微型針距pcb高精度測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本實用新型涉及一種微型針距PCB高精度測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著印刷電路板的制造不斷向著微型化方向發(fā)展，在其生產(chǎn)過程中，原有的人工檢測形式逐漸被現(xiàn)代化的自動光學(xué)檢測設(shè)備所代替。與此同時，在機器視覺代替人類視覺實現(xiàn)檢測后，如何能快速識別并定位Mark點就成為整個檢測過程中的一個重要問題，因此亟需一種高效率的、高精度的測試裝置。
[0003]而目前的PCB板產(chǎn)品的測試裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大，導(dǎo)致使用不方便以及占用空間大;而且由于目前PCB板產(chǎn)品的測試裝置內(nèi)的測試針板的針點間距較大，所以不能夠測試現(xiàn)在越來越成為趨勢的微距針點產(chǎn)品。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種設(shè)計合理、結(jié)構(gòu)簡單、體積小、使用方便以及測試精度高的微型針距PCB高精度測試裝置。
[0005]本實用新型所采用的技術(shù)方案是:本實用新型包括自上至下依次適配設(shè)置的上蓋體、中空緩沖板以及產(chǎn)品放置體，所述產(chǎn)品放置體上設(shè)置有測試針板模組，所述測試針板模組與外部數(shù)據(jù)處理器相連接。
[0006]所述產(chǎn)品放置體上設(shè)置有產(chǎn)品放置槽，所述產(chǎn)品放置槽的底部設(shè)置有載板，所述測試針板模組適配設(shè)置在所述載板的上表面上。
[0007]所述測試針板模組包括高精密硅膠針板以及測試PCB板，所述測試PCB板適配設(shè)置在所述載板的上表面，所述高精密硅膠針板適配放置在所述測試PCB板上。
[0008]所述產(chǎn)品放置體內(nèi)還設(shè)置有轉(zhuǎn)動式彈性銷，所述轉(zhuǎn)動式彈性銷的轉(zhuǎn)軸設(shè)置在所述產(chǎn)品放置槽的邊緣上，所述轉(zhuǎn)動式彈性銷的銷體置于所述載板的上方。
[0009]所述上蓋體的下表面設(shè)置有與所述產(chǎn)品放置槽的大小相適配的產(chǎn)品壓板，所述產(chǎn)品壓板的背部通過若干個第一彈簧與所述上蓋體的下表面相連接。
[0010]所述產(chǎn)品放置體的側(cè)邊邊緣上設(shè)置有卡扣，所述上蓋體的側(cè)邊上設(shè)置有與所述卡扣相適配的卡扣孔。
[0011]所述中空緩沖板通過等高活動螺絲設(shè)置在所述產(chǎn)品放置體上，所述中空緩沖板與所述產(chǎn)品放置體之間還設(shè)置有若干個第二彈簧。
[0012]本實用新型的有益效果是:在本實用新型中，由于采用了高效性的硅膠導(dǎo)體制成的高精密硅膠針板，其最小的導(dǎo)體直徑能達到0.2毫米，所以能夠?qū)ξ⑿歪樉喈a(chǎn)品的針點進行高精度的連接測試；
[0013]又由于在產(chǎn)品壓板的背部、中空緩沖板與產(chǎn)品放置體之間都設(shè)置有緩沖彈簧，所以在測試產(chǎn)品時能夠最大限度保護產(chǎn)品不會受壓果度而損壞。
【附圖說明】

[0014]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0015]如圖1所示，本實用新型包括自上至下依次適配設(shè)置的上蓋體1、中空緩沖板2以及產(chǎn)品放置體3，所述產(chǎn)品放置體3上設(shè)置有測試針板模組31，所述測試針板模組31與外部數(shù)據(jù)處理器相連接。
[0016]所述產(chǎn)品放置體3上設(shè)置有產(chǎn)品放置槽，所述產(chǎn)品放置槽的底部設(shè)置有載板，所述測試針板模組適配設(shè)置在所述載板的上表面上。
[0017]所述測試針板模組31包括高精密硅膠針板以及測試PCB板，所述測試PCB板適配設(shè)置在所述載板的上表面，所述高精密硅膠針板適配放置在所述測試PCB板上。
[0018]所述產(chǎn)品放置體3內(nèi)還對應(yīng)設(shè)置有兩個轉(zhuǎn)動式彈性銷32，所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的轉(zhuǎn)軸設(shè)置在所述產(chǎn)品放置槽的邊緣上，所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的銷體置于所述載板的上方。所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的銷體能夠繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動。
