本發(fā)明的實施例一般涉及裝置I/O（輸入/輸出），并且更具體地說，涉及測試I/O信令定時參數(shù)。

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背景技術：

計算和電子裝置繼續(xù)變得更小，甚至同時性能保持不變或增加。通過更小的電子組件（由于組件上的幾何構型越?。┦垢〉挠嬎愫碗娮友b置成為可能。制造工藝當前能生成在I/O接口中具有大量I/O（輸入/輸出）信號線的組件，并且具有信號線之間的比對于直接AC和DC性能測試實際上有可能接觸的間距（pitch）更小的間距。DC（直流）性能設置指的是與信令關聯(lián)的偏置和/或電壓電平，而AC（交流）性能指的是接口上的信號沿的定時，其中對于AC性能的測試可被稱為余量調(diào)整（margining）。

逐漸減小的電子組件的大小以及信號線之間的間距增大了測試裝置的困難性。對于許多裝置，信號線的數(shù)量和小間距使得直接測試I/O接口不實際。缺乏直接測試已經(jīng)增大了裝置制造商將不能夠用傳統(tǒng)測試實現(xiàn)超低每百萬缺陷（DPM）目標的風險。當前正在呈現(xiàn)此類風險的一個特定技術領域是具有廣泛接口的存儲器裝置?？捎玫臏y試方法在批量生產(chǎn)（例如HVM（ 大規(guī)模制造））中是不實際的，其中串行測試裝置所需的時間會是讓人望而卻步的。

電子組件芯片的制造商（例如諸如DRAM（動態(tài)隨機存取存儲器）供應商）測試I/O接口或I/O信號陣列。用于測試I/O AC定時的傳統(tǒng)方法是嘗試訓練（exercise）具體電子組件塊的結構測試。結構測試對于電路塊的每個不同組件和/或元件需要不同的測試。結構測試不捕獲噪聲，使測試結果樂觀，如果不是完全不正確的話。傳統(tǒng)測試依賴于突發(fā)模式內(nèi)單個數(shù)據(jù)位上的余量調(diào)整。傳統(tǒng)測試方法篩查AC定時中的離群值（例如在接收器處的設立和保持定時余量(margin)），但非常慢且成本高。

附圖說明

如下描述包含具有作為實現(xiàn)本發(fā)明實施例的實現(xiàn)的示例給出的說明的附圖的論述。附圖應該作為示例而非作為限制進行理解。如本文所使用的，對一個或多個“實施例”的提及要理解為描述包含在本發(fā)明至少一個實現(xiàn)中的具體特征、結構和/或特性。從而，在本文中出現(xiàn)的諸如“在一個實施例中”或“在備選實施例中”的短語描述了本發(fā)明的各種實施例和實現(xiàn)，并且不一定全都指的是同一實施例。然而，它們也不一定是相互排他的。

圖1是為間接I/O測試提供基于占空比的余量調(diào)整的系統(tǒng)的實施例的框圖。

圖2是為I/O測試提供基于占空比的余量調(diào)整的系統(tǒng)的實施例的框圖，其中測試中的裝置生成反向（inverted）調(diào)制時鐘信號。

圖3是給I/O接口測試的基于占空比的余量調(diào)整提供不同定時設置的系統(tǒng)的實施例的時序圖表示。

圖4是用基于占空比的余量調(diào)整測試保持時間的實施例的時序圖表示。

圖5是用基于占空比的余量調(diào)整測試設立時間的實施例的時序圖表示。

圖6是用于間接I/O接口測試的過程的實施例的流程圖。

圖7是可實現(xiàn)基于占空比的余量調(diào)整的計算系統(tǒng)的實施例的框圖。

圖8是可實現(xiàn)基于占空比的余量調(diào)整的移動裝置的實施例的框圖。

下面描述某些細節(jié)和實現(xiàn)，包含附圖的描述，附圖可描繪一些或所有下面描述的實施例，以及論述本文呈現(xiàn)的發(fā)明概念的其它潛在實施例或實現(xiàn)。

具體實施方式

如本文所描述的，系統(tǒng)實現(xiàn)測試接口的I/O（輸入/輸出）眼寬(eye width)。系統(tǒng)生成反向調(diào)制的選通或時鐘信號以觸發(fā)接收操作，而在非反向選通或時鐘信號上觸發(fā)傳送操作。I/O接口包含多個信號線，各帶有具有定時特性的硬件I/O緩沖器。I/O接口的AC（交流）余量調(diào)整指的是觸發(fā)信號沿的定時。測試可通過編譯具體的測試中裝置（DUT）的眼寬大小的預期值并將I/O通道的操作相對預期的眼寬大小進行比較來檢測離群值。預期在相同電路處理中創(chuàng)建的大多數(shù)通道將導致幾乎相同的I/O眼寬（具有最小數(shù)量的離群值）。

按照本文所描述的，測試是功能的，并且測試DUT的功能能力代替評估每個單獨組件的每個單獨操作的嚴格結構測試。通過功能測試，測試系統(tǒng)發(fā)送測試數(shù)據(jù)并評估DUT是否能以各種不同的定時設置寫和讀測試數(shù)據(jù)。預期某些定時設置引起I/O中的失敗，而預期其它定時設置引起通過操作。下面更詳細描述失敗和通過的使用。離群電路可以是當預期它們失敗時記錄通過和/或預期它們通過時記錄失敗的電路。

測試系統(tǒng)生成選通信號或時鐘信號以及測試數(shù)據(jù)。通過讓測試系統(tǒng)生成時鐘信號，DUT不用必須包含生成定時信號的電路，這可節(jié)省不動產(chǎn)和成本。此外，來自測試系統(tǒng)的時鐘信號實現(xiàn)了I/O眼寬的功能測試，如下面更詳細描述的。測試系統(tǒng)選通信號具有觸發(fā)傳送或寫的觸發(fā)沿和通過調(diào)整選通信號的占空比來調(diào)制的后沿。在一個實施例中，觸發(fā)沿是上升沿，并且后沿是選通信號的下降沿；然而，將理解，系統(tǒng)可設計成在下降沿上觸發(fā)。系統(tǒng)將調(diào)制的選通信號反向以生成反向選通信號，其中反向選通信號具有從將調(diào)制的后沿反向中生成的調(diào)制的觸發(fā)沿。測試系統(tǒng)或測試中的裝置可生成反向選通信號。測試中的裝置基于原始選通信號的觸發(fā)沿寫測試數(shù)據(jù)，并基于反向選通信號的觸發(fā)沿讀測試數(shù)據(jù)。在一個實施例中，測試中的裝置包含記錄I/O錯誤的錯誤檢測電路。

在一個實施例中，余量調(diào)整測試允許采納與傳統(tǒng)上使用的不同的通過/失敗方法論。代替直接試圖測量具體電路元件的操作，或直接測量眼寬，系統(tǒng)可單獨測試I/O眼的前沿和I/O眼的后沿。將理解到，眼的前沿和眼的后沿不與時鐘信號的觸發(fā)沿或前沿以及時鐘信號的后沿混淆，盡管它們可能對齊。在雙數(shù)據(jù)速率實現(xiàn)中，眼的前沿和后沿都與時鐘信號的前沿或觸發(fā)沿對齊。在工業(yè)中，前沿通常被稱為“左”沿，并且后沿是“右”沿（參考觀察I/O眼模式圖）。作為描述的簡潔而非作為限制，本文參考I/O信令眼使用“左沿”和“右沿”術語。

在一個實施例中，系統(tǒng)采用第一失敗方法論來識別眼的通過右沿，其指示數(shù)據(jù)信號的保持時間。在一個實施例中，系統(tǒng)采用全通過方法論來識別眼的通過左沿，其指示數(shù)據(jù)信號的設立時間。 在一個實施例中，系統(tǒng)在測試眼的左沿之前測試眼的右沿。第一失敗方法論是指所檢測的第一失敗用于指示能用于眼的右沿的最長時間的測試。最長時間可被稱為允許的最長保持時間。全通過方法論是指當所有電路都記錄通過時的時間點用于指示能用于眼的左沿的最早時間的測試。最長時間可被稱為允許的最短設立時間。

在右沿的第一失敗與左沿的全通過之間是在設立與保持時間窗口之間的亞穩(wěn)態(tài)窗口，其通常被假定是小的。該假定通常導致窗口為了測試目的而被忽略。標準雙穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器中的亞穩(wěn)態(tài)窗口可能是幾皮秒寬，并且可作為過程、電壓和溫度的函數(shù)而變。從而，將理解，滿足保持時間的失敗不一定意味著，一旦所有I/O通道都失敗了保持時間，隨后數(shù)據(jù)的設立時間就被滿足。全通過方法論沒有進行關于亞穩(wěn)態(tài)窗口寬度的假定，從而移除了關于余量測量的樂觀假定。

將理解，當測試系統(tǒng)調(diào)制測試時鐘的占空比時，不存在對于執(zhí)行I/O余量調(diào)整的片上時鐘的需要。測試系統(tǒng)可允許測試中的自動化和排序，其與HVM（大規(guī)模制造）兼容。測試的其它方法太慢，太帶寬集中，和/或否則不很適合于并行測試許多裝置。本文描述的測試基于動態(tài)調(diào)整傳送時鐘與接收時鐘之間的偏斜來調(diào)整眼寬，并且因此在功能上測試I/O接口的操作。從而，動態(tài)調(diào)整偏斜可執(zhí)行I/O接口的AC余量調(diào)整。

本文所描述的測試可被自動化，并且從而可在電子芯片本身上執(zhí)行，甚至沒有直接探測每個I/O通道。在一個實施例中，測試中的裝置包含晶片測試中的多個裝置芯片。在一個實施例中，測試中的裝置包含片上系統(tǒng)(SoC)，其包含在同一襯底上處理的多個不同裝置。在一個實施例中，測試中的裝置包含多芯片封裝，其包含組合在單個封裝內(nèi)的多個不同芯片，通常通過高帶寬接口連接。

