本發(fā)明涉及一種電路板，尤其是指一種具有第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口以及第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口使測(cè)試電路板彼此之間形成串接的適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試電路板。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有進(jìn)行待測(cè)試機(jī)板中快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試多半是采用單一測(cè)試電路板進(jìn)行，然而采用單一測(cè)試電路板進(jìn)行待測(cè)試機(jī)板中快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試僅能測(cè)試單一快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽，往往會(huì)產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)覆蓋欠缺的問(wèn)題，而不利于生產(chǎn)測(cè)試使用。

綜上所述，可知現(xiàn)有技術(shù)中長(zhǎng)期以來(lái)一直存在現(xiàn)有對(duì)于待測(cè)試機(jī)板中快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試信號(hào)覆蓋欠缺的問(wèn)題，因此有必要提出改進(jìn)的技術(shù)手段，來(lái)解決此一問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在現(xiàn)有對(duì)于待測(cè)試機(jī)板中快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試信號(hào)覆蓋欠缺的問(wèn)題，本發(fā)明遂揭露一種適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試電路板，其中：

本發(fā)明所揭露的適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試電路板，其包含：測(cè)試電路板，測(cè)試電路板更包含：快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)(peripheralcomponentinterconnectexpress，pci-e)連接接口、第一聯(lián)合測(cè)試工作群組(jointtestactiongroup，jtag)連接接口、第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口、聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片、至少一聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片、至少一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換(analog-to-digitalconverter，adc)芯片、開(kāi)關(guān)(switch)芯片以及電壓轉(zhuǎn)換芯片。

快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)連接接口是用以插接于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽以形成電性連接；第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口是用以與測(cè)試訪問(wèn)端口(testaccessport，tap)控制器電性連接，或是用以與其他測(cè)試電路板的第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口電性連接，以與其他測(cè)試電路板形成串接；第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口是用以與其他測(cè)試電路板的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口電性連接；聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片分別與第一聯(lián)合測(cè)試工作群組以及第二聯(lián)合測(cè)試工作群組電性連接，用以提高第一聯(lián)合測(cè)試工作群組以及第二聯(lián)合測(cè)試工作群組所傳遞聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)的穩(wěn)定性；至少一聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片，聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片與聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片電性連接，用以進(jìn)行快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽腳位的檢測(cè)、狀態(tài)控制以及集成電路總線(inter-integratedcircuit，iic)的模擬；至少一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片是模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片與聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片電性連接，用以進(jìn)行快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽腳位的電壓檢測(cè)；開(kāi)關(guān)芯片是分別與聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片以及模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片電性連接，用以進(jìn)行快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽腳位的特別信號(hào)的檢測(cè)，以使特別信號(hào)能通過(guò)聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片或是通過(guò)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行檢測(cè)；及電壓轉(zhuǎn)換芯片是用以通過(guò)快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽取得電源供應(yīng)并對(duì)電源進(jìn)行轉(zhuǎn)換以提供聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片、聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片開(kāi)關(guān)芯片所需要的工作電壓。

本發(fā)明所揭露的電路板如上，與現(xiàn)有技術(shù)之間的差異在于通過(guò)測(cè)試電路板所具有的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口以及第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口使得測(cè)試電路板彼此之間可以行成串接，藉以減少測(cè)試訪問(wèn)端口控制器中測(cè)試訪問(wèn)端口數(shù)量的要求，并且本發(fā)明所提出的測(cè)試電路板提供對(duì)所有測(cè)試信號(hào)的測(cè)試信號(hào)覆蓋性，便于生產(chǎn)線的使用，進(jìn)而降低測(cè)試電路板的成本。

通過(guò)上述的技術(shù)手段，本發(fā)明可以達(dá)成減少測(cè)試訪問(wèn)端口控制器中測(cè)試訪問(wèn)端口數(shù)量的要求與提供對(duì)所有測(cè)試信號(hào)的測(cè)試信號(hào)覆蓋性的技術(shù)功效。

附圖說(shuō)明

圖1繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽測(cè)試電路板的架構(gòu)示意圖。

圖2繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽測(cè)試電路板測(cè)試時(shí)的架構(gòu)示意圖。

