一種測定光導(dǎo)纖維的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的實驗設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種測定光導(dǎo)纖維的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的實驗設(shè)備，所述實驗裝置包括：激光器（1）、聚焦裝置（2）、多個光強傳感器、光闌（3）、準(zhǔn)直管（5）、遮光盒（8）、半反半透鏡（9）、處理器（11）、角度傳感器（12）、第一致動裝置（16）、第二致動裝置（17）。所述實驗裝置對相同構(gòu)造、不同長度的第一待測光纖（6）和第二待測光纖（14）進行測量。所述實驗裝置具有兩種工作模式，數(shù)值孔徑模式和衰減系數(shù)模式，能夠方便地在兩種模式之間切換，從而測量待測光纖的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)。
【專利說明】一種測定光導(dǎo)纖維的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的實驗設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及參數(shù)測定領(lǐng)域，具體涉及一種用于光導(dǎo)纖維的參數(shù)測定的實驗裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著光通信技術(shù)的飛速發(fā)展，光導(dǎo)纖維即光纖的應(yīng)用已非常普及。數(shù)值孔徑表征光纖的集光能力，衰減系數(shù)反應(yīng)光纖的傳輸損耗。這兩個參數(shù)的準(zhǔn)確測定對光纖質(zhì)量的評定和光纖通信系統(tǒng)的傳輸距離的確定起著非常重要的作用。大學(xué)物理實驗中，由于數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的測量方法以及儀器的不同，通常分別使用兩套儀器測量。測量裝置繁多，步驟復(fù)雜，測試時間長，儀器設(shè)備沒有高效利用。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型的目的在于:提供一種實驗裝置，其可以同時完成光纖的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的測量，從而簡化測試過程，提高裝置利用率，節(jié)省時間。
_4]數(shù)值孔徑的測暈
[0005]數(shù)值孔徑(NA)有兩種定義方式:一是最大理論數(shù)值孔徑，二是遠場強度有效數(shù)值孔徑NAeff。NAeff定義為光纖遠場輻射圖上光強下降到最大值5%處的半張角的正弦值。通常測定的為遠場強度 有效數(shù)值孔徑NAeff,因而本實用新型也旨在對該有效數(shù)值孔徑進行測定，可以通過測量光通過光纖后光強的變化來有效測定數(shù)值孔徑。
[0006]衰減系數(shù)β的測暈
[0007]為了測量衰減系數(shù)β，一般是使同樣角分布的激光束分別通過長度為L1和L2的兩根材料相同的光纖，分別測量經(jīng)過兩根光纖后的透射光強I1和I2，從而得到:
[0008]I1=10 (1-R)2 (1-A) V0li (I)
[0009]I2=10 (1-R)2 (1-A)n> e_0L2 (2)
[0010]其中，入射光強為Itl，對于兩根光纖采用相同的入射光強，R為端面的光強反射率，A為全反射的損失率，η、η’分別為光在兩根光纖中的全反射次數(shù)，如果L1和L2相差不多，n ^ η’?？蛇x用不同長度例如80mm和60mm, 40mm和30mm,兩者長度不能相差大于20mm。當(dāng)相差超過20mm時，由于全反射的損失率A不便測量，將引入較大誤差。
