本發(fā)明專利屬于檢具制造領(lǐng)域，尤其涉及一種檢具的測量座結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)：

檢具是用來丈量和評(píng)估零件尺寸質(zhì)量的一種專用檢測設(shè)備，是工業(yè)生產(chǎn)企業(yè)單位用在控制商品個(gè)尺寸(比如孔徑、空間尺寸等)的簡捷工具，提高出產(chǎn)效率和控制質(zhì)量，適用于大批量出產(chǎn)的商品，如汽車零部件，以替代專業(yè)測量工具，如光滑塞規(guī)、螺紋塞規(guī)、外徑卡規(guī)等。

在零部件生產(chǎn)現(xiàn)場，經(jīng)過檢具完成對(duì)于零件的在線檢測，為此須將零部件準(zhǔn)確的裝置在檢具上，然后經(jīng)過目測，或丈量表，或卡尺對(duì)零部件型面、周邊進(jìn)行檢查，也可以借助查驗(yàn)銷或目測對(duì)零件上不同性質(zhì)的孔及零件與零件之間的聯(lián)接位置進(jìn)行目檢，從而保證在試出產(chǎn)及起步出產(chǎn)時(shí)完成零件質(zhì)量狀態(tài)的快速判別。在這個(gè)情況下，經(jīng)過目檢或者丈量我們能夠判別：零件輪廓周邊大小和形狀區(qū)域以及相對(duì)位置與經(jīng)過CAD/CAM直接加工的檢具理論值之間的偏差。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明專利提供一種檢具的測量座結(jié)構(gòu)，以解決上述背景技術(shù)中提出的不同工件檢測難以固定的問題。

本發(fā)明專利所解決的技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)：本發(fā)明專利提供一種檢具的測量座結(jié)構(gòu)，其特征在于：包括底座、工作臺(tái)、加固外殼、測量頂板、機(jī)箱、活動(dòng)模支撐部A、活動(dòng)模支撐部B、防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)、工件支撐臺(tái)A、工件支撐臺(tái)B、工件擱板、備用臺(tái)A、備用臺(tái)B、上檢測固定裝置A、上檢測固定裝置B、下檢測固定裝置A、下檢測固定裝置B、觀測架、度量設(shè)備、校位器A、校位器B、防護(hù)定位網(wǎng)、活動(dòng)模A、活動(dòng)模B、活動(dòng)模固定部A、活動(dòng)模固定部B、固定模A、固定模B，所述工作臺(tái)、機(jī)箱、工件支撐臺(tái)A、工件支撐臺(tái)B在所述底座的上面，所述工作臺(tái)在所述加固外殼的里面，所述測量頂板在所述工作臺(tái)的底部，所述上檢測固定裝置A、上檢測固定裝置B在所述測量頂板的底 部，所述備用臺(tái)A、備用臺(tái)B、度量設(shè)備在所述工作臺(tái)的上面，所述觀測架在所述度量設(shè)備的上面，所述校位器A、校位器B在所述工作臺(tái)、測量頂板的旁邊，所述校位器A、校位器B連接所述度量設(shè)備，所述工件擱板在所述上檢測固定裝置A、上檢測固定裝置B的下面，所述工件支撐臺(tái)A、工件支撐臺(tái)B在所述底座、工件擱板之間，所述下檢測固定裝置A在所述上檢測固定裝置A的下面，所述下檢測固定裝置B在所述上檢測固定裝置B的下面，所述下檢測固定裝置A在所述工作臺(tái)、工件支撐臺(tái)A之間，所述下檢測固定裝置B在所述工作臺(tái)、工件支撐臺(tái)B之間，所述機(jī)箱在所述工件支撐臺(tái)A、工件支撐臺(tái)B之間，所述活動(dòng)模支撐部A、活動(dòng)模支撐部B、防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)在所述機(jī)箱的上面，所述防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)在所述活動(dòng)模支撐部A、活動(dòng)模支撐部B之間，所述防護(hù)定位網(wǎng)在所述防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)的上面，所述活動(dòng)模A在所述活動(dòng)模支撐部A的上面，所述活動(dòng)模B在所述活動(dòng)模支撐部B的上面，所述固定模A貫穿所述活動(dòng)模A，所述固定模B貫穿所述活動(dòng)模B，所述活動(dòng)模固定部A在所述活動(dòng)模A的頂部，所述活動(dòng)模固定部B在所述活動(dòng)模B的頂部，所述活動(dòng)模固定部A、活動(dòng)模固定部B連接所述測量頂板，所述防護(hù)定位網(wǎng)、活動(dòng)模A、活動(dòng)模B在所述工件擱板的旁邊。

所述備用臺(tái)A、備用臺(tái)B在所述度量設(shè)備的旁邊。

所述觀測架、度量設(shè)備在所述備用臺(tái)A、備用臺(tái)B之間。

所述備用臺(tái)A在所述上檢測固定裝置A的上面，所述備用臺(tái)B在所述上檢測固定裝置B的上面。

本發(fā)明專利的有益效果為：

1本檢具的測量座結(jié)構(gòu)，設(shè)置工件擱板、工件支撐臺(tái)，同時(shí)設(shè)置防護(hù)定位網(wǎng)和帶固定模的活動(dòng)模，配合上檢測固定裝置、下檢測固定裝置同時(shí)使用，可針對(duì)不同工件檢測進(jìn)行多重固定。

