使用波長偏移光纖耦合閃爍檢測器進(jìn)行x射線檢查的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種在通過將波長偏移光纖耦接到一個(gè)或多個(gè)光電檢測器的閃爍體的基礎(chǔ)上，通過對光電檢測器信號的時(shí)間整合，來檢查材料的檢測器和方法。閃爍介質(zhì)的非像素化空間將入射的穿透輻射的能量轉(zhuǎn)換成閃爍光，該閃爍光是從閃爍光發(fā)出區(qū)域由多個(gè)光波導(dǎo)發(fā)出的。這種幾何形狀提供了高效且體積小的檢測器，實(shí)現(xiàn)了以往無法實(shí)現(xiàn)的用于對入射輻射進(jìn)行反向散射檢測和能量辨別的幾何形狀?？墒褂妙~外的能量分辨?zhèn)鬏斉渲貌⒖勺鳛閮A斜和失準(zhǔn)的補(bǔ)償。
【專利說明】使用波長偏移光纖耦合閃爍檢測器進(jìn)行X射線檢查
[0001]相關(guān)申請的交叉引用
[0002]本申請要求提交于2012年2月14日的序列號為第61/598，521號和第61/598，576號的兩項(xiàng)美國臨時(shí)專利申請，以及提交于2012年3月6日的序列號為第61/607，066號的美國臨時(shí)專利申請的優(yōu)先權(quán)，在此結(jié)合其全文作為參考。

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0003]本發(fā)明涉及光纖耦合閃爍檢測器并涉及它們的制造方法，并涉及利用光纖耦合閃爍檢測器有效檢測X射線的X射線檢查系統(tǒng)和方法。

【背景技術(shù)】
[0004]輻射和粒子的光纖耦合閃爍檢測器已經(jīng)被使用了過去的超過30年的時(shí)光。在一些情況下，閃爍體是像素化的，包括離散的閃爍體元件，而在其它情況下，則采用其它的手段(例如正交交叉耦合光纖)以便提供空間分辨率。第6，078，052號(授予DiFilippo)以及第7，326，9933號(授予Katagiri等人)的美國專利提供了光纖耦合閃爍檢測器的示例，在此結(jié)合其二者的內(nèi)容作為參考。由DiFiIippo和Katagiri等人說明的檢測器采用了波長偏移光纖(WSF),使得由光纖的芯材再發(fā)射的光可以較低衰減被傳導(dǎo)至部署在方便的位置處的光檢測器，其通常遠(yuǎn)離閃爍體本身。空間分辨率在例如中子成像的應(yīng)用中具有特殊價(jià)值?？臻g分辨率在費(fèi)米大區(qū)域太空望遠(yuǎn)鏡(Fermi Large Area Space Telescope)(以前稱為GLAST)的應(yīng)用中也是極為重要的，在其中高效分段的閃爍檢測器采用了 WSF讀出器以用于檢測高能宇宙射線，正如在Moiseev等人的High Efficiency plastic scintillatordetector with wavelength-shifting fiber readout for the GLAST Large AreaTelescope，Nuc1.1nstr.Meth.Phys.Res.A, vol.538，pp.372-81 (2007)，中所說明的，在此結(jié)合其內(nèi)容作為參考。
[0005]由于在迄今為止已經(jīng)采用了光纖耦合閃爍體檢測器的背景下，所有已知的光纖耦合閃爍體檢測器已經(jīng)計(jì)算由粒子(光子或塊狀粒子)與閃爍體的獨(dú)立的相互作用所產(chǎn)生的脈沖，從而能夠基于由閃爍體再發(fā)射的光的累積流量確定由入射粒子沉積的能量。
[0006]但是，X射線反向散射檢查系統(tǒng)的檢測要求與現(xiàn)有光纖耦合發(fā)光檢測器所提出的要求完全不同。反向散射X射線檢查系統(tǒng)已經(jīng)被使用了超過25年以用于檢測在行李、集裝箱、車輛，以及個(gè)人的內(nèi)部所隱藏的有機(jī)物質(zhì)。由于大量的有機(jī)物質(zhì)優(yōu)選地散射X射線(通過康普頓(Compton)散射)而不是吸收它們，這些物質(zhì)在反向散射成像中顯現(xiàn)為更為明亮的物體。只要入射X射線被散射到所有方向上，則對靈敏度的要求遠(yuǎn)超過空間分辨率，并且在大多數(shù)散射應(yīng)用中，并不關(guān)心檢測器空間分辨率，這是因?yàn)榉直媛适怯扇肷涔馐皇峭ㄟ^檢測來控制的。
[0007]在圖1A的側(cè)橫截面以及圖1B中的正橫截面中所示出的類型的“傳統(tǒng)”閃爍檢測器100的情況下，由X射線散射系統(tǒng)造成的大面積和高靈敏度的特定檢測要求尤其難以滿足。在第5，302，817號美國專利(授予Yokota)中說明了這樣的檢測器的示例，在此結(jié)合其內(nèi)容作為參考。典型地，在不透光的盒子102中使用閃爍屏幕103作為襯底，其中入射的X射線輻射101被轉(zhuǎn)換成閃爍光，其通常具有UV、可見光，或更長的波長，是電磁(EM)頻譜的部分。大型光電陰極區(qū)域的光電倍增管(PMT) 105被連接以經(jīng)由孔口 108接收閃爍光。這里存在一個(gè)問題:屏幕內(nèi)發(fā)出的閃爍光分量將由屏發(fā)射至封閉空間中。剩余的閃爍光于屏幕材料中被損耗。閃爍屏幕103被設(shè)計(jì)成使所發(fā)射的光的分量最大化，這等于是保證了屏幕103和填充檢測器空間的介質(zhì)(一般為空氣)之間的界面具有較大的傳輸系數(shù)T。但是，在圖1A和圖1B中所描繪的這種傳統(tǒng)的反向散射檢測器中，閃光屏幕103還應(yīng)起到良好的反射器的作用，因?yàn)殚W爍光，一旦被發(fā)射到盒子102的空間中，一般需要多次反射，直到其到達(dá)光電檢測器105。因此，屏幕表面的反射系數(shù)R也應(yīng)該較大，但是，由于T和R的總和被限制成統(tǒng)一數(shù)，所以T和R二者不能同時(shí)被最大化，而必須做出折衷。結(jié)果，傳統(tǒng)的反向散射檢測器的光收集效率固有地較低，僅有被收集到光電檢測器中的光所產(chǎn)生的閃爍的百分之幾。
[0008]對于成像檢測器，光子統(tǒng)計(jì)噪聲是按照被檢測器吸收并被用于產(chǎn)生圖像的光子來計(jì)算的。通過檢測器而未被吸收的所有光子，或甚至那些被吸收而沒有生成圖像信息的光子，將被浪費(fèi)掉并且不利于降低圖像中的噪聲。由于光子并不能再被細(xì)分，所以它們代表了系統(tǒng)的基本量子水平。通常的實(shí)踐中是根據(jù)沿成像鏈中任一位置的用于呈現(xiàn)圖像的最小量子數(shù)來計(jì)算統(tǒng)計(jì)噪聲的。沿成像鏈中被用于呈現(xiàn)圖像的最少量子數(shù)的點(diǎn)被稱為“量子阱(quantumsink) ”。在量子阱處的噪聲水平確定了成像系統(tǒng)的噪聲極限。不增加量子阱處信息載體(即，量子)的數(shù)量，就不會改善系統(tǒng)噪聲極限。低劣的光收集可能產(chǎn)生二次量子阱，也就是說，其將限制導(dǎo)致PMT電流的入射X射線的分量。此外，其將增加成像噪聲。通過增加光子檢測器的敏感區(qū)域可改善光收集效率，但是，獲得效率的方式是昂貴的。
[0009]現(xiàn)在參考圖2說明在現(xiàn)有技術(shù)的X射線閃爍檢測器中一般所采用的閃爍屏幕的結(jié)構(gòu)。一層復(fù)合閃爍體202被層夾在用于結(jié)構(gòu)支撐的襯底片204和由例如聚合物構(gòu)成的薄透明保護(hù)膜206之間。該復(fù)合閃爍體典型地包括在有機(jī)基質(zhì)或樹脂中的微米尺寸的無機(jī)晶體。該晶體為實(shí)際閃爍物質(zhì)。摻雜了稀土類元素的氯化氟鋇(BaFCl，或“BFC”)或氧硫化禮(Gd2O2S,或“Gadox”)是用于這些的常規(guī)選擇。對于屏幕的止動力(stopping power)是由復(fù)合閃爍層202的厚度決定的，其通常是以每單位面積中閃爍體晶體的毫克數(shù)來衡量的。由于無機(jī)閃爍體(例如BFC或Gadox)受限于較高的自吸收，復(fù)合閃爍體層必須保持為相當(dāng)薄，以便吸取閃爍光的更多分量。這限制了屏幕的有效止動力并使其僅可適用于檢測具有上至約10keV能量的X射線。
