本發(fā)明涉及一種基于傳輸線的近場探頭空間分辨率的行波校準(zhǔn)方法,屬于天線計量領(lǐng)域。
背景技術(shù):
在板級電磁干擾(EMI:Electromagnetic Interference)問題分析、整改時,常會利用近場探頭對板上輻射源進(jìn)行定位。而空間分辨率作為近場探頭的一個重要技術(shù)參數(shù)對于定位的準(zhǔn)確性有著十分重要的影響。
當(dāng)前,可查閱到的近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)方法是對一條微帶線激勵,然后,在于微帶線縱向延伸的方向相垂直的方向(即橫向)從左至右移動近場探頭,然后通過近場EMI測試系統(tǒng)中的接收機或頻譜儀測量得到一條類似于正太分布的場分布曲線,并結(jié)合該曲線給出近場探頭的空間分辨率。但是這種方法從測量學(xué)的角度并不科學(xué),而且比較容易引入大的校準(zhǔn)測量誤差。首先,對于這種校準(zhǔn)方法,以磁場探頭為例,在探頭移動的路徑上場量的分布并不是處處與近場探頭的感應(yīng)線圈平面正交,且相應(yīng)測試條件下,探頭移動路徑上的場分布本身也具有較高的復(fù)雜性,這就造成了用于對近場探頭空間分辨率進(jìn)行校準(zhǔn)的電磁波場并不具有可塑性、可解析性。其次,在近場探頭的移動路徑上,場隨探頭移動距離的變化無論在對數(shù)域還是線性域,都不是線性的,這就造成了在探頭移動過程中的每一點處,場量與探頭的場-路耦合特性并不一致,同時,若將探頭移動路徑分割為很多距離大小相同的子段,那么不同子段所對應(yīng)的場量變化是不同的,也就是說校準(zhǔn)標(biāo)尺本身對于校準(zhǔn)參量的刻畫并不是均勻且線性的,以這種標(biāo)尺來刻畫近場探頭的空間分辨率是缺乏科學(xué)性的。此外,當(dāng)前這種校準(zhǔn)方法還會引起耦合比不統(tǒng)一而造成的校準(zhǔn)誤差。
基于上述原因,本發(fā)明提出了一種更為科學(xué)合理的近場探頭空間分辨率校準(zhǔn)方法,即一種基于傳輸線的近場探頭空間分辨率行波校準(zhǔn)方法。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是:克服當(dāng)前對近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)方法上存在的“場量空間分布特征不明確、不可塑且在線性域或?qū)?shù)域呈現(xiàn)非線性分布”、“近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)路徑的選擇具有隨機性,且在探頭的校準(zhǔn)路徑上場-路的耦合特性不一致”等缺陷。本發(fā)明克服了上述缺陷,結(jié)合近場EMI測試系統(tǒng)中的接收機或頻譜儀給定的幅度精度,基于傳輸線理論,以多導(dǎo)體平面?zhèn)鬏斁€為構(gòu)建平臺,通過構(gòu)建一個場分布特征可解析且校準(zhǔn)精度在一定范圍內(nèi)可調(diào)的空間分辨率校準(zhǔn)標(biāo)尺,給出了一種近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)方法。
本發(fā)明技術(shù)解決方案:
一種基于傳輸線的近場探頭空間分辨率的行波校準(zhǔn)方法,包括以下步驟:
步驟1:結(jié)合多導(dǎo)體均勻傳輸線在純行波工作狀態(tài)下,傳輸線上的電壓波/電流波和傳輸線周圍所激發(fā)出的橫電磁波(TEM波:Transverse Electric and Magnetic Field)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系,構(gòu)建出用于校準(zhǔn)近場探頭空間分辨率,同時相應(yīng)的電磁場分布具有可塑、可解析特征的校準(zhǔn)標(biāo)尺;