【符號(hào)說(shuō)明】

10測(cè)試電路板

101第一測(cè)試電路板

102第二測(cè)試電路板

11快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)連接接口

12第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口

13第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口

14聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片

15聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片

16模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片

17開(kāi)關(guān)芯片

18電壓轉(zhuǎn)換芯片

20待測(cè)試機(jī)板

21中央處理器

22快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽

221第一快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽

222第二快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽

23復(fù)雜可編程邏輯元件

具體實(shí)施方式

以下將配合圖式及實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，藉此對(duì)本發(fā)明 如何應(yīng)用技術(shù)手段來(lái)解決技術(shù)問(wèn)題并達(dá)成技術(shù)功效的實(shí)現(xiàn)過(guò)程能充分理解并據(jù)以實(shí)施。

以下首先要說(shuō)明本發(fā)明所揭露的適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試電路板，并請(qǐng)參考「圖1」以及「圖2」所示，「圖1」繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽測(cè)試電路板的架構(gòu)示意圖；「圖2」繪示為本發(fā)明適用于快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽測(cè)試電路板測(cè)試時(shí)的架構(gòu)示意圖。

本發(fā)明所揭露的測(cè)試電路板10更包含：快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)(peripheralcomponentinterconnectexpress，pci-e)連接接口11、第一聯(lián)合測(cè)試工作群組(jointtestactiongroup，jtag)連接接口12、第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口13、聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片14、至少一聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片15、至少一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換(analog-to-digitalconverter，adc)芯片16、開(kāi)關(guān)(switch)芯片17以及電壓轉(zhuǎn)換芯片18。

待測(cè)試機(jī)板20更包含：中央處理器(centralprocessingunit，cpu)21、多個(gè)快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22以及復(fù)雜可編程邏輯元件(complexprogrammablelogicdevice，cpld)23。

測(cè)試電路板10的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)連接接口11是用以提供測(cè)試電路板10插接于待測(cè)試機(jī)板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22上以使測(cè)試電路板10與待測(cè)試機(jī)板20形成電性連接，待測(cè)試機(jī)板20的每一個(gè)快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22可以插接一個(gè)測(cè)試電路板10。

測(cè)試電路板10的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口12是用以與測(cè)試訪問(wèn)端口控制器30電性連接，或是測(cè)試電路板10的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口12是用以與其他測(cè)試電路板10的第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口13電性連接，以使測(cè)試電路板10與其他測(cè)試電路板10形成串接。

具體而言，待測(cè)試機(jī)板20具有第一快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽221以及第二快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽222，第一測(cè)試電路板101插接于待測(cè)試機(jī)板20的第一快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽221，第二測(cè)試電路板102插接于待測(cè)試機(jī)板20的第二快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽222，第一測(cè)試電路板101的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口12與測(cè)試訪問(wèn)端口控制器30電性連接，第一測(cè)試電路板101的第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口13與第二測(cè)試電路板102的第一聯(lián)合測(cè) 試工作群組連接接口12電性連接，藉以使得第一測(cè)試電路板101以及第二測(cè)試電路板102形成串接，在此僅為舉例說(shuō)明之，并不以此局限本發(fā)明的應(yīng)用范疇。

測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片14分別與測(cè)試電路板10的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組12以及測(cè)試電路板10的第二聯(lián)合測(cè)試工作群組13電性連接，測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片14是用以提高測(cè)試電路板10的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組12以及測(cè)試電路板10的第二聯(lián)合測(cè)試工作群組13所傳遞聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)的穩(wěn)定性。

待測(cè)試機(jī)板20的中央處理器21是用以提供邊界掃描(boundaryscan)模式以供測(cè)試電路板10進(jìn)行檢測(cè)，待測(cè)試機(jī)板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23是用以控制待測(cè)試機(jī)板20的電源狀態(tài)。