[0011]式(1)/(2)，得到Ι1/Ι2=θ-β (Ll-L2)=e-e Λ L，Λ L=L1_L2 為兩根光纖的長度差，兩邊取自然對數(shù)，得光纖的衰減系數(shù)β = (InI2-1nI1) / Δ L。
[0012]在數(shù)值孔徑的測量中，需要不斷調(diào)整入射光束在光纖端面的入射角來得到光纖遠場輻射圖。一般現(xiàn)有技術(shù)中，采用轉(zhuǎn)動光纖或采用轉(zhuǎn)動光源的方式來調(diào)整入射光束在光纖端面的入射角。其通常情況下要求入射光束一般限定為平行光束，以保證轉(zhuǎn)動過程中，入射光束的所有光線的入射角是相同的并且入射到光纖端面的光量保持不變。否則，轉(zhuǎn)動過程中，無法保證入射光量和角度，這會導(dǎo)致光強曲線圖的基準(zhǔn)不一致。整個測量過程需要一根光纖，進行一次測量即可得出結(jié)果。[0013]在現(xiàn)有技術(shù)中，測量衰減系數(shù)時，不需要改變?nèi)肷涔馐泄饩€的入射角，即不需要轉(zhuǎn)動光纖或是光源，但需要分別對兩根光纖先后進行測量。因此，需要將入射光線匯聚到一起，照射到光纖的端面上，以保證每次的透射光強相同。整個測量過程需要兩根光纖，進行兩次測量，計算可得結(jié)果。
[0014]為了采用同一套裝置測量數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)兩種參數(shù)，需找到兩者的相通點。本實用新型的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)最后都與光通過光纖后的光強大小相關(guān)?；诖耍緦嵱眯滦偷陌l(fā)明人設(shè)計了本實用新型的實驗裝置。
[0015]具體而言，本實用新型提出一種測定光導(dǎo)纖維的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的實驗裝置，所述實驗裝置包括:激光器、聚焦裝置、多個光強傳感器、準(zhǔn)直管、遮光盒、半反半透鏡、處理器、角度傳感器、第一致動裝置、第二致動裝置，其中，所述實驗裝置對相同構(gòu)造、不同長度的第一待測光纖和第二待測光纖進行測量，
[0016]所述激光器用于發(fā)射激光束；
[0017]所述聚焦裝置對所述激光束進行會聚，并且在所述聚焦裝置的焦點附近設(shè)置第一光強傳感器；
[0018]所述光闌置于所述聚焦裝置焦斑附近，阻擋經(jīng)會聚的激光束的焦斑之外的激光通過。
[0019]所述第一待測光纖的第一端面接收所述激光束并在所述第一待測光纖的第二端面處輸出所述激光束，在所述第一待測光纖的第二端面處設(shè)置第二光強傳感器；
[0020]所述遮光盒設(shè)置在所述第一待測光纖的第二端面處，并且在所述遮光盒的入光口處接收來自所述第一待測光纖的激光束；
[0021]所述半反半透鏡置于所述遮光盒內(nèi)，使得從所述遮光盒的入光口處接收的激光束的部分被反射并從所述遮光盒的第一出光口離開所述遮光盒朝向所述第二待測光纖的第一端面入射，從所述遮光盒的入光口處接收的光束的另一部分透射并從所述遮光盒的第二出光口離開所述遮光盒；
[0022]在所述遮光盒的第二光出口處和所述第二待測光纖的第二端面處分別設(shè)置第三光強傳感器和第四光強傳感器；
[0023]所述第一致動裝置通過第一支撐桿與所述準(zhǔn)直管相連接，能夠驅(qū)動所述準(zhǔn)直管進入或離開所述聚焦裝置與所述第一待測光纖之間的光路中；
[0024]所述第二致動裝置通過第二支撐桿與所述第一待測光纖相連接，用于驅(qū)動所述第一待測光纖相對于所述激光器所發(fā)出的激光的光軸旋轉(zhuǎn)；
[0025]所述角度傳感器附著至所述第二支撐桿，測量所述第一待測光纖相對于所述激光器所發(fā)出的激光的光軸而旋轉(zhuǎn)的角度；
[0026]所述處理器接收各個光強傳感器和所述角度傳感器所測得的信號，并且對所接收到的信號進行處理。
[0027]優(yōu)選地，所述半反半透鏡的反射和透射比率為50%:50%。
[0028]優(yōu)選地，所述實驗裝置能夠工作在兩種模式下:數(shù)值孔徑模式和衰減系數(shù)模式。