步驟2:以步驟1中構(gòu)建出來的校準(zhǔn)標(biāo)尺為基礎(chǔ),結(jié)合近場EMI(Electromagnetic Interference)測量系統(tǒng)中的接收機或頻譜儀,在校準(zhǔn)標(biāo)尺上所形成的特定的場分布區(qū)域上,完成對近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)測量。其中,特定場分布區(qū)域是指電壁或磁壁。
所述步驟1具體實現(xiàn)如下:
(1)選定用于構(gòu)建校準(zhǔn)標(biāo)尺的多導(dǎo)體傳輸線的具體形式(比如:微帶線、共面波導(dǎo)等),由電磁學(xué)的相關(guān)理論公式可以推導(dǎo)出多導(dǎo)體均勻傳輸線在純行波工作狀態(tài)下,由于電磁信號在校準(zhǔn)標(biāo)尺中傳輸時會存在有傳導(dǎo)損耗和介電損耗,沿傳輸線的信號傳輸方向,傳輸線上的電壓波與電流波和傳輸線周圍所激發(fā)的電磁波波場沿傳輸線信號傳輸方向會呈現(xiàn)出相同的指數(shù)衰減特性,這種衰減特征轉(zhuǎn)化至對數(shù)域則會使場強變化量與空間位移變化量呈現(xiàn)出線性關(guān)聯(lián)關(guān)系,這是利用傳輸線構(gòu)建近場探頭空間分辨率校準(zhǔn)標(biāo)尺的重要基礎(chǔ)之一。其中決定指數(shù)衰減因子的衰減常數(shù)α以及傳輸線的特征阻抗Z0是與傳輸線的幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)有關(guān)的,通過調(diào)整校準(zhǔn)標(biāo)尺的幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)得到具有不同的衰減常數(shù)α和特征阻抗Z0;另外,結(jié)合三維全波電磁場仿真軟件或已有的經(jīng)驗公式,通過對校準(zhǔn)標(biāo)尺的電磁仿真或計算,在阻抗匹配的條件下,獲得校準(zhǔn)標(biāo)尺在不同的幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)下的特征阻抗與衰減系數(shù),進(jìn)而通過多次的幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)的調(diào)整,優(yōu)化獲得指定的衰減常數(shù)α與傳輸線的特征阻抗Z0,并記錄下此時對應(yīng)的幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)作為后續(xù)校準(zhǔn)標(biāo)尺加工制作的參考輸入信息;在不失一般性的前提下,后續(xù)將以共面波導(dǎo)為典型實例,對校準(zhǔn)測量過程做詳細(xì)說明。
(2)在實際加工制作完成的校準(zhǔn)標(biāo)尺的終端接匹配負(fù)載,輸入端施加頻率為f0的單音激勵,使該校準(zhǔn)標(biāo)尺中的傳輸線工作在純行波工作狀態(tài),通過調(diào)整激勵源的大小使校準(zhǔn)標(biāo)尺周圍激發(fā)的TEM波場的強度處在近場EMI測試系統(tǒng)中的接收機或頻譜儀可測量的范圍。從校準(zhǔn)標(biāo)尺幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)的設(shè)計選擇到調(diào)整校準(zhǔn)標(biāo)尺的輸入激勵強度,都可以根據(jù)實際校準(zhǔn)測量的需要進(jìn)行靈活的調(diào)整修正,同時,借助三維電磁場全波仿真軟件或已有的經(jīng)驗公式,經(jīng)過相應(yīng)的仿真或計算還可以對相應(yīng)傳輸線幾何結(jié)構(gòu)參數(shù)下的衰減常數(shù)α的大小進(jìn)行預(yù)評估,進(jìn)而做出必要的設(shè)計調(diào)整。因此,按此過程設(shè)計的校準(zhǔn)標(biāo)尺使得傳輸線周圍所激發(fā)的電磁場分布具有很好的可解析性、可塑性。
