測試適配器的制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及用于待測電子產(chǎn)品的測試適配器，測試適配器包括支撐結(jié)構(gòu)（100）和用于將產(chǎn)品支撐在支撐結(jié)構(gòu)上的產(chǎn)品臺架。產(chǎn)品臺架通過導(dǎo)向結(jié)構(gòu)（301至304）被支撐在支撐結(jié)構(gòu)（100）上，導(dǎo)向結(jié)構(gòu)控制產(chǎn)品臺架的垂直運動。所述產(chǎn)品臺架（200），通過來自上方的直接的或間接的按壓運動，被設(shè)置成能在所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)上從頂端位置（TOP）運動到低端位置（LOW）。所述測試適配器包括保持結(jié)構(gòu)（701，702），所述保持結(jié)構(gòu)用來將所述產(chǎn)品臺架（200）保持在低端位置（LOW），并將所述適配器中的卡扣結(jié)構(gòu)（501，502）保持在鎖定位置，所述卡扣結(jié)構(gòu)（501，502）被設(shè)置成將所述產(chǎn)品鎖定在所述產(chǎn)品臺架上（200）。
【專利說明】測試適配器【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及用于待測電子產(chǎn)品的測試適配器，所述測試適配器包括支撐結(jié)構(gòu)和用于所述產(chǎn)品的被支撐在所述支撐結(jié)構(gòu)上的產(chǎn)品臺架。
【背景技術(shù)】
[0002]測試適配器被用于電子工業(yè)，在產(chǎn)品研發(fā)階段或生產(chǎn)階段其用來測試被設(shè)計的原型機或成品的操作。待測產(chǎn)品——即被測設(shè)備——例如可以是用于無線電網(wǎng)絡(luò)中的終端設(shè)備，例如被用在蜂窩無線電網(wǎng)絡(luò)中的移動電話。測試適配器是附屬于或連接于測試站的臺架，例如，通過測試適配器，待測產(chǎn)品能夠與測試站的系統(tǒng)連接，用于測試收發(fā)器的或用戶界面的操作的目的。
[0003]適配器的基本結(jié)構(gòu)包括被基座支撐的一即在實踐中位于基座上的一產(chǎn)品臺架，產(chǎn)品例如移動電話被放置在所述產(chǎn)品臺架上。產(chǎn)品臺架可以由塑料制成，其基本形狀可以是淺邊的長方形的托盤，例如，托盤的形狀在某種程度上呈現(xiàn)為待測產(chǎn)品底部的形狀。對于每一種產(chǎn)品而言產(chǎn)品臺架是可以更換的。
[0004]現(xiàn)有的適配器款式使用一個或多個小型電動機和/或氣動缸，所述電動機和/或氣動缸用來相對于產(chǎn)品臺架和產(chǎn)品臺架上的產(chǎn)品移動鎖定托槽，以將產(chǎn)品鎖定就位在產(chǎn)品臺架上。在現(xiàn)有方案中，與產(chǎn)品的電子連接也可以通過使用一個和/或多個小型電動機和或氣動缸實現(xiàn)，其實現(xiàn)方式是:電動機和或氣動缸移動被支撐在支撐結(jié)構(gòu)上的連接器和/或插針，使其與產(chǎn)品上的對反構(gòu)件(counter-p i eces )接觸,所述對反構(gòu)件例如是輸入輸出口或其它連接器。電動機或氣動缸與由鋁制的支撐結(jié)構(gòu)的底部接觸，例如，并且通過上升運動或橫向運動，他們移動一個或多個鎖定單元至其鎖定位置，并移動插針或相應(yīng)的連接器使其與產(chǎn)品上的對反構(gòu)件接觸。在現(xiàn)有的適配器中，在支撐結(jié)構(gòu)下面有三個小型電動機。在傳統(tǒng)的適配器款式中，例如借助于`穿透鋁制支撐框架的孔，通過鋁制支撐框架來建立從測試系統(tǒng)到位于產(chǎn)品臺架上的待測產(chǎn)品之間的電子連接是有可能的，其中，產(chǎn)品臺架位于支撐框架上。這種連接可自然的成為雙向連接，因此測試系統(tǒng)能提供激勵信號，并且能測量待測產(chǎn)品的應(yīng)答信號。
[0005]然而，現(xiàn)有方案中存在問題，主要問題是需要多個電動機和/或氣動缸，并且在適配器制造中它們產(chǎn)生成本。將產(chǎn)品鎖定在產(chǎn)品臺架上是個具體的問題。
[0006]因此，需要開發(fā)出一種能夠減少現(xiàn)有技術(shù)方案中的問題數(shù)量的新型適配器。
實用新型內(nèi)容
[0007]本實用新型的目的是提供改進的測試適配器。本實用新型所提供用于待測電子產(chǎn)品的測試適配器，所述適配器包括支撐結(jié)構(gòu)和用于將所述產(chǎn)品DUT支撐在所述支撐結(jié)構(gòu)上的產(chǎn)品臺架，