[0019]所述上蓋體I的下表面設(shè)置有與所述產(chǎn)品放置槽的大小相適配的產(chǎn)品壓板11，所述產(chǎn)品壓板11的背部通過九個第一彈簧與所述上蓋體I的下表面相連接。
[0020]所述產(chǎn)品放置體3的側(cè)邊邊緣上設(shè)置有兩個卡扣33，所述上蓋體I的側(cè)邊上設(shè)置有兩個與所述卡扣33相適配的卡扣孔12。
[0021]所述中空緩沖板2通過四個邊個上的四個等高活動螺絲設(shè)置在所述產(chǎn)品放置體3上，所述中空緩沖板2與所述產(chǎn)品放置體3之間還設(shè)置有四個第二彈簧。
[0022]工作原理:
[0023]將待測的產(chǎn)品放置在所述產(chǎn)品放置槽內(nèi)，將所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的銷體繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)至所述產(chǎn)品上方并對所述產(chǎn)品進行預(yù)壓定位，此時將所述上蓋體I蓋上，將所述卡扣33適配卡在所述卡扣孔12內(nèi)，使得所述產(chǎn)品壓板11對所述產(chǎn)品進行壓制，進而使得所述產(chǎn)品的針點能夠通過所述高精密硅膠針板而與所述測試PCB板上的針點相連接，所述測試PCB板將所述產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)輸送至所述外部處理器。
[0024]本實用新型適用于微型針距PCB板測試領(lǐng)域。
【主權(quán)項】
1.一種微型針距PCB高精度測試裝置，其特征在于:它包括自上至下依次適配設(shè)置的上蓋體(1)、中空緩沖板(2)以及產(chǎn)品放置體(3)，所述產(chǎn)品放置體(3)上設(shè)置有測試針板模組，所述測試針板模組與外部數(shù)據(jù)處理器相連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型針距PCB高精度測試裝置，其特征在于:所述產(chǎn)品放置體(3)上設(shè)置有產(chǎn)品放置槽，所述產(chǎn)品放置槽的底部設(shè)置有載板，所述測試針板模組(31)適配設(shè)置在所述載板的上表面上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微型針距PCB高精度測試裝置，其特征在于:所述測試針板模組(31)包括高精密硅膠針板以及測試PCB板，所述測試PCB板適配設(shè)置在所述載板的上表面，所述高精密硅膠針板適配放置在所述測試PCB板上。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的微型針距PCB高精度測試裝置，其特征在于:所述產(chǎn)品放置體(3)內(nèi)還設(shè)置有轉(zhuǎn)動式彈性銷(32)，所述轉(zhuǎn)動式彈性銷(32)的轉(zhuǎn)軸設(shè)置在所述產(chǎn)品放置槽的邊緣上，所述轉(zhuǎn)動式彈性銷(32)的銷體置于所述載板的上方。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微型針距PCB高精度測試裝置，其特征在于:所述上蓋體(1)的下表面設(shè)置有與所述產(chǎn)品放置槽的大小相適配的產(chǎn)品壓板(11)，所述產(chǎn)品壓板(11)的背部通過若干個第一彈簧與所述上蓋體(I)的下表面相連接。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型針距PCB高精度測試裝置，其特征在于:所述產(chǎn)品放置體(3)的側(cè)邊邊緣上設(shè)置有卡扣(33)，所述上蓋體(1)的側(cè)邊上設(shè)置有與所述卡扣(33)相適配的卡扣孔(12)。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微型針距PCB高精度測試裝置，其特征在于:所述中空緩沖板(2)通過等高活動螺絲設(shè)置在所述產(chǎn)品放置體(3)上，所述中空緩沖板(2)與所述產(chǎn)品放置體(3)之間還設(shè)置有若干個第二彈簧。
【專利摘要】本實用新型公開并提供了一種設(shè)計合理、結(jié)構(gòu)簡單、體積小、使用方便以及測試精度高的微型針距PCB高精度測試裝置。本實用新型包括自上至下依次適配設(shè)置的上蓋體（1）、中空緩沖板（2）以及產(chǎn)品放置體（3），所述產(chǎn)品放置體（3）上設(shè)置有測試針板模組，所述測試針板模組與外部數(shù)據(jù)處理器相連接。本實用新型適用于微型針距PCB板測試領(lǐng)域。
【IPC分類】G01R1/073, G01R1/04
【公開號】CN205384296
【申請?zhí)枴緾N201521051837
【發(fā)明人】蘇秋鈿
【申請人】珠海市運泰利自動化設(shè)備有限公司
【公開日】2016年7月13日
【申請日】2015年12月16日