除了靈活應用于許多不同類型的芯片封裝，該測試也可應用于不同類型I/O。數(shù)據(jù)I/O通常是雙向的，這意味著I/O端口具有寫能力和讀能力。在時鐘信號的觸發(fā)沿觸發(fā)傳送和在反向的時鐘信號的調(diào)制的觸發(fā)沿觸發(fā)接收的測試將利用寫能力和讀能力。將理解，一些I/O線或管腳是單向的（例如命令線/地址線（CA）線），并且可能正常情況下不能夠利用此類測試。在一個實施例中，單向線包含對于電路操作可被切斷的虛假傳送器或接收器。從而，虛假I/O可能僅用于測試I/O端口并且然后切斷。

在一個實施例中，測試可在一起作為信號組信號線上或在一組多個信號線上執(zhí)行，其可參考共享公共定時信號或公共時鐘的多個信號線。例如，在某些存儲器裝置中，可能存在若干DQ（數(shù)據(jù)信號）和關聯(lián)的DMI信號，它們共享一對公共DQS（時鐘選通）信號。用多組信號線進行間接測試可允許同時測試接口內(nèi)所有通道的所有信號組的數(shù)據(jù)信號的有效眼寬。此外，測試可實現(xiàn)并行或同時測試多個裝置，每個裝置具有單獨的I/O接口。測試可允許測試半導體晶片的多個或所有電路管芯。單個測試數(shù)據(jù)序列可被分布到多個裝置，每個裝置上的每個通道，每個通道上的每組，以及每組的每個信號線。通過積累該組的通過/失敗信息，系統(tǒng)可大大減少將測試結果發(fā)送回測試源所需的帶寬。代替指示每個信號線的每個數(shù)據(jù)位上的通過或失敗，一組可發(fā)送回指示通過位和失敗位的數(shù)量的值。

系統(tǒng)可通過調(diào)整多個測試迭代的一個或多個定時設置來測試數(shù)據(jù)眼寬。例如，測試數(shù)據(jù)可被分布到所有信號線用于一個定時設置，并且然后再次分布到所有信號線用于不同的定時設置。測試數(shù)據(jù)可以是同樣的位序列，但具有不同的I/O接口參數(shù)（控制信號線如何接收信號并對其采樣）。更具體地說，如本文所描述的，選通信號的后沿可被調(diào)制，并且信號被反向以提供選通或時鐘信號的調(diào)制的前沿。系統(tǒng)可生成對于每個定時設置的錯誤結果（例如不同占空比，其引起 不同的眼寬大?。⑶覐亩赏ㄟ^監(jiān)視由信號組對于不同設置接收的錯誤的數(shù)量來確定眼寬。測試系統(tǒng)可用信號組測量眼寬（作為所有信號的合成數(shù)據(jù)眼大小）。系統(tǒng)可對測試迭代的數(shù)量計數(shù)，測試迭代對于所有數(shù)據(jù)循環(huán)在信號組的所有I/O緩沖器或管腳上捕獲正確數(shù)據(jù)，其然后可提供間接眼大小寬度。在一個實施例中，信號組和整個裝置（I/O接口）可相對彼此進行比較，以確定它們是否落在錯誤統(tǒng)計模式內(nèi)。例如，當其錯誤數(shù)量在低閾值和高閾值內(nèi)時，系統(tǒng)可確定信號組通過測試。錯誤數(shù)量落在目標范圍之外的信號組可被視為已使測試失敗。

在一個實施例中，此類測試對于測試新興存儲器設計可能特別有用。例如，存儲器設計諸如WI02（從JEDEC（聯(lián)合電子裝置工程委員會）可用的寬輸入/輸出版本2，JESD229，2011年12月）和HBM（從JEDEC可用的高帶寬存儲器，JESED235，2013年10月）DRAM設計或者具有寬I/O接口的其它存儲器裝置。此類裝置在裝置接口中具有大量信號線，并且生產(chǎn)此類裝置使用的制造技術的特征大小可導致實際上不能使用傳統(tǒng)直接接觸方法進行測試的裝置。例如，WI02包含高達八個64位數(shù)據(jù)通道，并且HBM包含高達八個128位數(shù)據(jù)通道。本文描述的測試可使存儲器裝置供應商/制造商在與HVM可兼容的生產(chǎn)測試中有效地篩查I/O缺陷。將理解，除了存儲器裝置設計，本文描述的測試可應用于用寬I/O接口設計的邏輯裝置和/或SOC（片上系統(tǒng)）。在一個實施例中，某些邏輯裝置和SOC被設計成與新興的寬接口存儲器裝置配對。從而，本文描述的測試提供了對于寬接口裝置的AC余量調(diào)整解決方案，沒有必要對于直接接觸測試方法探測裝置。所描述的AC余量調(diào)整可廣泛應用于任何I/O接口，并且不限于存儲器特定設計自己。

圖1是為間接I/O測試提供基于占空比的余量調(diào)整的系統(tǒng)的實施例的框圖。系統(tǒng)100包含讓I/O接口用基于占空比的定時余量調(diào)整進行測試的一個或多個測試中的裝置（DUT）130。測試中的裝置130可以是存儲器裝置，或者具有要間接測試的I/O接口的其它組件。測試中的裝置130的I/O接口可包含組織為信號組的多個信號線。在一個實施例中，測試中的裝置130是單獨的電路管芯。在一個實施例中，裝置可被測試，同時仍在一起作為半導體晶片（例如在分開和封裝之前）。

在一個實施例中，系統(tǒng)100在接口132的信號組的基礎上同時測量有效I/O定時眼余量。測試可通過制造自動測試設備（ATE）來提供以最小每信號組開銷同時測量所有信號組的I/O性能的能力。在一個實施例中，可同時測試在一個晶片探測器步進（例如一次128管芯）中接觸的所有測試中的裝置（例如所有DRAM管芯或其它裝置）。

系統(tǒng)100包含自動測試設備(ATE) 110，其表示測試設備或測試系統(tǒng)。測試系統(tǒng)可被理解為測試數(shù)據(jù)源，并且還有測試時鐘源。自動測試系統(tǒng)110包含控制器120，其表示執(zhí)行I/O測試的邏輯（硬件和/或軟件）?？刂破?20可生成測試數(shù)據(jù)和調(diào)制時鐘。在一個實施例中，控制器120包含設置122，其給在測試期間要使用的裝置130提供I/O的定時設置?？刂破?20控制的至少一個定時設置是時鐘信號的后沿的占空比。更改時鐘信號的占空比允許系統(tǒng)100將時鐘信號反向以生成調(diào)制的觸發(fā)沿。在一個實施例中，自動測試設備生成反向信號，并向測試中的裝置130發(fā)送反向的和非反向的時鐘信號。在一個實施例中，測試中的裝置130根據(jù)從控制器120接收的非反向時鐘信號生成反向時鐘信號。通過改變I/O定時參數(shù)（設置122），系統(tǒng)100可確定I/O的恰當眼大小。在一個實施例中，設置122包含用于傳送(TxClk)時鐘和接收(RxClk)時鐘的設置，它們二者都能具有非反向和反向信號。TxClk可被稱為發(fā)動時鐘，并且RxClk可被稱為捕獲時鐘。在一個實施例中，設置122設置TxClk與RxClk之間的定時，或者一個時鐘信號相對另一個的偏斜位置。

控制器120包含信號生成器124，其生成測試數(shù)據(jù)以提供給一個或多個測試中的裝置130。信號生成器124可生成測試數(shù)據(jù)序列，其包含測試正在測試的信號線的I/O性能的具體位或位模式。測試數(shù)據(jù)序列可以是數(shù)十位長 ，或者數(shù)千位長。在一個實施例中，控制器120在多個測試迭代上每次發(fā)送相同的測試數(shù)據(jù)序列模式，其中每個測試迭代測試不同的定時測試122。在一個實施例中，控制器120在每個測試迭代結束時發(fā)送單個查詢，以從每個信號組和/或每個裝置130接收通過/失敗指示或通過/失敗結果。

如上面所提到的，控制器120生成由選通信號126表示的非反向時鐘信號。在一個實施例中，控制器120還生成反向選通128。選通信號或多個信號與數(shù)據(jù)一起發(fā)送到測試中的裝置130。在一個實施例中，預期由自動測試設備110的控制器120提供的時鐘信號具有固有的余量放置準確性錯誤。在一個實施例中，當測試數(shù)據(jù)序列基于在廣泛的數(shù)據(jù)上掃描兩個時鐘之間的偏斜并測量有效數(shù)據(jù)眼大小時，TxClk或RxClk的定時余量放置準確性不是與環(huán)回測試電路性能相關的因素。放置準確性錯誤從而可與設置無關，因為測試仍能準確測量I/O的信號組數(shù)據(jù)有效眼的寬度，代替特定的定時放置。

在一個實施例中，動態(tài)調(diào)整用于TxClk的選通信號的占空比。通過調(diào)整時鐘的后沿，將不會對用于傳送的觸發(fā)有任何影響。然而，通過對于RxClk使用反向選通信號，占空比的改變將調(diào)制接收時鐘的前沿，其將相對于TxClk動態(tài)調(diào)整RxClk的沿放置。從而，系統(tǒng)100可控制時鐘信號相對彼此的偏斜，并使用相對偏移對于眼寬進行測試。在一個實施例中，控制器120可使用不同沿放置分辨率來改變不同設置122的步長上的差異。粗略RxClk沿放置步長限制眼寬測量的分辨率。精細分辨率步長導致更多測試迭代和更長測試時間，但改進了眼寬測量的準確性。對于一些裝置130，相對粗略的分辨率可提供充足眼寬測量。對于其它裝置（諸如某些DRAM），裝置130可具有需要精細分辨率的小性能余量。從而，系統(tǒng)100的不同實施例例如可用8個不同的偏斜設置來測量眼寬大小余量，而其它的可用16個或更多不同的偏斜設置來測量。時鐘抖動也可減少測量的數(shù)據(jù)有效眼寬。抖動源包含從控制器120遞送到裝置130的時鐘中的抖動，以及在裝置130內(nèi)的內(nèi)部路由中添加的抖動。恰當?shù)臏y試電路設計和裝置布局可減少抖動。

