一種pe超聲檢測校準(zhǔn)試塊的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，包括：本體，本體為截面呈矩形的立方體，本體一端延伸形成半徑為2R、厚度小于本體厚度的第一圓弧面，第一圓弧面表面上設(shè)置有半徑為R、厚度小于或等于本體厚度的第二圓弧面，第一圓弧面和第二圓弧面的圓心均位于本體的上端面；本體正面鄰近第二圓弧面的一端設(shè)置有至少兩個半徑不同的橫通孔，本體正面遠離第二圓弧面的一端形成有一個半圓凹槽，其中，沿半圓凹槽的中心線設(shè)置有至少兩個半徑相同的短橫孔。通過上述方式，能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值和K值進行校準(zhǔn)，并對工件的缺陷當(dāng)量進行比對，進而能夠?qū)SK-ⅠA和CSK-ⅢA的基本功能合二為一，制作成本低、且攜帶方便。
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實用新型涉及超聲波探傷試塊【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊。 一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊

【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有技術(shù)中，進行超聲檢測通常需要使用CSK- I A試塊和CSK- III A試塊對超聲 儀器和探頭進行校準(zhǔn)，具體的，主要利用CSK- I A試塊對超聲儀器和探頭的K值和前沿值 進行校準(zhǔn)、利用CSK- III A試塊對缺陷對當(dāng)量進行對比。
[0003] 然而，在實際應(yīng)用中，尤其是在檢測工件自身厚度較薄時，如PE(p〇ly ethylene，聚 乙烯)材質(zhì)的工件，仍需要采用上述的CSK- I A試塊和CSK-III A試塊，其具有成本較高、且 攜帶不方便的問題。 實用新型內(nèi)容
[0004] 本實用新型為解決上述技術(shù)問題提供一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，能夠?qū)Τ晝x 器和探頭的前沿值和K值進行校準(zhǔn)，并對工件的缺陷當(dāng)量進行比對，進而能夠?qū)SK- I A 和CSK- III A的基本功能合二為一，制作成本低、且攜帶方便。
[0005] 為解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，包括：所述PE 超聲檢測校準(zhǔn)試塊包括：本體，所述本體為截面呈矩形的立方體，所述本體一端延伸形成半 徑為2R、厚度小于所述本體厚度的第一圓弧面，所述第一圓弧面表面上進一步設(shè)置有半徑 為R、厚度小于或等于所述本體厚度的第二圓弧面，所述第一圓弧面和所述第二圓弧面的圓 心均位于所述本體的上端面；進一步地，所述本體正面鄰近所述第二圓弧面的一端設(shè)置有 至少兩個半徑不同的橫通孔，所述本體正面遠離所述第二圓弧面的一端形成有一個半圓凹 槽，其中，沿所述半圓凹槽的中心線設(shè)置有至少兩個半徑相同的短橫孔。
[0006] 其中，含有所述第一圓弧面的本體的上端面長度為150mm，高度為50mm，厚度為 30mm〇
[0007] 其中，所述第一圓弧面的半徑為50mm、厚度為5mm，所述第二圓弧面的半徑為 25mm、厚度等于所述本體的厚度。
[0008] 其中，所述橫通孔一個為直徑為2mm的第一橫通孔、一個直徑為1. 5mm的第二橫通 孔。
[0009] 其中，所述第一橫通孔距離所述本體上端面20mm，所述第二橫通孔距離所述本體 下端面15mm，并且，所述第一橫通孔和所述第二橫通孔均距離所述第一圓弧面最遠端在垂 直方向上的投影60mm。
[0010] 其中，所述半圓凹槽半徑為l〇mm、并距離所述本體遠離所述第一圓弧面的一端 10mm，所述短橫孔均為Φ2Χ6短橫孔。
[0011] 其中，其中一所述短橫孔距離所述本體上表面l〇mm、另一所述短橫孔距離所述本 體上表面30mm。
