一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，僅包括導(dǎo)線固定夾具，恒流源裝置；測(cè)量裝置；處理器。其中，導(dǎo)線固定夾具固定夾在待測(cè)金屬試樣上。恒流源裝置和測(cè)量裝置分別通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在導(dǎo)線固定夾具。處理器和測(cè)量裝置連接。通過(guò)這四個(gè)部件的連接，便能夠監(jiān)測(cè)金屬材料裂紋，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，安裝方便。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及金屬材料力學(xué)性能測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]金屬薄板反復(fù)彎曲試驗(yàn)是檢驗(yàn)薄板在反復(fù)彎曲中承受塑性變形能力并顯示其缺陷的重要試驗(yàn)手段。目前，關(guān)于金屬薄板反復(fù)彎曲試驗(yàn)的研究主要集中在試驗(yàn)結(jié)果反復(fù)彎曲次數(shù)的影響因素，譬如:拉緊力、圓柱支座半徑、彎曲速度、試樣加工等。但關(guān)于試驗(yàn)結(jié)果的判定準(zhǔn)則的研究十分稀少，彎曲次數(shù)的判定準(zhǔn)則在不同的標(biāo)準(zhǔn)里有不同的規(guī)定。在金屬薄板反復(fù)彎曲試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定:“試驗(yàn)連續(xù)進(jìn)行，直至達(dá)到相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的彎曲次數(shù)，或出現(xiàn)肉眼可見(jiàn)的裂紋為止。如相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)有規(guī)定，試驗(yàn)直至試樣完全斷裂?！痹诮饘俦“宸磸?fù)彎曲試驗(yàn)航空工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中又規(guī)定:“試驗(yàn)必須連續(xù)進(jìn)行，不得中止，直到規(guī)定的彎曲次數(shù)或試樣折斷為止，或彎曲到試樣產(chǎn)生肉眼可見(jiàn)的起皮、起層、裂紋、裂口時(shí)為止。”在不同金屬薄板產(chǎn)品的相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中還有一些不一樣的規(guī)定。
[0003]一般情況下反復(fù)彎曲試驗(yàn)是在機(jī)動(dòng)式彎折試驗(yàn)機(jī)上進(jìn)行，金屬薄板試樣在試驗(yàn)過(guò)程中繞圓柱支座作兩側(cè)90°的反復(fù)彎曲，如附圖1所示。試樣01出現(xiàn)肉眼可見(jiàn)起皮、起層、裂紋、裂口等現(xiàn)象往往位于兩個(gè)圓柱支座02的軸心連線上，幾乎是人眼觀察的死角。試樣01在高速擺動(dòng)過(guò)程中想要觀察到其表面裂紋萌生、擴(kuò)展直至斷裂的過(guò)程十分困難，除非在彎曲過(guò)程中，根據(jù)經(jīng)驗(yàn)估計(jì)其表面出現(xiàn)起皮、起層、裂紋、裂口等現(xiàn)象的彎曲次數(shù)，然后人為停機(jī)，將試樣01取下來(lái)觀察表面是否出現(xiàn)上述現(xiàn)象，如未出現(xiàn)將試樣01夾上繼續(xù)彎曲，接著計(jì)數(shù)。這樣需要多次停機(jī)觀察，試驗(yàn)效率很低，且存在人為估計(jì)誤差。除此之外，試驗(yàn)環(huán)境的光線、試樣表面的光潔度等都對(duì)肉眼觀察也有影響。
[0004]電位法是現(xiàn)有金屬材料裂紋監(jiān)測(cè)方法中較為常用的一種，原理是利用導(dǎo)體截面尺寸變化會(huì)引起電流場(chǎng)變化的現(xiàn)象，在被測(cè)試樣中通過(guò)恒定電流，測(cè)量并記錄試樣中電位變化結(jié)果監(jiān)測(cè)裂紋的產(chǎn)生和擴(kuò)展。電位法與其它裂紋監(jiān)測(cè)方法相比，具有無(wú)需照明條件、受空間限制小、便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)。
[0005]而在現(xiàn)有技術(shù)中，使用電位法為原理的監(jiān)測(cè)設(shè)備結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，不易安裝。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]本實(shí)用新型提供了一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，以解決現(xiàn)有技術(shù)中使用電位法為原理的監(jiān)測(cè)設(shè)備結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，不易安裝的技術(shù)問(wèn)題。