裝置130包含接口132，其指的是要測試的I/O。在一個實施例中，測試中的裝置根據(jù)從控制器120接收的選通信號126生成反向選通134，代替讓自動測試設備110生成反向時鐘信號。將理解，此類實現(xiàn)在測試中的裝置上將需要附加邏輯。裝置130還包含測試邏輯136，其表示在每個測試中的裝置中執(zhí)行錯誤檢測的一個或多個邏輯電路。錯誤檢測使裝置能夠確定I/O接口132是否正確操作。在一個實施例中，裝置130報告在測試序列或測試迭代期間檢測的錯誤數(shù)量和/或通過數(shù)量。自動測試設備110然后可確定由該組或裝置提供的測試結構是指示測試通過還是失敗。

用由信號生成器124生成的測試數(shù)據(jù)、由選通信號126提供的時鐘信號、由反向選通128和/或反向選通134提供的反向時鐘信號以及測試邏輯136，系統(tǒng)100可對于AC定時缺陷進行測試，無需直接連接或由自動測試設備110直接探測測試中的裝置130。設置122使系統(tǒng)能夠提供定時余量調(diào)整，不需要在測試中的裝置130上的管芯上延遲鎖定環(huán)（DLL）或相位鎖定環(huán)（PLL）。此外，在一個實施例中，如果定時測試由兩個受控時鐘信號（如上面所描述的TxClk和RxClk）之間的相對偏移提供，則系統(tǒng)100不需要延遲線，或者補償或者未補償。從而，系統(tǒng)100中的I/0測試可用比傳統(tǒng)測試更低的成本和更低的功率實現(xiàn)。

圖2是為I/O測試提供基于占空比的余量調(diào)整的系統(tǒng)的實施例的框圖，其中測試中的裝置生成反向調(diào)制時鐘信號。系統(tǒng)200可以是圖1的系統(tǒng)100的元件的一個示例，并提供在測試中的裝置內(nèi)使用的時鐘和數(shù)據(jù)分布的細節(jié)的一個實施例。在系統(tǒng)200中的測試基于引起AC定時余量損失的大多數(shù)缺陷可用鏈接的驅動器/接收器環(huán)回連接測量的假定。將理解，此類假定可能不是對于所有測試中的裝置都有效。從而，系統(tǒng)200圖示了不一定在每個系統(tǒng)實現(xiàn)中都存在的某些特定示例 。此類環(huán)回配置可與雙向I/O端口很好地工作。在用于測試單向I/O端口的實施例中，或者接收器或者傳送器可以是用于測試的虛假電路，并且然后對于操作禁用。在一個實施例中，系統(tǒng)的配置包含用于每個單獨I/O緩沖器（信號線或I/O端口）的錯誤檢測機制，并且對于每個信號線組，具有報告回積累結果的關聯(lián)的組錯誤檢測機制。將理解，在系統(tǒng)200中表示的特定錯誤檢測邏輯可由其它檢測邏輯替代。

在一個實施例中，測試系統(tǒng)觸發(fā)測試模式，并且包含Bit[0]至Bit[N-l]的測試中的電路裝置響應于觸發(fā)而進入測試模式。在一個實施例中，進入測試模式的部分包含重置計數(shù)器和/或其它測試組件。源模式生成器210是生成測試數(shù)據(jù)的測試源。在一個實施例中，測試數(shù)據(jù)可被稱為測試數(shù)據(jù)字，其指的是要施加到I/O進行測試的測試數(shù)據(jù)位的模式或序列。在一個實施例中，測試數(shù)據(jù)包含來自LSFR（線性反饋移位寄存器）的輸出以產(chǎn)生測試模式。系統(tǒng)200將測試數(shù)據(jù)分布到多個不同信號組202，并且可將測試信號分布到多個不同的測試中的裝置。每個裝置和每個信號組都接收信號，并將通過/失敗信息報告回測試系統(tǒng)。

測試系統(tǒng)還用選通生成器220生成選通信號。在一個實施例中，測試系統(tǒng)生成發(fā)動時鐘信號（TxClk，非反向時鐘信號）和捕獲時鐘信號（RxClk，從非反向時鐘反向的）。在一個實施例中，測試系統(tǒng)僅生成TxClk，并且測試中的裝置用時鐘邏輯(CLK)230從TxClk中生成RxClk。測試系統(tǒng)通過調(diào)整選通的占空比來調(diào)制TxClk的后沿。將理解，調(diào)制信號的后沿不會影響傳送時鐘，其在時鐘的前沿觸發(fā)。然而，調(diào)制后沿并且然后將時鐘信號反向導致調(diào)制RxClk的前沿。在一個實施例中，時鐘信號經(jīng)由時鐘邏輯230從測試系統(tǒng)分布并路由到相應信號組和電路組件，無需考慮嚴格控制的偏斜或飛行時間。

在一個實施例中，測試系統(tǒng)將生成多個測試迭代以測量有效的眼寬，并且從而將通過各種不同的I/O定時設置進行迭代。更具體地說，測試系統(tǒng)向選通生成器220施加不同的占空比，以用更快或更慢的后沿產(chǎn)生TxClk。在一個實施例中，測試系統(tǒng)生成等于要用于以期望的分辨率測試I/O眼寬的占空比步驟的數(shù)量的測試迭代的數(shù)量。測試迭代是指使用給定定時設置或占空比發(fā)送到信號組或由信號組接收的數(shù)據(jù)字的幾個循環(huán)或許多循環(huán)。對占空比的改變調(diào)整TxClk與RxClk之間的偏斜設置，如在測試中的裝置所施加的。對于每個測試迭代，測試系統(tǒng)可設置具體定時設置，并重置錯誤跟蹤組件。在一個實施例中，信號組中的所有信號必須對于被視為對于測試迭代已經(jīng)通過的該測試迭代的所有循環(huán)都正確地接收數(shù)據(jù)。

測試中的裝置被顯示成在系統(tǒng)200中詳述的信號組202中具有N位或N個管腳。N可以是共享時鐘信號的任何數(shù)量的信號線。將理解，由信號組共享的時鐘信號不直接是由測試設備生成的選通，而是指在裝置上用于操作信號線的時鐘或定時信號，其來自由測試系統(tǒng)生成的選通信號。差別指出，不同的位或信號線可操作在不同的絕對相位延遲上，但此類延遲應該被同樣施加到TxClk和RxClk，這意味著兩個時鐘之間的相對偏斜保持基本上恒定。在一個實施例中，并不是接口內(nèi)的每個信號組都具有相同數(shù)量的信號線。例如，所圖示的信號組是其一部分的測試中的裝置的接口可具有包含N+M位或N-M位的信號組，其中M是小于N的某一其它整數(shù)。在相同接口的兩個信號組具有不同位數(shù)的實現(xiàn)中，系統(tǒng)可分布來自生成器210的適當數(shù)量的信號以匹配信號組中的位數(shù)。

在一個實施例中，信號組的每一位都與由I/O緩沖器邏輯240示出的I/O緩沖器關聯(lián)。在一個實施例中，緩沖器240是標準I/O緩沖器，意味著不一定存在I/O緩沖器邏輯執(zhí)行本文描述的測試所需的任何改變。如系統(tǒng)200中所示，緩沖器240的一個實施例在接收鎖存器242接收測試信號，并且緩沖從鎖存器242的輸出經(jīng)由放大器244到焊盤(pad)250的信號。焊盤250備選地可被稱為管腳或通過信號線將內(nèi)部邏輯與外部裝置對接的其它硬件元件。如在測試模式中所配置的，緩沖器240可在環(huán)回配置中，其中焊盤250通過將位通過放大器246發(fā)送到鎖存器248來提供作為輸出接收的位。如所圖示的，TxClk觸發(fā)鎖存器242的操作，并且RxClk觸發(fā)鎖存器248的操作。在一個實施例中，測試數(shù)據(jù)的每個新循環(huán)或位用TxClk上升沿的上升沿發(fā)動，而該位的數(shù)據(jù)捕獲用RxClk的上升沿觸發(fā)。

用于測試的鎖存器248的輸出可被輸出到異或門270。在一個實施例中，在異或門270將鎖存器248的輸出與從生成器210所接收的傳入位進行比較。將理解到，管理在異或門270的比較的定時對得到恰當?shù)恼`差檢測是重要的。鎖存器262和266可保證測試的定時以確保從焊盤250讀的位相對對應的傳入位進行測試。如所看到的，鎖存器262由TxClk觸發(fā)以將其輸出饋送到鎖存器266的輸入。鎖存器266又由RxClk觸發(fā)以將其輸出饋送到異或門270，其應該保證正確的位被鎖存到異或門270，以與接收器/驅動器環(huán)回的位進行比較。位[0]至[N-l]中的每個都包含類似的信號線錯誤檢測機制以確定每個特定I/O緩沖器是否正確接收了測試數(shù)據(jù)位。所有信號線的異或門都饋送到組邏輯280中。從而，信號線組中的任何信號線上的任何錯誤都應該在組邏輯280觸發(fā)錯誤，組邏輯280可包含邏輯塊以及計數(shù)器以檢測并積累通過/失敗信息。在一個實施例中，組邏輯280可積累通過/失敗信息，并且從而允許在測試迭代之后將通過/失敗信息返回到測試系統(tǒng)，代替需要在每個循環(huán)都向測試系統(tǒng)識別通過/失敗條件。

在一個實施例中，系統(tǒng)200在鎖存器262與鎖存器266之間施加延遲264。在一個實施例中，延遲264可有選擇地施加。例如，在一個實施例中，測試首先檢測數(shù)據(jù)眼的后沿，沒有使用延遲264，并且然后用延遲264測試眼的前沿。下面提供相對于測試I/O眼寬的前沿和后沿的更多細節(jié)。

圖3是給I/O接口測試的基于占空比的余量調(diào)整提供不同定時設置的系統(tǒng)的實施例的時序圖表示。圖解300可以是按照系統(tǒng)100和/或 系統(tǒng)200的信號的定時的一個示例。圖解300圖示了系統(tǒng)時鐘信號Clk 310、測試數(shù)據(jù)340以及選通信號上的占空比調(diào)制的不同等級的時鐘信號的相對定時。將理解，相對定時為了說明的目的圖示，并不一定按比例顯示，并且從而不一定代表真實系統(tǒng)的實際相對定時。測試數(shù)據(jù)340在圖解300中被圖示為整個時鐘周期范圍。在使用雙數(shù)據(jù)速率的實施例中（諸如在圖4中），將存在每半個時鐘周期一個數(shù)據(jù)位。