所述步驟2具體實現(xiàn)如下:
(1)在校準(zhǔn)標(biāo)尺所形成的TEM波場的磁壁或電壁平面上沿著校準(zhǔn)標(biāo)尺的幾何延伸方向勻速移動近場探頭。校準(zhǔn)標(biāo)尺構(gòu)建完成之后,相應(yīng)的電磁波場的分布特性就確定下來了。接下來,需要考慮的一個重要問題就是在什么位置上對進(jìn)場探頭進(jìn)行空間分辨率的校準(zhǔn)。為了增強場路之間的耦合性,提高測量精度,本發(fā)明提出將測量位置選定在場分布中的磁壁或電壁上。近場探頭分為電場探頭和磁場探頭,但由于磁場相對于空間位置的變化更為敏感,在近場EMI測試系統(tǒng)中,更多地會應(yīng)用磁場探頭。所以,在不失一般性的前提下,后續(xù)將以磁場探頭為典型實例,對校準(zhǔn)測量過程做詳細(xì)說明。
(2)在探頭移動過程中觀察接收機或頻譜儀的場強感應(yīng)信號的最小變化量,并記錄下該最小變化量所對應(yīng)的探頭沿校準(zhǔn)標(biāo)尺的移動距離。在磁壁平面上選定一條直線作為測量基準(zhǔn)線,將磁場探頭在測量基準(zhǔn)線上勻速移動,在探頭的移動過程中,標(biāo)記相應(yīng)測量系統(tǒng)中接收機或頻譜儀的示數(shù)變化量。造成示數(shù)最小變化量所對應(yīng)的探頭移動距離即為該近場探頭的空間分辨率。
(3)結(jié)合校準(zhǔn)標(biāo)尺的幾何尺寸,衰減常數(shù)以及校準(zhǔn)時所用的接收機或頻譜儀的幅度精度和測量結(jié)果的置信度給出校準(zhǔn)標(biāo)尺本身的校準(zhǔn)精度,另外由步驟(2)中所得測試結(jié)果給出相應(yīng)近場探頭經(jīng)校準(zhǔn)所得的空間分辨率的值。在本發(fā)明中,近場探頭空間分辨率的表征方式應(yīng)為“空間分辨率@幅度精度覆蓋范圍(置信度為xx%)”。以是德科技的PXI N9030A信號分析儀(所謂信號分析儀可以認(rèn)為是對頻譜儀的一種升級)為例,該信號分析儀在10Hz~3.6GHz范圍內(nèi)的幅度精度為±0.19dB,測量結(jié)果的置信度為95%,因此,如果在近場EMI測試系統(tǒng)使用此信號分析儀,按照前面所給出的近場探頭空間分辨率的表征方式,對于某一近場探頭,測得的空間分辨率可表示為:2mm@0.38dB(置信度為95%)。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點在于:
(1)校準(zhǔn)標(biāo)尺的構(gòu)建方法具有很好的通用性,并不局限于某一類特定的傳輸線,可以將該方法應(yīng)用到不同的多導(dǎo)體均勻傳輸線上來構(gòu)建校準(zhǔn)標(biāo)尺,比如:微帶線、不帶接地背板的帶狀線,帶有接地背板的帶狀線等。對于能夠傳輸TEM波且便于進(jìn)行場分布測量空間的多導(dǎo)體均勻傳輸線都可以作為校準(zhǔn)標(biāo)尺的基本構(gòu)建平臺。同時,結(jié)合3維電磁場全波仿真軟件,可以很方便地設(shè)計出針對某一類特定近場探頭的空間分辨率校準(zhǔn)標(biāo)尺,具有很好的工程實用價值。