[0007]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，包括:導(dǎo)線固定夾具；恒流源裝置；測(cè)量裝置；處理器；其中，所述導(dǎo)線固定夾具固定夾在待測(cè)金屬試樣上；所述恒流源裝置通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在所述導(dǎo)線固定夾具上，通過(guò)所述導(dǎo)線固定夾具和所述待測(cè)金屬試樣連接；所述測(cè)量裝置通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在所述導(dǎo)線固定夾具上，通過(guò)所述導(dǎo)線固定夾具和所述待測(cè)金屬試樣連接；所述處理器和所述測(cè)量裝置連接。
[0008]優(yōu)選的，所述導(dǎo)線固定夾具包括:第一絕緣夾板、第二絕緣夾板、鎖緊螺母、第一接線柱、第二接線柱、第三接線柱、第四接線柱、壓蓋和墊片；其中，所述第一絕緣夾板、所述第二絕緣夾板嵌套在所述待測(cè)金屬試樣上；所述鎖緊螺母分別設(shè)置在所述第一絕緣夾板、所述第二絕緣夾板上；所述第一接線柱、所述第二接線柱穿過(guò)所述所述第一絕緣夾板，和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸；所述第三接線柱、所述第四接線柱穿過(guò)所述第二絕緣夾板，和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸；所述壓蓋通過(guò)所述墊片分別連接在所述第一接線柱、所述第二接線柱、所述第三接線柱、所述第四接線柱上。
[0009]優(yōu)選的，所述壓蓋通過(guò)所述墊片，將所述恒流源裝置兩端的導(dǎo)線分別連接在所述第一接線柱和所述第四接線柱上，且所述壓蓋通過(guò)所述墊片，將所述測(cè)量裝置兩端的導(dǎo)線分別連接在所述第二接線柱和所述第三接線柱上。
[0010]優(yōu)選的，所述第一絕緣夾板包括第一絕緣板夾和第二絕緣板夾，所述待測(cè)金屬試樣位于所述第一絕緣板夾和所述第二絕緣板夾之間；所述第一絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第一絕緣板夾兩端設(shè)有螺孔；所述第二絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第二絕緣板夾兩端設(shè)有通孔；所述第二絕緣板夾與待測(cè)金屬試樣的接觸面有長(zhǎng)方形凹槽，所述凹槽的槽底兩端設(shè)置有螺紋通孔；所述鎖緊螺母穿過(guò)所述第二絕緣板夾兩端的通孔，并和所述第一絕緣板夾兩端的螺孔對(duì)應(yīng)配合；所述第一接線柱和所述第二接線柱分別穿過(guò)所述凹槽的槽底兩端的螺紋通孔，且和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
[0011]優(yōu)選的，所述第一接線柱的一端為錐體，所述第一接線柱的另一端為圓柱，所述圓柱中心設(shè)有螺紋孔；所述第一接線柱和所述第二接線柱的結(jié)構(gòu)相同；其中，所述第一接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底一端的螺紋通孔，所述第一接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸；其中，所述第二接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底另一端的螺紋通孔，所述第二接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
[0012]優(yōu)選的，所述壓蓋通過(guò)螺紋分別與所述第一接線柱的螺紋孔、所述第二接線柱的螺紋孔連接，并和所述墊片一起固定導(dǎo)線。
[0013]優(yōu)選的，所述第二絕緣夾板包括第三絕緣板夾和第四絕緣板夾，所述待測(cè)金屬試樣位于所述第三絕緣板夾和所述第四絕緣板夾之間；所述第三絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第三絕緣板夾兩端設(shè)有螺孔；所述第四絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第四絕緣板夾兩端設(shè)有通孔；所述第四絕緣板夾與待測(cè)金屬試樣的接觸面有長(zhǎng)方形凹槽，所述凹槽的槽底兩端設(shè)置有螺紋通孔；所述鎖緊螺母穿過(guò)所述第四絕緣板夾兩端的通孔，并和所述第三絕緣板夾兩端的螺孔對(duì)應(yīng)配合；所述第三接線柱和所述第四接線柱分別穿過(guò)所述凹槽的槽底兩端的螺紋通孔，且和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