時鐘信號310用于比較以指出占空比與TxClk的后沿的差異。在一個實施例中，測試系統(tǒng)發(fā)送TxClk，但不發(fā)送系統(tǒng)時鐘310。在圖解300中，存在兩個版本TxClk，TxClk最短320和TxClk最長350。這兩個時鐘信號分別對應于RxClk最早330和RxClk最晚360。將觀察到，RxClk是TxClk的反向版本。從而，TxClk可以是非反向選通信號，并且RxClk是反向選通信號。為了說明的目的，在同一圖解300上關于測試數(shù)據(jù)示出了TxClk最短320和TxClk最長350，但通常它們不會在單獨信號線上一起發(fā)送（與從圖解300中可能顯現(xiàn)的相反）。

如所圖示的，測試系統(tǒng)基于TxClk發(fā)送數(shù)據(jù)，如將測試數(shù)據(jù)340與TxClk最短320和TxClk最長350對齊所看到的。將觀察到，前沿（圖解300中的上升沿）在同一相對位置，但后沿來得更早（在TxClk最短320中）或更晚（在TxClk最長350中），這取決于施加到TxClk信號的占空比。在一個實施例中，對于總數(shù)是N的占空比變化，在信號320與350之間存在N-2個其它占空比變化。

測試系統(tǒng)基于TxClk發(fā)送數(shù)據(jù)，但將觀察到，在當發(fā)送TxClk（假定在系統(tǒng)時鐘310的前沿）時與當它觸發(fā)測試中的裝置內(nèi)的操作（如信號320和350的前沿所示出的）時之間存在一些傳播延遲(tProp)。將理解，tProp可比在圖解300中所描繪的更長或更短。傳播延遲是信號將分布在其上的路徑的函數(shù)。從而，tProp對于不同信號組將不同。然而，相同的延遲（或基本上相同的延遲）也應該施加到RxClk，并且從而系統(tǒng)可分別測量TxClk 320、350與RxClk 330、360之間的差。測試數(shù)據(jù)340表示在I/O緩沖器的焊盤處的數(shù)據(jù)信號。從當起初從測試系統(tǒng)發(fā)送TxClk（如時鐘310所示）時的延遲tProp指示直到在I/O緩沖器看到測試數(shù)據(jù)信號340的時間。

首先參考信號TxClk 350 (TxClk最長)和RxClk 360 (RxClk最晚)，在測試數(shù)據(jù)340的前一位的左沿與RxClk 360的前沿之間存在設立時間tSetup。設立時間是測試中的裝置需要能夠檢測到下一數(shù)據(jù)位的觸發(fā)沿的數(shù)據(jù)位之間的最小時間量。在圖解300中，當TxClk 350的占空比被調(diào)整成更小時，RxClk 360的前沿將相稱地來得更早。從而，RxClk 360的前沿在圖解300中將朝數(shù)據(jù)B的左沿左移。通過調(diào)整選通信號的占空比，測試系統(tǒng)可搜索數(shù)據(jù)B的左沿（眼寬的左沿）。

參考信號TxClk 320 (TxClk最短)和RxClk 330 (RxClk最早)，在測試數(shù)據(jù)340的左沿與RxClk 330的前沿之間存在保持時間tHold。保持時間是數(shù)據(jù)必須存在以便測試中的裝置執(zhí)行恰當?shù)臄?shù)據(jù)捕獲的最小時間量。當TxClk 320的占空比被調(diào)整成更大時，RxClk 330的前沿將相稱地來得更晚。從而，RxClk 330的前沿在圖解300中將朝數(shù)據(jù)A的右沿右移。通過調(diào)整選通信號的占空比，測試系統(tǒng)可搜索數(shù)據(jù)A的右沿（眼寬的右沿）。

傳統(tǒng)眼寬測試使用左失敗和右失敗方法論來檢測眼寬沿。傳統(tǒng)測試用第一失敗方法論或搜索確定左沿，或者用全失敗方法論或搜索確定右沿。對應于圖解300的測試系統(tǒng)將全通過方法論或搜索用于眼的左沿（設立時間或設立參數(shù)違反）。對應于圖解300的測試系統(tǒng)將第一失敗用于眼的右沿（保持時間或保持參數(shù)違反）。將觀察到，最后RxClk沿(RxClk 360)用于測試數(shù)據(jù)B的左沿，而最早RxClk沿(RxClk 330)用于測試數(shù)據(jù)A的右沿。從而，在一個實施例中，系統(tǒng)將需要適當使用延遲來比較右數(shù)據(jù)位與正在測試的位。

圖4是用基于占空比的余量調(diào)整測試保持時間的實施例的時序圖表示。圖解400可以是按照系統(tǒng)100和/或系統(tǒng)200的信號的定時的一個示例。圖解400圖示了相對定時，其不一定按比例顯示，但打算為了描述目的。傳送數(shù)據(jù)和接收數(shù)據(jù)被顯示為半時鐘周期，其中交疊的互補（complementary）時鐘信號的前沿用于觸發(fā)不同的數(shù)據(jù)位信號。

定時信號被顯示為差分信號，并且從而定時信號具有互補（complement）。系統(tǒng)時鐘信號被圖示為時鐘信號412(Clk_t)以及其互補信號414(Clk_c)。時鐘信號差分對(412,414)可以是由測試系統(tǒng)用于向測試中的裝置發(fā)送數(shù)據(jù)的時鐘。時鐘信號可被稱為外部參考時鐘，指的是相對于測試中的裝置的外部。存在時鐘信號(412,414)與傳送數(shù)據(jù)(Tx DQ)420之間的傳播延遲以及時鐘信號與接收數(shù)據(jù)(Rx DQ)440之間的傳播延遲。Tx DQ 420與傳送時鐘差分對信號432(Tx DQS_t)和434 (Tx DQS_c)沿對齊。將觀察到，信號432和434實質(zhì)上是外部參考時鐘412和414的副本。

在一個實施例中，余量調(diào)整或定時搜索全都在前向方向執(zhí)行；從而，如在圖解400中所圖示的保持時間余量證實（validation）可在如在圖5的圖解500中所圖示的設立時間余量證實之前執(zhí)行。在設立時間余量證實之前執(zhí)行保持時間余量證實可節(jié)省測試時間。一般而言，測試調(diào)制輸入?yún)⒖嫉恼伎毡?，并將要在接收器裝置使用的捕獲選通反向，其可操縱傳入的數(shù)據(jù)與選通的相位關系。在圖解400的實施例中，時鐘信號的上升沿是前沿或觸發(fā)沿。

在圖解400中，Tx DQS_t 432將其上升沿與數(shù)據(jù)A和數(shù)據(jù)C的左沿對齊。類似地，Tx DQS_c 434將其上升沿與數(shù)據(jù)B和數(shù)據(jù)D的左沿對齊。圖解400用多個不同線表示時鐘Tx DQS_t 432和Tx DQS_c 434的下降沿。多個不同線表示不同的占空比設置，并且因此還有時鐘下降沿的調(diào)制。為了清晰起見，在圖解400中，時鐘信號以最小占空比用實線示出，并且附加線是虛線以表示一次使用一個占空比設置，并且附加占空比設置用于其它測試迭代。

將觀察到，Rx DQS_t 452和Rx DQS_c 454分別是 Tx DQS_t 432和Tx DQS_c 434的反向版本。像這樣，Rx DQS_t 452和Rx DQS_c 454將它們的上升沿調(diào)制了，并且具有固定的下降沿。還將觀察到，雖然Tx時鐘的上升沿與它們的相應數(shù)據(jù)位的左沿對齊，但Rx時鐘的已調(diào)制上升沿與數(shù)據(jù)位的右沿（保持側）更緊密地對齊。從而，Rx DQS_t 452具有接近數(shù)據(jù)A和數(shù)據(jù)C的右沿的上升沿，并且Rx DQS_c 454由于反向而具有接近數(shù)據(jù)B和數(shù)據(jù)D的右沿的上升沿。

在一個實施例中，與圖解400關聯(lián)的系統(tǒng)將在其最低值發(fā)起時鐘信號的占空比，并在各種測試迭代上增大。對應地，反向時鐘首先對Rx DQ 440的保持時間余量采樣。占空比應該在它確保滿足數(shù)據(jù)的設立時間的點開始。增大占空比將Rx DQS時鐘的上升沿推得更靠近數(shù)據(jù)位的右沿。將理解，增大占空比并將時鐘反向可在眼測量上提供更好的分辨率和精確度。如果系統(tǒng)嘗試將占空比降低到足夠小的脈沖以實現(xiàn)期望的眼測量分辨率，則它可能通過變得太小而不能在高速I/O設置中保持可靠而實際上負面影響分辨率。相比之下，增大占空比并將信號反向導致更精確的測量信號。

在一個實施例中，測試系統(tǒng)對于每個占空比設置確定在任何I/O端口或信號線是否存在失敗。如果接收的數(shù)據(jù)匹配預期的數(shù)據(jù)，則測試系統(tǒng)可增大占空比，再次執(zhí)行測試。在一個實施例中，在信號組上執(zhí)行測試，其中一組信號線共享公共時鐘或選通信號。例如，在WI02，16 個DQ線共享一對互補DQS選通信號。在此類情形下，測試系統(tǒng)可配置成指示測試失敗，即便僅其中16個 DQ信號線之一使比較失敗。此類方法論可被稱為第一失敗，其中任何信號線（或者一組中的任何信號線或者裝置中的任何信號線）的任何失敗對于具體眼寬設置都失敗。測試系統(tǒng)可記錄用于余量計算的先前通過迭代中的占空比設置。將理解，所描述的測試不簡單地測量保持時間，而是可測量數(shù)據(jù)選通偏斜、時鐘和數(shù)據(jù)抖動、ISI（符號間干擾）（如果在通道上存在的話）、傳送器驅動的SSO（同時開關輸出）噪聲以及在管芯上的電路中和/或通道中存在的各種失配和非線性的組合影響。對保持時間余量的提及可以是指示眼右側上的余量的代理。

