Edfa瞬態(tài)特性測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明旨在提供一種能夠對EDFA瞬態(tài)特性EDFA瞬態(tài)特性進行測試的，以提高EDFA網絡傳輸穩(wěn)定性的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，它包括用于產生瞬態(tài)特性測試信號光源的信號光源發(fā)生單元、接收所述信號光源的待測EDFA、以及用于對待測EDFA進行瞬態(tài)特性測試的檢測單元。
【專利說明】
EDFA瞬態(tài)特性測試裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種EDFA測試裝置，具體涉及一種能夠對摻鉺光纖放大器(EDFA)的瞬態(tài)特性進行測試的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置。
【背景技術】
[0002]摻鉺光纖放大器(EDFA)的出現加速了光通信得發(fā)展，EDFA其自身具有以下優(yōu)點:對數據格式和速率透明、增益大、噪聲小，可直接對光信號進行放大，同時省去了電再生中繼器、節(jié)省成本、增益帶寬大、擴大了傳輸容量。EDFA作為DWDM系統(tǒng)及未來高速系統(tǒng)、全光網絡不可缺少的重要器件，必然需要適應光網絡的新需求。例如在DWDM系統(tǒng)中，當輸入EDFA的光信號強度放生較大變化，比如發(fā)生16dB的掉波或者上波時，并且瞬態(tài)持續(xù)時間在微秒級時，餌纖中的能量會瞬間轉移到剩余的信號波長中，使該剩余信號波長產生過沖或者欠沖。過沖和欠沖在多級EDFA級聯時會嚴重影響網絡的穩(wěn)定性，所以對EDFA的瞬態(tài)特性測試就變得非常重要。
【發(fā)明內容】
[0003]本發(fā)明的目的在于克服現有技術的不足，適應現實需要，提供一種能夠對EDFA瞬態(tài)特性進行測試的，以提高EDFA網絡傳輸穩(wěn)定性的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置。
[0004]為了實現本發(fā)明的目的，本發(fā)明所采用的技術方案為:
設計一種EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，它包括用于產生瞬態(tài)特性測試信號光源的信號光源發(fā)生單元、接收所述信號光源的待測EDFA、以及用于對待測EDFA進行瞬態(tài)特性測試的檢測單元；所述檢測單元包括:
第一波長選擇光開關，用于接收待測EDFA的輸出光信號，并過濾出待分析波長的光信號;
光電轉換器，與第一波長選擇光開關對應連接，將過濾出的待分析波長的光信號轉換為電信號；
對數轉換電路或跨導轉換電路，與光電轉換器對應連接；
數字示波器，接收對數轉換電路或跨導轉換電路輸出的模擬電信號。
[0005]所述信號光源發(fā)生單元包括:
ASE光源，用于產生寬譜ASE光；
第二波長選擇光開關，接收ASE光并產生兩路多波長信號光源；
信號發(fā)生器，產生測試信號；
聲光調制器，與信號發(fā)生器對應連接，并接收第二波長選擇光開關所產生的兩路多波長信號光源中的其中一路光信號，并同信號發(fā)生器產生的測試信號進行調制；
第一可調光衰減器，與聲光調制器的輸出端對應連接，接收聲光調制器的輸出信號，并產生一個單波信號；
第二可調光衰減器，接收第二波長選擇光開關所產生的兩路多波長信號光源中的另一路光信號，并產生一個多波信號；
光耦合器，將第一可調光衰減器和第二可調光衰減器輸出的信號進行耦合，并將耦合后的信號用作瞬態(tài)特性測試的信號光源。
[0006]所述第一波長選擇光開關為2X1波長選擇光開關。
[0007]所述第二波長選擇光開關為1X2波長選擇光開關。
[0008]所述測試信號為經過方波信號調試的光信號。
[0009]本發(fā)明的有益效果在于:
1.本發(fā)明的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置可以準確的測試EDFA的瞬態(tài)特性，同時，并可以滿足各種測試條件，能夠測試出微秒級的瞬態(tài)變化，靈敏度高，準確可靠。
[0010]2.本發(fā)明采用ASE光源和波長選擇光開關產生多波光源，成本低廉、較易獲得，且測試波長可任意選擇。同時，采用波長選擇光開關來濾出待檢測波長，其濾波通道可靈活選擇。
[0011]3.本發(fā)明的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置還具有結構簡單、造作成本低、易于實現等優(yōu)點。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0012]圖1為本發(fā)明主要原理示意圖。
【具體實施方式】
[0013]下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明:
實施例1:一種EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，參見圖1，它包括用于產生瞬態(tài)特性測試信號光源的信號光源發(fā)生單元、接收所述信號光源的待測EDFA、以及用于對待測EDFA進行瞬態(tài)特性測試的檢測單元；
所述的信號光源發(fā)生單元包括=ASE光源，用于產生寬譜ASE光；
第二波長選擇光開關(1X2波長選擇光開關),接收ASE光并產生兩路多波長信號光源，兩路多波長信號光源的每個波長的線寬由第二波長選擇光開關(1X2波長選擇光開關)的每個衰減通道帶寬決定，通過設置1X2波長選擇光開關的各個通道的電壓來調節(jié)各個通道的光衰減值，以此來選擇兩臂輸出的多波長信號光源的光信號波長，并且能對兩臂輸出的多波長信號光源的斜率根據測試需求進行調節(jié)；對產生的兩路多波長信號光源，其一路用于進行強度調制，作為上下波通道，另外一路用作待檢測通道。
[0014]信號發(fā)生器，產生測試要求的瞬態(tài)上下路波形的測試信號，用作調制信道，該測試信號為經過方波信號調試的光信號；
聲光調制器，與信號發(fā)生器對應連接，接收第二波長選擇光開關所產生的兩路多波長信號光源中的其中一路光信號，并同信號發(fā)生器產生的測試信號進行調制；
第一可調光衰減器，與聲光調制器的輸出端對應連接，接收聲光調制器的輸出信號，并產生一個單波信號，；
第二可調光衰減器，接收第二波長選擇光開關所產生的兩路多波長信號光源中的另一路光信號，并產生一個多波信號；
光耦合器，將第一可調光衰減器和第二可調光衰減器輸出的信號進行耦合，并將耦合后的信號用作瞬態(tài)特性測試的信號光源。
[0015]所述的檢測單元包括:
第一波長選擇光開關(2X1波長選擇光開關),將經過光稱合器稱合后的信號光源經過待測EDFA后，直接經過該第一波長選擇光開關，通過調節(jié)2X1的波長選擇光開關的各個通道的衰減值來過濾出待分析波長的光信號，具體方法為:將待分析波長通道的衰減值調節(jié)到最小，并將其他波長信道的衰減值調節(jié)到最大；
光電轉換器，與第一波長選擇光開關對應連接，將過濾出的待分析波長的光信號濾出的轉換為電信號；
對數轉換電路或跨導轉換電路，與光電轉換器對應連接，可以對輸入EDFA的信號光源和其EDFA的輸出光信號進行探測；
數字示波器，接收對數轉換電路或者跨導轉換電路輸出的模擬電信號，用該數字示波器所顯示的波形進行檢測分析其EDFA瞬態(tài)特性。
[0016]雖然，本發(fā)明的實施例公布的是較佳的實施例，但并不局限于此，本領域的普通技術人員，極易根據上述實施例，領會本發(fā)明的精神，并做出不同的引申和變化，但只要不脫離本發(fā)明的精神，都在本發(fā)明的保護范圍內。
【權利要求】
1.一種EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，其特征在于:它包括用于產生瞬態(tài)特性測試信號光源的信號光源發(fā)生單元、接收所述信號光源的待測EDFA、以及用于對待測EDFA進行瞬態(tài)特性測試的檢測單元；所述檢測單元包括: 第一波長選擇光開關，用于接收待測EDFA的輸出光信號，并過濾出待分析波長的光信號; 光電轉換器，與第一波長選擇光開關對應連接，將過濾出的待分析波長的光信號轉換為電信號； 對數轉換電路或跨導轉換電路，與光電轉換器對應連接； 數字示波器，接收對數轉換電路或跨導轉換電路輸出的模擬電信號。
2.如權利要求1所述的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，其特征在于:所述信號光源發(fā)生單元包括: ASE光源，用于產生寬譜ASE光； 第二波長選擇光開關，接收ASE光并產生兩路多波長信號光源； 信號發(fā)生器，產生測試信號； 聲光調制器，與信號發(fā)生器對應連接，并接收第二波長選擇光開關所產生的兩路多波長信號光源中的其中一路光信號，并同信號發(fā)生器產生的測試信號進行調制； 第一可調光衰減器，與聲光調制器的輸出端對應連接，接收聲光調制器的輸出信號，并產生一個單波信號； 第二可調光衰減器，接收第二波長選擇光開關所產生的兩路多波長信號光源中的另一路光信號，并產生一個多波信號； 光耦合器，將第一可調光衰減器和第二可調光衰減器輸出的信號進行耦合，并將耦合后的信號用作瞬態(tài)特性測試的信號光源。
3.如權利要求2所述的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，其特征在于:所述第一波長選擇光開關為2X1波長選擇光開關。
4.如權利要求3所述的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，其特征在于:所述第二波長選擇光開關為1X2波長選擇光開關。
5.如權利要求4所述的EDFA瞬態(tài)特性測試裝置，其特征在于:所述測試信號為經過方波信號調試的光信號。
【文檔編號】G01M11/02GK104330242SQ201410647429
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年11月14日 優(yōu)先權日:2014年11月14日
【發(fā)明者】周仲謀, 陳智凱, 徐桂芹, 劉捷, 張永興, 呂華龍 申請人:國網江西省電力公司贛西供電分公司