[0014]優(yōu)選的，所述第三接線柱的一端為錐體，所述第三接線柱的另一端為圓柱，所述圓柱中心設(shè)有螺紋孔；所述第三接線柱和所述第四接線柱的結(jié)構(gòu)相同；其中，所述第三接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底一端的螺紋通孔，所述第三接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸；其中，所述第四接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底另一端的螺紋通孔，所述第四接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
[0015]優(yōu)選的，所述壓蓋通過(guò)螺紋分別與所述第三接線柱的螺紋孔、所述第四接線柱的螺紋孔連接，并和所述墊片一起固定導(dǎo)線。
[0016]通過(guò)本實(shí)用新型的一個(gè)或者多個(gè)技術(shù)方案，本實(shí)用新型具有以下有益效果或者優(yōu)占-
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[0017]本實(shí)用新型提供了一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，僅包括導(dǎo)線固定夾具；恒流源裝置；測(cè)量裝置；處理器。其中，導(dǎo)線固定夾具固定夾在待測(cè)金屬試樣上。恒流源裝置和測(cè)量裝置分別通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在導(dǎo)線固定夾具。處理器和測(cè)量裝置連接。通過(guò)這四個(gè)部件的連接，便能夠監(jiān)測(cè)金屬材料裂紋，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，安裝方便。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的提供的機(jī)動(dòng)式彎折試驗(yàn)機(jī)上進(jìn)行反復(fù)彎曲試驗(yàn)的示意圖；
[0019]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備的結(jié)構(gòu)圖；
[0020]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的導(dǎo)線固定夾具的整體結(jié)構(gòu)圖；
[0021]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的從圖3中的B-B進(jìn)行截面的導(dǎo)線固定夾具的剖面圖；
[0022]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的從圖3中的C-C進(jìn)行截面的導(dǎo)線固定夾具的剖面圖。
[0023]附圖標(biāo)記說(shuō)明:待測(cè)金屬試樣a，圓柱支座02，導(dǎo)線固定夾具1，恒流源裝置2，測(cè)量裝置3，處理器4，第一絕緣夾板5，第二絕緣夾板6，鎖緊螺母7，第一接線柱8，第二接線柱9，第三接線柱10，第四接線柱11，壓蓋12，墊片13，第一絕緣板夾14，第二絕緣板夾15，第三絕緣板夾16，第四絕緣板夾17。

【具體實(shí)施方式】
[0024]為了使本實(shí)用新型所屬【技術(shù)領(lǐng)域】中的技術(shù)人員更清楚地理解本實(shí)用新型，下面結(jié)合附圖，通過(guò)具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案作詳細(xì)描述。
[0025]參見(jiàn)圖2，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，包括:導(dǎo)線固定夾具I ;恒流源裝置2 ;測(cè)量裝置3 ;處理器4。
[0026]下面介紹各個(gè)部件的連接關(guān)系。
[0027]導(dǎo)線固定夾具I固定夾在待測(cè)金屬試樣a上。
[0028]恒流源裝置2通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在導(dǎo)線固定夾具I上，通過(guò)導(dǎo)線固定夾具I和待測(cè)金屬試樣a連接。
[0029]測(cè)量裝置3通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在導(dǎo)線固定夾具I上，通過(guò)導(dǎo)線固定夾具I和待測(cè)金屬試樣a連接。
[0030]處理器4和測(cè)量裝置3連接。
[0031]下面介紹各個(gè)部件各自的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
[0032]下面介紹導(dǎo)線固定夾具I的具體結(jié)構(gòu)，請(qǐng)結(jié)合圖2，參看圖3、圖4、圖5。其中，圖3描述的是導(dǎo)線固定夾具I的整體結(jié)構(gòu)。圖4描述的是從圖3中的B-B進(jìn)行截面的導(dǎo)線固定夾具I的剖面圖。圖5描述的是從圖3中的C-C進(jìn)行截面的導(dǎo)線固定夾具I的剖面圖。
[0033]導(dǎo)線固定夾具I包括:第一絕緣夾板5、第二絕緣夾板6、鎖緊螺母7、第一接線柱
8、第二接線柱9、第三接線柱10、第四接線柱11、壓蓋12和墊片13。