(2)由校準(zhǔn)標(biāo)尺產(chǎn)生的用于校準(zhǔn)近場探頭空間分辨率的電磁波場具有很好的可塑性、可控性,同時結(jié)合相應(yīng)的近場EMI測量系統(tǒng)中的頻譜儀或接收機的測量精度可以明確校準(zhǔn)標(biāo)尺本身的校準(zhǔn)精度。因為對于典型的均勻多導(dǎo)體傳輸線(如微帶線、共面波導(dǎo)等),當(dāng)其工作在純行波狀態(tài)時,傳輸線上的電壓波/電流波是可塑的,可控的。這里所謂的“可塑性”或“可控性”主要體現(xiàn)在電壓波/電流波在傳輸線上的傳輸常數(shù),衰減常數(shù)等參數(shù)都是可解析(具有經(jīng)驗公式)或半解析的(無經(jīng)驗公式的條件下可以通過3維電磁場全波仿真軟件仿真得到),這些參數(shù)的數(shù)值基本都是與傳輸線的具體結(jié)構(gòu)參數(shù)相關(guān)聯(lián)的,即通過調(diào)整傳輸線的結(jié)構(gòu)參數(shù)即可調(diào)整傳輸線上電壓波/電流波的分布特性。此外,在純行波工作狀態(tài)下,結(jié)合麥克斯韋方程組還可以推導(dǎo)得到傳輸線上的電壓波/電流波與其周圍所激發(fā)的電磁波場具有緊密的關(guān)聯(lián)關(guān)系,因而,從間接角度上看,通過調(diào)整傳輸線的結(jié)構(gòu)參數(shù)即可實現(xiàn)對傳輸線周圍電磁波場分布的調(diào)整。具體應(yīng)用時,根據(jù)需要選擇傳輸線的類型以及傳輸線的結(jié)構(gòu)尺寸參數(shù)以構(gòu)建最佳的校準(zhǔn)標(biāo)尺。同時,結(jié)合相應(yīng)的近場EMI測試系統(tǒng)中的頻譜儀或接收機的幅度精度參數(shù),可進(jìn)一步確定出所構(gòu)建的校準(zhǔn)標(biāo)尺本身所對應(yīng)的校準(zhǔn)精度。綜上所述,本發(fā)明給出了一種校準(zhǔn)場分布特性可控、校準(zhǔn)標(biāo)尺精度可明確的校準(zhǔn)標(biāo)尺構(gòu)建方法,具有重要的工程實用意義。
(3)由于選擇特定的場分布平面(如磁壁、電壁)進(jìn)行近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn),最大程度的增強了場-路間的耦合。這樣可以排除校準(zhǔn)路徑選擇的隨機性,還可以保證在整個校準(zhǔn)路徑上場-路耦合特性的均勻一致性,排除由于場-路耦合關(guān)系的不一致性而造成的校準(zhǔn)誤差。另外,本發(fā)明所給出的這種校準(zhǔn)方法,在校準(zhǔn)過程中,使探頭的感應(yīng)線圈在磁壁或電壁平面上勻速移動且線圈平面與電壁或磁壁平面重合,這樣可以使得在探頭校準(zhǔn)路徑上的各點處保證場量是與探頭的感應(yīng)線圈平面是正交的,從而盡可能地提高場-路間的耦合度,提高校準(zhǔn)精度。
(4)本發(fā)明中,在測量基準(zhǔn)線(即校準(zhǔn)路徑)上移動近場探頭時,在對數(shù)域(以dB表示)上,場量的變化量與位移的變化量之間呈現(xiàn)出線性關(guān)系,這對于探頭空間分辨率的確定具有十分重要意義,實現(xiàn)了校準(zhǔn)標(biāo)尺針對校準(zhǔn)參量的均勻線性刻畫。這保證了測量結(jié)果具有很好的一致性,即從測量基準(zhǔn)線上的任意一個位置作為校準(zhǔn)的起始點,都不會影響最終的校準(zhǔn)結(jié)果。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的校準(zhǔn)方法流程示意圖;
圖2共面波導(dǎo)中典型的TEM波場分布示意圖;
圖3終端匹配的均勻傳輸線電路結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4近場探頭校準(zhǔn)方法示意圖;
圖5近場探頭在測量基準(zhǔn)線上勻速移動過程示意圖;
圖6校準(zhǔn)標(biāo)尺精度說明示意圖。
具體實施方式