圖5是用基于占空比的余量調(diào)整測試設立時間的實施例的時序圖表示。圖解500可以是按照系統(tǒng)100和/或 系統(tǒng)200的信號的定時的一個示例。圖解500圖示了相對定時，其不一定按比例顯示，但打算為了描述目的。傳送數(shù)據(jù)和接收數(shù)據(jù)被顯示為半時鐘周期，其中交疊的互補時鐘信號的前沿用于觸發(fā)不同的數(shù)據(jù)位信號。在一個實施例中，圖解500是圖4圖解400的擴展，并且在使用較大占空比時的隨后時間可以是同一圖解。

在一個實施例中，參考圖解400描述的反向調(diào)制時鐘信號對于隨后的數(shù)據(jù)位可從測試保持時間余量切換到測試設立時間余量（例如，在測試數(shù)據(jù)A的右沿之后是數(shù)據(jù)B）。如上所述，在一個實施例中，可用第一失敗方法論搜索眼的右沿。將理解，在檢測到第一失敗之后繼續(xù)增大占空比將導致全失敗，或者所有信號線都登記失敗以恰當?shù)亟邮諟y試數(shù)據(jù)。繼續(xù)增大占空比然后可導致數(shù)據(jù)B上的設立時間的第一通過。測試系統(tǒng)可繼續(xù)增大占空比，直到所有信號線都指示通過迭代（意味著所有信號線都恰當?shù)亟邮盏綔y試數(shù)據(jù)）。與圖解400一樣，圖解500中的時鐘的上升沿被理解為觸發(fā)沿。

如所圖示的，圖解500示出了不同的定時信號以及它們的互補。系統(tǒng)時鐘信號被圖示為時鐘信號512(Clk_t)以及其互補信號514(Clk_c)。時鐘信號差分對(512,514)可以是由測試系統(tǒng)用于向測試中的裝置發(fā)送數(shù)據(jù)的時鐘。時鐘信號可被稱為外部參考時鐘，指的是相對于測試中的裝置的外部。存在時鐘信號(512,514)與傳送數(shù)據(jù)(Tx DQ)520之間的傳播延遲以及時鐘信號與接收數(shù)據(jù)(Rx DQ)540之間的傳播延遲。Tx DQ 520與傳送時鐘差分對信號532(Tx DQS_t)和534 (Tx DQS_c)沿對齊。將觀察到，信號532和534實質(zhì)上是外部參考時鐘512和514的副本。

在圖解500中，Tx DQS_t 532將其上升沿與數(shù)據(jù)A和數(shù)據(jù)C的左沿對齊。類似地，Tx DQS_c 534將其上升沿與數(shù)據(jù)B和數(shù)據(jù)D的左沿對齊。Tx DQS_t 532和Tx DQS_c 534通過調(diào)整時鐘信號的占空比進行調(diào)制。Rx DQS_t 552和Rx DQS_c 554分別是Tx DQS_t 532和Tx DQS_c 534的反向版本，并且已經(jīng)調(diào)制了上升沿。還將觀察到，圖解5中的Rx時鐘的上升沿與數(shù)據(jù)位的左沿對齊，但有一位偏移。從而，為了恰當?shù)夭东@和比較右數(shù)據(jù)位，測試系統(tǒng)可將延遲引入到測試邏輯中以考慮由占空比改變引起的移位。如所圖示的，Rx DQS_t 552具有接近數(shù)據(jù)B的左沿的上升沿，并且Rx DQS_c 554具有接近數(shù)據(jù)C的左沿的上升沿。

在一個實施例中，與圖解500關聯(lián)的系統(tǒng)將在各種測試迭代上增大時鐘的占空比。對應地，反向時鐘將繼續(xù)向右移位。像這樣，Rx時鐘首先預期記錄所有失敗條件，其中所有信號線都違反設立時間參數(shù)。最后，在測試的多個迭代上，預期對于所有信號線（全通過條件）都將滿足設立時間參數(shù)。

從而，圖解500可以是用于設立時間或左側眼余量證實的定時搜索的一個示例。在一個實施例中，數(shù)據(jù)A的保持時間證實的失敗點（例如，如圖解400中所示的）被用作數(shù)據(jù)B的設立時間余量證實的開始點。系統(tǒng)可記錄導致識別眼的左沿的全通條件的占空比。雖然圖解400和500不一定圖示，但已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，其中增大占空比以對于保持時間違反然后還有設立時間違反進行測試的所描述的測試可減小需要使用的占空比的范圍。此類測試過程不需要對整個數(shù)據(jù)位進行采樣以檢測數(shù)據(jù)位上的設立時間到同一數(shù)據(jù)位的保持時間。相反，系統(tǒng)可簡單地從剛好在一個數(shù)據(jù)位的右有效沿到隨后數(shù)據(jù)位的左有效沿之間的亞穩(wěn)態(tài)窗口之前或剛好在其之后測量。

圖6是用于間接I/O接口測試的過程的實施例的流程圖。測試系統(tǒng)執(zhí)行用于一次在一個或多個裝置上進行I/O測試、測試裝置I/O接口的信號線的過程600。制造商制造裝置602，并在裝置604上執(zhí)行I/O接口測試。I/O接口測試可僅是制造商執(zhí)行的多個測試中的一個。

在一個實施例中，測試系統(tǒng)進入測試模式，并觸發(fā)測試中的裝置進入測試模式，606。進入測試模式可包含重置在測試期間用于跟蹤通過/失敗信息的測試計數(shù)器。測試系統(tǒng)生成測試信號以施加到測試中的裝置的信號線，608。測試信號可以是打算測試I/O接口的I/O緩沖器/信號線的功能的一個或多個數(shù)據(jù)字或位序列。

在一個實施例中，測試系統(tǒng)對于具體測試迭代測試I/O定時參數(shù)，610。測試系統(tǒng)生成具體定時設置的選通信號，作為所生成的測試信號的測試數(shù)據(jù)的時鐘，612。在一個實施例中，測試系統(tǒng)生成選通信號（例如數(shù)據(jù)選通）及其差分信號的互補。測試系統(tǒng)通過調(diào)整選通信號的占空比來調(diào)制選通信號的后沿，614。在一個實施例中，設置I/O定時參數(shù)與設置選通信號的調(diào)制相同。測試系統(tǒng)將調(diào)制的選通信號反向，以產(chǎn)生反向和非反向選通信號，616。在一個實施例中，測試系統(tǒng)生成差分非反向選通信號和差分反向選通信號。在一個實施例中，測試控制器生成反向選通信號，并將它發(fā)送到測試中的裝置。在一個實施例中，測試中的裝置根據(jù)非反向選通信號生成反向選通信號。在一個實施例中，選通信號被施加到測試中的裝置中的邏輯裝置的反向時鐘輸入。

在一個實施例中，測試系統(tǒng)執(zhí)行多個測試迭代，并對于每個占空比設置循環(huán)通過多個測試循環(huán)。測試系統(tǒng)提供測試信號，每個測試中的裝置都將測試信號分布到I/O接口的一個或多個信號組以施加到接口的信號線，618。測試系統(tǒng)還發(fā)送一個或多個選通信號以便測試中的裝置使用。選通信號允許測試中的裝置（一個或多個）生成通過I/O接口接收的測試數(shù)據(jù)的通過/失敗信息，以使測試系統(tǒng)能夠確定有效的I/O眼寬。

在一個實施例中，測試包含I/O環(huán)回測試。在此類實施例中，每個信號線都施加非反向選通信號以向接口寫測試數(shù)據(jù)，620，并施加反向選通信號以從接口讀測試數(shù)據(jù)，622。每個信號線都使用錯誤檢測來對于每個I/O緩沖器確定是否正確接收到信號位或信號循環(huán)，或者是否存在I/O錯誤，624。在一個實施例中，測試系統(tǒng)積累通過/失敗信息，諸如以確定全通條件或第一失敗條件。 在迭代結束時，測試系統(tǒng)將施加不同的測試設置，以向選通信號施加不同的占空比。當已經(jīng)施加了所有測試設置時，完成測試。從而，如果測試的最后一個迭代已經(jīng)到達，626否分支，則測試系統(tǒng)退出測試模式，并觸發(fā)測試中的裝置（一個或多個）退出測試模式。測試系統(tǒng)然后可確定來自由測試中的裝置（一個或多個）提供的通過/失敗信息的測試結果。如果有更多設置施加了，626是分支，則測試系統(tǒng)設置新I/O定時參數(shù)，并執(zhí)行另一測試迭代，610。

圖7是可實現(xiàn)基于占空比的余量調(diào)整的計算系統(tǒng)的實施例的框圖。系統(tǒng)700表示按照本文描述的任何實施例的計算裝置，并且可以是膝上型計算機、臺式計算機、服務器、游戲或娛樂控制系統(tǒng)、掃描儀、復印機、打印機、路由或交換裝置或其它電子裝置。系統(tǒng)700包含處理器720，其提供系統(tǒng)700的處理、操作管理和指令執(zhí)行。處理器720可包含任何類型的微處理器、中央處理單元（CPU）、處理核或其它處理硬件以提供系統(tǒng)700的處理。處理器720控制系統(tǒng)700的總體操作，并且可以是或包含一個或多個可編程通用或專用微處理器、數(shù)字信號處理器（DSP）、可編程控制器、專用集成電路（ASIC）、可編程邏輯器件（PLD）等或此類器件的組合。

存儲器子系統(tǒng)730表示系統(tǒng)700的主存儲器，并且提供要由處理器720執(zhí)行的代碼或者在執(zhí)行例程時要使用的數(shù)據(jù)值的暫時存儲。存儲器子系統(tǒng)730可包含一個或多個存儲器裝置，諸如只讀存儲器（ROM）、閃存、一種或多種隨機存取存儲器（RAM）或其它存儲器裝置或此類器件的組合。存儲器子系統(tǒng)730除了其它事項外還存儲和托管操作系統(tǒng)（OS）736，以提供軟件平臺以便在系統(tǒng)700中執(zhí)行指令。此外，從存儲器子系統(tǒng)730存儲和執(zhí)行其它指令738以提供系統(tǒng)700的邏輯和處理。OS 736和指令738由處理器720執(zhí)行。存儲器子系統(tǒng)730包含存儲器裝置732，其中它存儲數(shù)據(jù)、指令、程序或其它項目。 在一個實施例中，存儲器子系統(tǒng)包含存儲器控制器734，其是生成命令并向存儲器裝置732發(fā)出命令的存儲器控制器。將理解到，存儲器控制器734可能是處理器720的物理部分。