[0008]其特征在于:所述產(chǎn)品臺架通過導(dǎo)向結(jié)構(gòu)被支撐在所述支撐結(jié)構(gòu)上，所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)控制所述產(chǎn)品臺架的垂直運動；[0009]所述產(chǎn)品臺架，通過來自上方的直接的或間接的按壓運動，被設(shè)置成能在所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)上從頂端位置TOP運動到低端位置LOW ；
[0010]所述測試適配器包括保持結(jié)構(gòu)，所述保持結(jié)構(gòu)用來將所述產(chǎn)品臺架保持在低端位置L0W，并將所述適配器中的卡扣結(jié)構(gòu)保持在鎖定位置，所述卡扣結(jié)構(gòu)被設(shè)置成將所述產(chǎn)品鎖定在所述廣品臺架上。
[0011]本實用新型的優(yōu)選實施例在從屬權(quán)利要求中公開。優(yōu)選實施例增強了基礎(chǔ)實用新型的優(yōu)點。
[0012]本實用新型的技術(shù)方案提供了多個優(yōu)點，特別是避免使用可能昂貴的電動機/氣動缸或至少明顯減少了對他們的需要。本實用新型為產(chǎn)品提供了節(jié)約成本的卡扣結(jié)構(gòu)。本實用新型使得使用手動操作來按壓下產(chǎn)品和其產(chǎn)品臺架成為可能，因為進行手動操作的工人通常是將產(chǎn)品放置在測試適配器的產(chǎn)品臺架上的工人，所以對于同一個工人而言，接下來將產(chǎn)品和其產(chǎn)品臺架按壓至低端位置是容易的，這種情形下卡扣結(jié)構(gòu)進入其鎖定狀態(tài)，在實施例中，連接器或其它適配器中的連接結(jié)構(gòu)能夠與產(chǎn)品接觸。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]參照下面的優(yōu)選實施例和附圖，本實用新型將被更加詳細地描述，其中:
[0014]圖1是測試適配器的頂視圖，所述測試適配器處于頂端位置，與產(chǎn)品在一起；
[0015]圖2是圖1沿A-A方向的橫截面圖；
[0016]圖3是圖1沿B-B方向的橫截面圖；
[0017]圖4是測試適配器的頂視圖，所述測試適配器處于下壓位置，與產(chǎn)品在一起；
[0018]圖5是圖4沿C-C方向的橫截面圖；
[0019]圖6是圖4沿D-D方向的橫截面圖；
[0020]圖7是攜帶有產(chǎn)品的測試適配器的頂視圖，所述測試適配器處于其頂端位置，即其在被下壓之前的位置；
[0021]圖8是攜帶有產(chǎn)品的測試適配器的側(cè)視圖，該側(cè)視圖按圖7中箭頭Al方向視看得到；
[0022]圖9是沒有攜帶產(chǎn)品的測試適配器的頂視圖，所述測試適配器處于其頂端位置，即其在被下壓之前的位置；
[0023]圖10是沒有攜帶產(chǎn)品的測試適配器的側(cè)視圖，該側(cè)視圖按圖9中箭頭A2方向視看得到；
[0024]圖11示出按照圖7被下壓后的狀態(tài)；
[0025]圖12示出按照圖8被下壓后的狀態(tài)，同時，從圖11中箭頭A3方向視看，示出按照圖11的狀態(tài)。
[0026]圖13示出按照圖9被下壓后的狀態(tài)。
[0027]圖14救出按照圖10被下壓后的狀態(tài)，同時，從圖13中箭頭A4方向視看，示出按照圖13的狀態(tài)。
[0028]圖15至圖17示出處于不同階段的測試適配器，所述測試適配器分別沒有攜帶產(chǎn)品、攜帶有產(chǎn)品、攜帶有已鎖定就位的產(chǎn)品；
[0029]圖18示出在圖3中描述的測試適配器，所述測試適配器具有連接結(jié)構(gòu)一例如插 針，以建立與產(chǎn)品之間的測試接觸。
【具體實施方式】
[0030]這是用于待測電子產(chǎn)品的測試適配器，產(chǎn)品被標注DUT (待測設(shè)備)。DUT可以是無線電網(wǎng)絡(luò)終端，例如用于蜂窩網(wǎng)絡(luò)的移動電話，當然，不限于此。
[0031]測試適配器包括支撐結(jié)構(gòu)100和用于待測設(shè)備被支撐在所述支撐結(jié)構(gòu)上的產(chǎn)品臺架200。參照附圖18，測試適配器也包括一個或多個連接結(jié)構(gòu)C，例如連接器或其它接觸結(jié)構(gòu)，用來同待測設(shè)備建立測試接觸。同待測設(shè)備建立測試接觸也可以通過USB連接實現(xiàn)。
[0032]支撐結(jié)構(gòu)是平整的構(gòu)件，例如，是由鋁制成的。
[0033]支撐結(jié)構(gòu)100相應(yīng)地位于底部支撐102上，例如支撐腳102，并且，支撐腳102相應(yīng)地可以在操作部件(沒有顯示)上，例如，操作部件可以帶有所期望的組件配置的電路板，所述組件配置包括電子組件和用來與外部測試系統(tǒng)或電源連接的連接端口。
[0034]產(chǎn)品臺架200通過導(dǎo)向結(jié)構(gòu)301到304被支撐在支撐結(jié)構(gòu)100上，導(dǎo)向結(jié)構(gòu)控制產(chǎn)品臺架的垂直運動U。
[0035]當相互比較產(chǎn)品臺架200的高端位置和低端位置時，產(chǎn)品臺架和其上的待測設(shè)備的垂直運動U能夠被看到。附圖1到3，、7到10以及16到17示出高端位置。附圖4到6、11到14以及17示出低端位置。