[0029]優(yōu)選地，在數(shù)值孔徑模式下，所述第一致動裝置驅(qū)動所述準(zhǔn)直管進入所述聚焦裝置與所述第一待測光纖之間的光路中，并且所述聚焦裝置將所述激光器發(fā)出的激光束聚焦在所述準(zhǔn)直管的第一端面處，所述激光束經(jīng)所述準(zhǔn)直管準(zhǔn)直后從所述準(zhǔn)直管的第二端面出射，并入射到所述第一待測光纖的第一端面。所述第三光強傳感器測量由所述半反半透鏡所透射的光束的最大光強以及隨著所述第一待測光纖的旋轉(zhuǎn)所透射的光束的光強下降到最大光強的5%時，所述第一待測光纖所旋轉(zhuǎn)的角度，所述處理器基于所述角度確定所述第一待測光纖的數(shù)值孔徑。
[0030]優(yōu)選地，在衰減系數(shù)模式下，所述第一致動裝置驅(qū)動所述準(zhǔn)直管離開所述聚焦裝置與所述第一待測光纖之間的光路，并且所述聚焦裝置將所述激光器發(fā)出的激光束聚焦在所述第一待測光纖的第一端面處。所述處理器基于所述第一待測光纖的第一端面處的入射光強、第二端面處的出射光強、所述第二待測光纖的第二端面處的出射光強、所述第一待測光纖和所述第二待測光纖二者的長度差來確定所述第一待測光纖和所述第二待測光纖的裳減系數(shù)。
[0031]本實用新型將激光光源、透鏡、準(zhǔn)直管組合在一起形成可選的兩種入射光束模式，解決數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的入射光束不同的問題；通過采用半反半透鏡，解決衰減系數(shù)中需要兩根光纖的問題，簡化測試過程，使兩種參數(shù)測量裝置更容易融合。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0032]圖1是根據(jù)本實用新型的一個實施例的實驗裝置在模式一狀態(tài)下的示意圖；
[0033]圖2是根據(jù)本實用新型的一個實施例的實驗裝置在模式二狀態(tài)下的示意圖；
[0034]圖3是測量衰減系數(shù)時圖2中所示的兩根待測光纖的局部放大視圖。
【具體實施方式】
[0035]圖1和圖2分別示出了本實用新型的一個實施例在數(shù)值孔徑模式和衰減系數(shù)模式下的工作示意圖。
[0036]如圖1所示，本實施例的實驗裝置包括:激光器1、聚焦裝置2、多個光強傳感器4、7、10和14、準(zhǔn)直管5、遮光盒8、半反半透鏡9、處理器11、角度傳感器12、第一致動裝置17、第二致動裝置16。圖1中還示出了光闌3、導(dǎo)線15。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解，在聚焦裝置2的聚焦效果足夠好的情況下，光闌3是可以省略的。
[0037]由于本實用新型中的實驗裝置要兼顧對光纖數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)二者的測定，因此，測量時，要采用兩根待測光纖(第一待測光纖6和第二待測光纖14)，兩根待測光纖的構(gòu)造相同，即，屬于同種光纖，只是二者的長度存在一定差異。
[0038]激光器用于發(fā)射激光束。
[0039]聚焦裝置2為凸透鏡，優(yōu)選為可變聚焦凸透鏡或者為可沿激光光軸移動的可移動透鏡。聚焦裝置2用于對所述激光束進行會聚/聚焦，在所述聚焦裝置2的焦點附近設(shè)置一個光強傳感器。這里所說的“附近”是指在激光束的聚焦范圍內(nèi)但不會影響實驗測量效果的位置。本實用新型中所采用的光強傳感器的對光強的影響足夠小，以至于衰減系數(shù)和數(shù)值孔徑的計算過程中，可以認為光強傳感器的影響可以忽略不計。優(yōu)選地，本實用新型采用透射型光強傳感器。
[0040]優(yōu)選地，經(jīng)聚焦裝置聚焦后激光束的焦斑等于光纖端面的內(nèi)徑，從而使得基于光強傳感器的測量值，能夠容易地得到進入光纖的光量。
[0041]第一待測光纖6的第一端面接收來自聚焦裝置或準(zhǔn)直管的激光束，在所述第一待測光纖6的第二端面處設(shè)置第二光強傳感器7，對該處的激光光強進行測量。