[0010]因此，這將有利于獲得用于X射線散射檢測應(yīng)用的閃爍檢測器，其提供對閃爍光的更有效的吸取、收集，以及檢測。
[0011]如以上在開始處簡單討論的，波長偏移光纖(WSF)長期以來一直被用于閃爍檢測。波長偏移光纖包括折射率相對高的芯部，其被一個(gè)或多個(gè)折射率較低的包層包圍。芯部包括波長偏移材料，也稱為染料(dye)。進(jìn)入光纖的閃爍光被染料吸收，其然后發(fā)射出波長較長的光。該波長較長的光各向同性地被發(fā)射到光纖材料中?？傮w內(nèi)部反射捕捉這些光的分量并將其以相對較低的損耗引導(dǎo)一段較長的距離。這是有可能的，如參考圖3所說明的，因?yàn)槿玖系奈?04和發(fā)射302波長范圍不能有效重疊，使得波長偏移光不能被再吸收。所捕獲到的分量是由光纖表面上的折射率系數(shù)確定的。WSF的附加優(yōu)點(diǎn)在于，波長偏移可將閃爍光306帶入光電檢測器(PMT，硅光電倍增器(SiPM)，或多像素光子計(jì)數(shù)器(MPPC)，或其它器件)的敏感波長范圍。
[0012]已經(jīng)使用多種制造技術(shù)來生產(chǎn)閃爍體結(jié)構(gòu)，包括例如，壓鑄、注塑(如由Yoshimura 等人在 Plastic scintillator produced by the inject1n-moldingtechnique, Nuc1.1nstr.Meth.Phys.Res.A, vol.406, pp.435-41 (1998)中所說明的)，以及模壓(如授予B1SS等人的第7，067，079號美國專利中所說明的)，在此結(jié)合這兩篇參考作為參考。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0013]依據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例，提供了應(yīng)用光纖耦合閃爍檢測器來解決反向散射和傳輸X射線檢查中存在的問題的系統(tǒng)和方法。
[0014]為了便于標(biāo)記，在本文中波長偏移光纖耦合閃爍檢測器可被稱為“Sc-WSF”檢測器。
[0015]在本發(fā)明的第一實(shí)施例中，提供了穿透輻射的檢測器，其具有閃爍介質(zhì)的非像素化空間，用于將入射的穿透輻射的能量轉(zhuǎn)化成閃爍光。該檢測器具有多個(gè)光波導(dǎo)，其基本上準(zhǔn)直成在閃爍光吸收區(qū)域上彼此平行，該吸收區(qū)域與閃爍介質(zhì)的非像素化空間連續(xù)。光波導(dǎo)將源自閃爍光的光導(dǎo)向光電檢測器，以用于檢測由波導(dǎo)導(dǎo)向的光子，并用于生成檢測器信號。
[0016]在本發(fā)明的其它實(shí)施例中，檢測器還可具有積分電路，用于在指定時(shí)間期間對檢測器信號進(jìn)行積分。
[0017]在本發(fā)明的備選實(shí)施例中，提供了穿透輻射的檢測器，其具有閃爍介質(zhì)的空間，用于將入射的穿透輻射的能量轉(zhuǎn)換成閃爍光及多個(gè)光波導(dǎo)，其基本上準(zhǔn)直成在閃爍光吸收區(qū)域上彼此平行，閃爍光吸收區(qū)域與閃爍介質(zhì)的空間連續(xù)。光波導(dǎo)將源自閃爍光的光導(dǎo)向光電檢測器，以生成檢測器信號。最后，積分電路用于在指定時(shí)間期間對檢測器信號進(jìn)行積分。
[0018]在本發(fā)明的進(jìn)一步的實(shí)施例中，在前述檢測器中的光波導(dǎo)可適用于對閃爍光進(jìn)行波長偏移，并且，更特定地，可以是波長偏移光纖。閃爍介質(zhì)可包括摻雜鑭系元素的鋇混合鹵化物，例如鋇氟氯化物。光電檢測器可包括光電倍增器。
[0019]在本發(fā)明的進(jìn)一步的實(shí)施例中，任意前述檢測器的厚度的平方，除以檢測器面積的結(jié)果，可小于0.001。多個(gè)波導(dǎo)中的至少一個(gè)可缺少包層，并且閃爍介質(zhì)的特征可在于:折射率值低于特征化波導(dǎo)的折射率。光波導(dǎo)可被部署在多個(gè)平行平面上，這些平行平面中的每一個(gè)包括多個(gè)光波導(dǎo)子集。
[0020]在本發(fā)明的其它實(shí)施例中，檢測器可具有多層閃爍體介質(zhì)，這些層被入射射束相繼遇到，并且這些層的特征可在于:對入射射束的不同的光譜敏感度。備選的閃爍體層可包括Li6F =ZnS (Ag)，其替代光纖耦合BaFCl (Eu)以及光纖耦合BaFl (Eu)中的至少一個(gè)。多個(gè)閃爍介質(zhì)層的第一層可以是優(yōu)選地敏感于能量較低的X射線的波長偏移光纖耦合檢測器，并且多個(gè)閃爍介質(zhì)層的最后一層可為塑料的閃爍體。
[0021]閃爍體介質(zhì)的分段可被部署在橫向于入射射束的傳播方向的平面上，并可以獨(dú)特的方式經(jīng)由光纖被耦合到光電檢測器上。
[0022]依據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種用于制造閃爍檢測器的方法，該方法包括:圍繞光波導(dǎo)模壓閃爍材料的殼，并且，在特定實(shí)施例中，該光波導(dǎo)為波長偏移光纖。
[0023]在備選實(shí)施例中，一種用于檢測散射X射線輻射的方法包括以下步驟:
[0024]a.提供檢測器，該檢測器的特征在于具有多個(gè)獨(dú)立讀出分段；以及
[0025]b.將來自獨(dú)立讀出分段的子集的信號求和，其中，該子集是在相對信噪
[0026]比的基礎(chǔ)上被選出的。
[0027]本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種用于檢測散射X射線輻射的方法。該方法包括以下步驟:
[0028]a.提供檢測器，該檢測器的特征在于多個(gè)獨(dú)立讀出的分段；以及
[0029]b.將來自獨(dú)立讀出分段的子集的信號求和，其中，該子集是在已知主要
[0030]照射射束的位置的基礎(chǔ)上被選出的。
[0031]依據(jù)另一個(gè)實(shí)施例，提供一種移動式X射線檢查系統(tǒng)。該檢查系統(tǒng)包括被部署在具有平臺和地面接觸構(gòu)件的運(yùn)輸工具上的X射線輻射的源，以及光纖耦合閃爍檢測器，其在檢查操作過程中被部署在運(yùn)輸工具外面，用于檢測與所檢測的目標(biāo)相互作用的X射線。
[0032]移動式X射線檢查系統(tǒng)還可具有光纖耦合閃爍篷式檢測器，其在檢查過程的期間在所檢測的目標(biāo)上方使用，并且該篷式檢測器可在檢查操作之前從運(yùn)輸工具的車頂滑出。還可具有在運(yùn)輸工具平臺下面使用的下擺式檢測器，以及用于檢測比運(yùn)輸工具更高的空間的車頂檢測器，以及基本橫向的和基本豎向的光纖耦合閃爍體檢測器分段?；緳M向的和基本豎向的光線耦合閃爍體檢測器分段可構(gòu)造成整體結(jié)構(gòu)。
[0033]依據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種設(shè)備，用于檢測輻射該設(shè)備的輻射，該設(shè)備包括:
[0034]a.多個(gè)基本平行的有效準(zhǔn)直葉片，其包括對輻射敏感的波長偏移光纖
[0035]耦合閃爍檢測器，以生成至少第一檢測信號；
[0036]b.后部大面積檢測器，用于檢測在多個(gè)有效準(zhǔn)直葉片的基本平行的有
[0037]效準(zhǔn)直葉片之間經(jīng)過的輻射，并生成第二檢測信號；以及