[0036]在一實施例中，所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)被分布且包括若干個導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件301到304。所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件從其上側(cè)被連接(fastened)到所述產(chǎn)品臺架200的拐角或其它邊緣區(qū)域接觸。
[0037]在一實施例中，所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)包括彈簧結(jié)構(gòu)301c、302c、303c或其它回返結(jié)構(gòu)，其用來將產(chǎn)品臺架300 (代理人認為應(yīng)為200)返回至其頂端位置。導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件301到304有其自己的回返結(jié)構(gòu)，彈簧301c, ,302c, ,303c和304c被顯示在附圖2到3、8、10和15至Ij16中。
[0038]每一個導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件301到304包括:第一部分——即與產(chǎn)品臺架200接觸的上端部分301a、302a、303a、304a，和第二部分——即與支撐結(jié)構(gòu)100接觸的低端部分301b、302b，、303b、304b。在一實施例中，第一部分301a與第二部分301b嵌套。參照附圖12、14、15和16，例如，嵌套意味著第一部分301a、302a、303a、304a——即與產(chǎn)品臺架接觸的部分是內(nèi)位部分，而第二部分301b、302b，、303b、304b——即與所述支撐結(jié)構(gòu)接觸的部分是外位部分。
[0039]所述產(chǎn)品臺架200被設(shè)置成通過來自上方的直接的或間接的按壓運動，能從頂端位置TOP運動到低端位置L0W，其中，在所述低端位置L0W，所述產(chǎn)品臺架200由導(dǎo)向結(jié)構(gòu)301到304支撐。所述測試適配器TA包括保持結(jié)構(gòu)701至702，所述保持結(jié)構(gòu)用來將產(chǎn)品臺架200保持在其低端位置LOW和將適配器里面的卡扣結(jié)構(gòu)501至502保持在其鎖定位置。所述卡扣結(jié)構(gòu)501至502被設(shè)置成將產(chǎn)品DUT鎖定在所述產(chǎn)品臺架200上。來自上面的按壓運動的發(fā)起者可以是使用測試適配器TA的工人，例如測試站的操作員。按壓可以是間接地指向產(chǎn)品臺架200——即操作員可以按壓待測設(shè)備DUT的頂面。例如，在按照附圖15的起始狀態(tài)，操作員首先將待測設(shè)備DUT放置就位在處于頂端位置的產(chǎn)品臺架200上，然后，在按照圖16的狀態(tài)中，操作員用手按壓待測設(shè)備DUT的頂面，從而產(chǎn)生按照附圖17所示的狀態(tài)，即低端位置?？劢Y(jié)構(gòu)501至502轉(zhuǎn)動至要在待測設(shè)備DUT上，并且保持結(jié)構(gòu)701和702——其可以是電磁的——將產(chǎn)品臺架200保持在低端位置。
[0040]所述卡扣結(jié)構(gòu)501位于所述產(chǎn)品臺架200處，且被設(shè)置成隨著產(chǎn)品臺架運動到低端位置L0W，卡扣結(jié)構(gòu)接收所述產(chǎn)品臺架的操控(command)，移動至其關(guān)閉位置(即圖17)。相應(yīng)地，卡扣結(jié)構(gòu)501、502被設(shè)計成:隨著產(chǎn)品臺架運動到頂端位置，卡扣結(jié)構(gòu)接受所述產(chǎn)品臺架的操控從其關(guān)閉位置移開(圖17)?？劢Y(jié)構(gòu)包括回返裝置，例如彈簧，其確?？劢Y(jié)構(gòu)501，502保持與導(dǎo)向輥801，802接觸，并且確?？劢Y(jié)構(gòu)501，502打開，即他們的頂部分離開所述待測設(shè)備DUT。
[0041]在一實施例中，卡扣結(jié)構(gòu)501至502被軸件或其它旋轉(zhuǎn)扣件501a、502a連接在所述產(chǎn)品臺架200的產(chǎn)品空間200a的邊緣處。所述卡扣結(jié)構(gòu)501至502按兩側(cè)布置(two-sided)，并包括:第一^^扣501，其位于產(chǎn)品臺架200的產(chǎn)品空間200a的一個邊緣上；和第二卡扣502，其位于產(chǎn)品臺架200的第二產(chǎn)品空間200a的相對應(yīng)的邊緣上。