[0034]其中，第一絕緣夾板5、第二絕緣夾板6嵌套在待測(cè)金屬試樣a上。鎖緊螺母7分別設(shè)置在第一絕緣夾板5、第二絕緣夾板6上。第一接線柱8、第二接線柱9穿過(guò)第一絕緣夾板5,和待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。第三接線柱10、第四接線柱11穿過(guò)第二絕緣夾板6，和待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。壓蓋12通過(guò)墊片13分別連接在第一接線柱8、第二接線柱9、第三接線柱10、第四接線柱11上。
[0035]對(duì)于第一絕緣夾板5來(lái)說(shuō)，第一絕緣夾板5包括第一絕緣板夾14和第二絕緣板夾15,待測(cè)金屬試樣a位于第一絕緣板夾14和第二絕緣板夾15之間。第一絕緣板夾14的橫截面為長(zhǎng)方形，第一絕緣板夾14兩端設(shè)有螺孔。第二絕緣板夾15的橫截面為長(zhǎng)方形，第二絕緣板夾15兩端設(shè)有通孔。第二絕緣板夾15與待測(cè)金屬試樣a的接觸面有長(zhǎng)方形凹槽，凹槽的槽底兩端設(shè)置有螺紋通孔。鎖緊螺母7穿過(guò)第二絕緣板夾15兩端的通孔，并和第一絕緣板夾14兩端的螺孔對(duì)應(yīng)配合。第一接線柱8和第二接線柱9分別穿過(guò)凹槽的槽底兩端的螺紋通孔，且和待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。
[0036]對(duì)于第一接線柱8來(lái)說(shuō)，第一接線柱8和第二接線柱9的結(jié)構(gòu)相同。下面以第一接線柱8為例進(jìn)行說(shuō)明:第一接線柱8的一端為錐體，第一接線柱8的另一端為圓柱，圓柱中心設(shè)有螺紋孔。其中，第一接線柱8另一端的圓柱穿過(guò)凹槽的槽底一端的螺紋通孔，第一接線柱8的錐體的頂端與待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。
[0037]對(duì)于第二接線柱9來(lái)說(shuō)，和第一接線柱8的結(jié)構(gòu)相同。第二接線柱9另一端的圓柱穿過(guò)凹槽的槽底另一端的螺紋通孔，第二接線柱9的錐體的頂端與待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。
[0038]壓蓋12通過(guò)螺紋分別與第一接線柱8的螺紋孔、第二接線柱9的螺紋孔連接，并和墊片13 —起固定導(dǎo)線。
[0039]對(duì)于第二絕緣夾板6來(lái)說(shuō)，在實(shí)際應(yīng)用中，第二絕緣夾板6和第一絕緣夾板5的結(jié)構(gòu)是一樣的。
[0040]第二絕緣夾板6包括第三絕緣板夾16和第四絕緣板夾17，待測(cè)金屬試樣a位于第三絕緣板夾16和第四絕緣板夾17之間。第三絕緣板夾16的橫截面為長(zhǎng)方形，第三絕緣板夾16兩端設(shè)有螺孔。第四絕緣板夾17的橫截面為長(zhǎng)方形，第四絕緣板夾17兩端設(shè)有通孔。第四絕緣板夾17與待測(cè)金屬試樣a的接觸面有長(zhǎng)方形凹槽，凹槽的槽底兩端設(shè)置有螺紋通孔。鎖緊螺母7穿過(guò)第四絕緣板夾17兩端的通孔，并和第三絕緣板夾16兩端的螺孔對(duì)應(yīng)配合。第三接線柱10和第四接線柱11分別穿過(guò)凹槽的槽底兩端的螺紋通孔，且和待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。
[0041]對(duì)于第三接線柱10來(lái)說(shuō)，第三接線柱10和第四接線柱11的結(jié)構(gòu)相同。下面以第三接線柱10為例進(jìn)行說(shuō)明:第三接線柱10的一端為錐體，第三接線柱10的另一端為圓柱，圓柱中心設(shè)有螺紋孔。其中，第三接線柱10另一端的圓柱穿過(guò)凹槽的槽底一端的螺紋通孔，第三接線柱10的錐體的頂端與待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。
[0042]對(duì)于第四接線柱11來(lái)說(shuō)，第四接線柱11另一端的圓柱穿過(guò)凹槽的槽底另一端的螺紋通孔，第四接線柱11的錐體的頂端與待測(cè)金屬試樣a的表面接觸。
[0043]壓蓋12通過(guò)螺紋分別與第三接線柱10的螺紋孔、第四接線柱11的螺紋孔連接，并和墊片13 —起固定導(dǎo)線。
[0044]以上是導(dǎo)線固定夾具I的具體結(jié)構(gòu)。
[0045]對(duì)于恒流源裝置2來(lái)說(shuō)，恒流源裝置2要求能夠輸出恒定電流，即:在待測(cè)金屬試樣a上產(chǎn)生恒定電流場(chǎng)即可。
[0046]對(duì)于測(cè)量裝置3來(lái)說(shuō)，測(cè)量裝置3要求能夠采集待測(cè)金屬試樣a在彎曲過(guò)程中的電位變化信號(hào)，并將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)即可。測(cè)量裝置3可以有多種形式，本實(shí)施實(shí)例中采用數(shù)據(jù)采集卡。