[0038]c.處理器，用于接收和處理第一和第二檢測信號。
[0039]依據(jù)本發(fā)明的備選實(shí)施例，提供了一種上下成像檢查系統(tǒng)，用于檢查被部署在下表面上的對象。該上下成像檢查系統(tǒng)具有基本向下指向X射線的源以及被部署在下部表面上方的突出部之中的線性檢測器陣列。該線性檢測器陣列可包括波長偏移光纖耦合閃爍檢測器。
[0040]依據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種用于檢查車輛的下面的X射線檢查系統(tǒng)。該X射線檢查系統(tǒng)具有被耦接至車架的基本向上指向的X射線的源，以及波長偏移光纖耦合閃爍檢測器，其被部署在車架上，用于檢測被車輛以及隱藏在車輛下面或里面的物體所散射的X射線。該車架可適用于通過電機(jī)和手動控制中的至少一種在車輛下面進(jìn)行操控。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0041]通過參考附圖閱讀以下的詳細(xì)說明后將更好地理解本發(fā)明的前述特征，其中:
[0042]圖1A和圖1B分別示出了 “盒式”現(xiàn)有技術(shù)的閃爍檢測器的側(cè)面和正面的橫截面視圖。
[0043]圖2是現(xiàn)有技術(shù)閃爍體屏幕的示意性視圖。
[0044]圖3描繪了閃爍光和典型波長偏移光纖吸收和發(fā)射光譜之間光譜關(guān)系。
[0045]圖4是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，被層夾在閃爍體材料之間的波長偏移光纖陣列的立體示意性視圖。
[0046]圖5是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，被嵌在閃爍體材料基體中波長偏移光纖的陣列的橫截面示意性視圖。
[0047]圖6A是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，圍繞WSF模壓出的圓柱形閃爍體的立體視圖。
[0048]圖6B是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，對用于圍繞WSF模壓出圓柱形閃爍體的系統(tǒng)的示意性描繪。
[0049]圖6C是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用于與WSF同時(shí)模壓圓柱形閃爍體的模壓器的橫截面視圖。
[0050]圖7是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，具有多行WSF的閃爍檢測器的示意性橫截面圖。
[0051]圖8是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，波長偏移光纖耦接的閃爍檢測器的俯視圖。
[0052]圖9示出了依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例裝載的車頂式和下擺式后向散射檢測器，而圖10示出了在檢查操作過程期間使用的相同的檢測器。
[0053]圖11示出了依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，使用反向散射檢查系統(tǒng)的篷式檢測器和下擺式檢測器。
[0054]圖12是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用作高能X射線傳輸檢測器的堆疊的閃爍體層橫截面示意視圖。
[0055]圖13A和圖13B示出了依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，2英寸高減速帶內(nèi)部的層狀傳輸檢測器，同時(shí)圖13C示出了被插入該減速帶框架的檢測器組裝件的橫截面。
[0056]圖14A示出了依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的分段式X射線傳輸檢測器的立體視圖，其用于測量所檢測的強(qiáng)度在X射線射束寬度上的分布，同時(shí)圖14B和圖14C示出了圖14A中的檢測器的端部橫截面以及典型射束曲線。
[0057]圖15是依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的具有多能量分辨率的閃爍檢測器的橫截面視圖。
[0058]圖16示出了依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用于檢測X射線和熱中子的多層閃爍檢測器。
[0059]圖17示出了具有有效的準(zhǔn)直器的檢測器的立體視圖。
[0060]圖18A和圖18B示出了依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，用作有效的準(zhǔn)直器的WSF檢測器的立體視圖及橫截面視圖，以及圖18C和圖18D示出了依據(jù)本發(fā)明的進(jìn)一步的實(shí)施例的布置，具有由不透光(light-tight)的X射線吸收體分隔開的獨(dú)立讀出器以區(qū)別沖擊每一個(gè)面的輻射。
[0061]圖19A和圖19B示出了依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，手持掃描器分別在打開、存儲和使用狀況下的多個(gè)檢測器。
[0062]圖20A和圖20B示出了反向散射器單元，其依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例通過Sc-WSF檢測器的優(yōu)點(diǎn)，可在車輛下面滑動，以用于在底架下進(jìn)行檢查。
[0063]圖21A和圖21B描繪了基于Sc-WSF技術(shù)，與移動檢查系統(tǒng)相結(jié)合并依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，對于直角組合的檢測器的使用。

【具體實(shí)施方式】
[0064]依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，將閃爍體材料光耦合至光波導(dǎo)，以及，更尤其地，耦合到波長偏移光纖，具有優(yōu)勢地使得目標(biāo)包括那些對于X射線散射檢測特有的需求。
[0065]定義:
[0066]術(shù)語“圖像”應(yīng)涉及任意的一維的或多維表現(xiàn)，無論是有形的還是其它可感知的形式，或其它方式，由此一些特征值(例如，在X射線傳輸成像的情況下，通過由入射射束橫斷的一列被檢查對象的分量透射強(qiáng)度)與對應(yīng)于物理空間中物體的空間坐標(biāo)的多個(gè)位置中的每一個(gè)相關(guān)聯(lián)(或者，歐幾里德(Euclidean)空間矢量，典型地為R2)，盡管不需要一對一地映射至其上。該圖像可包括在計(jì)算機(jī)內(nèi)存或全息介質(zhì)中的數(shù)字陣列。類似地，“成像”表示按照一個(gè)或多個(gè)圖像呈現(xiàn)確定的物理特征。
[0067]空間關(guān)系術(shù)語，例如“上方”、“下方”、“上”、“下”等等，在本文中可被用于方便描述如附圖中所示出的一個(gè)元件與另一個(gè)的關(guān)系。將可理解的是，這樣的空間關(guān)系術(shù)語旨在涵蓋，除附圖中所說明和/或描繪的定向以外，在使用或操作中設(shè)備的不同定向。
[0068]當(dāng)某元件被描述成與另一個(gè)元件的關(guān)系是“在其上”、“與其連接”或“與其耦合”，則其可直接地在其上、與其連接，或耦接至另一個(gè)元件，或者備選地，可存在一個(gè)或多個(gè)居間元件，除非另外指出。