[0042]在一實施例中，所述支撐結(jié)構(gòu)100包括導(dǎo)向輥801、802或其它導(dǎo)向部件，其被設(shè)置成用來引導(dǎo)產(chǎn)品臺架上的卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)至其鎖定位置。連接到所述支撐結(jié)構(gòu)的且用于產(chǎn)品臺架200上的卡扣結(jié)構(gòu)501、502的所述導(dǎo)向輥801、802被軸件80la、802a (如附圖3和附圖6所示)或其它旋轉(zhuǎn)扣件80la、802a連接到所述支撐結(jié)構(gòu)100。導(dǎo)向輥801、802可以是小軸承。
[0043]所述卡扣結(jié)構(gòu)501、502的旋轉(zhuǎn)扣件501a、502a的擺動軸線的方向與引導(dǎo)卡扣結(jié)構(gòu)501,502轉(zhuǎn)動的導(dǎo)向部件的旋轉(zhuǎn)扣件801a、802a的旋轉(zhuǎn)方向基本上是平行的。
[0044]下文討論保持結(jié)構(gòu)701、702，產(chǎn)品臺架200與待測設(shè)備DUT在保持結(jié)構(gòu)的作用下被保持在低端位置，如圖4 至6、圖11和圖17所示。在一實施例中，保持機構(gòu)是磁性的，通過一電控裝置來激活和解除所述磁性附接。在一實施例中，所述磁性保持結(jié)構(gòu)的第一部分701因此是電磁鐵，且所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第二部分是鐵磁塊702。利用電磁鐵701及其控制裝置，很容易激活所述低端位置并釋放使其向上。
[0045]參照上文所述的，磁性的保持結(jié)構(gòu)的電控裝置因此在支撐結(jié)構(gòu)100處包括開關(guān)110，所述開關(guān)的開關(guān)部分IlOa延伸到產(chǎn)品臺架200的產(chǎn)品空間200a的底部200b的附近，其在一個通道里，所述通道穿過產(chǎn)品臺架200的產(chǎn)品空間200a的底部200b。當產(chǎn)品臺架200位于其低端位置時，所述開關(guān)部分IlOa——例如按鈕——被設(shè)置成用來激活磁性附接。這產(chǎn)生于這樣的事實，即在產(chǎn)品臺架200的按壓運動的最后，待測設(shè)備的底部向下按壓開關(guān)部分I Ia并激活電磁鐵701，借此電磁鐵701與位于產(chǎn)品臺架底部的對應(yīng)的鐵磁塊相互吸引。開關(guān)IlOUlOa被設(shè)置成用來激活電磁鐵。
[0046]另外，也可以存在獨立開關(guān)150，其用來解除電磁鐵701的磁性，
[0047]在這種情況下，彈簧301c、302c、303c和第四導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件的彈簧能將產(chǎn)品臺架200與待測設(shè)備提升到頂端位置，同時，卡扣結(jié)構(gòu)501、
[0048]502打開并使得將待測設(shè)備DUT從產(chǎn)品臺架200移開成為可能。
[0049]所述磁性的保持結(jié)構(gòu)包括位于所述支撐結(jié)構(gòu)100處的第一部分701和位于所述產(chǎn)品臺架200處的第二部分702。當所述產(chǎn)品臺架200位于其低端位置時(如圖4至6、圖11至14和圖17所示)，磁性的保持結(jié)構(gòu)的第一部分701和第二部分702在磁力作用下如所述圖示相互接觸，或者至少保持互相靠近。[0050]如圖2至3、圖5至6及圖10至12所示，所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第一部分701被連接在所述支撐結(jié)構(gòu)的下方，且至少部分穿過支撐結(jié)構(gòu)100地延伸。相應(yīng)地，所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第二部分702位于所述產(chǎn)品臺架200底面上。可以看出，所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第一部分701與第二部分702基本上是對齊的。第一部分的頂面或電磁鐵701可以與支撐結(jié)構(gòu)100的頂面處于同一高度、在其下方或上方，在附圖中，電磁鐵701位于支撐結(jié)構(gòu)的頂面的下方。
[0051]所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第二部分702或高部分702位于所述產(chǎn)品臺架200的中心點區(qū)域，從而達到對稱均勻接觸。
[0052]測試適配器中用的一個或多個測試接觸結(jié)構(gòu)C通過產(chǎn)品臺架200的開口 204延伸至使得與產(chǎn)品DUT連接成為可能的位址。
[0053]不同實施例中的單個特征可以組合在一起形成其它可能的實施例。