測(cè)試訪問(wèn)端口控制器30亦與待測(cè)試機(jī)板20的中央處理器21以及待測(cè)試機(jī)板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23電性連接，并且測(cè)試訪問(wèn)端口控制器30控制待測(cè)試機(jī)板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23以控制待測(cè)試機(jī)板20的電源供電狀態(tài)，測(cè)試訪問(wèn)端口控制器30亦控制待測(cè)試機(jī)板20的中央處理器21以及待測(cè)試機(jī)板20的復(fù)雜可編程邏輯元件23至邊界掃描工作模式，以及測(cè)試訪問(wèn)端口控制器30通過(guò)測(cè)試電路板10的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口12控制測(cè)試電路板10至邊界掃描工作模式。

測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片15與測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片14電性連接，測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片15是用以進(jìn)行待測(cè)試機(jī)板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22腳位的檢測(cè)、測(cè)試電路板10的狀態(tài)控制以及測(cè)試電路板10的中集成電路總線的模擬。

測(cè)試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16與測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片15電性連接，測(cè)試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16是用以進(jìn)行待測(cè)試機(jī)板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽腳位22的電壓檢測(cè)。

測(cè)試電路板10的開(kāi)關(guān)芯片17是分別與測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片15以及測(cè)試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16電性連接，測(cè)試電路板10的開(kāi)關(guān)芯片17是用以進(jìn)行待測(cè)試機(jī)板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn) 插槽22腳位的特別信號(hào)的檢測(cè)，以使特別信號(hào)能通過(guò)聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片15或是通過(guò)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片16進(jìn)行檢測(cè)。

測(cè)試電路板10的電壓轉(zhuǎn)換芯片18是用以通過(guò)測(cè)試電路板10的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22取得電源供應(yīng)并對(duì)電源進(jìn)行轉(zhuǎn)換以提供測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組信號(hào)處理芯片14、測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片15、測(cè)試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片開(kāi)關(guān)芯片16以及測(cè)試電路板10的開(kāi)關(guān)芯片17所需要的工作電壓。

測(cè)試訪問(wèn)端口控制器30于待測(cè)試機(jī)板20復(fù)雜可編程邏輯元件23、待測(cè)試機(jī)板20的中央處理器21以及測(cè)試電路板10的邊界掃描工作模式下通過(guò)測(cè)試電路板10的聯(lián)合測(cè)試工作群組控制芯片14、測(cè)試電路板10的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片15以及測(cè)試電路板10的開(kāi)關(guān)芯片16以進(jìn)行待測(cè)試機(jī)板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22腳位的檢測(cè)、狀態(tài)控制以及集成電路總線的模擬、待測(cè)試機(jī)板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22腳位的電壓檢測(cè)以及待測(cè)試機(jī)板20的快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽22腳位的特別信號(hào)的檢測(cè)。

綜上所述，可知本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)之間的差異在于通過(guò)測(cè)試電路板所具有的第一聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口以及第二聯(lián)合測(cè)試工作群組連接接口使得測(cè)試電路板彼此之間可以行成串接，藉以減少測(cè)試訪問(wèn)端口控制器中測(cè)試訪問(wèn)端口數(shù)量的要求，并且本發(fā)明所提出的測(cè)試電路板提供對(duì)所有測(cè)試信號(hào)的測(cè)試信號(hào)覆蓋性，便于生產(chǎn)線的使用，進(jìn)而降低測(cè)試電路板的成本。

藉由此一技術(shù)手段可以來(lái)解決現(xiàn)有技術(shù)所存在現(xiàn)有對(duì)于待測(cè)試機(jī)板中快捷外設(shè)互聯(lián)標(biāo)準(zhǔn)插槽的測(cè)試信號(hào)覆蓋欠缺的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)成減少測(cè)試訪問(wèn)端口控制器中測(cè)試訪問(wèn)端口數(shù)量的要求與提供對(duì)所有測(cè)試信號(hào)的測(cè)試信號(hào)覆蓋性的技術(shù)功效。

雖然本發(fā)明所揭露的實(shí)施方式如上，惟所述的內(nèi)容并非用以直接限定本發(fā)明的專利保護(hù)范圍。任何本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實(shí)施的形式上及細(xì)節(jié)上作些許的更動(dòng)。本發(fā)明的專利保護(hù)范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書(shū)所界定者為準(zhǔn)。