和接收線圈141、142、143的內(nèi)部或者外部轉(zhuǎn)輸。