[0012] 本實用新型實施方式的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，通過在試塊本體上設(shè)置第一圓弧 面、及在第一圓弧面上設(shè)置第二圓弧面，能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值進行校準(zhǔn)；通過在 試塊本體上設(shè)置設(shè)置兩個半徑不同的橫通孔，能夠能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值進行校 準(zhǔn)；同時，通過在試塊本體上設(shè)置半圓凹槽、且在半圓凹槽中心線上設(shè)置兩個短橫孔，能夠 對所測量工件的缺陷當(dāng)量進行對比，將CSK- I A和CSK- III A的基本功能合二為一，制作成 本低、且攜帶方便。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013] 圖1是本實用新型PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊是實施方式的主視圖。
[0014] 圖2是圖1所示PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊的側(cè)視圖。

【具體實施方式】
[0015] 下面結(jié)合附圖和實施方式對本實用新型進行詳細說明。
[0016] 結(jié)合圖1和圖2進行參閱，本實用新型實施方式的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，包括：本 體1，本體1為截面呈矩形的立方體，本體1 一端延伸形成半徑為2R、厚度小于本體1厚度 的第一圓弧面2,第一圓弧面2表面上進一步設(shè)置有半徑為R、厚度小于或等于本體1厚度 的第二圓弧面3,第一圓弧面2和第二圓弧面3的圓心均位于本體1的上端面；進一步地， 本體1正面鄰近第二圓弧面3的一端設(shè)置有至少兩個半徑不同的橫通孔，本體1正面遠離 第二圓弧面3的一端形成有一個半圓凹槽5,其中，沿半圓凹槽5的中心線設(shè)置有至少兩個 半徑相同的短橫孔。
[0017] 具體而言，如圖1和2所示，本實用新型的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊在外形上與通用 的CSK- I A標(biāo)準(zhǔn)試塊在形狀上基本相似，并呈1:2的等比例縮小。其中，含有第一圓弧面 2的本體1的上端面長度L為150mm (即該超聲檢測校準(zhǔn)試塊的最大長度為150mm)，高度Η 為50mm，厚度Τ為30mm。進一步地，第一圓弧面2的半徑2R為50mm、厚度T1為5mm，第二 圓弧面3的半徑R為25mm、厚度等于所述本體1的厚度，即第二圓弧面3的厚度為25mm，其 表面與本體1的表面平齊。具體使用時，利用該半徑為50mm的第一圓弧面2和半徑為25mm 的第二圓弧面3可以對超聲儀器和探頭的前沿值進行校準(zhǔn)。
[0018] 更進一步地，橫通孔一個為直徑為2mm的第一橫通孔41、一個直徑為1. 5mm的第二 橫通孔42。其中，第一橫通孔41距本體1上端面的距離H1為20mm，第二橫通孔42距本體 1下端面的距離H2為15mm，并且，第一橫通孔41和第二橫通孔42均距離第一圓弧面2最 遠端在垂直方向上的投影L1為60mm。具體使用時，利用該直徑為2mm的第一橫通孔41和 直徑為1. 5mm的第二橫通孔42可以對超聲儀器和探頭的K值進行校準(zhǔn)。
[0019] 上述對超聲儀器和探頭的前沿值和K值進行校準(zhǔn)的原理和步驟與利用CSK- I A 標(biāo)準(zhǔn)試塊的原理和步驟相同，此處不一一贅述。
[0020] 更進一步地，上述實施方式中，本體1上的半圓凹槽5直徑D為20mm(即半圓凹槽 5的半徑為10mm)、并距本體1遠離第一圓弧面2的一端的距離L2為10mm，短橫孔51、52均 為Φ2Χ6短橫孔，具體即短橫孔51、52的直徑為2mm、孔深H5為6mm。其中，其中一短橫孔 51距本體1上表面的距離H3為10mm、另一短橫孔52距本體1上表面的距離H4為30mm。 具體使用時，利用該兩個直徑為2mm短橫孔51、52可以對工件缺陷的當(dāng)量進行對比，代替現(xiàn) 有技術(shù)中需要額外采用CSK- III A標(biāo)準(zhǔn)試塊對工件缺陷的當(dāng)量進行對比，其操作也更簡單， 只需攜帶該一個PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊即可，攜帶方便，也能極大節(jié)省成本。另外，本實施方 式PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊的本體1上設(shè)置的短橫孔，對于厚度較小的工件，比如PE材質(zhì)工件 但不僅限于PE材質(zhì)工件，因為PE材質(zhì)工件厚度通常在30mm以內(nèi)，足夠檢測該厚度范圍內(nèi) 的工件。當(dāng)然，按照本實施方式制作而成的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，對工件缺陷當(dāng)量進行對 比時，利用短橫孔在本體1正反兩面的不同路徑進行測量時，最大可滿足厚度為45mm的工 件進行測量。其測量原理和步驟與CSK-IIIA標(biāo)準(zhǔn)試塊的原理和步驟相同，此處亦不做一一 贅述。
