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玻璃基板的檢測(cè)方法

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玻璃基板的檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種玻璃基板的檢測(cè)方法,該玻璃基板的檢測(cè)方法包括:在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑;對(duì)該玻璃基板的表面進(jìn)行第一清洗;對(duì)該玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理,以便根據(jù)該玻璃基板上顯色的位置獲取該玻璃基板缺陷的位置。本發(fā)明通過(guò)在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑,當(dāng)玻璃基板存在缺陷時(shí),滲透探傷劑會(huì)對(duì)玻璃基板的缺陷部位進(jìn)行滲透著色,在對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理使存留的滲透探傷劑進(jìn)行顯色后,就可根據(jù)顯色的位置獲取玻璃基板缺陷的位置,相比現(xiàn)有技術(shù),不僅能夠增加檢測(cè)缺陷的種類和范圍,且檢測(cè)過(guò)程不易受外界影響,從而大大提高其檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
【專利說(shuō)明】玻璃基板的檢測(cè)方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示領(lǐng)域,尤其涉及一種玻璃基板的檢測(cè)方法。

【背景技術(shù)】
[0002]玻璃基板是LCD行業(yè)所用的主要原材,但是在復(fù)雜工藝流程中,往往會(huì)由于各種原因?qū)е虏AЩ瀹a(chǎn)生裂紋、破損。
[0003]在傳統(tǒng)的TFT-LCD (Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜晶體管液晶顯示裝置)行業(yè),為了檢測(cè)玻璃基板上是否存在破損,通常在玻璃基板清洗機(jī)上運(yùn)用Chipping Sensor (碎片檢知計(jì))對(duì)玻璃基板進(jìn)行破損檢知,如圖1所示,碎片檢知計(jì)I的原理是通過(guò)檢知照射至玻璃基板2上的光線的反射光的光強(qiáng)來(lái)判定玻璃基板是否破損,然而,此種方式易受到周圍光線的干擾而頻繁產(chǎn)生誤報(bào)警,且其檢知區(qū)域有限,ChippingSeneor檢知的部位僅限于玻璃基板移動(dòng)方向3上的一條直線,此外,該種檢知方式無(wú)法對(duì)有裂紋的玻璃基板進(jìn)行檢測(cè),而最易在工藝設(shè)備中產(chǎn)生裂片的正是有裂紋的玻璃基板,從而造成其檢測(cè)結(jié)果可靠性不高的問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004](一 )要解決的技術(shù)問(wèn)題
[0005]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種玻璃基板的檢測(cè)方法,能夠提高檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
[0006]( 二 )技術(shù)方案
[0007]為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明的技術(shù)方案提供了一種玻璃基板的檢測(cè)方法,包括:
[0008]在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑;
[0009]對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行第一清洗;
[0010]對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理,以便根據(jù)所述玻璃基板上顯色的位置獲取所述玻璃基板缺陷的位置。
[0011]進(jìn)一步地,所述對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理包括:
[0012]在所述玻璃基板的表面噴涂顯色劑,所述顯色劑通過(guò)與所述滲透探傷劑發(fā)生反應(yīng)顯色。
[0013]進(jìn)一步地,所述滲透探傷劑為熒光滲透探傷劑,所述對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理包括:
[0014]對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理。
[0015]進(jìn)一步地,所述對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理包括:
[0016]采用大于或等于100Ix的白光對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理。
[0017]進(jìn)一步地,所述熒光滲透探傷劑為藍(lán)色熒光滲透探傷劑。
[0018]進(jìn)一步地,在在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑之前還包括:
[0019]對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行第二清洗。
[0020]進(jìn)一步地,在根據(jù)所述玻璃基板上顯色的位置獲取所述玻璃基板缺陷的位置之后還包括;
[0021]對(duì)所述玻璃基板缺陷進(jìn)行等級(jí)判定。
[0022]進(jìn)一步地,所述玻璃基板包括正面以及與所述正面相對(duì)的背面,所述正面用于形成顯示面板的層結(jié)構(gòu),所述在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑包括:
[0023]在玻璃基板的背面噴涂滲透探傷劑。
[0024](三)有益效果
[0025]本發(fā)明通過(guò)在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑,當(dāng)玻璃基板存在缺陷時(shí),例如存在裂紋時(shí),滲透探傷劑會(huì)對(duì)玻璃基板的缺陷部位進(jìn)行滲透著色,即使在對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行第一清洗后,也僅將玻璃基板的表面的滲透探傷劑清洗掉,缺陷部位中的滲透探傷劑仍存留其中,在對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理使存留的滲透探傷劑進(jìn)行顯色后,就可根據(jù)顯色的位置獲取玻璃基板缺陷的位置,相比現(xiàn)有技術(shù),不僅能夠增加檢測(cè)缺陷的種類和范圍,且檢測(cè)過(guò)程不易受外界影響,從而大大提高其檢測(cè)結(jié)果的可靠性。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0026]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中玻璃基板的檢測(cè)示意圖;
[0027]圖2是本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種玻璃基板的檢測(cè)方法的流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0028]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本發(fā)明,但不用來(lái)限制本發(fā)明的范圍。
[0029]圖2是本發(fā)明實(shí)施方式提供的一種玻璃基板的檢測(cè)方法的流程圖,包括:
[0030]S1:在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑;
[0031]S2:對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行第一清洗;
[0032]S3:對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理,以便根據(jù)所述玻璃基板上顯色的位置獲取所述玻璃基板缺陷的位置。
[0033]本發(fā)明實(shí)施方式提供的玻璃基板的檢測(cè)方法,通過(guò)在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑,當(dāng)玻璃基板存在缺陷時(shí),例如存在裂紋時(shí),滲透探傷劑會(huì)對(duì)玻璃基板的缺陷部位進(jìn)行滲透著色,即使在對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行第一清洗后,也僅將玻璃基板的表面的滲透探傷劑清洗掉,缺陷部位中的滲透探傷劑仍存留其中,在對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理使存留的滲透探傷劑進(jìn)行顯色后,就可根據(jù)顯色的位置獲取玻璃基板缺陷的位置,相比現(xiàn)有技術(shù),不僅能夠增加檢測(cè)缺陷的種類和范圍,且檢測(cè)過(guò)程不易受外界影響,從而大大提高其檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
[0034]其中,上述顯色處理可采用化學(xué)處理方式,例如,可在玻璃基板的表面噴涂顯色齊?,顯色劑通過(guò)與滲透探傷劑發(fā)生反應(yīng)顯色。
[0035]優(yōu)選地,上述滲透探傷劑可采用熒光滲透探傷劑,具體地,采用熒光滲透探傷劑進(jìn)行檢測(cè)的方法包括:
[0036]S21:首先對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行熒光滲透探傷劑噴涂,使熒光滲透探傷劑布滿玻璃基板的表面,對(duì)于液晶顯示器制造行業(yè),由于通常玻璃基板的正面用于形成顯示面板的層結(jié)構(gòu),為了盡量避免該檢測(cè)過(guò)程對(duì)形成的顯示面板造成影響,可將熒光滲透探傷劑噴涂在玻璃基板中與正面相對(duì)的背面,其中,采用的熒光滲透探傷劑可以為藍(lán)色熒光滲透探傷齊U。當(dāng)玻璃基板存在缺陷時(shí),噴涂的熒光滲透探傷劑會(huì)對(duì)玻璃基板上的缺陷部位進(jìn)行滲透著色,比如玻璃基板有裂紋,熒光滲透探傷劑就會(huì)滲透入裂紋中。
[0037]S22:對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行第一清洗,以清洗掉玻璃基板表面的熒光滲透探傷齊U,而缺陷部位中的熒光滲透探傷劑仍存留其中,具體地,該第一清洗可采用溶劑沖洗加毛刷清洗的方式對(duì)玻璃基板的背面進(jìn)行清洗,以去除表面上的熒光滲透探傷劑。
[0038]S23:由于該方法采用熒光滲透探傷劑,因此,其顯色處理過(guò)程可采用對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理的方式,例如,可采用大于或等于100lx的白光對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理,使?jié)B透入玻璃基板缺陷其中的熒光滲透探傷劑得到光能,進(jìn)行自發(fā)光,而后對(duì)玻璃基板進(jìn)行熒光掃描,存在缺陷的玻璃基板則會(huì)因滲透入熒光滲透探傷劑而被檢知出缺陷,并通過(guò)CCD對(duì)缺陷位置進(jìn)行鎖定。
[0039]S24 =CCD鎖定后則會(huì)清楚地看到玻璃基板的缺陷,可以根據(jù)缺陷情況進(jìn)行等級(jí)判定,例如可根據(jù)缺陷的區(qū)域大小、位置進(jìn)行缺陷等級(jí)判定,并根據(jù)判定的結(jié)果對(duì)該玻璃基板進(jìn)行不同的處理,不影響正常生產(chǎn)的可以直接下流或者判定部分NG(不良),影響正常生產(chǎn)的則對(duì)整張玻璃基板進(jìn)行NG判定,進(jìn)入NG Buffer (不良存放)。