[0047]對(duì)于處理器4來(lái)說(shuō)，其內(nèi)部裝有處理軟件，用于處理測(cè)量裝置3傳輸過(guò)來(lái)的數(shù)字信號(hào)。處理器4可以有多種形式。例如本實(shí)施實(shí)例中可采用計(jì)算機(jī)作為處理器4，數(shù)據(jù)采集卡與計(jì)算機(jī)通過(guò)USB通信。
[0048]恒流源裝置2兩端的導(dǎo)線和測(cè)量裝置3兩端的導(dǎo)線與上面四個(gè)接線柱接線方式如下:壓蓋12通過(guò)墊片13，將恒流源裝置2兩端的導(dǎo)線分別連接在第一接線柱8和第四接線柱11上，且壓蓋12通過(guò)墊片13，將測(cè)量裝置3兩端的導(dǎo)線分別連接在第二接線柱9和第三接線柱10上。
[0049]下面介紹裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備的安裝、測(cè)試過(guò)程。
[0050]本實(shí)用新型的優(yōu)先實(shí)施例，在工作時(shí)首先將待測(cè)金屬試樣a在機(jī)動(dòng)式彎折試驗(yàn)機(jī)上裝好，將第一絕緣夾板5和第二絕緣夾板6安裝在待測(cè)金屬試樣a上下兩端，擰緊鎖緊螺母7。接著擰緊第一接線柱8、第二接線柱9、第三接線柱10、第四接線柱11，使四個(gè)接線柱的錐體頂端和待測(cè)金屬試樣a接觸牢靠，將恒流源裝置2和測(cè)量裝置3的導(dǎo)線分別連接到四個(gè)接線柱上，用壓蓋12和墊片13固定。然后啟動(dòng)恒流源裝置2、測(cè)量裝置3和處理器4，打開(kāi)處理軟件，開(kāi)始監(jiān)測(cè)電位信號(hào)。最后啟動(dòng)機(jī)動(dòng)式彎折試驗(yàn)機(jī)，開(kāi)始實(shí)驗(yàn)，處理軟件根據(jù)獲得的電位信號(hào)判斷裂紋產(chǎn)生過(guò)程，當(dāng)達(dá)到要求值時(shí)停止實(shí)驗(yàn)，記錄此時(shí)彎曲次數(shù)即可。
[0051]通過(guò)本實(shí)用新型的一個(gè)或者多個(gè)技術(shù)方案，本實(shí)用新型具有以下有益效果或者優(yōu)占-
[0052]本實(shí)用新型提供了一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，僅包括導(dǎo)線固定夾具，恒流源裝置，測(cè)量裝置，處理器。其中，導(dǎo)線固定夾具固定夾在待測(cè)金屬試樣a上。恒流源裝置和測(cè)量裝置分別通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在導(dǎo)線固定夾具。處理器和測(cè)量裝置連接。通過(guò)這四個(gè)部件的連接，便能夠監(jiān)測(cè)金屬材料裂紋，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，安裝方便。
[0053]盡管已描述了本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對(duì)這些實(shí)施例做出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實(shí)施例以及落入本實(shí)用新型范圍的所有變更和修改。
[0054]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實(shí)用新型的這些修改和變型屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實(shí)用新型也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括:導(dǎo)線固定夾具；恒流源裝置；測(cè)量裝置；處理器； 其中，所述導(dǎo)線固定夾具固定夾在待測(cè)金屬試樣上； 所述恒流源裝置通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在所述導(dǎo)線固定夾具上，通過(guò)所述導(dǎo)線固定夾具和所述待測(cè)金屬試樣連接； 所述測(cè)量裝置通過(guò)導(dǎo)線穿設(shè)在所述導(dǎo)線固定夾具上，通過(guò)所述導(dǎo)線固定夾具和所述待測(cè)金屬試樣連接； 所述處理器和所述測(cè)量裝置連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述導(dǎo)線固定夾具包括:第一絕緣夾板、第二絕緣夾板、鎖緊螺母、第一接線柱、第二接線柱、第三接線柱、第四接線柱、壓蓋和墊片； 其中，所述第一絕緣夾板、所述第二絕緣夾板嵌套在所述待測(cè)金屬試樣上； 所述鎖緊螺母分別設(shè)置在所述第一絕緣夾板、所述第二絕緣夾板上； 所述第一接線柱、所述第二接線柱穿過(guò)所述所述第一絕緣夾板，和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸； 所述第三接線柱、所述第四接線柱穿過(guò)所述第二絕緣夾板，和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸； 所述壓蓋通過(guò)所述墊片分別連接在所述第一接線柱、所述第二接線柱、所述第三接線柱、所述第四接線柱上。