處理器720和存儲器子系統(tǒng)730耦合到總線/總線系統(tǒng)710?？偩€710是表示任一個或多個單獨物理總線、通信線/接口和/或通過適當橋、適配器和/或控制器連接的點對點連接的抽象。因此，總線710例如可包含系統(tǒng)總線、外圍組件互連（PCI）總線、超傳輸或工業(yè)標準架構（ISA）總線、小計算機系統(tǒng)接口（SCSI）總線、通用串行總線（USB）或電氣與電子工程師協(xié)會（IEEE）標準1394總線（統(tǒng)稱為“火線”）中的一個或多個?？偩€710的總線也可對應于網(wǎng)絡接口750中的接口。

系統(tǒng)700還包含一個或多個輸入/輸出（I/O）接口740、網(wǎng)絡接口750、一個或多個內(nèi)部大容量存儲裝置760以及耦合到總線710的外圍接口770。I/O接口740可包含一個或多個接口組件，通過其用戶與系統(tǒng)700交互作用（例如視頻、音頻和/或字母數(shù)字接口）。網(wǎng)絡接口750給系統(tǒng)700提供了通過一個或多個網(wǎng)絡與遠程裝置（例如服務器、其它計算裝置）通信的能力。網(wǎng)絡接口750可包含以太網(wǎng)適配器、無線互連組件、USB（通用串行總線）或其它基于有線或無線標準的接口或專有接口。

存儲裝置760可以是或包含用于以非易失性方式存儲大量數(shù)據(jù)的任何常規(guī)介質(zhì)，諸如一個或多個基于磁、固態(tài)或光的盤或組合。存儲裝置760以永久狀態(tài)保存代碼或指令和數(shù)據(jù)762（即，該值被保留，不管是否對系統(tǒng)700中斷電力）。存儲裝置760一般可被視為“存儲器”，不過存儲器730是向處理器720提供指令的執(zhí)行或操作存儲器。鑒于存儲裝置760是非易失性的，存儲器730可包含易失性存儲器（即，如果對系統(tǒng)700中斷電力，則數(shù)據(jù)的值或狀態(tài)是不確定的）。

外圍接口770可包含上面未明確提到的任何硬件接口。外圍一般指的是相關地連接到系統(tǒng)700的裝置 。相關連接是系統(tǒng)700提供在其上執(zhí)行操作并且用戶與其交互作用的軟件和/或硬件平臺的連接。

在一個實施例中，系統(tǒng)700的一個或多個電路組件包含I/O接口，這些接口在功能上用基于占空比的余量調(diào)整進行測試以確定恰當?shù)腎/O眼寬。在一個實施例中，系統(tǒng)700的元件被包含在與其它芯片并行測試的多芯片封裝或SOC中。在一個實施例中，組件由測試系統(tǒng)測試，測試系統(tǒng)生成反向調(diào)制的選通或時鐘信號以觸發(fā)接收操作，而在非反向選通或時鐘信號上觸發(fā)傳送操作。通過調(diào)整選通信號的占空比，相對選通信號的前沿（觸發(fā)沿）調(diào)整選通信號的后沿。通過將占空比調(diào)整的選通信號反向，測試產(chǎn)生反向選通信號，其中前沿（觸發(fā)沿）通過占空比的改變對選通信號的后沿進行調(diào)制。調(diào)制的觸發(fā)沿可提供更精確的測試信號。在一個實施例中，接口測試包含在信號組中測試I/O接口，其中每個信號組積累通過/失敗信息以發(fā)送到測試系統(tǒng)（未示出）。

圖8是可實現(xiàn)基于占空比的余量調(diào)整的移動裝置的實施例的框圖。裝置800表示移動計算裝置，諸如計算平板、移動電話或智能電話、無線啟用的e閱讀器、可穿戴計算裝置或其它移動裝置。將理解到，一般示出了某些組件，并且在裝置800中并未示出此類裝置的全部組件。

裝置800包含處理器810，其執(zhí)行裝置800的初級處理操作。處理器810可包含一個或多個物理器件，諸如微處理器、應用處理器、微控制器、可編程邏輯器件或其它處理部件。由處理器810執(zhí)行的處理操作包含執(zhí)行應用和/或裝置功能的操作平臺或操作系統(tǒng)的執(zhí)行。處理操作包含與和人類用戶或其它裝置的I/O（輸入/輸出）相關的操作、與電力管理相關的操作和/或與將裝置800連接到另一裝置相關的操作。處理操作還可包含與音頻I/O和/或顯示器I/O相關的操作。

在一個實施例中，裝置800包含音頻子系統(tǒng)820，其表示與向計算裝置提供音頻功能關聯(lián)的硬件（例如音頻硬件和音頻電路）和軟件（例如驅動、編解碼器）組件。音頻功能可包含揚聲器和/或耳機輸出，以及麥克風輸入。用于此類功能的裝置可被集成到裝置800中，或連接到裝置800。在一個實施例中，用戶通過提供由處理器810接收和處理的音頻命令與裝置800交互作用。

顯示器子系統(tǒng)830表示為用戶提供視覺和/或觸覺顯示以與計算裝置交互作用的硬件（例如顯示器裝置）和軟件（例如驅動）。顯示器子系統(tǒng)830包含顯示器接口832，其包含用于向用戶提供顯示的具體屏幕或硬件裝置。在一個實施例中，顯示器接口832包含與處理器810分開的邏輯，以執(zhí)行與顯示器相關的至少一些處理。在一個實施例中，顯示器子系統(tǒng)830包含向用戶提供輸出和輸入的觸摸屏裝置。

I/O控制器840表示與和用戶交互作用相關的硬件裝置和軟件組件。I/O控制器840可操作以管理是音頻子系統(tǒng)820和/或顯示器子系統(tǒng)830的一部分的硬件。此外，I/O控制器840圖示了連接到裝置800的附加裝置的連接點，通過其用戶可能與系統(tǒng)交互作用。例如，可附連到裝置800的裝置可包含麥克風裝置、揚聲器或立體聲系統(tǒng)、視頻系統(tǒng)或其它顯示裝置、鍵盤或鍵區(qū)裝置或用于特定應用的其它I/O裝置（諸如讀卡器或其它裝置）。

如上面所提到的，I/O控制器840可與音頻子系統(tǒng)820和/或顯示器子系統(tǒng)830交互作用。例如，通過麥克風或其它音頻裝置的輸入可為裝置800的一個或多個應用或功能提供輸入或命令。此外，代替顯示輸出或除了顯示輸出，可提供音頻輸出。在另一示例中，如果顯示器子系統(tǒng)包含觸摸屏，則顯示裝置還充當輸入裝置，其可至少部分由I/O控制器840管理。可能在裝置800上還存在附加按鈕或開關以提供由I/O控制器840管理的I/O功能。

在一個實施例中，I/O控制器840管理諸如加速計、相機、光敏傳感器或其它環(huán)境傳感器、陀螺儀、全球定位系統(tǒng)（GPS）或可包含在裝置800中的其它硬件的裝置 。輸入可以是直接用戶交互作用的一部分，以及向系統(tǒng)提供環(huán)境輸入以影響其操作（諸如對于噪聲濾波、對于亮度檢測調(diào)整顯示器、施加相機的閃光或其它特征）。在一個實施例中，裝置800包含管理電池電力使用情況的電力管理850，以及與節(jié)電操作相關的特征。

存儲器子系統(tǒng)860包含用于將信息存儲在裝置800中的存儲器裝置862。存儲器子系統(tǒng)860可包含非易失性（如果到存儲器裝置的電力被中斷則狀態(tài)不改變）和/或易失性（如果到存儲器裝置的電力被中斷則狀態(tài)不確定）存儲器裝置。存儲器860可存儲應用數(shù)據(jù)、用戶數(shù)據(jù)、音樂、照片、文檔或其它數(shù)據(jù)，以及與系統(tǒng)800的應用和功能執(zhí)行相關的系統(tǒng)數(shù)據(jù)（不管是長期的還是暫時的）。在一個實施例中，存儲器子系統(tǒng)860包含存儲器控制器864（其也可被視為系統(tǒng)800的控制的一部分，并且可潛在地被視為處理器810的一部分）。存儲器控制器864包含調(diào)度器以生成命令并向存儲器裝置862發(fā)出命令。

連接性870包含硬件裝置（例如無線和/或有線連接器和通信硬件）和軟件組件（例如驅動、協(xié)議棧），以使裝置800能夠與外部裝置通信。外部裝置可以是單獨裝置，諸如其它計算裝置、無線接入點或基站以及諸如耳麥、打印機或其它裝置的外設。

連接性870可包含多個不同類型連接性。概括地說，裝置800圖示為具有蜂窩連接性872和無線連接性874。蜂窩連接性872一般指的是由無線載波提供的蜂窩網(wǎng)絡連接性，諸如經(jīng)由GSM（全球移動通信系統(tǒng)）或變形或衍生、CDMA（碼分多址）或變形或衍生、TDM（時分復用）或變形或衍生、LTE（長期演進-也稱為“4G”）或其它蜂窩蜂窩標準提供的連接性。無線連接性874指的是非蜂窩的無線連接性，并且可包含個域網(wǎng)（諸如藍牙）、局域網(wǎng)（諸如WiFi）和/或廣域網(wǎng)（諸如WiMax）或其它無線通信。無線通信指的是通過非固態(tài)介質(zhì)通過使用調(diào)制電磁輻射傳送數(shù)據(jù) 。有線通信通過固態(tài)通信介質(zhì)發(fā)生。