2固定模可在活動(dòng)模內(nèi)上下活動(dòng)，方便固定不對(duì)稱的工件。

3防護(hù)定位網(wǎng)可做度量使用，同時(shí)可固定多突起部工件。

4校位器可有效對(duì)工件定位。

附圖說明

圖1是本發(fā)明專利的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明專利做進(jìn)一步描述：

圖中：1-底座，2-工作臺(tái)，3-加固外殼，4-測量頂板，5-機(jī)箱，6-活動(dòng)模支撐部A，7-活動(dòng)模支撐部B，8-防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)，9-工件支撐臺(tái)A，10-工件支撐臺(tái)B，11-工件擱板，12-備用臺(tái)A，13-備用臺(tái)B，14-上檢測固定裝置A，15-上檢測固定裝置B，16-下檢測固定裝置A，17-下檢測固定裝置B，18-觀測架，19-度量設(shè)備，20-校位器A，21-校位器B，22-防護(hù)定位網(wǎng)，23-活動(dòng)模A，24-活動(dòng)模B，25-活動(dòng)模固定部A，26-活動(dòng)模固定部B，27-固定模A，28-固定模B。

實(shí)施例：

本實(shí)施例包括底座1、工作臺(tái)2、加固外殼3、測量頂板4、機(jī)箱5、活動(dòng)模支撐部A6、活動(dòng)模支撐部B7、防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)8、工件支撐臺(tái)A9、工件支撐臺(tái)B10、工件擱板11、備用臺(tái)A12、備用臺(tái)B13、上檢測固定裝置A14、上檢測固定裝置B15、下檢測固定裝置A16、下檢測固定裝置B17、觀測架18、度量設(shè)備19、校位器A20、校位器B21、防護(hù)定位網(wǎng)22、活動(dòng)模A23、活動(dòng)模B24、活動(dòng)模固定部A25、活動(dòng)模固定部B26、固定模A27、固定模B28，工作臺(tái)2、機(jī)箱5、工件支撐臺(tái)A9、工件支撐臺(tái)B10在底座1的上面，工作臺(tái)2在加固外殼3的里面，測量頂板4在工作臺(tái)2的底部，上檢測固定裝置A14、上檢測固定裝置B15在測量頂板4的底部，備用臺(tái)A12、備用臺(tái)B13、度量設(shè)備19在工作臺(tái)2的上面，觀測架18在度量設(shè)備19的上面，校位器A20、校位器B21在工作臺(tái)2、測量頂板4的旁邊，校位器A20、校位器B21連接度量設(shè)備19，工件擱板11在上檢測固定裝置A14、上檢測固定裝置B15的下面，工件支撐臺(tái)A9、工件支撐臺(tái)B10在底座1、工件擱板11之間，下檢測固定裝置A16在上檢測固定裝置A14 的下面，下檢測固定裝置B17在上檢測固定裝置B15的下面，下檢測固定裝置A16在工作臺(tái)2、工件支撐臺(tái)A9之間，下檢測固定裝置B17在工作臺(tái)2、工件支撐臺(tái)B10之間，機(jī)箱5在工件支撐臺(tái)A9、工件支撐臺(tái)B10之間，活動(dòng)模支撐部A6、活動(dòng)模支撐部B7、防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)8在機(jī)箱5的上面，防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)8在活動(dòng)模支撐部A6、活動(dòng)模支撐部B7之間，防護(hù)定位網(wǎng)22在防護(hù)定位網(wǎng)支撐臺(tái)8的上面，活動(dòng)模A23在活動(dòng)模支撐部A6的上面，活動(dòng)模B24在活動(dòng)模支撐部B7的上面，固定模A27貫穿活動(dòng)模A23，固定模B28貫穿活動(dòng)模B24，活動(dòng)模固定部A25在活動(dòng)模A23的頂部，活動(dòng)模固定部B26在活動(dòng)模B24的頂部，活動(dòng)模固定部A25、活動(dòng)模固定部B26連接測量頂板4，防護(hù)定位網(wǎng)22、活動(dòng)模A23、活動(dòng)模B24在工件擱板11的旁邊。

備用臺(tái)A12、備用臺(tái)B13在度量設(shè)備19的旁邊。

觀測架18、度量設(shè)備19在備用臺(tái)A12、備用臺(tái)B13之間。

備用臺(tái)A12在上檢測固定裝置A14的上面，備用臺(tái)B13在上檢測固定裝置B15的上面。

利用本發(fā)明專利所述的技術(shù)方案，或本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明專利技術(shù)方案的啟發(fā)下，設(shè)計(jì)出類似的技術(shù)方案，而達(dá)到上述技術(shù)效果的，均是落入本發(fā)明專利的保護(hù)范圍。