[0021] 本實用新型實施方式的ΡΕ超聲檢測校準(zhǔn)試塊，通過在試塊本體1上設(shè)置第一圓弧 面2、及在第一圓弧面2上設(shè)置第二圓弧面3,能夠?qū)Τ晝x器和探頭的前沿值進行校準(zhǔn)；通 過在試塊本體1上設(shè)置設(shè)置兩個半徑不同的橫通孔41、42,能夠能夠?qū)Τ晝x器和探頭的 前沿值進行校準(zhǔn)；同時，通過在試塊本體1上設(shè)置半圓凹槽5、且在半圓凹槽5中心線上設(shè) 置兩個短橫孔51、52,能夠?qū)λ鶞y量工件的缺陷當(dāng)量進行對比。即本實用新型的ΡΕ超聲檢 測校準(zhǔn)試塊能夠?qū)F(xiàn)有技術(shù)的CSK- I Α對于超聲儀器、探頭的前沿值和Κ值的校準(zhǔn)，以及 CSK- III A對于工件缺陷的對比功能合二為一，能夠滿足實際工作中對厚度較薄的工件進行 測量的各步驟環(huán)節(jié)的基本要求，其制作成本較低，試塊體積較小、重量較輕，攜帶極其方便。
[0022] 以上僅為本實用新型的實施方式，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利 用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其 他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于，所述PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊包括： 本體，所述本體為截面呈矩形的立方體，所述本體一端延伸形成半徑為2R、厚度小于所 述本體厚度的第一圓弧面，所述第一圓弧面表面上進一步設(shè)置有半徑為R、厚度小于或等于 所述本體厚度的第二圓弧面，所述第一圓弧面和所述第二圓弧面的圓心均位于所述本體的 上端面； 進一步地，所述本體正面鄰近所述第二圓弧面的一端設(shè)置有至少兩個半徑不同的橫通 孔，所述本體正面遠離所述第二圓弧面的一端形成有一個半圓凹槽，其中，沿所述半圓凹槽 的中心線設(shè)置有至少兩個半徑相同的短橫孔。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 含有所述第一圓弧面的本體的上端面長度為150mm，高度為50mm，厚度為30mm。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述第一圓弧面的半徑為50mm、厚度為5mm，所述第二圓弧面的半徑為25mm、厚度等于 所述本體的厚度。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述橫通孔一個為直徑為2mm的第一橫通孔、一個直徑為1. 5mm的第二橫通孔。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述第一橫通孔距離所述本體上端面20mm，所述第二橫通孔距離所述本體下端面 15mm，并且，所述第一橫通孔和所述第二橫通孔均距離所述第一圓弧面最遠端在垂直方向 上的投影60mm。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 所述半圓凹槽半徑為l〇mm、并距離所述本體遠離所述第一圓弧面的一端10mm，所述短 橫孔均為Φ2Χ6短橫孔。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的PE超聲檢測校準(zhǔn)試塊，其特征在于： 其中一所述短橫孔距離所述本體上表面l〇mm、另一所述短橫孔距離所述本體上表面 30mm〇
【文檔編號】G01N29/30GK203894199SQ201420159221
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年4月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月2日
【發(fā)明者】葉龍, 冷小琪, 李興華, 唐興軍, 魏鵬, 王堯, 羅仁安 申請人:深圳市泰克尼林科技發(fā)展有限公司