一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，包括：在水平底部上帶有缺口的中空的柱體；在柱體內(nèi)部的缺口處設(shè)置的電容，設(shè)置于電容極板之間的金屬球，金屬球的一部分通過(guò)缺口暴露于柱體的外部；與電容相連接的電容檢測(cè)器。本實(shí)用新型解決在較小局部測(cè)量板材凹凸程度的技術(shù)問(wèn)題。
【專利說(shuō)明】 一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆。
【背景技術(shù)】
[0002]在機(jī)械生產(chǎn)加工過(guò)程中，在很多場(chǎng)合都會(huì)對(duì)板材的平整度進(jìn)行測(cè)量，以確保機(jī)械正常運(yùn)作，保證產(chǎn)品質(zhì)量。比如在矯直平整機(jī)對(duì)板材進(jìn)行矯直平整的過(guò)程中，板材的平整度是產(chǎn)品的質(zhì)量的重要衡量指標(biāo)；在利用板材加工制造零部件的過(guò)程中，掌握精確的板材平整度可以減少加工誤差，節(jié)約加工成本。目前，通常采用水珠式的平整測(cè)試儀，依靠操作人員根據(jù)水珠的位置讀取相應(yīng)的刻度，獲取平整度。
[0003]在實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)方案的過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)中至少存在以下技術(shù)問(wèn)題:
[0004]現(xiàn)有的平整測(cè)試儀體積大不便于攜帶，且不能在某一個(gè)較小的局部范圍進(jìn)行測(cè)試，更不能對(duì)某一個(gè)點(diǎn)的凹凸程度進(jìn)行量化，不利于工業(yè)化精確化生產(chǎn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]本實(shí)用新型的目的是提供一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，解決現(xiàn)有的平整測(cè)試儀體積大不便于攜帶，且不能在某一個(gè)較小的局部范圍進(jìn)行測(cè)試，更不能對(duì)某一個(gè)點(diǎn)的凹凸程度進(jìn)行量化，不利于工業(yè)化精確化生產(chǎn)的技術(shù)問(wèn)題。
[0006]本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，包括:在水平底部上帶有缺口的中空的柱體；在柱體內(nèi)部的缺口處設(shè)置的電容，電容兩個(gè)極板之間的距離大于缺口的直徑；設(shè)置于電容極板之間的金屬球，金屬球的直徑大于缺口，金屬球的一部分通過(guò)缺口暴露于柱體的外部；與電容相連接的電容檢測(cè)器。
[0007]進(jìn)一步的，在電容的外部設(shè)置阻擋金屬球脫離電容極板間的阻擋框。
[0008]進(jìn)一步的，缺口為圓形。
[0009]進(jìn)一步的，在柱體外部設(shè)置有橡膠套。
[0010]進(jìn)一步的，在電容檢測(cè)器中設(shè)置有與電容檢測(cè)器相連接的顯示器。
[0011]通過(guò)上述方案，使平整測(cè)試儀方便攜帶，可以在一個(gè)較小的局部范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，還可以對(duì)某一個(gè)點(diǎn)的凹凸程度進(jìn)行量化，促進(jìn)了工業(yè)化精確化生產(chǎn)。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為【具體實(shí)施方式】中一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆。
【具體實(shí)施方式】
[0013]如圖1所示，一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，包括:在水平底部上帶有缺口8的中空的柱體2 ;在柱體2內(nèi)部的缺口 8處設(shè)置的電容6，電容6兩個(gè)極板之間的距離大于缺口 8的直徑；設(shè)置于電容6極板之間的金屬球5，金屬球5的直徑大于缺口 8，金屬球的一部分通過(guò)缺口 8暴露于柱體2的外部；與電容6相連接的電容檢測(cè)器I。
[0014]在電容6的外部設(shè)置阻擋金屬球5脫離電容6極板間的阻擋框4。缺口 8為圓形。在柱體2外部設(shè)置有橡膠套3。在電容檢測(cè)器I中設(shè)置有與電容檢測(cè)器I相連接的顯示器7。
[0015]使用時(shí)，將測(cè)試筆置于需要測(cè)試的板材上，將測(cè)試筆的底部與板材貼合，然后水平移動(dòng)測(cè)試筆，金屬球5接觸到板材后，豎直向上移動(dòng)，通過(guò)顯示器7或電容檢測(cè)器I讀出示數(shù)，當(dāng)移動(dòng)到板材凹陷或凸出處時(shí)，測(cè)試筆的金屬球5依靠重力向下或由于板材的反作用力向上移動(dòng)，改變電容值，從而獲取板材的平整度。
[0016]本實(shí)用新型通過(guò)金屬球的上下運(yùn)動(dòng)，改變電容極板間的介質(zhì)，從而影響檢測(cè)到的電容值，采用該方案的測(cè)試筆，不僅方便攜帶，可以在一個(gè)較小的局部范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，還可以對(duì)某一個(gè)點(diǎn)的凹凸程度進(jìn)行量化，促進(jìn)了工業(yè)化精確化生產(chǎn)。
[0017]以上，僅為本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，其特征在于，包括: 在水平底部上帶有缺口(8)的中空的柱體(2)； 在所述柱體(2)內(nèi)部的所述缺口(8)處設(shè)置的電容(6)，所述電容(6)兩個(gè)極板之間的距離大于所述缺口(8)的直徑； 設(shè)置于所述電容(6 )極板之間的金屬球(5 )，所述金屬球(5 )的直徑大于所述缺口( 8 )，所述金屬球的一部分通過(guò)所述缺口(8)暴露于所述柱體(2)的外部； 與所述電容(6 )相連接的電容檢測(cè)器(I)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，其特征在于，在所述電容(6 )的外部設(shè)置阻擋所述金屬球(5 )脫離所述電容(6 )極板間的阻擋框(4 )。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，其特征在于，所述缺口(8)為圓形。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，其特征在于，在所述柱體(2)外部設(shè)置有橡膠套(3)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于檢測(cè)平整度的便攜式測(cè)試筆，其特征在于，在所述電容檢測(cè)器(I)中設(shè)置有與所述電容檢測(cè)器(I)相連接的顯示器(7 )。
【文檔編號(hào)】G01B7/34GK203605905SQ201320793478
【公開(kāi)日】2014年5月21日 申請(qǐng)日期:2013年12月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月4日
【發(fā)明者】權(quán)策, 張明俠 申請(qǐng)人:西安曼海特工業(yè)技術(shù)有限公司