[0069]本文所使用的術(shù)語是為了說明特定實(shí)施例的目標(biāo)，并非旨在構(gòu)成限制。單數(shù)形式“一”、“一個(gè)”和“該”旨在也包括復(fù)數(shù)形式。
[0070]WSF檢測器
[0071]首先參考圖4,在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，一層封閉空間平行波長偏移光纖400被層夾在兩層復(fù)合閃爍屏幕403之間。優(yōu)選的閃爍體材料為摻雜銪的鋇氟氯化物(BaFCl:Eu)，但是在本發(fā)明的范圍內(nèi)也可使用其它閃爍體，例如BaFl:Eu，或其它摻雜鑭系元素的鋇混合鹵化物(進(jìn)一步例如，包括，BaBr1:Eu和BaCs1:Eu)。由于x射線檢測所采用的閃爍體材料通常會展示出對于閃爍光子的非常強(qiáng)的自吸收，依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例具有優(yōu)勢地能夠使用極大量的閃爍體403，同時(shí)仍有效地耦合出閃爍信號。
[0072]在本應(yīng)用中使用復(fù)合閃爍屏幕的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)在于，其能夠通過對光纖耦合閃爍檢測器進(jìn)行模壓來制造。
[0073]復(fù)合閃爍體403在結(jié)構(gòu)上通過提供機(jī)械支持的外部的塑料層404，或者其它材料來支持。在光纖包層401和復(fù)合閃爍體403之間的光接觸是通過用對于閃爍光是透明的且具有適合折射率的折射率匹配材料405來填充空白處而建立的。選擇填充材料的折射率來優(yōu)化將主光光子收集至WSF中并捕捉光纖中波長偏移的光子。填充材料405可以是例如光學(xué)潤滑脂(optical grease)或光學(xué)環(huán)氧樹脂(optical epoxy),但是任何材料都是在本發(fā)明范圍內(nèi)的。
[0074]基于X射線光子的入射，由閃爍體403發(fā)射的閃爍光經(jīng)由包層401被耦合到相應(yīng)的光纖的芯部407、頻率下移(S卩，紅色偏移)，并被傳播到一個(gè)或多個(gè)光電檢測器805 (例如，如圖8所示)。來自光芯部部407的光經(jīng)由光電檢測器805被轉(zhuǎn)變成電流，并且將該電流在一時(shí)間間隔期間(一般在1_12μ s的范圍內(nèi))被求積分，以獲得每一個(gè)像素的信號強(qiáng)度。對檢測器信號的積分可由積分電路(未示出)執(zhí)行，例如積分預(yù)放大器。
[0075]現(xiàn)在參考圖5，將波長偏移光纖400嵌入閃爍屏幕503的基材中。將WSF嵌入閃爍介質(zhì)中產(chǎn)生最佳光接觸。
[0076]在本發(fā)明的又另一個(gè)實(shí)施例中，現(xiàn)在參考圖6A所說明的，復(fù)合閃爍體材料603被用作包圍具有芯部602的WSF 601的包層或殼。本應(yīng)用本身適合于模壓式制造處理，并能夠最有效地利用昂貴的閃爍體材料603。閃爍體材料603由保護(hù)層604密封起來，該保護(hù)層還起到對閃爍光進(jìn)行反射的作用。在本發(fā)明的范圍內(nèi)，當(dāng)閃爍體具有比光纖更低的折射率，并且閃爍體光纖粘結(jié)劑具有必要的光滑性和穩(wěn)固性時(shí)，包層可以省略。
[0077]現(xiàn)在參考圖6B中示意性描繪的系統(tǒng)所說明的本發(fā)明的實(shí)施例，可制造出波長偏移聚合物光纖。包括WSF聚合物熔體606、低折射率包層聚合物熔體608以及光學(xué)嵌入磷光體的透明聚合物熔體610的源，全部在壓力下，被進(jìn)給至模壓區(qū)614內(nèi)的共同模壓的沖模612，并進(jìn)行共同模壓。干燥氣體611，例如干燥空氣或氮?dú)?，被噴射到被模壓的光纖上進(jìn)行冷卻。具有光反射顏料616 (例如T12)的聚合物熔體在壓力下被進(jìn)給到模壓沖模618中用于在敷涂閃爍體的WSF 613上裝上光反射保護(hù)套。合成的敷涂閃爍體的WSF620被纏繞起來以便通過繞組622進(jìn)行存放。圖6C示出了共同模壓系統(tǒng)的橫截面視圖，以在依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例中使用，用于制造敷涂閃爍體的WSF。WSF聚合物熔體606與低折射率包層聚合物熔體608以及光學(xué)嵌入磷光體的透明聚合物熔體610被注入到共同模壓沖模612中。具有光反射顏料616的聚合物熔體在壓力下被進(jìn)給到模壓沖模618中。完成的光纖具有WSF芯部602、低折射率的包層601、加載閃爍體的包層603，以及反射涂層604。
[0078]對于依據(jù)本發(fā)明的閃爍檢測器的所有實(shí)施例，其優(yōu)點(diǎn)在于，針對要被檢測的輻射的能量來優(yōu)化閃爍體材料的厚度。該設(shè)計(jì)應(yīng)確保收集足夠的光來避免二次量子阱。尤其是，在本文中所說明的本發(fā)明的實(shí)施例相對于它們的面積提供了極薄的檢測器。
[0079]定義:為了本說明書的目的，并且在所有隨附的權(quán)利要求中，術(shù)語“厚度”，在用于閃爍檢測器時(shí)，應(yīng)代表檢測器沿著或平行于檢測器視野的中心的維度的平均范圍。術(shù)語面積在用于檢測器時(shí)，或同等地術(shù)語“有效面積”指的是在檢測器的視野內(nèi)橫向于輻射的所有傳播矢量的中心的平面上測量的檢測器的尺寸。
[0080]本發(fā)明的實(shí)施例，甚至具有多達(dá)8個(gè)WSF層的那些檢測器，檢測器厚度的平方與有效檢測器面積之比小于0.001。例如，具有面積為48”X 12”的8層檢查器厚度不超過0.5”，使得厚度平方與檢查器面積之比為0.0005。這一厚度平方與面積之比典型地在一個(gè)數(shù)量級，或更多個(gè)數(shù)量級上，該數(shù)量級比由光電檢測器直接檢測閃爍體光的反向散射檢測器的可比的比例更小。
[0081]依據(jù)圖7中所描繪的本發(fā)明的進(jìn)一步的實(shí)施例，可通過將WSF 400的多個(gè)層701、702 (或其它光波導(dǎo))合并來提高檢測器的有用的止動力，從而沿入射輻射路徑提高閃爍體材料403的深度。
[0082]在圖8中示出了依據(jù)本發(fā)明的波長偏移閃爍體檢測器的實(shí)施例。將波長偏移光纖801嵌入閃爍體材料803內(nèi)，耦合光，并通過光電倍增器管805使檢測頻率向下偏移。
[0083]依據(jù)前述說明的各種實(shí)施例，WSF的端部被捆扎起來并被光學(xué)連接至至少一個(gè)光電檢測器?？蛇m用的光電檢測器的不例包括PMT和娃光電倍增器(SiPMs)。
[0084]其中在本文中說明的本發(fā)明的檢測器的優(yōu)點(diǎn)，包括檢測的效率和較低的幾何外形的實(shí)現(xiàn)。這允許在設(shè)計(jì)檢測系統(tǒng)時(shí)具有更大的自由，并且其使得完全新的、空間受限的應(yīng)用成為可能。該檢測器結(jié)構(gòu)的機(jī)械靈活性使得檢測器表面的形狀可按照應(yīng)用來制造，例如，檢測器空間(detector volume)將成像對象環(huán)繞在其中的實(shí)施。較低的外形也使其相對易于，以使對來自附近X射線成像系統(tǒng)的非期望散射輻射(串?dāng)_)的檢測最小化的方式，來定向和屏蔽該檢測器區(qū)域。
[0085]在閃爍體的較大區(qū)域之上對閃爍光的吸收能夠獲得具有寬度與深度的寬高比例較大的檢測器。尤其是，相對空間角度為0.1sr或更大的檢測器對于本發(fā)明的實(shí)施例是有利的。