[0040]為了避免玻璃基板存在灰塵或其他異物而對(duì)檢測(cè)造成影響,優(yōu)選地,在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑之前還可對(duì)玻璃基板的表面進(jìn)行第二清洗,以保證玻璃基板在檢測(cè)前的潔凈度。
[0041]其中,以上步驟可以具體在控制系統(tǒng)中進(jìn)行設(shè)定,控制設(shè)備依次自動(dòng)完成個(gè)各步驟動(dòng)作。
[0042]本發(fā)明實(shí)施方式提供的玻璃基板的檢測(cè)方法成本低、操作簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確度高,其不僅可以檢測(cè)玻璃基板損傷,還可以檢測(cè)玻璃基板外表面劃傷,對(duì)檢知玻璃基板缺陷更加直觀,具體可單獨(dú)分離出一臺(tái)滲透探傷設(shè)備,不僅可以對(duì)玻璃基板進(jìn)行全檢還可以對(duì)有損傷信賴性問(wèn)題的玻璃基板進(jìn)行抽檢,相比現(xiàn)有技術(shù),不僅可以檢測(cè)到玻璃基板表面的各種缺陷,且對(duì)于表面平坦度較高的玻璃基板,其檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確率更高,此外,采用熒光滲透探傷劑的方式不會(huì)對(duì)玻璃基板的組織結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分造成影響,而且易清洗,通過(guò)本發(fā)明的檢測(cè)方法,不僅便于提前對(duì)原材料進(jìn)行等級(jí)判定,避免后續(xù)工藝加工,減少物料浪費(fèi),還能有效避免因?yàn)榱哑a(chǎn)生的Down機(jī)事故發(fā)生,且該方法在TFT-1XD行業(yè)各工廠均可使用,全自動(dòng)進(jìn)行,無(wú)需人員進(jìn)行操作,安全性較高。
[0043]以上實(shí)施方式僅用于說(shuō)明本發(fā)明,而并非對(duì)本發(fā)明的限制,有關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下,還可以做出各種變化和變型,因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇,本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1.一種玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,包括: 在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑; 對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行第一清洗; 對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理,以便根據(jù)所述玻璃基板上顯色的位置獲取所述玻璃基板缺陷的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,所述對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理包括: 在所述玻璃基板的表面噴涂顯色劑,所述顯色劑通過(guò)與所述滲透探傷劑發(fā)生反應(yīng)顯色。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,所述滲透探傷劑為熒光滲透探傷劑,所述對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行顯色處理包括: 對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,所述對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理包括: 采用大于或等于100Ix的白光對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行光照處理。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,所述熒光滲透探傷劑為藍(lán)色熒光滲透探傷劑。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,在在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑之前還包括: 對(duì)所述玻璃基板的表面進(jìn)行第二清洗。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,在根據(jù)所述玻璃基板上顯色的位置獲取所述玻璃基板缺陷的位置之后還包括; 對(duì)所述玻璃基板缺陷進(jìn)行等級(jí)判定。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7任一所述的玻璃基板的檢測(cè)方法,其特征在于,所述玻璃基板包括正面以及與所述正面相對(duì)的背面,所述正面用于形成顯示面板的層結(jié)構(gòu),所述在玻璃基板的表面噴涂滲透探傷劑包括: 在玻璃基板的背面噴涂滲透探傷劑。
【文檔編號(hào)】G01N21/91GK104237255SQ201410487052
【公開(kāi)日】2014年12月24日 申請(qǐng)日期:2014年9月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月22日
【發(fā)明者】方躍, 王成功, 張弦, 唐大虎 申請(qǐng)人:合肥鑫晟光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司
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