[0054]顯然的是，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，隨著技術(shù)的進步，本實用新型的基本思想可以按許多不同的方式來實現(xiàn)。因此本實用新型及其實施例不局限于上述實施例，而是可以在權(quán)利要求的范圍內(nèi)變化。
【權(quán)利要求】
1.用于待測電子產(chǎn)品的測試適配器，所述適配器包括支撐結(jié)構(gòu)(100)和用于將所述產(chǎn)品DUT支撐在所述支撐結(jié)構(gòu)上的產(chǎn)品臺架(200)， 其特征在于:所述產(chǎn)品臺架通過導(dǎo)向結(jié)構(gòu)(301至304)被支撐在所述支撐結(jié)構(gòu)上，所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)控制所述產(chǎn)品臺架的垂直運動； 所述產(chǎn)品臺架(200)，通過來自上方的直接的或間接的按壓運動，被設(shè)置成能在所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)上從頂端位置TOP運動到低端位置LOW ； 所述測試適配器包括保持結(jié)構(gòu)(701，702)，所述保持結(jié)構(gòu)用來將所述產(chǎn)品臺架(200)保持在低端位置L0W，并將所述適配器中的卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)保持在鎖定位置，所述卡扣結(jié)構(gòu)(501，502 )被設(shè)置成將所述產(chǎn)品鎖定在所述產(chǎn)品臺架上(200 )。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試適配器，其特征在于:所述卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)處于所述產(chǎn)品臺架處，并被設(shè)置成:所述卡扣結(jié)構(gòu)接收來自所述產(chǎn)品臺架的操控，隨產(chǎn)品臺架運動到低端位置而移動至其關(guān)閉位置，并且所述卡扣結(jié)構(gòu)接收來自所述產(chǎn)品臺架的操控，隨產(chǎn)品臺架運動到頂端位置而從其關(guān)閉位置移開。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試適配器，其特征在于:所述卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)被軸件或其它旋轉(zhuǎn)扣件連接到所述產(chǎn)品臺架(200)的產(chǎn)品空間(200a)的邊緣處。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試適配器，其特征在于:所述卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)按兩側(cè)布置，并包括:第一卡扣(501)，其位于所述產(chǎn)品臺架(200)的產(chǎn)品空間(200a)的第一邊緣上；和第二卡扣(502)，其位于所述產(chǎn)品臺架(200)的產(chǎn)品空間(200a)的第二邊緣上，其中，所述產(chǎn)品空間(200a)的第二邊緣與所述產(chǎn)品空間(200a)的第一邊緣相對。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試適配器，其特征在于:所述的保持結(jié)構(gòu)(701，702)是磁性的，通過電控裝置(110，IlOa, 150)激活磁性附接和解除磁性附接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試適配器，其特征在于:所述磁性的保持結(jié)構(gòu)包括位于所述支撐結(jié)構(gòu)(100)處的第一部分(701)和位于所述產(chǎn)品臺架(200)處的第二部分(702);并且當所述產(chǎn)品臺架(200)位于其低端位置LOW時，磁性的保持結(jié)構(gòu)的第一部分(701)和第二部分(702)在磁力作用下相互接觸或至少互相靠近。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試適配器，其特征在于:所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第一部分(701)是電磁鐵，且所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第二部分(702)是鐵磁塊。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試適配器，其特征在于:所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第一部分(701)被連接在所述支撐結(jié)構(gòu)(100)的下方，且至少部分穿過所述支撐結(jié)構(gòu)(100)地延伸；并且，所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第二部分(702)位于所述產(chǎn)品臺架(200)底面一側(cè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試適配器，其特征在于:所述磁性的保持結(jié)構(gòu)的第一部分(701)與第二部分(702)對齊。