對于共面波導(dǎo),其典型的TEM波場空間分布形式如圖2所示。以磁場探頭為典型實例,用于探頭空間分辨率校準(zhǔn)的測量基準(zhǔn)線位于共面波導(dǎo)的磁壁上,使磁場探頭的感應(yīng)線圈平行于磁壁平面,如圖4所示,這里需要特別說明的是,為簡化圖示復(fù)雜度,圖4中并未畫出校準(zhǔn)過程中所需的用于給校準(zhǔn)標(biāo)尺提供激勵的激勵源以及用于測量探頭感應(yīng)電壓變化的接收機或頻譜儀。此外,校準(zhǔn)標(biāo)尺終端匹配,處于純行波工作狀態(tài)。在此條件下,令探頭沿著測量基準(zhǔn)線勻速移動,移動過程的示意圖如圖5所示。在移動過程中記錄,使接收機或頻譜儀的感應(yīng)示數(shù)出現(xiàn)最小變化量時探頭的移動距離,該距離即為此近場探頭的空間分辨率,用“空間分辨率@幅度精度覆蓋范圍(置信度為xx%)”進(jìn)行表示。
如圖1所示,本發(fā)明具體的實施方式如下:
步驟一:近場探頭空間分辨率校準(zhǔn)標(biāo)尺的設(shè)計:
(1)多導(dǎo)體均勻傳輸線在TEM傳輸模式下形成的TEM波場
高頻電磁波在多導(dǎo)體均勻傳輸線中傳播時,由于在傳播邊界上存在傳導(dǎo)損耗,在傳輸空間中存在介電損耗,隨著傳播距離的增大,場強的幅度會呈現(xiàn)指數(shù)規(guī)律衰減。可將其等效認(rèn)為電磁波在均勻低耗媒質(zhì)中進(jìn)行傳播,假定這里的電磁波是沿z軸正向傳播的,因而有:
其中:表示電場波的復(fù)矢量,表示磁場波的復(fù)矢量,為TEM波中電場波的復(fù)振幅矢量,α為電磁波傳播時的衰減因子,β表示該TEM電磁波的傳播常數(shù)。和分別表示x軸方向與y軸方向的單位矢量。
(2)多導(dǎo)體均勻傳輸線上純行波工作狀態(tài)下的電壓波與電流波:
如圖3所示,多導(dǎo)體傳輸線的特征阻抗為Z0,傳輸線的縱向延伸方向設(shè)為z軸正向,傳輸線上的電壓波和電流波分別用V(z)和I(z)進(jìn)行表示,假定傳輸線上的電壓波與電流波沿z軸正向傳播,
其中,表示傳輸線上電壓波的振幅,Z0表示該傳輸線的特性阻抗,γ表示該電壓波和電流波的復(fù)傳播常數(shù),且:
γ=α+jβ
上式中α對應(yīng)的是衰減常數(shù),β對應(yīng)的是傳輸常數(shù)。
(3)傳輸線上的電壓波/電流波和TEM波場的關(guān)聯(lián)關(guān)系:
假定TEM波在多導(dǎo)體傳輸線中沿+z方向傳播且傳輸線的終端端接匹配負(fù)載。相應(yīng)的,在傳輸線的信號傳播方向上任意一點P(x,y,z)所對應(yīng)的平面Z=z0處,有:
其中表示在低耗媒質(zhì)中的波阻抗,fx(x,y)和fy(x,y)分別表示該TEM波的電場波在波陣面上+x軸方向上分量和+y軸方向上分量的分布函數(shù)。其余變量含義與前面一致。
進(jìn)一步,有:
其中V(z)|P和I(z)|P分別表示傳輸線上P點處的電壓波和電流波的幅度大小。M和N分別為與變量z無關(guān)的常數(shù)。C為環(huán)繞傳輸線的任一閉合路徑,ref為參考零電勢點。
綜合上所述,可以明確多導(dǎo)體傳輸線上的電壓波/電流波與電磁波沿波的傳播方向上,波幅的變化特征是一致的。基于這種關(guān)聯(lián)性,相應(yīng)的場分布特征具有很好的可解析性、可控性。因此,可以將產(chǎn)生具有這種類似特征形式場分布的多導(dǎo)體傳輸線作為近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)標(biāo)尺構(gòu)建平臺。對此,本發(fā)明實施例以共面波導(dǎo)為典型實例,如圖4所示。
步驟二:近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)測量:
(1)對近場探頭實現(xiàn)校準(zhǔn)測量的基本過程:
如圖4所示,假定共面波導(dǎo)的終端連接有匹配負(fù)載(在此沒有畫出)。在共面波導(dǎo)的輸入端施加有一個單音激勵f0,在該頻率下,共面波導(dǎo)處于TEM模的傳輸模式(主模),還未出現(xiàn)(顯著的)高次模。在共面波導(dǎo)信號線的中線上方高度為h處劃定一條與信號線中線相平行的直線,該直線位于磁壁面上,此條直線被定義為“測量基準(zhǔn)線”。如圖5所示,使近場探頭的感應(yīng)線圈處于磁壁面上,并沿著測量基準(zhǔn)線勻速移動。
