技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于圓載頻莫爾條紋理論的合成波長(zhǎng)相位提取方法，基于莫爾條紋理論利用雙波長(zhǎng)干涉測(cè)試裝置檢測(cè)非球面時(shí)，可以得到兩種波長(zhǎng)干涉條紋疊加后的圓載頻莫爾條紋圖，提出了一種從圓載頻莫爾條紋圖直接提取合成波長(zhǎng)相位的方法。通過(guò)以合成波長(zhǎng)的π/2為移相步進(jìn)量進(jìn)行移相，對(duì)圓載頻莫爾條紋移相干涉圖去除直流分量后平方，并采用二次極坐標(biāo)變換，得到線(xiàn)載頻莫爾條紋圖，結(jié)合載頻交疊重構(gòu)理論，在頻譜域?qū)崿F(xiàn)對(duì)低頻的合成波長(zhǎng)分量的提取，最終提取出合成波長(zhǎng)相位，解決了單波長(zhǎng)檢測(cè)時(shí)條紋過(guò)密無(wú)法恢復(fù)相位的問(wèn)題。

技術(shù)研發(fā)人員：高志山;成金龍;王凱亮;王偉;王帥;袁群;竇建泰;朱丹
受保護(hù)的技術(shù)使用者：南京理工大學(xué)
文檔號(hào)碼：201510523660
技術(shù)研發(fā)日：2015.08.24
技術(shù)公布日：2017.03.08