10.根據(jù)權(quán)利要求6至9中任一項所述的測試適配器，其特征在于:所述磁性保持結(jié)構(gòu)的第二部分(702)位于所述產(chǎn)品臺架(200)的中心點區(qū)域。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試適配器，其特征在于:所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)(301至304)包括彈簧結(jié)構(gòu)或其它回返結(jié)構(gòu)(301c，302c，303c)，所述彈簧結(jié)構(gòu)或其它回返結(jié)構(gòu)用來將所述產(chǎn)品臺架(200)返回至其頂端位置。
12.根據(jù)權(quán)利要求1或11所述的測試適配器，其特征在于:所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)(301至304)是分布式的，且包括多個導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件；并且，所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件(301至304)從所述導(dǎo)向結(jié)構(gòu)元件(301至304)的上部分與所述產(chǎn)品臺架(200)的拐角或邊緣區(qū)域接觸。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項權(quán)利要求所述的測試適配器，其特征在于:所述支撐結(jié)構(gòu)(100)包括導(dǎo)向輥或其它導(dǎo)向部件(801，802)，所述導(dǎo)向輥或其它導(dǎo)向部件被設(shè)置成用來引導(dǎo)在所述產(chǎn)品臺架上的卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)至其鎖定位置。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試適配器，其特征在于:連接到所述支撐結(jié)構(gòu)(100)且用于所述產(chǎn)品臺架(200)上的卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)的所述導(dǎo)向部件(801，802)被軸件(801a，801a)或其它旋轉(zhuǎn)扣件連接到所述支撐結(jié)構(gòu)(100)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測試適配器，其特征在于:所述卡扣結(jié)構(gòu)(501，502)的旋轉(zhuǎn)扣件(501a，502a)的擺動軸線的方向與引導(dǎo)所述卡扣結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)動的導(dǎo)向部件的旋轉(zhuǎn)扣件(801a,802a)的旋轉(zhuǎn)方向平行。
16.根據(jù)權(quán)利要求5至9中任一項所述的測試適配器，其特征在于:所述磁性的保持結(jié)構(gòu)(701，702)的電控裝置在所述支撐結(jié)構(gòu)(100)處包括開關(guān)(110，110a)，所述開關(guān)的開關(guān)部分(I IOa)在通道(210)里延伸到所述產(chǎn)品臺架(200)的產(chǎn)品空間(200a)的底部(200b)的附近，所述通道穿過所述產(chǎn)品臺架(200)的產(chǎn)品空間(200a)的底部(200b)，當所述產(chǎn)品臺架(200)位于其低端位置LOW時，所述開關(guān)部分(IlOa)被設(shè)置成用來激發(fā)磁性附接。
17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試適配器，其特征在于:在所述產(chǎn)品臺架(200)的低端位置L0W，所述測試適配器的用來建立與產(chǎn)品之間測試接觸的一個或多個接觸機構(gòu)(C)通過在所述產(chǎn)品臺架(200)中的開口(204)延伸至使得所述接觸機構(gòu)(C)與產(chǎn)品的連接成為可能的位址。
【文檔編號】G01R1/02GK203551596SQ201320365609
【公開日】2014年4月16日 申請日期:2013年6月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月19日
【發(fā)明者】哈裴威沙, 奧拉桔珈 申請人:Pkc電子有限公司