[0086]在典型的反向散射X射線成像系統(tǒng)中，X射線筆形射束以線性運(yùn)動來掃描成像目標(biāo)，同時(shí)將長形的輻射檢測器部署在X射線源的出口孔徑的兩側(cè)上。隨著筆形射束移動，最接近于射束的檢測器區(qū)域一般將接收最強(qiáng)信號而離射束越遠(yuǎn)的檢測器區(qū)域則越少。如果檢測器區(qū)域被分段成可獨(dú)立讀出部分，可通過僅讀取具有良好信噪比的部分并且忽略主要將噪聲加入總信號的分段，來改善檢測系統(tǒng)的信噪比。對起作用的檢測器分段進(jìn)行選擇可基于實(shí)際檢測到的信號或基于已知的筆形射束的位置來進(jìn)行。
[0087]通過模壓制造閃爍體的優(yōu)點(diǎn)
[0088]以上參考圖6A至圖6C所說明的模壓或“自動敷涂”處理，與在平坦背部上鋪設(shè)多晶的閃爍材料(例如BaFCl (Eu))的典型方法形成了鮮明的對比。制造敷涂有均勻厚度的閃爍體的獨(dú)立波長偏移光纖的模壓方法，如以上所教導(dǎo)的，產(chǎn)生了等高光纖，使得Sc-WSF檢測器在形狀上的限制主要受控于在光纖中由于全內(nèi)反射的完全捕捉的要求。均勻敷涂的耦合光纖的概念給出了設(shè)計(jì)反向散射(BX)檢測器的更大的自由度，尤其對于手持的和機(jī)器人安裝的檢測器，在這種情況下空間是十分寶貴的。
[0089]可部署檢測器以提高散射X射線的幾何效率
[0090]一些移動式X射線系統(tǒng)，例如那些在例如授予Swift等人的第5，764，683號以及授予Chalmers等人的第7，099，434號美國專利中所說明的，在此結(jié)合這兩者的內(nèi)容作為參考，使用反向散射X射線(BX)的方法以從一側(cè)檢查汽車和卡車。前者在操作過程中使用部署在運(yùn)輸工具外面的檢測器，而后者使用的檢測器區(qū)域完全被涵蓋在封閉物(也就是運(yùn)輸工具的外皮)內(nèi)。這兩者都使用大面積檢測器以使檢測散射X射線的效率最大化。在依據(jù)Chalmers^434專利教導(dǎo)的產(chǎn)物情況下，表面后向散射檢測器的覆蓋區(qū)覆蓋朝向目標(biāo)的封閉物的20平方英尺的內(nèi)表面的量級。這種隱蔽式檢測器區(qū)域?qū)τ趶妮^高或較低的目標(biāo)上收集散射輻射的幾何效率相對較差。光電倍增器直接捕捉閃爍光所必需的這種檢測器的幾何外形固有地較深，而不利于在車外部署。
[0091]定義:如在本文以及在所有隨附的權(quán)利要求中所使用的，術(shù)語“大面積檢測器”指的是任何單個(gè)檢測器，或者指的是任何檢測器模塊，在兩個(gè)正交的橫向方向的每一個(gè)方向上的對向的開口角度為至少30°，如檢查下方的物體上的一點(diǎn)所觀察的，等效地，其特征在于空間角度至少為η球面度。
[0092]“運(yùn)輸工具”應(yīng)為用于將器械從一個(gè)地點(diǎn)運(yùn)輸至另一個(gè)地點(diǎn)的任意裝置，具有的特征為在例如車輪、軌道、踏板、剎車，等觸地構(gòu)件上具有平臺式載物。
[0093]Sc-WSF檢測器，依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，能夠?qū)崿F(xiàn)不顯眼地放置大面積檢測器，其可被迅速部署在車外適當(dāng)位置，充分提高了檢測效率。
[0094]現(xiàn)在參考圖9，示出了處于裝載位置的大面積Sc-WSF篷式檢測器1101，其被放置在反向散射檢查車1103的車頂上，并且示出了在反向散射檢查車的車輪上方處于裝載位置的較薄的下擺式檢測器1105。在圖10中，車頂式和下擺式檢測器二者都被示出為被部署成增加固角(solid angle)，以便分別檢查更高和更低的目標(biāo)；在檢查過程中，篷式檢測器被部署在檢查物體的上方，同時(shí)下擺式檢測器被至少部分地部署在運(yùn)輸工具的平臺下面。在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，參考圖11所說明的，篷式檢測器1301可用于較低、較近的目標(biāo)，例如用于檢測汽車后備箱1303中的違禁品。篷式檢測器1301可在檢查操作之前從運(yùn)輸工具的車頂滑出。圖11還示出了對用于有效檢驗(yàn)輪胎、車輪壁、以及封閉車輛內(nèi)部的Sc-WSF下擺式檢測器1105的部署。
[0095]用于掃描X射線筆形射束的傳輸檢測的雙能量檢測器和多能量檢測器
[0096]掃描X射線的筆形射束不僅通過分析反向散射的輻射顯示出內(nèi)部物體，而且在一些應(yīng)用中可通過同時(shí)分析傳輸(TX)和前向散射(FX)的輻射來獲得額外的信息。TX和FX檢測器不需要被分段，因?yàn)楣P形射束的橫截面積與信號積分時(shí)間一起，定義出像素大小。而且，TX和FX檢測器僅需要為總能量檢測器，因?yàn)樵诖蠖鄶?shù)應(yīng)用中，對于脈沖計(jì)數(shù)來說TX或FX X射線的流通量過高。閃爍屏幕為用于這種掃描束應(yīng)用的傳統(tǒng)檢測器。Sc-WSF檢測器大幅擴(kuò)展了當(dāng)前TX和FX閃爍檢測器的應(yīng)用的范圍，正如下面的示例所清楚說明的。
[0097]用于高達(dá)至少250keV的x射線射束的TX
[0098]由例如BaFCl (Eu)或Gadox制成的傳統(tǒng)閃爍屏幕,在x射線能量超過?80kev時(shí)，吸收效率下降50%。對于兩層的50%的點(diǎn)在約lOOkeV。為了進(jìn)行辨別，Sc-WSF檢測器可被制成具有兩層以上的閃爍體，而不會大幅增加檢測器的外形。具有4層的成本高效的Sc-WSF檢測器可被用于具有由標(biāo)準(zhǔn)140keV x射線管生成的掃描x射線射束的TX。如圖12中所示的多層檢測器(例如9層檢測器，通過標(biāo)號1400大體上指示)，對于例如在對通過入口的車輛進(jìn)行X射線檢查所使用的由標(biāo)準(zhǔn)225keV X射線管(未示出)所發(fā)射的檢測X射線1402，可高度有效。閃爍體材料的層1404被示出，并且WSF光纖1406被耦合到光電檢測器1408上。
[0099]用于三側(cè)入口檢查中的上下成像器的可便攜TX檢測器
[0100]多層傳輸(TX)檢測器的較薄的外形造成了實(shí)踐中路用頂級的(top-of-the-road)傳輸(TX)檢測器。圖13A和圖13B示出了在2英寸高減速帶1131內(nèi)部的這樣的檢測器，其足夠強(qiáng)以支持滿載的拖拉機(jī)拖車，并不需要為了進(jìn)行部署而挖開地面。穿透輻射的源1132發(fā)出扇形射束1134入射至減速帶1131的框架1136內(nèi)的或在底部表面上方的類似突出物內(nèi)的線性檢測器組裝件1135。檢測器組裝件1135包括被較高原子數(shù)的貨車1138分開的閃爍材料1137的分段。如以上所說明的，例如，參考圖4，閃爍光通過波長偏移光纖1139被稱合至光電檢測器。
[0101]用于確定掃描射束強(qiáng)度曲線的分段式TX檢測器
[0102]現(xiàn)在參考圖14A和圖14B，示出了用于測量入射X射線1143的掃描射束強(qiáng)度曲線的分段式傳輸檢測器，其大體上由標(biāo)號1141指示。當(dāng)移動式保安系統(tǒng)部署有TX檢測器時(shí)，將(將傳輸中使用的)Sc-WSF檢測器1141與掃描筆形射束平面進(jìn)行準(zhǔn)直存在巨大的挑戰(zhàn)。圖14B示出了具有WSF光纖1145的獨(dú)立讀出器的垂直Sc-WSF檢測器1141的橫截面(另外在本文中進(jìn)行理解時(shí)被稱為“傳輸檢測器”或“TX檢測器”)，其提供了一種器件，同時(shí)測量每一個(gè)像素的發(fā)射強(qiáng)度以及在射束寬度上線性分布以確定其重心位置。光纖1145被捆在一起1147發(fā)送至單個(gè)的光電檢測器1149，例如PMT。強(qiáng)度分布可延伸以獲得前向散射強(qiáng)度，這包括關(guān)于散射材料的有用信息，并給出對非散射(in-scattered)輻射的測量值，其被記為傳輸強(qiáng)度。