接收機/頻譜儀對場量進(jìn)行測量時,提取到的是場量的模值/有效值。在探頭校準(zhǔn)時,由于被測對象是正弦時變場,結(jié)合接收機/頻譜儀的測量特性,對法拉第電磁感應(yīng)定律進(jìn)行廣義應(yīng)用,即將測量基準(zhǔn)線上場量模值或有效值的變化規(guī)律等價認(rèn)為是隨距離按指數(shù)衰減規(guī)律變化的分區(qū)段勻強場。這里以圓形磁場探頭為例,結(jié)合圖5進(jìn)行如下推導(dǎo):
εind1表示在圖5中,感應(yīng)線圈的圓心從z1到z2的移動過程中,感應(yīng)線圈上所產(chǎn)生的感應(yīng)電動勢,εind2表示在圖5中,感應(yīng)線圈的圓心從z2到z3的移動過程中,感應(yīng)線圈上所產(chǎn)生的感應(yīng)電動勢。分別代表圖5中區(qū)域1到區(qū)域7中的磁通密度矢量的有效值。S1~S7分別代表圖5中區(qū)域1至區(qū)域7的面積。t1~t3分別代表線圈移動過程中的連續(xù)3個時刻點。
同時,注意到:
S1=S3=S5=S7,S2=S4=S6=S8
因此,有:
進(jìn)一步,有:
Δεind=-α·Δz(Np)=-8.686α·Δz(dB)
其中,Δz表示在兩個相鄰的時刻點上,線圈位移的變化量,如圖5所示;Δεind表示在兩個相鄰的時刻點上,探頭感應(yīng)線圈上的感應(yīng)電動勢的變化量。
因此,在測量基準(zhǔn)線上,近場探頭的感應(yīng)電動勢的變化量與探頭的移動距離之間呈現(xiàn)線性變化關(guān)系。利用這種對數(shù)域的線性關(guān)系,即可完成對近場探頭空間分辨率的校準(zhǔn)。采用類似的方法,可以證明,對于任意形狀的磁場探頭,上述對數(shù)域內(nèi)的線性變化關(guān)系都是成立的。因此本專利提出的方法具有很好的工程通用性。
(2)校準(zhǔn)標(biāo)尺的精度控制:
如圖6所示,結(jié)合前面所討論的近場探頭空間分辨率的表示方法,可以得出校準(zhǔn)標(biāo)尺的精度可由下面的表達(dá)式給出:
(接收機或頻譜儀的幅度精度覆蓋范圍)
=-8.686α·(校準(zhǔn)標(biāo)尺的校準(zhǔn)精度)(dB)
由于近場EMI測量系統(tǒng)中的接收機或頻譜儀的幅度精度覆蓋范圍是確定的,所以,對于校準(zhǔn)精度的主要影響因素即為校準(zhǔn)標(biāo)尺的衰減常數(shù)α。事實上:
α=αc+αd
其中αc是指TEM波在相應(yīng)的多導(dǎo)體傳輸線中傳播時對應(yīng)的介電損耗常數(shù),αd是指TEM波在相應(yīng)的多導(dǎo)體傳輸線中傳播時對應(yīng)的傳導(dǎo)損耗常數(shù),α是指指TEM波在相應(yīng)的多導(dǎo)體傳輸線中傳播時總的衰減常數(shù)。對于常規(guī)的共面波導(dǎo)(CPW:Coplanar Waveguide)以及微帶線,它的衰減常數(shù)有具體的計算公式,對于帶接地背板的共面波導(dǎo)(CBCPW:Conductor-backed Coplanar Waveguide),其衰減常數(shù)的計算較為復(fù)雜,當(dāng)前并沒有較為明確的解析公式,但可以通過電磁場全波仿真軟件仿真得到近似解。衰減常數(shù)本身是與多導(dǎo)體傳輸線的結(jié)構(gòu)參數(shù)有關(guān)的,因此,這樣可以通過調(diào)整結(jié)構(gòu)尺寸參數(shù)來調(diào)整衰減常數(shù)的大小,進(jìn)而實現(xiàn)對校準(zhǔn)標(biāo)尺校準(zhǔn)精度的調(diào)整。