[0042]遮光盒8設(shè)置在第一待測光纖6的第二端面處，并且遮光盒8的入光口對準(zhǔn)第一待測光纖6的第二端面，用于接收來自第一待測光纖6的激光束。
[0043]半反半透鏡9置于遮光盒8內(nèi)，對從遮光盒8的入光口處接收的光束進行部分反射、部分透射。具體而言，進入遮光盒8的光束的部分被反射并從遮光盒8的第一出光口離開所述遮光盒，進而朝向第二待測光纖14的第一端面入射；從遮光盒8的入光口處接收的光束的另一部分透射通過半反半透鏡9并從遮光盒8的第二出光口離開遮光盒8。
[0044]在第二待測光纖14的第二端面處和遮光盒8的第二光出口處各設(shè)置一個光強傳感器，在本實施例中，為第三光強傳感器10和第四光強傳感器13。第一致動裝置17通過支撐桿與準(zhǔn)直管5相連接，能夠驅(qū)動準(zhǔn)直管5進入或離開聚焦裝置2與第一待測光纖6之間的光路中。
[0045]第二致動裝置16通過支撐桿與所述第一待測光纖相連接，用于驅(qū)動所述第一待測光纖6相對于激光器所發(fā)出的激光的光軸旋轉(zhuǎn)。這里所說的相對于激光光軸旋轉(zhuǎn)指的是隨著第一待測光纖的旋轉(zhuǎn)，第一待測光纖的中心軸與該光軸的夾角變化。角度傳感器12附著至所述第二致動裝置16或與該致動裝置連接的支撐桿或第一待測光纖，用于測量所述第一待測光纖相對于所述激光器所發(fā)出的激光的光軸旋轉(zhuǎn)的角度。所述處理器接收多個光強傳感器和角度傳感器12所測得的信號，并獲得相應(yīng)的數(shù)值孔徑和/或衰減系數(shù)。
[0046]本實施例的實驗裝置能夠工作在兩種模式下:數(shù)值孔徑模式和衰減系數(shù)模式，下面將分別就這兩種模式進行說明。
[0047]模式一:數(shù)倌.孔徑模式
[0048]下面結(jié)合圖1對在數(shù)值孔徑模式下本實施例的實驗裝置的工作方式進行詳細介紹。
[0049]在數(shù)值孔徑模式下，準(zhǔn)直管5在聚焦裝置2與第一待測光纖6之間的光路中，優(yōu)選地，三者的中心軸線共線。該模式可以為本實驗裝置的初始模式?；蛘?，為了進入該模式，第一致動裝置17驅(qū)動準(zhǔn)直管5進入聚焦裝置2與第一待測光纖6之間的光路中。準(zhǔn)直管5的作用就是使聚焦裝置出射的光變成平行光束，保證所有或至少大部分進入到第一待測光纖的入射光線的入射角是一致的。
[0050]如圖1所示，在此模式下，激光器產(chǎn)生的激光束I通過聚焦裝置2會聚到光闌3，光闌3的出口處裝有第一光強傳感器4,激光照射進入準(zhǔn)直管5的第一端面,然后從準(zhǔn)直管5的第二端面出射。如上所述，在聚焦裝置2的聚焦效果足夠好的情況下，光闌3是可以省略的。在這種情況下，激光直接聚焦到準(zhǔn)直管5的入光口處。
[0051]激光束經(jīng)準(zhǔn)直管5準(zhǔn)直后從準(zhǔn)直管5的第二端面出射，并入射到第一待測光纖6的第一端面。在準(zhǔn)直管5與第一待測光纖6之間可以進行無泄漏耦合，從而保證進入到待測光纖6中的光量與進入準(zhǔn)直管中的光量相等。
[0052]可選地,第一光強傳感器4可以設(shè)置在第一待測光纖6的第一端面處，即入光口處。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)需要自行調(diào)整。第一光強傳感器4用于對即將進入第一待測光纖6的光強進行測量。
[0053]第一待測光纖6的支撐桿下部裝有第二致動裝置16。第一待測光纖6或其支撐桿上附著有角度傳感器12。[0054]激光光束通過第一待測光纖6后，進入到遮光盒8中，遮光盒8中有半反半透鏡9，光束經(jīng)過半反半透鏡一部分9被反射，并從遮光盒8的第一出光口(下側(cè)出口)出射，進入到第二光纖14的第一端面(入光口),另一部分透射通過半反半透鏡9,從遮光盒8的第二出光口出射。在遮光盒8的第二出光口(右側(cè)出口)處設(shè)置有第三光強傳感器10。第二光纖14的第二端面(出光口)設(shè)置有第四光強傳感器13。所有傳感器通過導(dǎo)線與處理器11相連，可以進行信號通信。