[0103]檢測器平面與掃描X射線平面的相對位置可進(jìn)行自動控制。在圖14A中示意性地示出了用于這一概念的檢測器。在檢測器1141的遠(yuǎn)離光電檢測器1149的端部處可提供反射表面1148。
[0104]使用單個(gè)數(shù)據(jù)通道傳輸信號，通過以下兩個(gè)維度中更小的一個(gè)來確定沿傳送方向(橫向于扇形表示的X射線射束)的空間分辨率，即:敏感檢測器區(qū)域的寬度或TX檢測器上的射束大小。(為啟發(fā)目的，在本說明書中不考慮欠采樣的情況)。但是，可通過使敏感檢測器區(qū)域變得狹窄來改善空間分辨率，如現(xiàn)在參考圖14C說明的。依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，可通過采用與多個(gè)通道(圖14C中的A、B、C)相關(guān)聯(lián)的檢測器陣列1450中的多個(gè)檢測器，并使它們的敏感區(qū)域交錯(cuò)，來增強(qiáng)在傳送方向(沿檢測線)上的空間分辨率。交錯(cuò)圖案的節(jié)距取決于沿檢測器的射束寬度。理想情況下，節(jié)距(即，與單個(gè)通道“A”相關(guān)聯(lián)的兩個(gè)檢測器1451和1454之間的間隔)必須足夠大，使得同一檢測通道的兩個(gè)檢測器分段不會同時(shí)接收來自射束的直接輻射。標(biāo)號1456描繪了射束強(qiáng)度曲線。為了實(shí)踐的目的這一要求并不十分嚴(yán)格，因?yàn)橄袼刂g的某些串?dāng)_是可接受的。多個(gè)合成圖像需要進(jìn)行交錯(cuò)，其采用任意方法，包括現(xiàn)有技術(shù)中已知的方法，以產(chǎn)生一個(gè)分辨率更高的圖像。應(yīng)該注意到，在檢測器處空間分辨率的改善導(dǎo)致流通量的擴(kuò)展并且因此而受到信噪因素的限制。
[0105]在本發(fā)明的范圍內(nèi)的另一種配置包括圖14A中示出的垂直檢測器1141與圖13B所示的水平道路檢測器1135的組合，以形成L形檢測器，其優(yōu)勢在于易于安裝和對準(zhǔn)。
[0106]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，傳輸檢測器陣列1450 (不考慮幾何定向，無論是垂直的、橫向的、L形的等)被分段成多個(gè)單元，例如圖14C中的B、C，和A。如圖所示，射束曲線1456關(guān)于B和A對稱，使得所測量的強(qiáng)度之比唯一。不論任何原因，如果準(zhǔn)直改變，則該比例將大幅改變。如果準(zhǔn)直隨著照明的X射線筆形射束上下掃描而偏離，B/A之比的變化將測量出偏離和橫向偏移。所收集的數(shù)據(jù)則可針對這樣的偏移一行一行地進(jìn)行校準(zhǔn)。
[0107]用于辨別材料的雙能量和多能量TX檢測器
[0108]將來自閃爍體的前后層的信號分開使得前層能夠給出對每一個(gè)像素的低能量成分的測量值，同時(shí)后層給出了對高能量成分的測量值。將一層吸收材料放在前后閃爍體之間是增強(qiáng)高低能量成分之間區(qū)別的標(biāo)準(zhǔn)方式，且通過Sc-WSF檢測器易于實(shí)現(xiàn)。
[0109]Sc-WSF檢測器實(shí)現(xiàn)了一種雙能量檢測器，其包括在塑料閃爍體檢測器頂部的一層Sc-WSF,例如BaFCl-WSF ；BaFCl對于低能量x射線較為敏感，且對高能量x射線不敏感，而塑料檢測器對高能量X射線較敏感而對低能量X射線非常不敏感。
[0110]備選的且潛在最有效的材料鑒頻器可通過使用兩層以上獨(dú)立層的Sc-WSF制成，每一層具有分別的讀出器。被動吸取器，例如適當(dāng)厚度的銅，可被插入頂部Sc-WSF后面以增強(qiáng)雙能量應(yīng)用，如使用分段式檢測器實(shí)現(xiàn)的那樣。備選地，中間閃爍體可被用作主動吸收層。對三個(gè)獨(dú)立參數(shù)的測量使得能夠獲得橫斷材料的平均原子數(shù)以及射束硬化范圍的測量值。Sc-WSF可進(jìn)一步擴(kuò)展以獲得每個(gè)像素三個(gè)以上的能量值，其極限具有統(tǒng)計(jì)不確定性，其隨成分的個(gè)數(shù)而增加。圖12中示出的檢測器1400是這樣的檢測器的極端示例。
[0111]雙能量TX的一個(gè)重要的應(yīng)用是在機(jī)場航站樓使用的X射線個(gè)人掃描器。在證實(shí)BX有效檢查的同時(shí)提供TX圖像。將雙能量添加至TX圖像中迄今為止已經(jīng)是不切實(shí)際的，這主要是因?yàn)槌Ｒ?guī)檢測器帶來的尺寸限制。Sc-WSF消除了這些限制和約定從而顯著地改善了性能，因?yàn)榫哂胁煌芰棵舾行缘亩鄠€(gè)檢測器可進(jìn)行堆疊，如圖15所示，其中雙(或多)能量檢測器1500包括對入射X射線1501的較低能量成分敏感的Sc-WSF檢測器1508，其被定位在對較高能量的X射線敏感的一厚片的塑料閃爍體1502前面。Sc-WSF檢測器1508包括通過兩層WS光線1506讀取的閃爍體1504。
[0112]伽馬和中子輻射的緊湊型輻射檢測器
[0113]Sc-WSF方法實(shí)現(xiàn)了小型、重量輕、價(jià)格便宜、中子和伽馬射線的監(jiān)控器1601。BaFCl (Eu)-WSF對于伽馬輻射相當(dāng)敏感但是對中子并不敏感，同時(shí)Li6F = ZnS(Ag)-WSF對于伽馬射線不明感而對檢測熱中子十分敏感。圖16示出了多層“Dagwood”式層夾，其包括通過單個(gè)光電檢測器(未示出)經(jīng)由光纖1604讀取的一層或多層1602BaFCl (Eu)，以及通過第二獨(dú)立光電檢測器(未示出)讀取的一層或多層1606LieF:ZnS(Ag)-WSF,其具有占據(jù)不超過一或兩厘米厚度的有效元件。一層適當(dāng)?shù)闹凶訙p速器1612，例如聚乙烯，可被放置在Li6FiZnS(Ag)-WSF的任一側(cè)，以增強(qiáng)檢測中子的效率。光學(xué)反射箔1608，例如鋁箔，將閃爍限制在相應(yīng)的檢測器區(qū)域。
[0114]序列號第13/163，854號美國專利申請(授予Rothschild),名稱為“Detectorwith Active Collimators”并被結(jié)合在本文中作為參考,其說明了反向散射檢測器模塊30，其通過區(qū)別來自被檢查對象的近聲場和遠(yuǎn)聲場的散射而增加了檢查深度，正如圖17所描繪的。一組有效準(zhǔn)直葉片31的角度可在出廠前調(diào)整好，或者可被連接到用于動態(tài)調(diào)整它們的任意類型的電機(jī)裝置，這取決于被掃描對象的類型和/或距離。來自準(zhǔn)直葉片的閃爍光由一個(gè)或多個(gè)光電檢測器進(jìn)行檢測(例如，通過被放置在檢測器的前隔間的頂部和底部的PMT 32)。檢測器的后隔間36通過光折流板與前隔間35光學(xué)隔離，并且來自在后隔間36中被檢測的X射線的閃爍光由第二組的一個(gè)或多個(gè)光電檢測器(例如，被安裝在檢測器后面的PMT 37)進(jìn)行收集。后隔間可使用例如閃光磷光體屏幕加襯，或在本發(fā)明的其它實(shí)施例中，可包括塑料或液體閃爍體。