外圍連接880包含硬件接口和連接器以及軟件組件（例如驅動、協(xié)議棧）以進行外圍連接。將理解到，裝置800可能是到其它計算裝置的外圍裝置（“到”882），以及將外圍裝置（“從”884）連接到它。裝置800通常具有“對接”連接器以連接到其它計算裝置，諸如為了管理（例如下載和/或上載、改變、同步）裝置800上內(nèi)容的目的。此外，對接連接器可允許裝置800連接到某些外設，這些外設允許裝置800控制例如到試聽系統(tǒng)或其它系統(tǒng)的內(nèi)容輸出。

除了專有對接連接器或其它專有連接硬件，裝置800可經(jīng)由公共連接器或基于標準的連接器進行外圍連接880。公共類型可包含通用串行總線（USB）連接器（其可包含任何數(shù)量的不同硬件接口），顯示端口包含迷你顯示端口（MDP）、高清多媒體接口（HDMI）、火線或其它類型。

在一個實施例中，系統(tǒng)800的一個或多個電路組件包含I/O接口，這些接口在功能上用基于占空比的余量調(diào)整進行測試以確定恰當?shù)腎/O眼寬。在一個實施例中，系統(tǒng)800的元件被包含在與其它芯片并行測試的多芯片封裝或SOC中。在一個實施例中，組件由測試系統(tǒng)測試，測試系統(tǒng)生成反向調(diào)制的選通或時鐘信號以觸發(fā)接收操作，而在非反向選通或時鐘信號上觸發(fā)傳送操作。通過調(diào)整選通信號的占空比，相對選通信號的前沿（觸發(fā)沿）調(diào)整選通信號的后沿。通過將占空比調(diào)整的選通信號反向，測試產(chǎn)生反向選通信號，其中前沿（觸發(fā)沿）通過占空比的改變對選通信號的后沿進行調(diào)制。調(diào)制的觸發(fā)沿可提供更精確的測試信號。在一個實施例中，接口測試包含在信號組中測試I/O接口，其中每個信號組積累通過/失敗信息以發(fā)送到測試系統(tǒng)（未示出）。

在一個方面，一種用于測試I/O（輸入/輸出）接口的方法包含：生成選通信號作為時鐘信號以傳送和接收測試數(shù)據(jù)信號，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿；通過調(diào)整所述選通信號的占空比來調(diào)制所述選通信號的所述后沿；用調(diào)制的后沿將所述選通信號反向以生成反向選通信號，其中所述反向選通信號具有調(diào)制的觸發(fā)沿；在所述選通信號的所述觸發(fā)沿上觸發(fā)測試數(shù)據(jù)傳送；并在所述反向選通信號的所述觸發(fā)沿上觸發(fā)測試數(shù)據(jù)接收。

在一個實施例中，生成進一步包括生成雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號，并且其中調(diào)制所述選通信號的所述后沿進一步包括調(diào)制所述選通信號及其互補的所述后沿，并且其中將所述選通信號反向進一步包括生成反向互補選通信號。在一個實施例中，調(diào)制所述選通信號的所述后沿包括調(diào)整所述選通信號的占空比以調(diào)整測試數(shù)據(jù)傳送與測試數(shù)據(jù)接收之間的偏斜來調(diào)整I/O眼寬。在一個實施例中，調(diào)整所述占空比包括減小所述占空比以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使保持時間參數(shù)失敗。在一個實施例中，調(diào)整所述占空比包括增大所述占空比以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使設立時間參數(shù)失敗。在一個實施例中，所述方法進一步包括將數(shù)據(jù)捕獲偏移一延遲以測試設立時間參數(shù)。在一個實施例中，調(diào)整占空比包括調(diào)整I/O眼寬以對于第一失敗條件測試I/O眼的后沿。在一個實施例中，調(diào)整所述占空比包括調(diào)整所述I/O眼寬以對于全通過條件測試所述I/O眼的前沿。

在一個方面，一種具有要測試的I/O（輸入/輸出）接口的電路裝置包含：多個信號線，每個都對接到所述I/O接口的硬件I/O緩沖器，其中每一個所述信號線都從測試源接收分布到所述多個信號線的測試數(shù)據(jù)信號的位；硬件接口，選通信號作為所述測試數(shù)據(jù)信號的時鐘信號，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿，所述選通信號具有調(diào)整成調(diào)制所述選通信號的后沿的占空比；以及錯誤檢測邏輯，檢測由違反定時參數(shù)的I/O眼寬引起的I/O錯誤，包含比較預期數(shù)據(jù)位與基于所述選通信號的所述觸發(fā)沿寫到所述I/O緩沖器的以及基于具有調(diào)制的觸發(fā)沿的反向選通信號從所述I/O緩沖器讀的數(shù)據(jù)位，其中所述反向選通信號是接收的選通信號的反向版本。

在一個實施例中，選通信號包括雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號，并且其中選通信號的調(diào)制的后沿進一步包括選通信號及其互補的后沿。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯檢測由反向選通信號通過寫觸發(fā)與讀觸發(fā)之間的選擇的偏斜引起的I/O錯誤以設置I/O眼寬。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯基于來自具有減小的占空比的選通信號的反向選通信號對于保持時間參數(shù)違反進行測試，或者基于來自具有增大的占空比的選通信號的反向選通信號對于設立時間參數(shù)違反進行測試。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯進一步將數(shù)據(jù)捕獲偏移一延遲以測試設立時間參數(shù)。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯對于第一失敗條件測試I/O眼的后沿。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯對于全通過條件測試I/O眼的前沿。

在一個方面，一種具有要測試的硬件I/O（輸入/輸出）接口的系統(tǒng)包含：測試源，用于生成測試數(shù)據(jù)序列；半導體晶片，具有多個截然不同的電路管芯在所述晶片中處理，每個電路管芯包含多個信號線，每個信號線都對接到所述I/O接口的硬件I/O緩沖器，其中每一個信號線都從測試源接收分布到多個信號線的測試數(shù)據(jù)信號的位；硬件接口，選通信號作為所述測試數(shù)據(jù)信號的時鐘信號，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿，所述選通信號具有調(diào)整成調(diào)制所述選通信號的后沿的占空比；以及錯誤檢測邏輯，用于檢測由違反定時參數(shù)的I/O眼寬引起的I/O錯誤，包含比較預期數(shù)據(jù)位與基于所述選通信號的所述觸發(fā)沿寫到所述I/O緩沖器的以及基于具有調(diào)制的觸發(fā)沿的反向選通信號從所述I/O緩沖器讀的數(shù)據(jù)位，其中所述反向選通信號是接收的選通信號的反向版本；其中所述測試數(shù)據(jù)序列被分布到所述半導體晶片上的多個電路管芯上的信號線組，以同時間接測試所述多個電路管芯的所述I/O接口。

在一個實施例中，選通信號包括雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號，并且其中選通信號的調(diào)制的后沿進一步包括選通信號及其互補的后沿。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯檢測由反向選通信號通過寫觸發(fā)與讀觸發(fā)之間的選擇的偏斜引起的I/O錯誤以設置I/O眼寬。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯基于來自具有減小的占空比的選通信號的反向選通信號對于保持時間參數(shù)違反進行測試，或者基于來自具有增大的占空比的選通信號的反向選通信號對于設立時間參數(shù)違反進行測試。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯進一步將數(shù)據(jù)捕獲偏移一延遲以測試設立時間參數(shù)。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯對于第一失敗條件測試I/O眼的后沿。在一個實施例中，錯誤檢測邏輯對于全通過條件測試I/O眼的前沿。

在一個方面，一種制品包括計算機可讀存儲介質(zhì)，所述介質(zhì)具有內(nèi)容存儲在其上，所述內(nèi)容當運行時執(zhí)行用于測試I/O（輸入/輸出）接口的操作，包含：生成選通信號作為時鐘信號以傳送和接收測試數(shù)據(jù)信號，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿；通過調(diào)整所述選通信號的占空比來調(diào)制所述選通信號的所述后沿；用調(diào)制的后沿將所述選通信號反向以生成反向選通信號，其中所述反向選通信號具有調(diào)制的觸發(fā)沿；在所述選通信號的所述觸發(fā)沿上觸發(fā)測試數(shù)據(jù)傳送；并在所述反向選通信號的所述觸發(fā)沿上觸發(fā)測試數(shù)據(jù)接收。

在一個實施例中，用于生成的內(nèi)容進一步包括用于生成雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號的內(nèi)容，并且其中用于調(diào)制所述選通信號的所述后沿的內(nèi)容進一步包括用于調(diào)制所述選通信號及其互補的所述后沿的內(nèi)容，并且其中用于將所述選通信號反向的內(nèi)容進一步包括用于生成反向互補選通信號的內(nèi)容。在一個實施例中，用于調(diào)制所述選通信號的所述后沿的內(nèi)容包括用于調(diào)整選通信號的占空比以調(diào)整測試數(shù)據(jù)傳送與測試數(shù)據(jù)接收之間的偏斜來調(diào)整I/O眼寬的內(nèi)容。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的內(nèi)容包括用于減小占空比以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使保持時間參數(shù)失敗的內(nèi)容。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的內(nèi)容包括用于增大占空比以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使設立時間參數(shù)失敗的內(nèi)容。在一個實施例中，進一步包括用于將數(shù)據(jù)捕獲偏移一延遲以測試設立時間參數(shù)的內(nèi)容。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的內(nèi)容包括用于調(diào)整I/O眼寬以對于第一失敗條件測試I/O眼的后沿的內(nèi)容。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的內(nèi)容包括用于調(diào)整I/O眼寬以對于全通過條件測試I/O眼的前沿的內(nèi)容。

在一個方面，一種用于測試I/O（輸入/輸出）接口的設備包含：用于生成選通信號作為時鐘信號以傳送和接收測試數(shù)據(jù)信號的部件，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿；用于通過調(diào)整所述選通信號的占空比來調(diào)制所述選通信號的所述后沿的部件；用于用調(diào)制的后沿將所述選通信號反向以生成反向選通信號的部件，其中所述反向選通信號具有調(diào)制的觸發(fā)沿；用于在選通信號的觸發(fā)沿上觸發(fā)測試數(shù)據(jù)傳送的部件；以及用于在反向選通信號的觸發(fā)沿上觸發(fā)測試數(shù)據(jù)接收的部件。