3.如權(quán)利要求2所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述壓蓋通過(guò)所述墊片，將所述恒流源裝置兩端的導(dǎo)線分別連接在所述第一接線柱和所述第四接線柱上，且所述壓蓋通過(guò)所述墊片，將所述測(cè)量裝置兩端的導(dǎo)線分別連接在所述第二接線柱和所述第三接線柱上。
4.如權(quán)利要求2所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述第一絕緣夾板包括第一絕緣板夾和第二絕緣板夾，所述待測(cè)金屬試樣位于所述第一絕緣板夾和所述第二絕緣板夾之間； 所述第一絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第一絕緣板夾兩端設(shè)有螺孔； 所述第二絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第二絕緣板夾兩端設(shè)有通孔； 所述第二絕緣板夾與待測(cè)金屬試樣的接觸面有長(zhǎng)方形凹槽，所述凹槽的槽底兩端設(shè)置有螺紋通孔； 所述鎖緊螺母穿過(guò)所述第二絕緣板夾兩端的通孔，并和所述第一絕緣板夾兩端的螺孔對(duì)應(yīng)配合； 所述第一接線柱和所述第二接線柱分別穿過(guò)所述凹槽的槽底兩端的螺紋通孔，且和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
5.如權(quán)利要求4所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述第一接線柱的一端為錐體，所述第一接線柱的另一端為圓柱，所述圓柱中心設(shè)有螺紋孔；所述第一接線柱和所述第二接線柱的結(jié)構(gòu)相同； 其中，所述第一接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底一端的螺紋通孔，所述第一接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸； 其中，所述第二接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底另一端的螺紋通孔，所述第二接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
6.如權(quán)利要求5所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述壓蓋通過(guò)螺紋分別與所述第一接線柱的螺紋孔、所述第二接線柱的螺紋孔連接，并和所述墊片一起固定導(dǎo)線。
7.如權(quán)利要求2所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述第二絕緣夾板包括第三絕緣板夾和第四絕緣板夾，所述待測(cè)金屬試樣位于所述第三絕緣板夾和所述第四絕緣板夾之間； 所述第三絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第三絕緣板夾兩端設(shè)有螺孔； 所述第四絕緣板夾的橫截面為長(zhǎng)方形，所述第四絕緣板夾兩端設(shè)有通孔； 所述第四絕緣板夾與待測(cè)金屬試樣的接觸面有長(zhǎng)方形凹槽，所述凹槽的槽底兩端設(shè)置有螺紋通孔； 所述鎖緊螺母穿過(guò)所述第四絕緣板夾兩端的通孔，并和所述第三絕緣板夾兩端的螺孔對(duì)應(yīng)配合； 所述第三接線柱和所述第四接線柱分別穿過(guò)所述凹槽的槽底兩端的螺紋通孔，且和所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
8.如權(quán)利要求7所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述第三接線柱的一端為錐體，所述第三接線柱的另一端為圓柱，所述圓柱中心設(shè)有螺紋孔；所述第三接線柱和所述第四接線柱的結(jié)構(gòu)相同； 其中，所述第三接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底一端的螺紋通孔，所述第三接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸； 其中，所述第四接線柱另一端的圓柱穿過(guò)所述凹槽的槽底另一端的螺紋通孔，所述第四接線柱的錐體的頂端與所述待測(cè)金屬試樣的表面接觸。
9.如權(quán)利要求8所述的一種裂紋監(jiān)測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述壓蓋通過(guò)螺紋分別與所述第三接線柱的螺紋孔、所述第四接線柱的螺紋孔連接，并和所述墊片一起固定導(dǎo)線。
【文檔編號(hào)】G01N3/06GK203981498SQ201420416109
【公開(kāi)日】2014年12月3日 申請(qǐng)日期:2014年7月25日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月25日
【發(fā)明者】陳一鳴, 趙雪松, 高云, 鄧攀, 劉冬, 褚乃強(qiáng), 尚倫, 余立 申請(qǐng)人:武漢鋼鐵(集團(tuán))公司