[0115]作為對標(biāo)準(zhǔn)反向散射單元的有益補(bǔ)充可以是由閃爍體制成的“百葉窗”準(zhǔn)直器。板條阻擋了輻射以至于其不能直接進(jìn)入到板條之間的空隙中，使得盒式檢測器優(yōu)選地檢測更深的內(nèi)部對象。有效準(zhǔn)直器記錄被攔截的輻射。來自有效準(zhǔn)直器的光由PMT檢測，隨著準(zhǔn)直器之間的空隙減少，PMT的收集效率迅速降低。使用包括Sc-WSF檢測器的葉片代替PMT和閃爍體葉片解決了主要缺陷并實(shí)現(xiàn)了百葉窗式準(zhǔn)直器。第一，光收集與葉片之間的間隙無關(guān)。第二，用于從有效準(zhǔn)直器收集光的PMT或硅光電倍增器的有效區(qū)域通常比所需的PMT的有效區(qū)域小得多，這使得光電檢測器的成本更低。第三，將光電檢測器放置在WSF捆束的端部對于光收集的效率并不是重要的。第四，來自每一個(gè)板條的WSF的信號可單獨(dú)進(jìn)行處理，給出合理的范圍以使有關(guān)被檢查對象的內(nèi)部信息最大化。第五，可通過獨(dú)立的WSF收集來自前后每一個(gè)葉片上的薄閃爍體屏的光，這可以顯著改善深度辨別力。
[0116]圖18C和圖18D描繪了(分別為立體圖和橫截面圖)有效WSF準(zhǔn)直器181，其對碰撞來自閃爍體任一側(cè)的X射線敏感。來自兩個(gè)閃爍體區(qū)域182的閃爍光都經(jīng)由波偏移光纖183被耦合至光電檢測器。圖18A和圖18B示出了(分別在立體圖和橫截面圖中)有效WSF準(zhǔn)直器185，其具有由不透光的X射線吸收器189分開的獨(dú)立讀出器187以區(qū)分撞擊每一個(gè)面的輻射。在一個(gè)實(shí)施例中，例如，每一個(gè)準(zhǔn)直器185可包括兩層Sc-WSF檢測器182，分別包括每平方厘米60mg BaFCl:Eu的面密度。不透光x射線吸收器189可包括一薄層的錫，其還提供了結(jié)構(gòu)支撐。
[0117]用于微型反向散射檢查系統(tǒng)的檢測器
[0118]Sc-WSF檢測器的薄度為低重量和低功率所驅(qū)動的應(yīng)用提供了獨(dú)特的潛力。參考圖19A和圖19B，手持式成像系統(tǒng)193是這種應(yīng)用的示例。功率要求、檢查時(shí)間和圖像質(zhì)量都受到檢測的固角的影響。橫截面為例如1cmX lOcmdOOcm2)的傳統(tǒng)檢測器的重量約半千克。重量不超過兩倍的1cm的Sc-WSF的立方體可由獨(dú)立的Sc-WSF 1cmX 1cm且厚度分別小于5_的檢測器制成，其在本示例中可展開以呈現(xiàn)至少2，OOOcm2的反向散射檢測區(qū)域，在該示例中增長了 20倍。額外的檢測覆蓋可使手持系統(tǒng)的性能改善一個(gè)量級。
[0119]本文中所說明的Sc-WSF檢測器的薄外形將等高檢測器卡配在狹小空間中。例如，檢測器可適用于被限定成卡配在有限機(jī)場檢查空間中的個(gè)人掃描器。
[0120]圖19示出了四個(gè)檢測器191展開或滑出手持式掃描器193以顯著增加檢測效率的示例，尤其對于被更深地隱藏在被檢查對象中的事物。反向散射檢測器195跨夾輻射射束 197。
[0121]對靜止車輛下側(cè)的反向散射檢查
[0122]通過便攜式X射線反向散射系統(tǒng)對車輛下側(cè)的檢查顯現(xiàn)出特定的問題。汽車的道路凈空不超過8〃并可小至6〃。固定的檢查系統(tǒng)，例如入口，可將檢測器放置在地上，或者，如以上所說明，可被放置在使用Sc-WSF的地上。但是，在許多區(qū)域中都需要用于安檢的車下移動檢查系統(tǒng)卻從未被開發(fā)。檢查員依賴于被動式檢查工具，例如鏡子和攝像機(jī)，其將會錯(cuò)過液化氣罐中的違禁品或被偽裝成看起來無害的違禁品。
[0123]Sc-WSF檢測器實(shí)現(xiàn)了不超過6〃高的X射線反向散射系統(tǒng)?，F(xiàn)在參考圖20A和圖20B，其中說明了實(shí)際系統(tǒng)的草圖。X射線源包括跨越陽極的電子射束的電磁掃描器221。通過電子模塊223驅(qū)動電磁掃描器221。X射線由孔徑的線性陣列225進(jìn)行校準(zhǔn)，孔徑的線性陣列在一次通過中跨越例如底部的30”。Sc-WSF檢測器227被安裝在x射線管的每一側(cè)以便檢測從車輛229反向散射的X射線236。電源、脈沖和圖像處理器可被適當(dāng)?shù)匕惭b。車輪232上檢查單元230的車架234可適用于在車輛229下方，通過電機(jī)或手動控制進(jìn)行操作。
[0124]使用L形檢測器陣列分段進(jìn)行移動運(yùn)輸檢查
[0125]依據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，現(xiàn)在參考圖21A和圖21B說明移動式檢測系統(tǒng)(大體上由標(biāo)號240指示)。在移動式檢查單元241中傳送穿透輻射的源(未示出，且如在本文中根據(jù)X射線所說明的，但不限于)，其典型地能夠通過自身的力量運(yùn)動，但是其也能夠被拖動或否則被運(yùn)輸，這屬于本發(fā)明的范圍內(nèi)。從移動檢查單元241發(fā)出穿透輻射的射束242，或者是作為掃描筆形射束或者作為扇形射束，或者在圖21A中作為表示射束242所指示的平面上發(fā)射的情況下。被檢查的對象244，可以是如圖所示的車輛(或者為例如運(yùn)送的貨物)，在檢查過程期間橫穿射束242并且在橫向移動期間通過整體的L形檢測單元245，如現(xiàn)在進(jìn)一步說明的那樣。檢測器單元245具有橫向分段246和豎向分段247，如圖21B所指出的。
[0126]L形檢測器單元245的橫向和豎向分段246和247中的每一個(gè)可包括多個(gè)平行的層249，提供對所檢測的X射線的雙能量分辨率或通常更多的是多能量分辨率，以致于提供材料識別，如以上參考圖12所說明的。此外，豎向檢測器陣列分段247在橫向于射束242的方向以及基本上沿著在所檢查的對象244和射束242之間的相對運(yùn)動的方向上可具有多個(gè)檢測器分段248，以指示檢測器相對于射束的偏斜或側(cè)向偏移，如參考圖12所說明的。此夕卜，豎直檢測器陣列分段247在橫向于射束242的方向以及基本上沿著所檢查的對象244和射束242之間相對運(yùn)動的方向上可具有多個(gè)檢測器分段248，以致于指示檢測器相對于射束的傾斜或測量偏移，正如以上圖14A至圖14C說明的。整體L形檢測單元245可被傳送至在移動式檢查單元241上的檢查點(diǎn)或拖車250上的檢查點(diǎn)或其它伴隨物上的檢查點(diǎn)，并可在檢查基于部署點(diǎn)現(xiàn)場進(jìn)行部分組裝。補(bǔ)充準(zhǔn)直輔助器(例如準(zhǔn)直激光器251)可在建立檢測器單元245相對于移動檢查單元241和射束242的適當(dāng)定位和定向中被采用。
[0127]在本文中提出的示例涉及方法行為或系統(tǒng)元件的特定組合，其應(yīng)被理解為那些動作和那些元件可被以其它的方式結(jié)合以完成相同的X射線檢測的目標(biāo)。此外，單個(gè)裝置的特征可滿足對權(quán)利要求中單獨(dú)列舉的元件的要求。在本文中說明的本發(fā)明的實(shí)施例旨在僅作為示例性的，對于那些本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，變化和修改將是顯而易見的。所有這樣的變化和修改都意圖被包括在所有隨附的權(quán)利要求書中所定義的本發(fā)明的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種穿透輻射的檢測器，其特征在于厚度和面積，所述檢測器包括: a.閃爍介質(zhì)的非像素化空間，用于將入射的穿透輻射的能量轉(zhuǎn)換成閃爍光； b.多個(gè)光波導(dǎo)，其被基本上準(zhǔn)直成在與所述閃爍介質(zhì)的所述非像素化空間連續(xù)的閃爍光吸收區(qū)域上彼此平行，以引導(dǎo)源自所述閃爍光的光；以及 c.光電檢測器，用于檢測通過所述多個(gè)波導(dǎo)弓I導(dǎo)的光子，并用于生成檢測器信號。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測器，進(jìn)一步包括用于在特定時(shí)間段期間將所述檢測器信號進(jìn)行積分的積分電路。