[0055]在模式一下，光強傳感器13在處理器11的控制下不工作。處理器11控制致動裝置16使第一待測光纖6發(fā)生水平轉(zhuǎn)動，角度傳感器12將水平轉(zhuǎn)動的角度值實時發(fā)送到處理器11，光強傳感器10將透射通過半反半透鏡9后的光束的光強值實時發(fā)送到處理器11，處理器11得到角度與光強的對應(yīng)關(guān)系或曲線圖，并基于此確定光強下降到最大值5%處的半張角的正弦值。由數(shù)值孔徑的定義，即光強下降到最大值5%處的半張角的正弦值，可得到數(shù)值孔徑大小。
[0056]具體而言，第一待測光纖6在處理器11控制下發(fā)生轉(zhuǎn)動，從準(zhǔn)直管5發(fā)出的平行光束照在光纖端面的入射角不斷發(fā)生變化。這樣經(jīng)過半反半透鏡9后，從第一待測光纖光強的大小也會實時發(fā)生變化，光強傳感器10和角度傳感器12分別將測得的光強和角度值實時傳送到處理器11，處理器得到一個光強與入射角的曲線。在本實施例中，需要確定:
(I)第一待測光纖6沿光束的光軸放置時,光強傳感器10處所測得的光強,該光強為最大光強；(2)光強傳感器10處測得的激光的光強等于最大光強5%時，第一待測光纖相對于激光光軸的角度。
[0057]初始時刻，光束通過準(zhǔn)直管垂直進入待測光纖，入射角為零度，光強傳感器10處測得的光強最大。接著待測光纖順時針旋轉(zhuǎn)，入射角不斷增大，光強傳感器10處測得的光強不斷減小直到等于最大光強5%時，所對應(yīng)的旋轉(zhuǎn)角度即是用于確定數(shù)值孔徑的角度。
[0058]然后，處理器基于該角度確定第一待測光纖的數(shù)值孔徑NAeff。
[0059]模式二:衰減系數(shù)模式
[0060]本實施例中的實驗裝置的模式二用來測量衰減系數(shù)。
[0061]如圖2所示，當(dāng)處在模式二的狀態(tài)時，處理器11控制致動裝置17，驅(qū)動準(zhǔn)直管5向下移動，離開激光束的光路，即，使其與聚焦裝置2和第一待測光纖6不在同一軸線上。當(dāng)準(zhǔn)直管5離開聚焦裝置與第一待測光纖之間的光路后，致動裝置17和角度傳感器12在處理器11控制下不工作。
[0062]激光器發(fā)出的激光經(jīng)聚焦裝置2聚焦后直接照射在第一待測光纖6的第一端面處，或者經(jīng)光闌3對孔徑進行調(diào)整后照射在第一待測光纖6的第一端面處。激光光束在第一待測光纖6中傳播后從其第二端面出射。從第一待測光纖6出射的激光束還是進入遮光盒8。在遮光盒8中，通過半反半透鏡9對進入遮光盒8的光束進行分光。部分激光被反射朝向第二待測光纖14的第一端面(入光口)，另一部分激光被半反半透鏡9透射，從遮光盒8的一個出光口離開，并照射在光強傳感器10上。進入第二待測光纖14的光束從其第二端面出射，并照射在第四光強傳感器13上。各個光強傳感器將各自所測得的光強傳輸?shù)教幚砥髦小?br> [0063]圖3為圖2中第一待測光纖6、遮光盒8、半反半透鏡9和第二待測光纖14的局部放大視圖，用于說明測量衰減系數(shù)時，光強的變化。由于半反半透鏡9所能透過的光強的比例是已知的，例如，本實施例中所選擇的是透射和反射各為50%的半反半透鏡。所以，在本實施例中，基于光強傳感器7處所測得的光強，可以知道進入到第二待測光纖14中的光束的光強。
[0064]如圖3所示，L1和L2分別代表兩根材料相同、長度不同的光纖的長度，即第一待測光纖6和第二待測光纖14的長度。假設(shè),入射光強為Itl的光束經(jīng)過第一待測光纖6后,光強變?yōu)镮1，再經(jīng)過50%:50%的半反半透鏡9后，進入到第二待測光纖14的光強變?yōu)?.511；接著光束從第二待測光纖14的另一端出來后光強變?yōu)?2。參照上述的公式(I)和(2)，即
[0065]I1=10 (1-R)2 (1-A) V0li
[0066]I2=0.5l! (1-R)2 (1-A) n,e-012