在一個實施例中，用于生成的部件進一步包括用于生成雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號的部件，并且其中用于調(diào)制所述選通信號的所述后沿的部件進一步包括用于調(diào)制所述選通信號及其互補的所述后沿的部件，并且其中用于將所述選通信號反向的部件進一步包括用于生成反向互補選通信號的部件。在一個實施例中，用于調(diào)制所述選通信號的所述后沿的部件包括用于調(diào)整選通信號的占空比以調(diào)整測試數(shù)據(jù)傳送與測試數(shù)據(jù)接收之間的偏斜來調(diào)整I/O眼寬的部件。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的部件包括用于減小占空比以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使保持時間參數(shù)失敗的部件。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的部件包括用于增大占空比以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使設立時間參數(shù)失敗的部件。在一個實施例中，進一步包括用于將數(shù)據(jù)捕獲偏移一延遲以測試設立時間參數(shù)的部件。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的部件包括用于調(diào)整I/O眼寬以對于第一失敗條件測試I/O眼的后沿的部件。在一個實施例中，用于調(diào)整占空比的部件包括用于調(diào)整I/O眼寬以對于全通過條件測試I/O眼的前沿的部件。

在一個方面，一種用于測試I/O（輸入/輸出）接口的方法包含：在測試中的裝置從測試系統(tǒng)接收選通信號作為傳送和接收測試數(shù)據(jù)信號的時鐘信號，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿，所述選通信號具有調(diào)整成調(diào)制所述選通信號的后沿的占空比；將接收的選通信號反向以生成反向選通信號，其中所述反向選通信號具有調(diào)制的觸發(fā)沿；響應于所述選通信號的所述觸發(fā)沿而寫所述測試數(shù)據(jù)；并響應于所述反向選通信號的所述觸發(fā)沿而讀所寫的所述測試數(shù)據(jù)。

在一個實施例中，所述接收進一步包括接收雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號，并且其中將所述選通信號反向進一步包括生成反向互補選通信號。在一個實施例中，將接收的選通信號反向包括通過測試數(shù)據(jù)傳送與測試數(shù)據(jù)接收之間的選擇的偏斜生成反向選通信號以調(diào)整I/O眼寬。在一個實施例中，生成所述反向選通信號包括根據(jù)具有減小的占空比的選通信號生成所述反向選通信號以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使保持時間參數(shù)失敗。在一個實施例中，生成所述反向選通信號包括根據(jù)具有增大的占空比的選通信號生成所述反向選通信號以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使設立時間參數(shù)失敗。在一個實施例中，進一步包括通過在讀所寫的數(shù)據(jù)之前觸發(fā)延遲來使數(shù)據(jù)捕獲偏移以以測試所述設立時間參數(shù)。在一個實施例中，生成所述反向選通信號包括生成所述反向選通信號以調(diào)整所述I/O眼寬來對于第一失敗條件測試所述I/O眼的后沿。在一個實施例中，生成所述反向選通信號包括生成所述反向選通信號以調(diào)整所述I/O眼寬來對于全通過條件測試所述I/O眼的前沿。

在一個方面，一種制品包括計算機可讀存儲介質(zhì)，所述介質(zhì)具有內(nèi)容存儲在其上，所述內(nèi)容當運行時執(zhí)行用于測試I/O（輸入/輸出）接口的操作，包含： 在測試中的裝置從測試系統(tǒng)接收選通信號作為傳送和接收測試數(shù)據(jù)信號的時鐘信號，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿，所述選通信號具有調(diào)整成調(diào)制所述選通信號的后沿的占空比；將接收的選通信號反向以生成反向選通信號，其中所述反向選通信號具有調(diào)制的觸發(fā)沿；響應于所述選通信號的所述觸發(fā)沿而寫所述測試數(shù)據(jù)；并響應于所述反向選通信號的所述觸發(fā)沿而讀所述所寫的測試數(shù)據(jù)。

在一個實施例中，用于接收的內(nèi)容進一步包括用于接收雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號的內(nèi)容，并且其中用于將所述選通信號反向的內(nèi)容進一步包括用于生成反向互補選通信號的內(nèi)容。在一個實施例中，用于將接收的選通信號反向的內(nèi)容包括用于通過測試數(shù)據(jù)傳送與測試數(shù)據(jù)接收之間的選擇的偏斜生成反向選通信號以調(diào)整I/O眼寬的內(nèi)容。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的內(nèi)容包括用于根據(jù)具有減小的占空比的選通信號生成所述反向選通信號以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使保持時間參數(shù)失敗的內(nèi)容。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的內(nèi)容包括用于根據(jù)具有增大的占空比的選通信號生成所述反向選通信號以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使設立時間參數(shù)失敗的內(nèi)容。在一個實施例中，進一步包括用于通過在讀所寫的數(shù)據(jù)以測試所述設立時間參數(shù)之前觸發(fā)延遲來使數(shù)據(jù)捕獲偏移的內(nèi)容。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的內(nèi)容包括用于生成所述反向選通信號以調(diào)整所述I/O眼寬來對于第一失敗條件測試所述I/O眼的后沿的內(nèi)容。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的內(nèi)容包括用于生成所述反向選通信號以調(diào)整所述I/O眼寬來對于全通過條件測試所述I/O眼的前沿的內(nèi)容。

在一個方面，一種用于測試I/O（輸入/輸出）接口的設備包含：在測試中的裝置從測試系統(tǒng)接收選通信號作為傳送和接收測試數(shù)據(jù)信號的時鐘信號，所述選通信號具有觸發(fā)寫的觸發(fā)沿和后沿，所述選通信號具有調(diào)整成調(diào)制所述選通信號的后沿的占空比；將接收的選通信號反向以生成反向選通信號，其中所述反向選通信號具有調(diào)制的觸發(fā)沿； 響應于所述選通信號的所述觸發(fā)沿而寫所述測試數(shù)據(jù)；并響應于所述反向選通信號的所述觸發(fā)沿而讀所述所寫的測試數(shù)據(jù)。

在一個實施例中，用于接收的部件進一步包括用于接收雙數(shù)據(jù)速率裝置的差分選通信號的部件，并且其中用于將所述選通信號反向的部件進一步包括用于生成反向互補選通信號的部件。在一個實施例中，用于將接收的選通信號反向的部件包括用于通過測試數(shù)據(jù)傳送與測試數(shù)據(jù)接收之間的選擇的偏斜生成反向選通信號以調(diào)整I/O眼寬的部件。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的部件包括用于根據(jù)具有減小的占空比的選通信號生成所述反向選通信號以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使保持時間參數(shù)失敗的部件。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的部件包括用于根據(jù)具有增大的占空比的選通信號生成所述反向選通信號以使所述反向選通信號引起所述I/O眼寬使設立時間參數(shù)失敗的部件。在一個實施例中，進一步包括用于通過在讀所寫的數(shù)據(jù)之前觸發(fā)延遲來使數(shù)據(jù)捕獲偏移以測試所述設立時間參數(shù)的部件。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的部件包括用于生成所述反向選通信號以調(diào)整所述I/O眼寬來對于第一失敗條件測試所述I/O眼的后沿的部件。在一個實施例中，用于生成所述反向選通信號的部件包括用于生成所述反向選通信號以調(diào)整所述I/O眼寬來對于全通過條件測試所述I/O眼的前沿的部件。

本文所圖示的流程圖提供了各種過程動作序列的示例。流程圖可指示要由軟件或固件例程執(zhí)行的操作以及物理操作。在一個實施例中，流程圖可圖示有限狀態(tài)機（FSM）的狀態(tài)，其可用硬件和/或軟件實現(xiàn)。盡管按具體順序或次序示出了，但是除非另外規(guī)定，否則可以修改動作的次序。從而，所圖示的實施例應該僅作為示例理解，并且過程可按不同次序執(zhí)行，并且一些動作可并行執(zhí)行。此外，在各種實施例中可省略一個或多個動作；從而，并不是在每個實施例中都需要所有動作。其它過程流程是可能的。

某種程度上，本文描述了各種操作或功能，它們可描述或者定義為軟件代碼、指令、配置和/或數(shù)據(jù)。內(nèi)容可以是直接可執(zhí)行的（“對象”或“可執(zhí)行”形式）源代碼或差分代碼（“Δ”或“補丁”代碼）。本文描述的實施例的軟件內(nèi)容可經(jīng)由制品（具有內(nèi)容存儲在其上）或經(jīng)由操作通信接口以經(jīng)由通信接口發(fā)送數(shù)據(jù)的方法提供。機器可讀存儲介質(zhì)可使機器執(zhí)行所描述的功能或操作，并且包含存儲以機器（例如計算裝置、電子系統(tǒng)等）可存取形式的信息的任何機制，諸如可記錄/不可記錄媒體（例如只讀存儲器（ROM）、隨機存取存儲器（RAM）、磁盤存儲媒體、光存儲媒體、閃存裝置等）。通信接口包含與任何硬連線、無線、光學等介質(zhì)對接以與另一裝置（諸如存儲器總線接口、處理器總線接口、因特網(wǎng)連接、盤控制器等）通信的任何機制。通信接口可通過提供配置參數(shù)和/或發(fā)送信號來配置以以準備通信接口提供描述軟件內(nèi)容的數(shù)據(jù)信號。通信接口可經(jīng)由發(fā)送到通信接口的一個或多個命令或信號存取。

本文描述的各種組件可以是用于執(zhí)行所描述的操作或功能的部件。本文描述的每個組件都包含軟件、硬件或這些的組合。組件可實現(xiàn)為軟件模塊、硬件模塊、專用硬件（例如應用特定硬件、專用集成電路（ASIC）、數(shù)字信號處理器（DSP）等）、嵌入式控制器、硬連線電路等。

除了本文所描述的，可對所公開的本發(fā)明的實施例和實現(xiàn)進行各種修改，而不脫離它們的范圍。因此，本文的說明和示例應該以說明性的而非約束性意義來解釋。本發(fā)明的范圍應該僅參考如下權利要求書進行度量。