3.一種穿透輻射的檢測器，其特征在于厚度和面積，所述檢測器包括: a.閃爍介質(zhì)的空間，用于將入射的穿透輻射的能量轉(zhuǎn)換成閃爍光； b.多個(gè)光波導(dǎo)，其基本上被準(zhǔn)直成在與所述閃爍介質(zhì)的所述空間連續(xù)的閃爍光吸收區(qū)域上彼此平行，用于引導(dǎo)源自所述閃爍光的光； c.光電檢測器，用于檢測通過所述多個(gè)波導(dǎo)引導(dǎo)的光子，并用于生成檢測器信號；以及 d.積分電路，用于在特定時(shí)間段期間將所述檢測器信號進(jìn)行積分。
4.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述多個(gè)光波導(dǎo)適用于所述閃爍光的波長偏移。
5.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述多個(gè)光波導(dǎo)是波長偏移光纖。
6.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述閃爍介質(zhì)包括摻雜鑭系元素的鋇混合鹵化物。
7.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述閃爍介質(zhì)包括氟氯化鋇。
8.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述光電檢測器包括光電倍增器。
9.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述檢測器厚度的平方除以所述檢測器的面積的結(jié)果小于0.001。
10.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述多個(gè)波導(dǎo)中的至少一個(gè)缺少包層，且所述閃爍介質(zhì)的特征在于，其折射率值低于特征化波導(dǎo)的折射率。
11.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，其中，所述多個(gè)光波導(dǎo)被部署在多個(gè)平行平面上，所述平行平面中的每一個(gè)包括所述多個(gè)光波導(dǎo)的子集。
12.如權(quán)利要求1或3所述的檢測器，進(jìn)一步包括入射射束相繼遇到的多層閃爍體介質(zhì)。
13.如權(quán)利要求12所述的檢測器，其中，所述多層閃爍體介質(zhì)的特征在于對于所述入射射束的不同的光譜靈敏度。
14.如權(quán)利要求12所述的檢測器，其中，備選的閃爍體層包括替換光纖耦合BaFCl(Eu)和光纖耦合BaFl (Eu)中的至少一個(gè)的Li6F = ZnS(Ag)。
15.如權(quán)利要求12所述的檢測器，其中，所述多層閃爍體介質(zhì)中的第一層為波長偏移光纖耦合檢測器，其優(yōu)先對低能量X射線敏感，并且所述多層閃爍體介質(zhì)中的最后一層為塑料閃爍體。
16.如權(quán)利要求1所述的檢測器，進(jìn)一步包括所述閃爍體介質(zhì)的多個(gè)分段，其被部署在橫向于入射射束的傳播方向的平面上。
17.如權(quán)利要求16所述的檢測器，其中，所述閃爍體介質(zhì)的多個(gè)分段經(jīng)由光纖區(qū)別地耦接至光電檢測器。
18.—種制造閃爍檢測器的方法，所述方法包括圍繞光波導(dǎo)模壓閃爍材料的殼。
19.如權(quán)利要求18所述的方法,其中,所述光波導(dǎo)為波長偏移光纖。
20.一種用于檢測散射X射線輻射的方法，所述方法包括: a.提供檢測器，該檢測器的特征在于具有多個(gè)獨(dú)立讀出分段；以及 b.對來自所述獨(dú)立讀出分段的子集的信號求和，其中，所述子集在相對信噪比的基礎(chǔ)上被選定。
21.一種用于檢測散射X射線輻射的方法，所述方法包括: a.提供檢測器，該檢測器的特征在于具有多個(gè)獨(dú)立讀取分段；以及 b.對來自所述獨(dú)立讀取分段的子集的信號求和，其中，所述子集在主要照射射束的已知位置的基礎(chǔ)上被選定。
22.一種用于檢查被檢查目標(biāo)的移動式X射線檢查系統(tǒng)，所述移動式X射線檢查系統(tǒng)包括: a.在具有平臺和接觸地面的構(gòu)件的運(yùn)輸工具上部署的X射線輻射的源；以及 b.光纖耦合閃爍檢測器，其在檢查操作期間被部署在所述運(yùn)輸工具的外側(cè)，用于檢測與所述被檢查目標(biāo)相互作用的X射線。
23.如權(quán)利要求22所述的移動式X射線檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括光纖耦合的閃爍篷式檢測器，其在檢查過程期間被部署在所述檢查目標(biāo)上方。
24.如權(quán)利要求23所述的移動式X射線檢查系統(tǒng),其中,所述篷式檢測器在檢查操作之前滑出所述運(yùn)輸工具的車頂。
25.如權(quán)利要求22所述的移動式X射線檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括下擺式檢測器，其被部署在所述運(yùn)輸工具的所述平臺的下面。
26.如權(quán)利要求22所述的移動式X射線檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括車頂檢測器，用于檢測高于所述運(yùn)輸工具的空間。
27.如權(quán)利要求22所述的移動式X射線檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括基本上橫向的以及基本上豎向的光纖耦合閃爍體檢測器分段。
28.依據(jù)權(quán)利要求27所述的移動式X射線檢查系統(tǒng)，其中，所述基本上橫向的和基本上豎向的光纖耦合閃爍體檢測器分段構(gòu)成整體結(jié)構(gòu)。
29.一種用于檢測其上入射的輻射的設(shè)備，所述設(shè)備包括: a.多個(gè)基本平行的有效準(zhǔn)直葉片，其包括對所述輻射敏感的波長偏移光纖耦合的閃爍檢測器，以生成至少第一檢測信號； b.后部大面積檢測器，用于檢測在所述多個(gè)有效準(zhǔn)直葉片的基本平行的有效準(zhǔn)直葉片之間通過的輻射，并生成第二檢測信號；以及 c.用于接收和處理所述第一和第二檢測信號的處理器。
30.一種上下成像檢查系統(tǒng)，用于檢查被部署在下部表面上的對象，所述上下成像檢查系統(tǒng)包括: a.基本向下指向的X射線的源；以及 b.線性檢測器陣列，其被部署在所述下部表面上方的突出部之中。
31.如權(quán)利要求30所述的上下成像檢查系統(tǒng)，其中，所述線性檢測器陣列包括波長偏移光纖耦合閃爍檢測器。
32.一種用于檢查車輛下側(cè)的X射線檢查系統(tǒng)，所述X射線檢查系統(tǒng)包括: a.基本向上指向的X射線的源，其被連接在車架上；以及 b.波長偏移光纖耦合閃爍體檢測器，其被部署在所述車架上，用于檢測由所述車輛以及被隱藏在所述車輛底下或內(nèi)部的對象所散射的X射線。
33.如權(quán)利要求32所述的X射線檢查系統(tǒng)，其中，所述車架適用于通過電機(jī)和手動控制中的至少一種在所述車輛下面進(jìn)行操作。
【文檔編號】G01V5/00GK104204854SQ201380016922
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2013年2月4日 優(yōu)先權(quán)日:2012年2月14日
【發(fā)明者】A.阿羅德澤羅, J.卡勒拉梅, D-C.丁卡, R.蘇德, L.格洛德津斯, M.羅梅爾, P.羅斯希爾德, J.舒伯特 申請人:美國科技工程公司