[0067]通過將公式⑴/⑵，得到: 1/12=21。/%, (L1-L2)=210/Iie-eAL，
[0068]Δ L=L1-L2為兩根光纖的長度差，
[0069]公式變形得到:1^/2132=(0AL
[0070]兩邊取自然對數(shù)，求得光纖的衰減系數(shù)β=(1η (I12^10I2))/AL0
[0071]光強傳感器4、7、13分別測出光強Ic^I1U2，代入上式計算即可得出第一待測光纖和第二待測光纖的衰減系數(shù)，二者的衰減系數(shù)相同。
[0072]本實用新型的實驗裝置通過采用半反半透鏡進行分光，采用準(zhǔn)直管進行光束調(diào)節(jié)，能夠方便地在兩種模式 之間切換，從而測量待測光纖的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)，裝置精巧，使用方便。
[0073]需要說明的是，附圖中的各個部件的形狀均是示意性的，不排除與其真實形狀存在一定差異，附圖1-3僅用于對本實用新型的原理進行說明，并非意在對本實用新型進行限制。
【權(quán)利要求】
1.一種測定光導(dǎo)纖維的數(shù)值孔徑和衰減系數(shù)的實驗裝置，其特征在于，所述實驗裝置包括:激光器(I)、聚焦裝置(2)、光闌(3)多個光強傳感器、準(zhǔn)直管(5)、遮光盒(8)、半反半透鏡(9)、處理器(11)、角度傳感器(12)、第一致動裝置(17)、第二致動裝置(16)，其中，所述實驗裝置對相同構(gòu)造、不同長度的第一待測光纖(6)和第二待測光纖(14)進行測量， 所述激光器(I)用于發(fā)射激光束； 所述聚焦裝置(2)對所述激光束進行會聚，并且在所述聚焦裝置的焦點附近設(shè)置第一光強傳感器(4)； 所述光闌(3)置于所述聚焦裝置(2)焦斑附近，阻擋經(jīng)會聚的激光束的焦斑之外的激光通過， 所述第一待測光纖(6)的第一端面接收所述激光束并在所述第一待測光纖(6)的第二端面處輸出所述激光束，在所述第一待測光纖(6)的第二端面處設(shè)置第二光強傳感器(7)； 所述遮光盒(8 )設(shè)置在所述第一待測光纖(6 )的第二端面處，并且在所述遮光盒(8 )的入光口處接收來自所述第一待測光纖(6)的激光束； 所述半反半透鏡(9)置于所述遮光盒(8)內(nèi)，使得從所述遮光盒(8)的入光口處接收的激光束的部分被反射并從所述遮光盒(8)的第一出光口離開所述遮光盒朝向所述第二待測光纖(14)的第一端面入射，從所述遮光盒(8)的入光口處接收的光束的另一部分透射并從所述遮光盒(8)的第二出光口離開所述遮光盒(8)； 在所述遮光盒(8)的第二光出口處和所述第二待測光纖(14)的第二端面處分別設(shè)置第三光強傳感器(10 )和第四光強傳感器(13 ); 所述第一致動裝置(17)通過第一支撐桿與所述準(zhǔn)直管(5)相連接，能夠驅(qū)動所述準(zhǔn)直管(5)進入或離開所述聚焦裝置(2)與所述第一待測光纖(6)之間的光路中； 所述第二致動裝置(16)通過第二支撐桿與所述第一待測光纖(6)相連接，用于驅(qū)動所述第一待測光纖(6)相對于所述激光器所發(fā)出的激光的光軸旋轉(zhuǎn)； 所述角度傳感器(12)附著至所述第二支撐桿，測量所述第一待測光纖(6)相對于所述激光器所發(fā)出的激光的光軸而旋轉(zhuǎn)的角度；所述處理器(11)與各個光強傳感器和所述角度傳感器(12)相連接。
2.如權(quán)利要求1所述的實驗裝置，其特征在于，所述半反半透鏡(9)的反射和透射比率為 50%:50%。
【文檔編號】G01M11/02GK203616097SQ201320656464
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2013年10月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月23日
【發(fā)明者】支珊, 王啟銀, 石慧, 趙銳, 王曉強, 李學(xué)勤, 趙飛 申請人:國家電網(wǎng)公司, 山西省電力公司大同供電分公司